Professional Documents
Culture Documents
Optika2020 C
Optika2020 C
1/
Uvod
2/
Povijesni pregled
● 1904. - Einstein,
fotoefekt
4/
Podjela
5/
Youngov pokus
6/
Osnovni pojmovi
8/
Sjena
9/
10 /
11 /
Zakoni geometrijske optike
12 /
13 /
Zakon loma svjetlosti
● Snellov zakon
–Ovisnost upadnog i izlaznog kuta svjetlosti na granici
dvaju sredstava
● stacionarna
𝑑𝑇 točka:
𝑥 𝑎−𝑥
= − =0
𝑑𝑥 𝑣1 𝑥2 + ℎ2 𝑣2 𝑎−𝑥 2 + 𝑦2
15 /
iz skice je vidljivo da je:
pa se jednadžba
16 /
Totalna refleksija
17 /
Primjena totalne refleksije
● Svjetlovod
–Optička vlakna
–Primjena u medicini
18 /
Fatamorgana
19 /
20 /
Ravni dioptar
21 /
Ravni dioptar
ℎ
● Iz skice: 𝑡𝑔𝛼𝑡 =
𝑥3
ℎ
𝑡𝑔𝛼𝑢 =
𝑥1
Gaussove
●
aproksimacije
𝑡𝑔α𝑢 sinα𝑢 𝑛2
= =
𝑡𝑔α𝑡 sinα𝑡 𝑛1
ℎ
𝑥1 𝑛2
=
ℎ 𝑛1
𝑥3
𝑥3 𝑛2
=
𝑥1 𝑛1
𝑥3 𝑛1 = 𝑥1 𝑛2
● jednadžba konjugacije ravnog dioptra
22 /
Planparalelna
ploča
optičko sredstvo omeđeno
●
α1 + α2 − β1 − β2 = δ
α1 + α2 − β1 + β2 = δ
α1 + α2 − 𝐴 = δ 24 /
Sferni dioptar
𝑓1 𝑓2
+ =1
𝑥1 𝑥2
25 /
debela leća
●duljina puta svjetla kroz leću vrlo
važna u konstrukciji slike
●dvije glavne ravnine - slika jedna
drugoj
●sijeku optičku os u glavnim točkama
28
Jakost leće
●Recipročna vrijednost njene žarišne udaljenosti
●Izražava ne i dioptrijama [D=m ]
-1
1
𝐷=
𝑓
29
Konvergentna leća
●Naziva se još i pozitivna
●Sastavljena je od dvije konveksne površine
30
Divergentna leća
●Naziva se još i negativna leća
●Za nju vrijede iste jednadžbe kao i za
31
Izvori i slike
●Realna slika nastaje na mjestu gdje se nakon
loma i refleksije ponovno sijeku zrake svjetlosti iz
nekog izvora
●Virtualna slika - nakon loma i refleksije naše oko
32
Izvori i slike
33
Ravno zrcalo
●Svaka ravna ploha koja pravilno reflektira
svjetlost, odnosno paralelan svjetlosni snop kao
paralelan snop
●Realnom predmetu odgovara virtualna slika i
obratno
34
Sferno zrcalo
●Dio kugline plohe kojoj je jedna strana glatka tako
da reflektira svjetlost
●Ono može biti udubljeno (konkavno), ili izbočeno
(konveksno)
35
Jednadžba sfernog zrcala
1 1 1
+ =
𝑎 𝑏 𝑓
●Gdje su a i b udaljenost predmeta, odnosno slike,
a f žarišna udaljenost
●Žarišna udaljenost je polovica udaljenosti između
𝑦′ 𝑏
𝑀= =−
𝑦 𝑎
36
Optički instrumenti
●Povećalo (lupa) – najjednostavniji optički
instrument
◦Konvergentna leća male žarišne daljine (manje od
25 cm) pomoću koje se dobivaju uvećane virtualne
slike malih predmeta
◦Lupa se postavlja tako da je predmet između
njenog žarišta i optičkog središta, bliže žarištu.
37
Mikroskop
●Optički mikroskop služi za
povećanja koje se ne mogu dobiti
pomoću lupe, niti se mogu vidjeti
golim okom
●Mikroskop se sastoji od dvije
38
Mikroskop
●Objektiv je jaka konvergentna leća male žarišne
daljine koja se nalazi bliže predmetu
●Okular je konvergentna leća koja je bliže oku i
39
Mikroskop
OKULAR
OBJEKTIV
40
Mikroskop
●Tipično povećanje optičkog mikroskopa je do
1500x
●Teorijska rezolucijska granica iznosi oko 200 nm
(difrakcija)
●Difrakcija se izbjegava korištenjem kraćih valnih
duljina
● Upotreba imerzijskog sredstva –
41
Abbeova teorija o rezoluciji
mikroskopa
●Preparat promatra kao optičku rešetku
●Dolazi do ogiba na “pukotinama” unutar preparata
𝜆
𝑑=
𝑛sin 𝜗ൗ2
42
Rayleighov kriterij
●Model ogiba na okrugloj pukotini
●Leću promatra kao pukotinu,
1,22𝜆 0,61𝜆
𝑅𝑃 = 𝑓=
𝐷 𝑛sin 𝜃ൗ2
43
Vrste mikroskopa
◦TOM – transmisijski optički mikroskop
◦ROM – Refleksijski optički mikroskop
◦Interferencijski
◦Fazni-kontrastni
◦Konfokalni pretraživački fluorescentni mikroskop
◦Elektronski
44
Oko
●Oko je najvažniji optički sustav
●Promjer ljudskog oka iznosi približno 24 mm, i
staklenina
●Svjetlost najprije prolazi kroz prednji dio oka koji
45
Oko
46
Rezolucija oka
Y'
Y
fokus
objektiv
fokus objektiva
Kratkovidno oko
1 1 1
f
f=
Starovidno oko
1 1 1 1 1 1
25 b f 25 f
Interferencija
●Nastaje pri pojavi (zbrajanju) dvaju ili više
koherentnih svjetlosnih valova
●Koherentni – jednaka frekvencija i stalna fazna
razlika
●Youngov pokus na dvije pukotine
55
Difrakcija (ogib)
●Pojava kada svjetlosni val prolazi pored prepreke.
◦Skretanje svjetlosti u geometrijsku sjenu zapreke
ili pukotine
●Među ogibnim zrakama nastaje interferencija
kraća
56
Optička rešetka
●Niz uskih pukotina koje su međusobno paralelne i
vrlo blizu jedna drugoj
●Razmak između dvije pukotine naziva se
57
Optička rešetka
●Svijetle pruge dobiju se interferencijom ogibnih
valova u smjerovima pod kutom prema prvotnom
smjeru širenja vala
●Uvjet za maksimume je:
𝑘𝜆 = 𝑑sin𝛼, ሺ𝑘 = 1,2,3...ሻ
58
𝑘𝜆 = 𝑑sin𝛼, ሺ𝑘 = 1,2,3...ሻ
𝑑𝜃′ 𝑚
=
𝑑𝜆 𝑑cos𝜃′
𝐿 𝑑𝜃′
𝑅 = = 𝑁𝑚 = 𝐷
𝜆 𝑑𝜆
59
Spektroskopija
Spektroskopija je proučavanje interakcije
između materije i izračene energije
Prema prirodi interakcije između energije i
materijala.
◦Apsorpcijska spektroskopija
◦Emisijska spektroskopija
◦Interferencijska spektroskopija
Elastičnog raspršenja, neelastičnog raspršenja,
impedancijska, koherentna…
prijenos energije električnog ili magnetskog
polja na električne ili magnetske osobine sustava
mijenja energiju sustava i daje informacije o
strukturi i funkciji sustava
Karakteristike spektra
Spektar - raspodjela intenziteta jedinične valne
duljine (apsorbancije, ekstincijskog
koeficijenta…) o energiji fotona (valnoj duljini,
frekvenciji, valnom broju)
položaj linije - energija prijelaza
intenzitet linije - broj istovrsnih prijelaza
Spektroskopija
Spektroskopija je proučavanje interakcije
između materije i izračene energije
Prema prirodi interakcije između energije i
materijala.
◦Apsorpcijska spektroskopija
◦Emisijska spektroskopija
◦Interferencijska spektroskopija
Apsorpcijska spektroskopija
Nastaje kada je izvor zračenja apsorbiran od
materijala
Linije u apsorpcijskoj spektroskopiji se nazivaju
prema efektima koje ih uzrokuju (vibracijske,
rotacijske ili kombinirane)
Energija koja uzrokuje QM promjenu utvrđuje
frekvenciju apsorbirane linije
Frekvencije mogu biti pomaknute zbog različitih
efekata
Emisijska spektroskopija
Tehnika koja pregledava valne duljine fotona,
koje emitiraju atomi ili molekule tijekom
prijelaznih stanja
Uzorku se dovodi energija i on emitira
specifične fotone
Uređaj za emisijsku spektroskopiju sastoji se od
◦Uzorak kojem se dovodi energija,
◦Spektrograf
◦Detektor
Detektiraju se linije koje uzorak emitira
Zagrijavanjem uzorka emitira se energije u
obliku svjetla (E=hν).
Interferencijska spektroskopija
Načešće se koristi u FT spektroskopiji
Uređaji koji proizvede interferenciju su
Michleson interferometer i Faby Perot
interferometar
◦Superponiraju nekoliko svjetlosnih zraka jedne s
drugima
Vrste spektroskopije (prema
energiji)
Radiofrekventno područje –prelasci između
magnetskih spinskih stanja jezgri u magnetskom
polju – NMR i EPR
◦NMR roucava spinove jezgre, pod utjecajem jakog
vanjskog magnetskog polja.
◦EPR spinovi elektrona, i slabija polja
Mikrovalno područje – prelasci između
rotacijskih stanja molekula s električnim dipolnim
momentom, polarnih molekula – mikrovalna
spektroskopija
Infracrveno područje – prelasci između
vibracijskih stanja molekula – IR-spektraokopija
Vidljivo i UV područje – prelasci elektronskih
stanja valentnih elektrona
X-zrake – prijelasci između unutrašnjih ljusaka
atoma – rentgenska strukturna analiza
Dijagram spektrometra (s jednom zrakom) koji
se najčešče koristi u spektroskopiji (UV i VIS)
Uređaju u spektroskopiji
Spektrometar s prizmom ili rešetkom
Svjetlost s pukotinese kolimira preko leće L1 i
raspršuje pomoću prizme ili rešetke i fokusira
pomoću leće L2 u ravnini P gdje se stvara slika
Uređaji s prizmom
Konvencionalni uređaj s prizmom je prikazan na
slici
Postavka za male ili srednje uređaje za koje nije
važno da budu monokromatori
Rezolucija uređaja s prizmom je dana preko izraza
(gdje je t duljina baze prizme):
polupropusno zrcalo
●Interferogram monokromatske zrake je čista sinusna