สาขา: เหมืองแร วิชา: MN15 Materials Characterization

ขอที่ : 1

ย
ขอใดอธิบายหนวยความเขมขน Molarity (M) ถูกตอง

่ า
คําตอบ 1 : จํานวนโมลของ Solute ใน 1000 g ของ Solution

น
คําตอบ 2 : จํานวนโมลของ Solute ใน 1000 ml ของ Solution

ํจาห
คําตอบ 3 : จํานวนโมลของ Solute ใน 1000 g ของ Solvent
คําตอบ 4 : จํานวนกรัมโมลของ Solute ใน 1000 กรัมของ Solution

้ าม
ขอที่ : 2

ิธ์ ห
ขอใดอธิบายหนวยความเขมขน Molality (m) ถูกตอง
คําตอบ 1 : จํานวนโมลของ Solute ใน 1000 ml ของ Solution
คําตอบ 2 : จํานวนโมลของ Solute ใน 1000 g ของ Solution

สิท
คําตอบ 3 : จํานวนโมลของ Solute ใน 1000 g ของ Solvent

น
คําตอบ 4 : จํานวนกรัมโมลของ Solute ใน 1000 g ของ Solution

ขอที่ :

ง ว
ส
3
ขอใดอธิบายหนวยความเขมขน Normality (N) ถูกตอง

ขอ
คําตอบ 1 : จํานวนกรัมสมมูลยของ Solute ใน 1000 g ของ Solution

ร
คําตอบ 2 : จํานวนกรัมสมมูลยของ Solute ใน 1000 ml ของ Solution

ก
คําตอบ 3 : จํานวนกรัมโมลของ Solute ใน 1000 ml ของ Solution

ว
คําตอบ 4 : จํานวนกรัมสมมูลยของ Solute ใน 1000 ml ของ Solvent

าวศ
ิ
ขอที่ : 4

สภ
ขอใดอธิบายหนวยความเขมขน Formality (F) ถูกตอง
คําตอบ 1 : จํานวนโมลของ Solute ใน 1000 ml ของ Solution
คําตอบ 2 : จํานวนโมลของ Solute ใน 1000 g ของ Solution
คําตอบ 3 : จํานวน Formular Weight ของ Solute ใน 1000 ml ของ Solution
คําตอบ 4 : จํานวนกรัมสมมูลยของ Solute ใน 1000 ml ของ Solution

ขอที่ : 5 1 of 127
 ในการทําสารใหบริสุทธิ์ดวยการตกผลึก ขอใดตอไปนี้ไมมีอิทธิพลตอความบริสุทธิ์ของผลึกที่ได
คําตอบ 1 : ความเขมขนของสารละลาย
คําตอบ 2 : อุณหภูมิที่ใชในการตกผลึก
คําตอบ 3 : ชนิดของตัวทําละลาย

ย
คําตอบ 4 : ขนาดของภาชนะที่บรรจุสารละลาย

น่ า
ํจาห
ขอที่ : 6
ขอใดตอไปนี้อธิบาย application ของเทคนิคการตกตะกอนไมถูกตอง
คําตอบ 1 : การแยกสารที่ตองการออกจากสารผสม

ม
คําตอบ 2 : การวิเคราะหปริมาณสารดวยเทคนิค Gravimetric

้ า
คําตอบ 3 : การวิเคราะหปริมาณสารดวยเทคนิค Chromatographic

ิธ์ ห
คําตอบ 4 : การแยกสารที่ไมตองการหรือมลทินออกจากสารที่ตองการ

ิท
ขอที่ : 7

ส
ขอใดไมใช application ของสารประกอบเชิงซอน

วน
คําตอบ 1 : การวิเคราะหปริมาณโลหะอิออนดวยเทคนิค Complexometric Titration

ง
คําตอบ 2 : การวิเคราะหปริมาณโลหะอิออนดวยเทคนิค UV-VIS Spectrometry

ส
คําตอบ 3 : การวิเคราะหปริมาณโลหะอิออนดวยเทคนิค Atomic Absorption Spectroscopy

อ
คําตอบ 4 : การวิเคราะหปริมาณโลหะอิออนดวยเทคนิค Colorimetry

ขอที่ :

ก ร8
ข
ว
ขอใดตอไปนี้ไมสามารถเพิ่มความสามารถในการแยกสารออกจากสารละลาย

ศ
ิ
คําตอบ 1 : ลดอุณหภูมิหากสารนั้นละลายไดดีที่อุณหภูมิสูง

าว
คําตอบ 2 : เพิ่มอุณหภูมิหากสารนั้นละลายไดดีที่อุณหภูมิต่ํา

สภ
คําตอบ 3 : ทําสารละลายใหเจือจางมากๆ
คําตอบ 4 : ลดความสามารถในการละลายดวยการเติม Non-solvent

ขอที่ : 9
ขอใดไมใชสมบัติของตัวทําละลายสําหรับการแยกสกัดสาร
คําตอบ 1 : ตองไมละลายในตัวทําละลายเดิม
คําตอบ 2 : ตองมี Polarity ใกลเคียงตัวทําละลายเดิม 2 of 127
 คําตอบ 3 : ตองเบากวาตัวทําละลายเดิม
คําตอบ 4 : ตองมีความสามารถในการละลายสารนั้นไดดีกวาตัวทําละลายเดิม

ย
ขอที่ : 10

่ า
ขอใดไมใชสมบัติของ Non-solvent สําหรับการตกตะกอนแยกสาร

น
คําตอบ 1 : ตองละลายในตัวทําละลายเดิม (Miscible solvents)

ํจาห
คําตอบ 2 : ตองเบากวาตัวทําละลายเดิม
คําตอบ 3 : ตองมี Polarity ใกลเคียงตัวทําละลายเดิม
คําตอบ 4 : ตองมีความสามารถในการละลายสารนั้นไดนอยกวาตัวทําละลายเดิม

้ าม
ิธ์ ห
ขอที่ : 11
กรดไฮโดรคลอริคมีน้ําหนักโมเลกุล 36.5 อยากทราบวา 1 กรัมสมมูลยหนักเทาไร
คําตอบ 1 : 36.5 กรัม

ิท
คําตอบ 2 : 35.6 กรัม

ส
คําตอบ 3 : 73.0 กรัม

วน
คําตอบ 4 : 18.25 กรัม

ขอที่ :

สง
อ
12
กรดซัลฟูริคมีน้ําหนักโมเลกุล 98.0 อยากทราบวา 1 กรัมสมมูลยหนักเทาไร

ร ข
คําตอบ 1 : 98.0 กรัม

ก
คําตอบ 2 : 89.0 กรัม

ว
คําตอบ 3 : 49.0 กรัม

ศ
ิ
คําตอบ 4 : 196.0 กรัม

าว
สภ
ขอที่ : 13
KMnO4 มีน้ําหนักโมเลกุล 157.93 อยากทราบวา 1 กรัมสมมูลยของ KMnO4 ในปฏิกิริยา 2KMnO4 + 10FeSO4 + 8 H2SO4 = 2MnSO4 + 5Fe2
(SO4)3 + K2SO4 + 8H2O มีน้ําหนักเทาไร
คําตอบ 1 : 157.93 กรัม
คําตอบ 2 : 31.58 กรัม
คําตอบ 3 : 15.79 กรัม
คําตอบ 4 : 47.38 กรัม
3 of 127
ขอที่ : 14
FeSO4 มีน้ําหนักโมเลกุล 151.85 อยากทราบวา 1 กรัมสมมูลยของ FeSO4 ในปฏิกิริยา 2KMnO4 + 10FeSO4 + 8 H2SO4 = 2MnSO4 + 5Fe2(SO4)3
+ K2SO4 + 8H2O มีน้ําหนักเทาไร

ย
คําตอบ 1 : 151.85 กรัม

่ า
คําตอบ 2 : 303.70 กรัม

น
คําตอบ 3 : 75.92 กรัม

ํจาห
คําตอบ 4 : 227.77 กรัม

ม
ขอที่ : 15

้ า
Na2C2O4 มีน้ําหนักโมเลกุล 134.0 อยากทราบวา 1 กรัมสมมูลยของ Na2C2O4 ในปฏิกิริยา 2KMnO4 + 5Na2C2O4 + 3H2SO4 = 2MnSO4 +

ิธ์ ห
10CO2+ K2SO4 + 8H2O มีน้ําหนักเทาไร
คําตอบ 1 : 134.0 กรัม
คําตอบ 2 : 268.0 กรัม

ิท
คําตอบ 3 : 67.0 กรัม

นส
คําตอบ 4 : 201.0 กรัม

ขอที่ :

ง ว
ส
16
หาก KMnO4 เกิดปฏิกิริยารีดอกซแลวได Mn2+ เปนผลิตภัณฑ อยากทราบวาดางทับทิม 1 กรัมสมมูลยมีน้ําหนักเทาไร กําหนดน้ําหนักโมเลกุลดางทับทิมเทา

อ
กับ 158.04

ร ข
คําตอบ 1 : 158.04 กรัม

ก
คําตอบ 2 : 31.61 กรัม

ว
คําตอบ 3 : 79.02 กรัม

ศ
ิ
คําตอบ 4 : 15.80 กรัม

าว
สภ
ขอที่ : 17
หาก K2Cr2O7 ซึ่งมีน้ําหนักโมเลกุล 294.21 เกิดปฏิกิริยารีดักชันได Cr3+ อยากทราบวาโปแตสเซียมไดโครเมท 1 กรัมสมมูลยหนักเทาไร
คําตอบ 1 : 294.21 กรัม
คําตอบ 2 : 147.10 กรัม
คําตอบ 3 : 98.07 กรัม
คําตอบ 4 : 29.42 กรัม

4 of 127
ขอที่ : 18
หาก Na2C2O4 ซึ่งมีน้ําหนักโมเลกุล 134.0 เกิดปฏิกิริยารีดักชันได CO2 อยากทราบวาโซเดียมออกซาเลท 1 กรัมสมมูลยหนักเทาไร
คําตอบ 1 : 134.0 กรัม
คําตอบ 2 : 67.0 กรัม

ย
คําตอบ 3 : 44.7 กรัม

่ า
คําตอบ 4 : 13.4 กรัม

น
ํจาห
ขอที่ : 19
จากปฏิกิริยา K2Cr2O7 + 4H2SO4 + 3H2S = Cr2(SO4)3 + 7H2O + 3S + K2SO4 อยากทราบวาโปแตสเซียมไดโครเมท 1 กรัมสมมูลยในปฏิกิริยานี้มี

ม
น้ําหนักเทาไร กําหนด MW ของ K2Cr2O7 = 294.21

้ า
คําตอบ 1 : 294.21 กรัม

ิธ์ ห
คําตอบ 2 : 147.10 กรัม
คําตอบ 3 : 98.07 กรัม

ิท
คําตอบ 4 : 73.55 กรัม

ขอที่ : 20

นส
ง ว
จากปฏิกิริยา K2Cr2O7 + 4H2SO4 + 3H2S = Cr2(SO4)3 + 7H2O + 3S + K2SO4 อยากทราบวาไฮโดรเจนไดซัลไฟด 1 กรัมสมมูลยในปฏิกิริยานี้มี
น้ําหนักเทาไร กําหนด MW ของ H2S = 34.0

อ ส
คําตอบ 1 : 34.0 กรัม

ข
คําตอบ 2 : 17.0 กรัม

ร
คําตอบ 3 : 5.67 กรัม

ก
คําตอบ 4 : 11.33 กรัม

ศ
ิ ว
ว
ขอที่ : 21

า
จากปฏิกิริยา K2Cr2O7 + 4H2SO4 + 3H2S = Cr2(SO4)3 + 7H2O + 3S + K2SO4 อยากทราบวาไฮโดรเจนไดซัลไฟด 1 กรัมสมมูลยในปฏิกิริยานี้ มี

สภ
น้ําหนักเทาไร กําหนด MW ของ H2S = 34.0
คําตอบ 1 : 34.0 กรัม
คําตอบ 2 : 17.0 กรัม
คําตอบ 3 : 11.33 กรัม
คําตอบ 4 : 5.67 กรัม

ขอที่ : 22 5 of 127
 จากปฏิกิริยา K2Cr2O7 + 4H2SO4 + 3H2S = Cr2(SO4)3 + 7H2O + 3S + K2SO4 อยากทราบวา K2Cr2O7 1 กรัมสมมูลย ในปฏิกิริยานี้มีน้ําหนัก
เทาไร กําหนด MW ของ K2Cr2O7 = 294.21
คําตอบ 1 : 294.21 กรัม
คําตอบ 2 : 147.10 กรัม

ย
คําตอบ 3 : 98.07 กรัม

่ า
คําตอบ 4 : 73.55 กรัม

น
ํจาห
ขอที่ : 23
หาก MnO2 (น้ําหนักโมเลกุล 86.93 กรัม/โมล) ทําปฏิกิริยารีดักชันได Mn2+ อยากทราบวาแมงกานีสไดออกไซดในปฏิกิริยานี้ 1 กรัมสมมูลยมีน้ําหนักเทาไร

ม
คําตอบ 1 : 86.93 กรัม

้ า
คําตอบ 2 : 43.47 กรัม

ิธ์ ห
คําตอบ 3 : 21.73 กรัม
คําตอบ 4 : 17.39 กรัม

ขอที่ : 24

สิท
น
สารละลายขอใดเปนสารละลายมาตรฐานปฐมภูมิ

ง ว
คําตอบ 1 : KMnO4

ส
คําตอบ 2 : Na2C2O4

อ
คําตอบ 3 : I2

ข
คําตอบ 4 : Na2S2O3

ก ร
ว
ขอที่ : 25

ศ
ิ
ในการ Standardize หาความเขมขนของสารละลายมาตรฐาน KMnO4 นิยมใชสารประกอบขอใดเปนสารสอบเทียบ

าว
คําตอบ 1 : โซเดียมออกซาเลตในสารละลายกรด

สภ
คําตอบ 2 : โซเดียมออกซาเลตในสารละลายดาง
คําตอบ 3 : ไอโอดีนในสารละลายกรด
คําตอบ 4 : โซเดียมไธโอซัลเฟต

ขอที่ : 26
ในการ Standardize หาความเขมขนของสารละลายมาตรฐานไอโอดีน นิยมใชสารประกอบขอใดเปนสารสอบเทียบ

คําตอบ 1 : โซเดียมไธโอซัลเฟตในกรดออน 6 of 127

 คําตอบ 2 : โซเดียมไธโอซัลเฟตในกรดแก
คําตอบ 3 : โซเดียมไธโอซัลเฟตในดาง
คําตอบ 4 : โซเดียมออกซาเลตในกรดออน

่ าย
ขอที่ : 27

น
ในการ Standardize หาความเขมขนของสารละลายมาตรฐานโซเดียมไธโอซัลเฟต นิยมใชสารประกอบขอใดเปนสารสอบเทียบ

ํจาห
คําตอบ 1 : สารละลายไอโอดีนที่เตรียมจากเกล็ดไอโอดีนโดยตรง
คําตอบ 2 : สารละลายไอโอดีนที่สารละลายไอโอดีนที่ไดจาก โลหะทองแดงบริสุทธิ์ ทําปฏิกิริยากับ KI
คําตอบ 3 : สารละลายไอโอดีนที่สารละลายไอโอดีนที่ไดจากโลหะเงิน ทําปฏิกิริยากับ KI

ม
คําตอบ 4 : สารละลายไอโอดีนที่สารละลายไอโอดีนที่ไดจากโลหะสังกะสี ทําปฏิกิริยากับ KI

ขอที่ : 28

ิธ์ ห้ า
ตัวเลข 0.0030 มีเลขนัยสําคัญกี่ตําแหนง

ิท
คําตอบ 1 :

ส
1
คําตอบ 2 :

น
2

ว
คําตอบ 3 : 3

ง
คําตอบ 4 : 4

ขอที่ :

อ ส
ข
29

ร
ตัวเลข 0.606 มีเลขนัยสําคัญกี่ตําแหนง

ก
คําตอบ 1 : 1

ว
คําตอบ 2 : 2

ศ
ิ
คําตอบ 3 :

ว
3

า
คําตอบ 4 : 4

สภ
ขอที่ : 30
ตัวเลข 3.1784 +/- 0.0010 มีเลขนัยสําคัญกี่ตําแหนง
คําตอบ 1 : 1
คําตอบ 2 : 2
คําตอบ 3 : 3
คําตอบ 4 : 4
7 of 127
ขอที่ : 31
ขอใดรายงานผลไมถูกตอง
คําตอบ 1 : 4.271 ปดเปน 4.27

ย
คําตอบ 2 : 2.587 ปดเปน 2.59

่ า
คําตอบ 3 : 3.525 ปดเปน 3.52

น
คําตอบ 4 : 3.525 ปดเปน 3.53

ขอที่ : 32

ํจาห
ม
ขอใดรายงานผลถูกตอง

้ า
คําตอบ 1 : 3.525 ปดเปน 3.53

ิธ์ ห
คําตอบ 2 : 3.045 ปดเปน 3.50
คําตอบ 3 : 3.015 ปดเปน 3.02

ิท
คําตอบ 4 : 3.005 ปดเปน 3.01

นส
ว
ขอที่ : 33

ง
ขอใดเปนการรายงานผลที่ถูกตองสมบูรณ กรณี 4.795 + 5.11 = 9.905

ส
คําตอบ 1 : 9.905

อ
คําตอบ 2 : 9.90

ข
คําตอบ 3 : 9.91

ร
คําตอบ 4 :

ก
9.9050

ศ
ิ ว
ขอที่ : 34

ว
ขอใดเปนการรายงานผลที่ถูกตองสมบูรณ กรณี 4.795 + 5.12 = 9.915

า
สภ
คําตอบ 1 : 9.915
คําตอบ 2 : 9.91
คําตอบ 3 : 9.92
คําตอบ 4 : 9.9150

ขอที่ : 35
ขอใดเปนการรายงานผลที่ถูกตองสมบูรณ กรณี 1.33 x 1.1 = 1.463
8 of 127
 คําตอบ 1 : 1.463
คําตอบ 2 : 1.46
คําตอบ 3 : 1.50
คําตอบ 4 : 1.5

่ าย
น
ขอที่ : 36

ํจาห
ในการวิเคราะหปริมาณ Cu ในทองเหลือง วิธีใดตอไปนี้วิเคราะหไมได
คําตอบ 1 : Electrolysis
คําตอบ 2 : Redox Titration

ม
คําตอบ 3 :

้ า
Complexometic Titration
คําตอบ 4 :

ิธ์ ห
Spectrometric

ขอที่ : 37

ิท
ในการวิเคราะหปริมาณ Zn ในทองเหลือง วิธีใดตอไปนี้วิเคราะหไมได

ส
คําตอบ 1 :

น
Gravimetric

ว
คําตอบ 2 : Redox Titration

ง
คําตอบ 3 : Spectrometric

ส
คําตอบ 4 : Precipitation Titration

ขอที่ :

ร ข
38
อ
ก
ในการวิเคราะหปริมาณ Pb ในทองเหลือง วิธีใดตอไปนี้วิเคราะหไมได

ว
คําตอบ 1 : Redox Titration

ศ
ิ
คําตอบ 2 :

ว
Complexometric Titration

า
คําตอบ 3 : Gravimetric

สภ
คําตอบ 4 : Electrolysis

ขอที่ : 39
หากตองการวิเคราะหหาปริมาณตะกั่วในทองเหลืองดวยเทคนิค การตกตะกอน ควรใชสารใดเปน precipitant

คําตอบ 1 : HCl
คําตอบ 2 : H2SO4
คําตอบ 3 : CH3COOH 9 of 127
 คําตอบ 4 : HNO3

ขอที่ : 40

ย
หากตองการวิเคราะหหาปริมาณตะกั่วในทองเหลืองดวยเทคนิค การตกตะกอน เมื่อกรองตะกอนไดแลวตองทําอยางไรกอนชั่งน้ําหนัก

่ า
คําตอบ 1 : อบที่ 110 องศาเซลเซียส จนน้ําหนักไมเปลี่ยนแปลง

น
คําตอบ 2 : อบที่ 90 องศาเซลเซียส จนน้ําหนักไมเปลี่ยนแปลง

ํจาห
คําตอบ 3 : อบที่ 120 องศาเซลเซียส จนน้ําหนักไมเปลี่ยนแปลง
คําตอบ 4 : Ignition ที่ 900 - 1000 องศาเซลเซียส จนน้ําหนักไมเปลี่ยนแปลง

้ าม
ขอที่ : 41

ิธ์ ห
หากตองการวิเคราะหปริมาณตะกั่วในทองเหลือง ดวยเทคนิคไตเตรชัน ควรใชอะไรเปน Titrant
คําตอบ 1 : EDTA
คําตอบ 2 :

ิท
KMnO4
คําตอบ 3 :

ส
Na2S2O3
คําตอบ 4 :

น
Iodine Solution

ขอที่ : 42

ง ว
ส
หากตองการวิเคราะหปริมาณตะกั่วในทองเหลืองดวยเทคนิค Titration ควรใชสารใดเปนอินดิเคเตอร

ขอ
คําตอบ 1 : Methyl Orange

ร
คําตอบ 2 : Xylenol Orange

ก
คําตอบ 3 : Calcon

ว
คําตอบ 4 : Starch-Iodine

าวศ
ิ
ขอที่ : 43

สภ
หากตองการวิเคราะหปริมาณ Cu ในทองเหลือง ดวยเทคนิค Titration ควรใชสารใดเปนอินดิเคเตอร
คําตอบ 1 : Xylenol Orange
คําตอบ 2 : Methyl Orange
คําตอบ 3 : Stach-Iodine
คําตอบ 4 : Calceine

ขอที่ : 44 10 of 127
 หากตองการวิเคราะหปริมาณ Sn ในทองเหลืองดวยเทคนิค Titration ควรใชสารใดเปนอินดิเคเตอร
คําตอบ 1 : Xylenol Orange
คําตอบ 2 : Starch-Iodine
คําตอบ 3 : KMnO4 Self Indicator

ย
คําตอบ 4 :

่ า
Calcon

น
ํจาห
ขอที่ : 45
หากตองการวิเคราะหปริมาณ Fe ในทองเหลือง ดวยเทคนิค Titration ควรใชสารใดเปนอินดิเคเตอร
คําตอบ 1 : Methyl Orange

ม
คําตอบ 2 :

้ า
Xylenol Orange
คําตอบ 3 :

ิธ์ ห
KMnO4 Self Indicator
คําตอบ 4 : Starch- Iodine

ิท
ขอที่ : 46

ส
ขอใดคือหลักการคํานวณผลการวิเคราะห Redox Titration

วน
คําตอบ 1 : 1000 ml 1M Titrant = 1 gram equivalent of element

ง
คําตอบ 2 : 1000 ml 1N Titrant = 1 gram equivalent of element

ส
คําตอบ 3 : 1000 ml 1M Titrant = 1 gram mole of element

อ
คําตอบ 4 : 1000 ml 1N Titrant = 1 gram mole of element

ขอที่ :

ก ร ข
47

ว
ขอใดคือหลักการคํานวณผลการวิเคราะห Complexometric Titration

ศ
ิ
คําตอบ 1 :

ว
1000 ml 1 M Titrant = 1 gram mole of element

า
คําตอบ 2 : 1000 ml 1 N Titrant = 1 gram mole of element

สภ
คําตอบ 3 : 1000 ml 1 M Titrant = 1 gram equivalent of element
คําตอบ 4 : 1000 ml 1 N Titrant = 1 gram equivalent of element

ขอที่ : 48
ในการซื้อขายแมงกานีสไดออกไซดเพื่อใชในการผลิตแบตเตอรีแบบถานไฟฉายดั้งเดิม ผูซื้อจะสนใจเฉพาะ %MnO2 ไมสนใจวาแรนั้นมี Total Mn เทาไร
อยากทราบวาควรวิเคราะหดวยวิธีใด
คําตอบ 1 : ละลายแร กรอง แลวนําไปไตเตรตกับโซเดียมออกซาเลต
11 of 127
 ชั่งแรใสบีกเกอร แลวใหทําปฏิกิริยาโดยตรงกับโซเดียมออกซาเลตปริมาณมากเกินพอ แลวไตเตรตหาโซเดียมออกซาเลตที่เหลือดวยสาร
คําตอบ 2 :
ละลายมาตรฐาน KMnO4
คําตอบ 3 : ละลายแร กรอง แลวนําไปออกซิไดสดวยโซเดียมบิสมิวเตตใหอยูในรูปของ Mn7+ แลวจึงไตเตรตดวยสารละลายมาตรฐาน FeSO4
คําตอบ 4 : ละลายแร กรอง แลวนําไปไตเตรตกับโซเดียมบิสมิวเตต

่ าย
น
ขอที่ : 49
ในการซื้อขายแรแมงกานีสหากตองการทราบวาแรนั้นมี Total Mn เทาไร ควรวิเคราะหดวยวิธีใด

ํจาห
คําตอบ 1 : ละลายแร กรอง แลวนําไปไตเตรตกับโซเดียมออกซาเลต
คําตอบ 2 : ละลายแร กรอง แลวนําไปไตเตรตกับโซเดียมบิสมิวเตต

ม
คําตอบ 3 : ละลายแร กรอง แลวนําไปออกซิไดสดวยโซเดียมบิสมิวเตตใหอยูในรูปของ Mn7+ แลวจึงไตเตรตดวยสารละลายมาตรฐาน FeSO4

้ า
ชั่งแรใสบีกเกอร แลวใหทําปฏิกิริยาโดยตรงกับโซเดียมออกซาเลตปริมาณมากเกินพอ แลวไตเตรตหาโซเดียมออกซาเลตที่เหลือดวยสาร

ิธ์ ห
คําตอบ 4 :
ละลายมาตรฐาน KMnO4

ิท
ขอที่ : 50

ส
ขอใดอธิบายการวิเคราะห Iodine Methode ไมถูกตอง

น
คําตอบ 1 : การวิเคราะหแบบ Direct Titration คือ ใชสารละลายไอโอดีน เปนไตแตรนท เราสามารถใสน้ําแปงไดตั้งแตตน

ว
คําตอบ 2 : การวิเคราะหแบบ Direct Titration คือ ใชสารละลายไอโอดีน เปนไตแตรนท ไมนิยมใสน้ําแปงตั้งแตตน

ง
คําตอบ 3 : การวิเคราะหแบบ Indirect Titration คือ ไอโอดีนเปนตัวทําปฏิกิริยากับไตแตรนท ไมนิยมใสน้ําแปงตั้งแตตน

อ ส
คําตอบ 4 : การวิเคราะหปริมาณดีบุกในสารละลายดวย Iodine Methode เราสามารถใสน้ําแปงไดตั้งแตตน

ขอที่ :

ก ร ข
51

ว
จากคา Eo ของปฏิกิริยา MnO4- + 8H+ + 5e- = Mn2+ + 4H2O; Fe3+ + 2e- = Fe2+ และปฏิกิริยา Cl2 + 2e- = 2Cl- เทากับ 1.51V; 0.771 V และ
1.36 V ตามลําดับ ขอใดกลาวไมถูกตอง หากไตเตรต สารละลายเหล็กดวย KMnO4 โดยมิไดเติม Zimmermann Reagent

วศ
ิ
คําตอบ 1 : Cl2 จะ oxidize Mn2+ เปน Mn7+

า
คําตอบ 2 : Cl2 จะ reduce Mn7+ เปน Mn2+

สภ
คําตอบ 3 : KMnO4 จะ oxidize ทั้ง Cl2 และ Fe2+
คําตอบ 4 : สีเหลืองของ Fe3+ จะรบกวนสีของจุดยุติ

ขอที่ : 52
จากคา Eo ของปฏิกิริยา MnO4- + 8H+ + 5e- = Mn2+ + 4H2O และปฏิกิริยา Cl2 + 2e- = 2Cl- เทากับ 1.51 V และ 1.36 V ตามลําดับ จะเกิดอะไรขึ้น
หากไตเตรตสารละลายเหล็กดวย KMnO4 โดยมิไดเติม Zimmermann Reagent

คําตอบ 1 : จะใช KMnO4 นอยกวาที่ควร เนื่องจาก Cl2 จะ oxidize Mn2+ กลับเปน Mn7+ 12 of 127
 คําตอบ 2 : จะใช KMnO4 มากกวาที่ควร เนื่องจาก Cl2 จะ reduce Mn7+ เปน Mn2+ ดวย
คําตอบ 3 : Cl2 ไมมีสวนเกี่ยวของกับการไตเตรตนี้
คําตอบ 4 : Zimmermann Reagent ไมมีสวนเกี่ยวของกับการไตเตรตนี้

่ าย
ขอที่ : 53

น
ในการวิเคราะหปริมาณทองแดงในโลหะผสม ควรละลายดวยกรดใด

ํจาห
คําตอบ 1 : กรดไนตริก
คําตอบ 2 : กรดไฮโดรคลอริค
คําตอบ 3 : กรดซัลฟูริค

ม
คําตอบ 4 : กรดกัดทอง

ขอที่ : 54

ิธ์ ห้ า
ในการวิเคราะหปริมาณ Cu ในแรทองแดง ควรละลายดวยกรดใด

ิท
คําตอบ 1 : กรดไนตริก

ส
คําตอบ 2 : กรดไฮโดรคลอริค

วน
คําตอบ 3 : กรดกัดทอง

ง
คําตอบ 4 : กรดซัลฟูริค

ขอที่ :

อ ส
ข
55

ร
ในการวิเคราะหปริมาณทองแดงในโลหะผสม ดวยเทคนิคอิเลคโตรไลซิส โดยใชสารละลายโลหะในกรดไนตริกเปนอิเลคโทรไลต และใช Pt เปนอิเลคโทรด

ก
อยากทราบวาขอใดกลาวถูกตอง

ว
คําตอบ 1 : โลหะทองแดงจะไปสะสมที่ขั้วแคโทด

ศ
ิ
คําตอบ 2 : โลหะทองแดงจะไปสะสมที่ขั้วแอโนด

ว
คําตอบ 3 : เกิดกาซ NO2 ที่ขั้วแอโนด

า
คําตอบ 4 : เกิดกาซ O2 ที่ขั้วแคโทด

สภ
ขอที่ : 56
ในการวิเคราะหปริมาณทองแดงในโลหะผสม ดวยเทคนิคอิเลคโตรไลซิส โดยใชสารละลายโลหะในกรดไนตริกเปนอิเลคโทรไลต และใช Pt เปนอิเลคโทรด จะ
ทราบไดอยางไรวา Cu2+ ในสารละลายเกิดปฏิกิริยาสมบูรณแลว
คําตอบ 1 : โลหะทองแดงที่ขั้วแคโทดเริ่มละลายกลับมาในสารละลาย
คําตอบ 2 : ไมมีสีฟาของ CuSO4 เมื่อหยด H2SO4 ลงในสารละลาย
คําตอบ 3 : เริ่มมีกาซปรากฏที่ขั้วแคโทด 13 of 127
 คําตอบ 4 : โลหะที่อิเลคโทรดเริ่มเกิดปฏิกิริยาออกซิเดชัน

ขอที่ : 57

ย
หากตองการเตรียมสารละลาย 0.1 N HNO3 ปริมาณ 500 ml จะตองใชกรดไนตริกเขมขนกี่มิลลิลิตร (ml) กําหนดกรดไนตริกเขมขน มีสมบัติดังนี้ HNO3

่ า
65% w/w น้ําหนักโมเลกุล 63 กรัม/โมล ความหนาแนน 1.4 g/ml

น
คําตอบ 1 : 3.5 ml

ํจาห
คําตอบ 2 : 2.2 ml
คําตอบ 3 : 3.2 ml
คําตอบ 4 : 4.8 ml

้ าม
ิธ์ ห
ขอที่ : 58
หากตองการเตรียมสารละลาย 0.1 N H2SO4 ปริมาณ 500 ml จะตองใชกรดซัลฟูริคเขมขนกี่มิลลิลิตร (ml) กําหนดกรดซัลฟูริค เขมขน มีสมบัติดังนี้ H2SO4
70% w/w น้ําหนักโมเลกุล 98.08 กรัม/โมล ความหนาแนน 1.84 g/ml

ิท
คําตอบ 1 : 3.8 ml

ส
คําตอบ 2 : 1.9 ml

น
คําตอบ 3 : 1.3 ml

ว
คําตอบ 4 :

ง
2.6 ml

ขอที่ : 59

อ ส
ข
หากตองการเตรียมสารละลาย 0.1 N HCl ปริมาณ 500 ml จะตองใชกรดไฮโดรคลอริคเขมขนกี่มิลลิลิตร (ml) กําหนดกรดไฮโดรคลอริค เขมขน มีสมบัติดังนี้

ร
HCl 33% w/w น้ําหนักโมเลกุล 36.5 กรัม/โมล ความหนาแนน 1.2 g/cm3

ก
คําตอบ 1 :

ว
5.5 ml

ศ
ิ
คําตอบ 2 : 4.6 ml

ว
คําตอบ 3 : 2.3 ml

า
คําตอบ 4 : 1.5 ml

สภ
ขอที่ : 60
หากตองการเตรียมสารละลาย 0.1 M H2SO4 ปริมาณ 500 ml จะตองใชกรดซัลฟูริคเขมขนกี่มิลลิลิตร (ml) กําหนดกรดซัลฟูริคเขมขน มีสมบัติดังนี้ H2SO4
70% w/w น้ําหนักโมเลกุล 98.08 กรัม/โมล ความหนาแนน 1.84 g/ml
คําตอบ 1 : 1.9 ml
คําตอบ 2 : 3.8 ml
คําตอบ 3 : 4.2 ml 14 of 127
 คําตอบ 4 : 7.6 ml

ขอที่ : 61

ย
หากตองการเตรียมสารละลาย 0.1 M HNO3 ปริมาณ 500 ml จะตองใชกรดไนตริกเขมขนกี่มิลลิลิตร (ml) กําหนดกรดไนตริกเขมขน มีสมบัติดังนี้ HNO3

่ า
65% w/w น้ําหนักโมเลกุล 63 กรัม/โมล ความหนาแนน 1.4 g/cm3

น
คําตอบ 1 : 3.5 ml

ํจาห
คําตอบ 2 : 2.8 ml
คําตอบ 3 : 3.2 ml
คําตอบ 4 : 4.2 ml

้ าม
ิธ์ ห
ขอที่ : 62
หากตองการเตรียมสารละลาย 0.1 M HCl ปริมาณ 500 ml จะตองใชกรดไฮโดรคลอริคเขมขนกี่มิลลิลิตร (ml) กําหนดกรดไฮโดรคลอริค เขมขน มีสมบัติดังนี้
HCl 33% w/w น้ําหนักโมเลกุล 36.5 กรัม/โมล ความหนาแนน 1.2 g/cm3

ิท
คําตอบ 1 : 4.6 ml

ส
คําตอบ 2 : 2.3 ml

น
คําตอบ 3 : 3.2 ml

ว
คําตอบ 4 :

ง
6.4 ml

ขอที่ : 63

อ ส
ข
การวิเคราะหปริมาณธาตุแมงกานีสที่เจือปนอยูในปริมาณนอยๆ ในสารละลายตัวอยาง จํานวน 2 ตัวอยาง ควรใชเทคนิคใด

ร
คําตอบ 1 :

ก
NMR

ว
คําตอบ 2 : OES

ศ
ิ
คําตอบ 3 : ICP

ว
คําตอบ 4 : AAS

า
สภ
ขอที่ : 64
ขอใดเปนสวนประกอบจําเปนของ Visible-Spectrometer
คําตอบ 1 : sodium lamp
คําตอบ 2 : x-ray source
คําตอบ 3 : tungsten lamp
คําตอบ 4 : deuterium lamp
15 of 127
ขอที่ : 65
ขอใดไมใชสวนประกอบของ UV - Vis spectrometer
คําตอบ 1 : nebulizer

ย
คําตอบ 2 :

่ า
light source
คําตอบ 3 :

น
monochromator
คําตอบ 4 : detector

ขอที่ : 66

ํจาห
ม
ขอมูลใดไมถูกตอง

้ า
คําตอบ 1 : AAS เกี่ยวของกับ absorption process

ิธ์ ห
คําตอบ 2 : ICP เกี่ยวของกับ absorption และ emission process
คําตอบ 3 : AAS มี selectivity สูงกวา ICP

ิท
คําตอบ 4 : AAS วิเคราะหไดครั้งละ 1 ธาตุ

นส
ว
ขอที่ : 67

ง
เปรียบเทียบ UV - Vis spectrometer และ AAS ขอใดถูกตอง

ส
คําตอบ 1 : AAS เตรียมตัวอยางไดยากกวา

อ
คําตอบ 2 : AAS เกี่ยวของกับการเปลงแสงของอะตอม

ข
คําตอบ 3 : UV - Vis เกี่ยวของกับการเปลงแสงระดับโมเลกุลหรือสารประกอบ

ร
คําตอบ 4 : AAS เตรียมตัวอยางไดงายกวา

วก
ศ
ิ
ขอที่ : 68

ว
ขอใดไมเปนไปตามกฎเกณฑของ Beer’s law

า
สภ
คําตอบ 1 : สารที่ดูดกลืนคลื่นแสงเปนอิสระตอกัน
คําตอบ 2 : คลื่นแมเหล็กไฟฟาที่ตกกระทบสารเปน monochromatic light .
คําตอบ 3 : กระบวนการดูดกลืนคลื่นแสงเกิดขึ้นในปริมาตรที่มีหนาตัดคงที่
คําตอบ 4 : Refractive index ของตัวกลาง ขึ้นกับความเขมขนของสาร

ขอที่ : 69
ขอใดไมเปนไปตามกฎเกณฑของ Lambert-Beer’s law
16 of 127
 คําตอบ 1 : สารที่ดูดกลืนคลื่นแสงเปนอิสระตอกัน
คําตอบ 2 : คลื่นแมเหล็กไฟฟาที่ตกกระทบสารเปน monochromatic light .
คําตอบ 3 : กระบวนการดูดกลืนคลื่นแสงเกิดขึ้นในปริมาตรที่มีหนาตัดคงที่
คําตอบ 4 : Refractive index ของตัวกลาง แปรตามความเขมขนของสาร

่ าย
น
ขอที่ : 70

ํจาห
ขอใดเปนไปตาม Beer’s law
คําตอบ 1 : การดูดกลืนแสงแปรผกผันกับระยะทางที่แสงผาน
คําตอบ 2 : ความเขมขนของสารแปรตามปริมาณการดูดกลืนแสง

ม
คําตอบ 3 : การดูดกลืนแสงไมขึ้นกับความยาวคลื่น

้ า
คําตอบ 4 : การดูดกลืนแสงแปรตามความเขมขนของสาร

ขอที่ : 71
ิธ์ ห
ิท
การวิเคราะหโดย UV - Vis spectrometer จะตองใชสารตัวอยางที่มีลักษณะใด

ส
คําตอบ 1 : ตัวอยางที่นํามาเขาเครื่องวัดตองเปนของเหลวหรือแกสที่มีสี

วน
คําตอบ 2 : สารตัวอยางที่นํามาเขาเครื่องวัดตองเตรียมเปน complex ที่มีสีเสมอ

ง
คําตอบ 3 : สารตัวอยางที่นํามาเขาเครื่องวัดจะตองใส ไมมีตะกอนหรือสารแขวนลอย

ส
คําตอบ 4 : สารตัวอยางที่นํามาเขาเครื่องวัดตองเปนของเหลวบริสุทธิ์เทานั้น

ขอที่ :

ร ข
72
อ
ก
ขอใดเปนลักษณะของการวิเคราะหโดย Visible - spectrometry .

ว
คําตอบ 1 : สารละลายตัวอยางที่นํามาเขาเครื่องวัด โดยทั่วไปจะมีสี

ศ
ิ
คําตอบ 2 : สารละลายตัวอยางที่นํามาเขาเครื่องวัด จะมีสีหรือไมมีสีก็ได

าว
คําตอบ 3 : จะตองใชความยาวคลื่นอยูในชวง 200 - 800 nm

สภ
คําตอบ 4 : จะตองใชความยาวคลื่นอยูในชวง 200 - 400 nm

ขอที่ : 73
ขอแตกตางระหวาง Single beam Instrument และ Double beam Instrument

คําตอบ 1 : Double beam Instrument วัด blank และตัวอยางในคราวเดียวกัน แต Single beam วัด blank และตัวอยางคนละครั้ง
คําตอบ 2 : Single beam Instrument มีระบบทางเดินแสงซับซอนกวา Double beam Instrument
คําตอบ 3 : Single beam Instrument วัดตัวอยางไดครั้งละ 1 ตัวอยาง แต Double beam Instrument วัดตัวอยางไดครั้งละ 2 ตัวอยาง 17 of 127
 คําตอบ 4 : Single beam Instrument วัด blank และตัวอยางในคราวเดียวกัน แต Double beam วัด blank และตัวอยางคนละครั้ง

ขอที่ : 74

ย
ถานําสารละลาย A ความเขมขน 4 ppm (M.W. = 75) ไปวัดคา absorbance ที่ความยาวคลื่น 620 nm ไดคา absorbance = 0.394 ระยะทางที่แสงผาน =

่ า
10 mm คา absorptivity ของสาร A จะมีคาเทาไร

น
คําตอบ 1 : 0.0985 litre/(mg-mm)

ํจาห
คําตอบ 2 : 0.0985 litre/(mg-cm)
คําตอบ 3 : 0.0985
คําตอบ 4 : 0.0985 mg/(litre-mm)

้ าม
ิธ์ ห
ขอที่ : 75
ความแตกตางที่ชัดเจนของ FAAS และ ICP คือ
คําตอบ 1 : monochromator

ิท
คําตอบ 2 : light source

ส
คําตอบ 3 : read - out device

น
คําตอบ 4 :

ว
nebulizer

ขอที่ : 76

สง
อ
ขอใดไมใชสวนประกอบของเครื่อง ICP

ร ข
คําตอบ 1 : monochromator

ก
คําตอบ 2 : nebulizer

ว
คําตอบ 3 : radio frequency generator

ศ
ิ
คําตอบ 4 : burner

าว
สภ
ขอที่ : 77
แกสที่ใชงานในระบบของเครื่อง ICP คือ
คําตอบ 1 : nitrous oxide
คําตอบ 2 : acetylene
คําตอบ 3 : propane
คําตอบ 4 : argon

18 of 127
ขอที่ : 78
แกสที่ไมไดใชกับ AAS ไดแก
คําตอบ 1 : nitrous oxide
คําตอบ 2 : acetylene

ย
คําตอบ 3 :

่ า
argon
คําตอบ 4 :

น
propane

ํจาห
ขอที่ : 79
AAS ใชกับการวิเคราะหแบบใด

ม
คําตอบ 1 :

้ า
Qualitative analysis
คําตอบ 2 :

ิธ์ ห
Quantitative analyais
คําตอบ 3 : Qualitative analysis and Quantitative analyais
คําตอบ 4 : Micro analysis

ขอที่ : 80

สิท
วน
เครื่องมือวิเคราะหชนิดใดที่ตองใชแกสเชื้อเพลิง

ง
คําตอบ 1 : UV - Vis spectrometer

ส
คําตอบ 2 : EDX

อ
คําตอบ 3 : FAAS

ข
คําตอบ 4 : WDX

ก ร
ว
ขอที่ : 81

ศ
ิ
ขอใดไมใชเทคนิคของ Redox Titration

าว
คําตอบ 1 : Direct Titration

สภ
คําตอบ 2 : Back Titration
คําตอบ 3 : Indirect Titration
คําตอบ 4 : Displacement Titration

ขอที่ : 82
ขอใดไมใชเทคนิคของ Complexometric Titration

คําตอบ 1 : Direct Titration 19 of 127

 คําตอบ 2 : Indirect Titration
คําตอบ 3 : Displacement Titration
คําตอบ 4 : Back Titration

่ าย
ขอที่ : 83

น
ขอใดไมใชเงื่อนไขที่จําเปนสําหรับ Redox Direct Titration

ํจาห
คําตอบ 1 : ธาตุที่จะวิเคราะหตองมีเลขออกซิเดชั่นตั้งแต 2 คาขึ้นไป
คําตอบ 2 : ธาตุที่จะวิเคราะหตองเกิดออกซิเดชั่นไดงาย
คําตอบ 3 : ธาตุที่จะวิเคราะหตองเกิดรีดักชั่นไดงาย

ม
คําตอบ 4 : ตองเกิดปฏิกิริยาเดียว ณ สภาวะที่ใชในการไตเตรต

ขอที่ : 84

ิธ์ ห้ า
ขอใดไมใชเงื่อนไขที่จําเปนสําหรับ Redox Back titration

ิท
คําตอบ 1 : ธาตุที่จะวิเคราะหตองเกิดรีดักชั่นไดงาย

ส
คําตอบ 2 : ธาตุที่จะวิเคราะหตองเกิดออกซิเดชั่นไดงาย

วน
คําตอบ 3 : ธาตุที่จะวิเคราะหตองมีเลขออกซิเดชั่นตั้งแต 2 คาขึ้นไป

ง
คําตอบ 4 : ตองเกิดปฏิกิริยาสมบูรณ ณ สภาวะที่ใชในการไตเตรต

ขอที่ :

อ ส
ข
85

ร
ขอใดไมใชเงื่อนไขที่จําเปนสําหรับการวิเคราะหโลหะอิออนดวยเทคนิค Complexometric Titration

ก
คําตอบ 1 : โลหะที่จะวิเคราะหตอง Form Complex กับ Titrant สัดสวน 1:1 เสมอ

ว
คําตอบ 2 : pH เปนปจจัยสําคัญ ตองเลือกไตเตรตที่ pH เหมาะสม

ศ
ิ
คําตอบ 3 : pH ไมใชปจจัยสําคัญ จะไตเตรตที่ pH ใดก็ได

าว
คําตอบ 4 : Titrant ที่นิยมใชใน Complexometric Titration คือ EDTA

สภ
ขอที่ : 86
ขอใดอธิบายการไตเตรต Pb2+ ดวยเทคนิค Complexometric ไมถูกตอง
คําตอบ 1 : เปน Direct Titration
คําตอบ 2 : สารประกอบเชิงซอน Pb-EDTA มีเสถียรภาพสูงกวา Pb-Indicator
คําตอบ 3 : สารประกอบเชิงซอน Pb-EDTA มีเสถียรภาพต่ํากวา Pb-Indicator
คําตอบ 4 : นิยมใช Xylenol Orange เปนอินดิเคเตอร
20 of 127
ขอที่ : 87
ขอใดอธิบาย Back Complexometric Titration ไมถูกตอง
คําตอบ 1 : สารประกอบเชิงซอน M-EDTA มีเสถียรภาพต่ํากวา M-Indicator

ย
คําตอบ 2 : สารประกอบเชิงซอน M-EDTA มีเสถียรภาพสูงกวา M-Indicator

่ า
คําตอบ 3 : เปนการไตเตรตโดยเติม EDTA ลงในสารละลายในปริมาณ Known Excess

น
คําตอบ 4 : การไตเตรตหา EDTA ที่เหลือหรือมากเกินพอ นิยมไตเตรตดวยสารละลาย PbNO3 และใช Xylenol Orange เปนอินดิเคเตอร

ขอที่ : 88

ํจาห
ม
ขอใดเปนหลักการคํานวณที่ถูกตองสําหรับ Complexometric Titration

้ า
คําตอบ 1 : gm-E Titrant = gm-E Element (gm-E = จํานวนกรัมสมมูลย)

ิธ์ ห
คําตอบ 2 : gm-E Titrant = gm-mole Element
คําตอบ 3 : gm-mole Titrant = gm-E Element

ิท
คําตอบ 4 : gm-mole Titrant = gm-mole Element

นส
ว
ขอที่ : 89

ง
ขอใดเปนหลักการคํานวณที่ถูกตองสําหรับ Redox Titration

ส
คําตอบ 1 : gm-mole Titrant = gm-mole element (gm-mole = จํานวนโมล)

อ
คําตอบ 2 : gm-mole Titrant = gm-E element (gm-mole = จํานวนโมล)

ข
คําตอบ 3 : gm-E Titrant = gm-E Eelement (gm-E = จํานวนกรัมสมมูลย)

ร
คําตอบ 4 :

ก
gm-E Titrant = gm-mole element

ศ
ิ ว
ขอที่ : 90

ว
ในการไตเตรต Pb2+ ดวย EDTA และใช Xylenol Orange เปนอินดิเคเตอร หากสารละลาย Pb2+ สารละลาย EDTA และสารละลาย Pb-EDTA ไมมีสี

า
ขณะที่สารละลาย Xylenol Orange มีสีเหลือง และสารละลาย Pb-Xylenol Orange มีสีมวงแดง อยากทราบวาที่จุดยุติมีการเปลี่ยนแปลงสีอยางไร

สภ
คําตอบ 1 : สีเหลือง เปลี่ยนเปน สีมวงแดง
คําตอบ 2 : สีมวงแดง เปลี่ยนเปน สีเหลือง
คําตอบ 3 : ไมมีสี เปลี่ยนเปน สีเหลือง
คําตอบ 4 : ไมมีสี เปลี่ยนเปน สีมวงแดง

ขอที่ : 91
21 of 127
ในการไตเตรต Fe3+ ดวย EDTA โดยวิธี Back Titration และใช Pb2+/Xylenol Orange เปน reagents สําหรับการไตเตรตยอนกลับ หากสารละลาย Pb2+
 สารละลาย EDTA สารละลาย Pb-EDTA และสารละลาย Fe-EDTA ไมมีสี ขณะที่สารละลาย Xylenol Orange มีสีเหลือง และสารละลาย Pb-Xylenol
Orange มีสีมวงแดง อยากทราบวาที่จุดยุติมีการเปลี่ยนแปลงสีอยางไร
คําตอบ 1 : สีมวงแดง เปลี่ยนเปน สีเหลือง
คําตอบ 2 : สีเหลือง เปลี่ยนเปน สีมวงแดง

ย
คําตอบ 3 : ไมมีสี เปลี่ยนเปน สีมวงแดง

่ า
คําตอบ 4 : ไมมีสี เปลี่ยนเปน สีเหลือง

น
ํจาห
ขอที่ : 92
ในการไตเตรตหาปริมาณ Al3+ และ Fe3+ ในสารละลาย Al3+ ซึ่งมี Fe3+ เปนมลทิน ดวยวิธี Displacement Complexometric Titration อยากทราบวาขอ

ม
ใดกลาวไมถูกตอง

้ า
คําตอบ 1 : เริ่มตนดวยการไตเตรตหาปริมาณ Al3+ + Fe3+ โดยวิธี Back Titration

ิธ์ ห
คําตอบ 2 : หาปริมาณ EDTA ที่ทําปฏิกิริยาพอดีกับ Al3+ โดยการแทนที่ EDTA ใน Pb-EDTA ดวย NaF
คําตอบ 3 : ไตเตรตหาปริมาณ EDTA ที่ทําปฏิกิริยาพอดีกับ Al3+ โดยใช Pb2+/Xylenol Orange System
คําตอบ 4 : ณ จุดยุติจะมีการเปลี่ยนแปลงสีจากสีมวงแดงเปนสีเหลือง

สิท
น
ขอที่ : 93

ว
ในการวิเคราะหหาปริมาณ Fe3+ ในสารละลายกรด HCl ดวย Direct Titration โดยใช KMnO4 เปนไตแตรนท จะตองเติม Zimmerman Reagent อยาก

ง
ทราบวาขอใดไมใชหนาที่หรือบทบาทของ Zimmerman Reagent

ส
คําตอบ 1 : ปรับ pH ใหเหมาะสม

อ
คําตอบ 2 : ปองกันมิให Cl- อิออนในสารละลาย ทําปฏิกิริยากับ KMnO4

ร ข
คําตอบ 3 : กําจัดสีเหลืองของ Fe3+ เพื่อมิใหรบกวนสีของอินดิเคเตอร ณ จุดยุติ

ก
คําตอบ 4 : ทําหนาที่เปนอินดิเคเตอร

ศ
ิ ว
ว
ขอที่ : 94

า
ในการวิเคราะหหาปริมาณ Fe3+ ในสารละลายกรด HCl ดวย Direct Titration โดยใช KMnO4 เปนไตแตรนท จะตองเติม Zimmerman Reagent อยาก

สภ
ทราบวากรณีที่เปนสารละลาย Fe3+ ในกรด H2SO4 จะตองเติม Zimmerman Reagent หรือไม
คําตอบ 1 : ตองเติม Zimmerman Reagent เสมอ ไมวากรณีใดๆ
คําตอบ 2 : ไมจําเปนตองเติม Zimmerman Reagent แตตองเติม H3PO4 2-3 หยดแทน
คําตอบ 3 : ไมจําเปนตองเติม Zimmerman Reagent แตตองเติม H2SO4 2-3 หยดแทน
คําตอบ 4 : ไมจําเปนตองเติม Zimmerman Reagent ทําการไตเตรตไดเลย

ขอที่ : 95
22 of 127
 ในการไตเตรตหาปริมาณ Ca2+ ดวยวิธี Complexometric Titration จะตองเติม สารละลาย 20%TEA, 1%KCN และ 20%KOH ตามลําดับ ขอใดอธิบาย
เกี่ยวกับ Reagents ทั้งสามไมถูกตอง
คําตอบ 1 : Reagents ทั้งสาม ทําหนาที่เปน Masking Agent
คําตอบ 2 : นิยมเรียก Reagents ทั้งสามวา Zimmerman Reagent

ย
คําตอบ 3 : ลําดับขั้นการเติม Reagents ทั้งสาม คือ KOH -> TEA -> KCN ตามลําดับ

่ า
คําตอบ 4 : การเติม Masking Agent ในสารละลาย Ca2+ หามเติม KCN กอน TEA เพราะอาจเกิดอันตรายจาก HCN

น
ํจาห
ขอที่ : 96
ในการวิเคราะห Cu2+ ในสารละลายแรหรือโลหะทองแดงดวยวิธี Redox Indirect Titration กอนที่จะเติม KI เพื่อใหเกิด I2 นั้น จะตองเติม NH4OH เพื่อ

ม
กําจัด Fe3+ ที่เปนมลทิน และปรับ pH กลับใหเปนกรดออนๆ อยากทราบวาควรใชอินดิเคเตอรใดในการระบุ pH ของสารละลาย

้ า
คําตอบ 1 : pH paper

ิธ์ ห
คําตอบ 2 : ไมตองใชอินดิเคเตอร เนื่องจาก Cu2+ ในดางมีสีน้ําเงิน แตจะมีสีฟาในสารละลายกรด จึงเปน Self Indication
คําตอบ 3 : Phenolpthalien
คําตอบ 4 :

ิท
Methyl Orange

ขอที่ : 97

นส
ว
ในการไตเตรต Fe3+ ดวย KMnO4 ควรใชอะไรเปนอินดิเคเตอร

สง
คําตอบ 1 : Methyl Orange

อ
คําตอบ 2 : Xylenol Orange

ข
คําตอบ 3 : Calcon

ร
คําตอบ 4 : ไมตองใช เนื่องจาก KMnO4 เปน Self Indicator

วก
ศ
ิ
ขอที่ : 98

ว
ในการวิเคราะหปริมาณดีบุกดวยวิธี Redox Titration โดยใชสารละลายไอโอดีนเปนไตแตรนท ควรใชอะไรเปนอินดิเคเตอร

า
คําตอบ 1 : ไมตองใช เนื่องจากไอโอดีนเปน Self Indication

สภ
คําตอบ 2 : Starch-Iodine
คําตอบ 3 : Xylenol Orange
คําตอบ 4 : Calcon

ขอที่ : 99
ในการวิเคราะหปริมาณ Cu2+ ดวยวิธี Indirect Redox Titration โดยไตเตรตปริมาณไอโอดีนที่เกิดขึ้นดวยสารละลายโซเดียมไธโอซัลเฟต ควรใชอะไรเปน
อินดิเคเตอรในการไตเตรต 23 of 127
 คําตอบ 1 : ไมตองใช เนื่องจากไอโอดีน เปน Self Indicator
คําตอบ 2 : Starch-Iodine
คําตอบ 3 : Xylenol Orange
คําตอบ 4 : Calcon

่ าย
น
ขอที่ : 100

ํจาห
ขอใดไมเกี่ยวของกับการวิเคราะหหินปูน
คําตอบ 1 : การหยดกรดลงบนตัวอยางหินแลวเกิดฟองฟู แสดงวาเปนแรคารบอเนต
คําตอบ 2 : อบที่ 105 องศาเซียลเซียส เพื่อหา Moisture Content

ม
คําตอบ 3 : อบที่ 950 องศาเซียลเซียส เพื่อหา Ignition Loss

้ า
คําตอบ 4 : นิยมละลายดวยวิธี Fusion

ขอที่ : 101
ิธ์ ห
ิท
ขอใดไมเกี่ยวของกับการวิเคราะหดินขาว

ส
คําตอบ 1 : เตรียมสารละลาย A (เพื่อหาองคประกอบที่ไมใช Alkali) โดยการ Fusion กับ NaOH

วน
คําตอบ 2 : เตรียมสารละลาย B (เพื่อหาองคประกอบ Na และ/หรือ K) โดยเติมกรด HF ตมไลเพื่อกําจัด SiO2 แลวจึงละลายดวยกรดไนตริก

ง
คําตอบ 3 : วิเคราะห TiO2 ดวยเทคนิค UV-VIS Spectroscopy

ส
คําตอบ 4 : วิเคราะห TiO2 ดวยเทคนิค Redox Titration

ขอที่ :

ร ขอ
102

ก
ขอใดไมใชองคประกอบสําคัญของเครื่อง AA

ว
คําตอบ 1 : Light Source

ศ
ิ
คําตอบ 2 :

ว
Atomizer

า
คําตอบ 3 : Monochromator

สภ
คําตอบ 4 : Torch

ขอที่ : 103
ขอใดไมใชองคประกอบของ UV-VIS Spectrometer

คําตอบ 1 : Light Source

คําตอบ 2 : Monochromator
คําตอบ 3 : Atomizer 24 of 127
 คําตอบ 4 : Detector

ขอที่ : 104

ย
ขอใดไมใชเทคนิคการผลิตพลาสมาสําหรับ Emission Spectroscopy

่ า
คําตอบ 1 : Direct Current Plasma

น
คําตอบ 2 : Inductively Coupled Plasma

ํจาห
คําตอบ 3 : Microwave Induced Plasma
คําตอบ 4 : Infrared Induced Plasma

้ าม
ขอที่ : 105

ิธ์ ห
ขอใดอธิบายความเหมือนหรือตางกันระหวาง UV-VIS Spectroscopy กับ Colorimetry ไมถูกตอง
คําตอบ 1 : ทั้ง 2 เทคนิคตางเปนการวิเคราะหสารโดยอาศัย Interaction ระหวาง Light กับ Matter
คําตอบ 2 : UV-VIS Spectroscopy ใชวิเคราะหไดทั้งสารละลายมีสีและไมมีสี

ิท
คําตอบ 3 : Colorimetry ใชวิเคราะหได เฉพาะสารละลายมีสีเทานั้น

ส
คําตอบ 4 : สารที่ละลายในเบนซินและดูดกลืนแสงความยาวคลื่น 260 nm นิยมใช Sample Cell ที่ผลิตดวยโพลีโพรไพลีน

ขอที่ : 106

ง วน
ส
ขอใดไมใช Flame ที่นิยมใชในเทคนิค AAS

ขอ
คําตอบ 1 : Air - Hydrogen

ร
คําตอบ 2 : Argon - Nitrous oxide

ก
คําตอบ 3 : Air - Acetylene

ว
คําตอบ 4 : Nitrous oxide - Acetylene

าวศ
ิ
ขอที่ : 107

สภ
AAS เหมาะที่จะใชกับการวิเคราะหสารประเภทใด
คําตอบ 1 : nonmetal cations
คําตอบ 2 : alkali metal cations and anions
คําตอบ 3 : nonmetal ions and anions
คําตอบ 4 : metal cations

ขอที่ : 108 25 of 127

 เครื่องมือวิเคราะหชนิดใดที่ตองใชแกสเชื้อเพลิง
คําตอบ 1 : EDX
คําตอบ 2 : UV - Vis spectrometer
คําตอบ 3 : FAAS

ย
คําตอบ 4 :

่ า
WDS

น
ํจาห
ขอที่ : 109
เครื่องมือวิเคราะหชนิดใดที่ไมตองใชแกสเชื้อเพลิง
คําตอบ 1 : Flame photometer

ม
คําตอบ 2 :

้ า
UV - Vis spectrometer
คําตอบ 3 :

ิธ์ ห
AAS
คําตอบ 4 : ICP

ิท
ขอที่ : 110

ส
standard calibration curve เปนการ plot ระหวาง

วน
คําตอบ 1 : concentration vs. absorbance

ง
คําตอบ 2 : wavelength vs. concentration

ส
คําตอบ 3 : absorbance vs. wavelength

อ
คําตอบ 4 : absorbance vs. transmittance

ขอที่ :

ก ร ข
111

ว
absorption spectra ไดจากการ plot ระหวาง

ศ
ิ
คําตอบ 1 :

ว
concentration vs. absorbance

า
คําตอบ 2 : wavelength vs. concentration

สภ
คําตอบ 3 : absorbance vs. wavelength
คําตอบ 4 : absorbance vs. transmittance

ขอที่ : 112
การเปรียบเทียบระหวาง FAAS กับ ICP มีขอมูลใดที่ไมถูกตอง

คําตอบ 1 : FAAS ใชในเชิง Quantitative analysis ไดดีกวา ICP ถามีจํานวนตัวอยางนอย

คําตอบ 2 : FAAS ให Selectivity สูงกวา ICP 26 of 127
 คําตอบ 3 : FAAS ให accurency สูงกวา ICP
คําตอบ 4 : FAAS มี operating cost สูงกวา ICP ถาวัดธาตุชนิดเดียว

ย
ขอที่ : 113

่ า
การวิเคราะหเชิงปริมาณดวย spectrometric method โดยการทํา calibration curve ถา สารละลายของตัวอยางที่นําไปวัดคา absorbance มีความเขมขนสูง

น
กวาชวงที่เปนเสนตรงของ standard calibration curve ที่เตรียมไว ควรทําอยางไร

ํจาห
คําตอบ 1 : เปลี่ยนชนิดของ standard ใหม
คําตอบ 2 : เพิ่มความเขมขนของ standard
คําตอบ 3 : extrapolate calibration curve

ม
คําตอบ 4 : ลดความเขมขนของตัวอยาง

ขอที่ : 114

ิธ์ ห้ า
ถาตองวิเคราะห trace elements หลายชนิด ในน้ํา พรอมๆ กันและมีจํานวนตัวอยาง 200 ตัวอยาง ควรใชเทคนิคใด

ิท
คําตอบ 1 : XRF

ส
คําตอบ 2 : UV - Vis

น
คําตอบ 3 :

ว
ICP

ง
คําตอบ 4 : AAS

ขอที่ :

อ
115
ส
ข
ถา absorbance = 0.109 คา % transmission จะมีคาเทาใด

ก ร
คําตอบ 1 : 62.1 %

ว
คําตอบ 2 : 69.7 %

ศ
ิ
คําตอบ 3 : 71.3 %

ว
คําตอบ 4 :

า
77.81 %

สภ
ขอที่ : 116
ถา % T = 35.5 คา absorbance จะมีคาเทาใด
คําตอบ 1 : 0.415
คําตอบ 2 : 0.450
คําตอบ 3 : 0.685
คําตอบ 4 : 0.650
27 of 127
ขอที่ : 117
ขอใดใชหลักการของ atomic emission
คําตอบ 1 : XRD

ย
คําตอบ 2 :

่ า
AAS
คําตอบ 3 :

น
UV - Vis spectrometry
คําตอบ 4 : Flame test

ขอที่ : 118

ํจาห
ม
เมื่อเปรียบเทียบวิธีทาง spectroscopy กับการวิเคราะหแบบพื้นฐาน เชน การไตเตรท แลวพบวา spectroscopy จะให accuracy ต่ํากวา แตมี sensitivity สูง

้ า
กวาคําวา accuracy หมายถึง

ิธ์ ห
คําตอบ 1 : ความละเอียด
คําตอบ 2 : ความถูกตอง

ิท
คําตอบ 3 : ความไวตอการตรวจวัด

ส
คําตอบ 4 : ความแมนยํา

ขอที่ : 119

ง วน
ส
ขอใดที่ไมใชสมบัติของ Flame atomic absorption spectrometry

อ
คําตอบ 1 : matrix effect ต่ํา

ข
คําตอบ 2 : เหมาะกับการทํา Qualitative analysis

ร
คําตอบ 3 : เตรียมตัวอยางเพื่อการวิเคราะหไดงาย

ก
คําตอบ 4 :

ว
high selectivity

วศ
ิ
ขอที่ :

า
120
วิธีการทํา standard addition method คือ

สภ
คําตอบ 1 : เตรียม standard 1 คา ความเขมขน แลวนําไปวัด absorbance เทียบกับ absorbance ของตัวอยาง
คําตอบ 2 : เตรียม standard solution ที่มีความเขมขนตางๆ กัน นําไปทํา calibration curve
คําตอบ 3 : เติม sample ปริมาณเทากันๆ ลงในชุด standard ที่เตรียมไว แลวนําไปวัดคา absorbance เพื่อนําไปทํา calibration curve
คําตอบ 4 : เตรียม sample ไปวัด absorbance เทียบกับคาคงที่ที่เก็บใน memory ของเครื่องมือ

ขอที่ : 121
ขอมูลใดถูกตอง 28 of 127
 คําตอบ 1 : คลื่นแมเหล็กไฟฟาที่มีพลังงานสูง จะมีความยาวคลื่นมาก
คําตอบ 2 : คลื่นแมเหล็กไฟฟาที่มีความยาวคลื่นต่ํา จะมีพลังงานสูง
คําตอบ 3 : คลื่นแมเหล็กไฟฟาที่มีพลังงานสูง จะมีความถี่ต่ํา
คําตอบ 4 : พลังงานของคลื่นแมเหล็กไฟฟาไมสัมพันธ กับคาความถี่

่ าย
น
ขอที่ : 122

ํจาห
matrix matching ระหวาง standard และ sample เปนการวิเคราะหโดยวิธีใด
คําตอบ 1 : direct measurement
คําตอบ 2 : standard addition

ม
คําตอบ 3 :

้ า
standard curve
คําตอบ 4 : ใช calibration curve

ขอที่ : 123
ิธ์ ห
ิท
การเตรียม standard solution for calibration curve ควรเตรียมอยางนอยกี่ตัว

ส
คําตอบ 1 :

น
1

ว
คําตอบ 2 : 2

ง
คําตอบ 3 : 3

ส
คําตอบ 4 : 5

ขอที่ :

ร ขอ
124

ก
ICP ยอมาจากคําวาอะไร

ว
คําตอบ 1 : Inductively Couple Plasma Spectrometry

ศ
ิ
คําตอบ 2 :

ว
Indication Couple Plasma Spectrometry

า
คําตอบ 3 : Inductively Cooperation Plasma Spectrometry

สภ
คําตอบ 4 : Induce Coordination Plasma Spectrometry

ขอที่ : 125
Nebulizer ในเครื่อง ICP ทําหนาที่อะไร
คําตอบ 1 : จําแนกความยาวคลื่น
คําตอบ 2 : ทําใหสารละลายตัวอยางแตกเปนละอองฝอยเล็กๆ
คําตอบ 3 : ทําใหโมเลกุลของสารตัวอยางแตกตัวเปน ion 29 of 127
 คําตอบ 4 : ชวยสลายสารตัวอยางใหเปนไอ

ขอที่ : 126

ย
Interaction ระหวาง electromagnetic radiation กับอะตอม หรือโมเลกุลของสารไมไดสงใหเกิดผลขอใด

่ า
คําตอบ 1 : Diffraction

น
คําตอบ 2 : Comminution

ํจาห
คําตอบ 3 : Absorption
คําตอบ 4 : Emission

้ าม
ขอที่ : 127

ิธ์ ห
nondestructive method หมายถึง
คําตอบ 1 : AES
คําตอบ 2 :

ิท
ICP
คําตอบ 3 :

ส
AAS
คําตอบ 4 :

น
XRF

ขอที่ : 128

ง ว
ส
finger print technique ใชกับงานดานใด

ขอ
คําตอบ 1 : Qualitative analysis

ร
คําตอบ 2 : Quantitative analysis

ก
คําตอบ 3 : Relative analysis

ว
คําตอบ 4 : Kinetic analysis

าวศ
ิ
ขอที่ : 129

สภ
chelate หรือ complexing agent ที่ใชในกระบวนการ colorimetric method หรือ spectrometric method คือ
คําตอบ 1 : KCl
คําตอบ 2 : 1, 10-Phenanthroline
คําตอบ 3 : EDTA
คําตอบ 4 : phenol

ขอที่ : 130 30 of 127

 ถาตองการเตรียม standard solution ของ Ti (IV) 2 ppm 50.0 ml โดยเตรียมจาก standard solution ของ Ti (IV) 100 ppm จะตองใช standard
solution ของ Ti (IV) 100 ppm กี่ ml
คําตอบ 1 : 0.5
คําตอบ 2 : 1

ย
คําตอบ 3 : 2

่ า
คําตอบ 4 : 5

น
ํจาห
ขอที่ : 131
ถาตองการเตรียม standard solution ของ Ca (II) 8 ppm 100 ml ในสารละลายของกรดไนทริก 0.5 % จะตองใช standard Ca (II) 250 mg/l กี่ ml (Ca =

ม
40)

้ า
คําตอบ 1 : 3.2

ิธ์ ห
คําตอบ 2 : 0.8
คําตอบ 3 : 2.5
คําตอบ 4 :

ิท
8.0

ขอที่ : 132

นส
ว
ถาตองการเตรียมสารละลายมาตรฐานของ Cu (II)ความเขมขน 10 microgramตอลิตร ปริมาตร 50.0 ml จะตองใชสารละลายมาตรฐาน Cu (II) 5 ppm กี่ ml

สง
คําตอบ 1 : 0.5

อ
คําตอบ 2 : 1.00

ข
คําตอบ 3 : 0.10

ร
คําตอบ 4 : 5.00

วก
ศ
ิ
ขอที่ : 133

ว
น้ําหนักสมมูลของ sulphuric acid มีคาเทาใด (S = 32, O = 16))

า
คําตอบ 1 : 98

สภ
คําตอบ 2 : 49
คําตอบ 3 : 82
คําตอบ 4 : 196

ขอที่ : 134
น้ําหนักสมมูลของ nitric acid มีคาเทาใด (N = 14, O = 16)
คําตอบ 1 : 63 31 of 127
 คําตอบ 2 : 36
คําตอบ 3 : 126
คําตอบ 4 : 31

่ าย
ขอที่ : 135

น
กรดที่สามารถละลายทราย

ํจาห
คําตอบ 1 : HCl
คําตอบ 2 : sulphuric acid
คําตอบ 3 : HF

ม
คําตอบ 4 :

้ า
acetic acid

ิธ์ ห
ขอที่ : 136
กรดชนิดใดเปน oxidising acid ที่แรงที่สุด

ิท
คําตอบ 1 :

ส
hydrochloric acid
คําตอบ 2 :

น
nitric acid

ว
คําตอบ 3 : perchloric acid

ง
คําตอบ 4 : sulphuric acid

ขอที่ :

อ ส
ข
137

ร
สารละลาย x : กรดเกลือ 10 % เตรียมจากกรดเกลือเขมขน (36 % by wt., 1.2 g/ml) สารละลาย y : กรดไนทริก 10 % เตรียมจากกรดไนทริกเขมขน (72 %

ก
by wt, 1.4 g/ml) เมื่อเปรียบเทียบสารละลาย x และ y ( N=16, Cl=35.5, O=16)

ว
คําตอบ 1 : x มีความเขมขนในหนวย Molar เทากับ y

ศ
ิ
คําตอบ 2 : x มีความเขมขนในหนวย Molar มากกวา y

ว
คําตอบ 3 : x มีความเขมขนในหนวย Molar นอยกวา y

า
คําตอบ 4 : x มีความเขมขนในหนวย Normal เทากับ y

สภ
ขอที่ : 138
เปรียบเทียบ qualitative filter paper (A) และ quantitative filter paper (B) ขอมูลใดถูกตอง

คําตอบ 1 : A มีความหนานอยกวา B
คําตอบ 2 : เมื่อนําไปเผาแลว A จะมี ash เหลือมากกวา B
คําตอบ 3 : A มี purity มากกวา B
32 of 127
 คําตอบ 4 : A ดูดซึมน้ํานอยกวา B

ขอที่ : 139

ย
เปรียบเทียบ qualitative filter paper (A) และ quantitative filter paper (B) ขอมูลใดถูกตอง

่ า
คําตอบ 1 : A เหมาะกับงานวิเคราะหเชิงปริมาณเทานั้น

น
คําตอบ 2 : A เหมาะกับงานวิเคราะหเชิงคุณภาพเทานั้น

ํจาห
คําตอบ 3 : B เหมาะกับงานวิเคราะหเชิงคุณภาพมากกวา A
คําตอบ 4 : B เหมาะกับงานวิเคราะหทั้งเชิงคุณภาพและเชิงปริมาณ

้ าม
ขอที่ : 140

ิธ์ ห
ชวงความยาวคลื่นของการวิเคราะหดวย UV-Vis spectrometer
คําตอบ 1 : 200 - 400 nm
คําตอบ 2 :

ิท
400 - 800 nm
คําตอบ 3 :

ส
800 - 1200 nm
คําตอบ 4 :

น
200 - 800 nm

ขอที่ : 141

ง ว
ส
ชวงความยาวคลื่นของการวิเคราะหดวย ultraviolet radiation

ขอ
คําตอบ 1 : 100 - 200 nm

ร
คําตอบ 2 : 200 - 400 nm

ก
คําตอบ 3 : 200 - 800 nm

ว
คําตอบ 4 : 600 - 1200 nm

าวศ
ิ
ขอที่ : 142

สภ
ชวงความยาวคลื่นของการวิเคราะหดวย AAS
คําตอบ 1 : 100 - 200 nm
คําตอบ 2 : 200 - 400 nm
คําตอบ 3 : 200 - 800 nm
คําตอบ 4 : 600 - 1200 nm

ขอที่ : 143 33 of 127

 ชวงความยาวคลื่นของการวิเคราะหดวย ICP
คําตอบ 1 : 100 - 200 nm
คําตอบ 2 : 200 - 400 nm
คําตอบ 3 : 200 - 800 nm

ย
คําตอบ 4 :

่ า
600 - 1200 nm

น
ํจาห
ขอที่ : 144
เครื่องมือที่ใหความรอนไดถึงอุณหภูมิสูงสุด ประมาณ 200 - 300 degree celcius คือ
คําตอบ 1 : electric oven

ม
คําตอบ 2 :

้ า
fume hood
คําตอบ 3 :

ิธ์ ห
muffle furnace
คําตอบ 4 : water bath

ิท
ขอที่ : 145

ส
เครื่องมือที่ใชกับการใหความรอนไดถึงอุณหภูมิสูงสุด ประมาณ 1000 degree celcius หรือสูงกวา 1000 degree celcius คือ

วน
คําตอบ 1 : oven

ง
คําตอบ 2 : hot plate

ส
คําตอบ 3 : muffle furnace

อ
คําตอบ 4 : water bath

ขอที่ :

ก ร ข
146

ว
เครื่องมือที่ใชกับการใหความรอนที่สามารถควบคุมอุณหภูมิใหคงที่ ที่ประมาณ 100 degree celcius มักใชเพื่อการทํา evaporation ซึ่งอาจมีไอสารที่เปน

ศ
ิ
อันตราย

ว
คําตอบ 1 :

า
oven
คําตอบ 2 :

สภ
hot plate
คําตอบ 3 : muffle furnace
คําตอบ 4 : water bath

ขอที่ : 147
เมื่อใชผงตัวอยางแรหนัก 1.0324 กรัม นําไปอบที่อุณหภูมิ 100 degree celcius เปนเวลา 2 ชั่วโมง น้ําหนักคงเหลือ 1.0005 กรัม เมื่อใหความรอนตอไปถึง
700 degree celcius น้ําหนักคงเหลือ 0.9350 กรัม เมื่อผานการเผาตอไปที่ 1000 degree celcius น้ําหนักคงเหลือ 0.7555 กรัม ถามวาเปอรเซ็นต LOI มีคา
เทาไร 34 of 127
 คําตอบ 1 : 24.5
คําตอบ 2 : 26.8
คําตอบ 3 : 6.5
คําตอบ 4 : 9.4

่ าย
น
ขอที่ : 148

ํจาห
วัสดุตัวอยาง 0.5110 กรัม นํามาละลายดวยกรด แลวเตรียมเปน stock solution 250.0 ml จากนั้นจึงนําสารละลายจาก stock solution ไปวิเคราะหปริมาณ
แมกนีเซียมดวยอะตอมมิกแอบซอบชั่น พบวาสารละลายนี้มีความเขมขนของแมกนีเซียม 7.2 ppm ถามวาวัสดุชินนี้มีแมกนีเซียมกี่เปอรเซ็นต
คําตอบ 1 : 0.35

ม
คําตอบ 2 : 1.41

้ า
คําตอบ 3 : 0.50

ิธ์ ห
คําตอบ 4 : 5.64

ิท
ขอที่ : 149

ส
ถาตองการเตรียมสารละลายมาตรฐานของสังกะสี 1000 ppm ปริมาตร 2.5 ลิตร โดยเตรียมจากโลหะสังกะสี ความบริสุทธิ์ 99.9% จะตองชั่งโลหะสังกะสีหนัก

น
เทาไร

ว
คําตอบ 1 : 2.5 กรัม

ง
คําตอบ 2 : 2.5000 กรัม

อ ส
คําตอบ 3 : 2.50 กรัม

ข
คําตอบ 4 : 2.5025 กรัม

ก ร
ว
ขอที่ : 150

ศ
ิ
ถาตองการเตรียมสารละลายมาตรฐานของทองแดง 700 ppm ปริมาตร 1 ลิตร โดยเตรียมจากผง copper oxide ซึ่งมีความบริสุทธิ์ 97% จะตองชั่งผง copper

ว
oxide มาใชเทาใด (กําหนดน้ําหนักอะตอม Cu = 63.54, O = 16)

า
คําตอบ 1 : 876.7 mg

สภ
คําตอบ 2 : 903.5 mg
คําตอบ 3 : 700.0 mg
คําตอบ 4 : 721.6 mg

ขอที่ : 151
37 % Al คิดเปน aluminium oxide กี่เปอรเซ็นต (Al =27, O = 16)
คําตอบ 1 : 95.9 35 of 127
 คําตอบ 2 : 69.9
คําตอบ 3 : 58.9
คําตอบ 4 : 47.9

่ าย
ขอที่ : 152

น
95 % silica คิดเปน %Si เทาใด

ํจาห
คําตอบ 1 : 44.4
คําตอบ 2 : 60.5
คําตอบ 3 : 2.33

ม
คําตอบ 4 :

้ า
47.5

ิธ์ ห
ขอที่ : 153
deliquescence หมายความวา

ิท
คําตอบ 1 : การที่สารเคมีดูดซับน้ําหรือความชื้นจากสิ่งแวดลอม

ส
คําตอบ 2 : การที่สารเคมีสูญเสียน้ําผลึก

วน
คําตอบ 3 : การเกิดน้ําผลึกในโครงสราง

ง
คําตอบ 4 : การเสื่อมสลายตัว

ขอที่ :

อ ส
ข
154

ร
ตัวอยาง 0.5080 กรัม เมื่อนํามาเตรียมเปนสารละลาย stock solution 500.0 ml นําไปวิเคราะหพบวา stock solution มีความเขมขนของ Fe = 0.006 molar

ก
ถามวา % Fe ในตัวอยางมีคาเทาใด (กําหนดน้ําหนักอะตอม Fe = 55.85)

ว
คําตอบ 1 : 0.3

ศ
ิ
คําตอบ 2 : 0.59

ว
คําตอบ 3 :

า
32.98
คําตอบ 4 :

สภ
8.7

ขอที่ : 155
electromagnetic wave ที่เรียงลําดับตามคาพลังงานจากนอยไปมาก
คําตอบ 1 : UV, VISIBLE , X-RAYS
คําตอบ 2 : VISIBLE , UV , X-RAYS
คําตอบ 3 : X-RAYS, VISIBLE, UV
36 of 127
 คําตอบ 4 : X-RAYS , UV, VISIBLE

ขอที่ : 156

ย
electromagnetic wave ที่เรียงลําดับตามคาความยาวคลื่นจากนอยไปมาก

่ า
คําตอบ 1 : UV, VISIBLE, X-RAYS

น
คําตอบ 2 : VISIBLE, UV , X-RAYS

ํจาห
คําตอบ 3 : X-RAYS, VISIBLE , UV
คําตอบ 4 : X-RAYS, UV, VISIBLE

้ าม
ขอที่ : 157

ิธ์ ห
ขอใดเปน complexing agent ที่ใชกับ UV-Vis spectrometry เพื่อการวิเคราะหปริมาณฟอสฟอรัส
คําตอบ 1 : KCN
คําตอบ 2 :

ิท
vanadomolybdate
คําตอบ 3 :

ส
EDTA
คําตอบ 4 :

น
phenanthroline

ขอที่ : 158

ง ว
ส
ขอใดไมเกี่ยวของกับผลที่เกิดจาก interaction ระหวาง electromagnetic radiation กับอะตอมหรือโมเลกุลของสสาร

ขอ
คําตอบ 1 : absorption

ร
คําตอบ 2 : diffraction

ก
คําตอบ 3 : extraction

ว
คําตอบ 4 : emission

าวศ
ิ
ขอที่ : 159

สภ
ขอมูลใดถูกตอง
คําตอบ 1 : ความยาวคลื่นแปรตรงตามความถี่
คําตอบ 2 : ความถี่แปรตรงตามจํานวนคลื่นตอเวลา
คําตอบ 3 : ความถี่แปรผกผันกับพลังงาน
คําตอบ 4 : พลังงานแปรผกผันกับความเร็วแสง

ขอที่ : 160 37 of 127

 ขอใดไมถูกตองตาม requirement ของ Beer’s law
คําตอบ 1 : The incident radiation is polychromatic.
คําตอบ 2 : The absorption occurs in a volume of uniform cross-section.
คําตอบ 3 : The absorbing substances behave independently of each other in the absorption process.

ย
คําตอบ 4 :

่ า
Refractive index of medium does not depend on concentration

น
ํจาห
ขอที่ : 161
โลหะชิ้นหนึ่งหนัก 0.5010 กรัม นํามาละลายดวยกรด แลวเตรียมเปน stock solution (A) 250 ml เมื่อปเปตสารละลาย A 25.0 ml นําไป reduce ดวย
stannous chloride กอนจะ titrate กับ potassium permanganate standard solution ที่มีความเขมขน 0.04 N ปรากฏวาตองใช standard solution 20.00

ม
ml เพื่อทําใหปฏิกิริยาถึง end point ถามวา%Feในโลหะ มีคาเทาใด

้ า
คําตอบ 1 : 75

ิธ์ ห
คําตอบ 2 : 80
คําตอบ 3 : 85
คําตอบ 4 :

ิท
89

ขอที่ : 162

นส
ว
ถาสารตัวอยาง absorb แสงได 1 % คา absorbance ในกรณีนี้ จะมีคาเทาไร

สง
คําตอบ 1 : 0.01

อ
คําตอบ 2 : 0.1

ข
คําตอบ 3 : 0.09

ร
คําตอบ 4 : 0.004

วก
ศ
ิ
ขอที่ : 163

ว
light source ที่ใชสําหรับ Ultraviolet radiation ใน spectrometer คือ

า
คําตอบ 1 : deuterium lamp

สภ
คําตอบ 2 : tungsten lamp
คําตอบ 3 : hollow cathode lamp
คําตอบ 4 : graphite lamp

ขอที่ : 164
light source ที่ใชสําหรับ visible light ใน spectrometer คือ
คําตอบ 1 : deuterium lamp 38 of 127
 คําตอบ 2 : tungsten lamp
คําตอบ 3 : hollow cathode lamp
คําตอบ 4 : hollow anode lamp

่ าย
ขอที่ : 165

น
ชนิดของ Absorption cell ที่ควรใชกับคลื่นแสงในชวง 200-400 nm คือ

ํจาห
คําตอบ 1 : polyethylene cell
คําตอบ 2 : quartz cell
คําตอบ 3 : soda-lime glass cell

ม
คําตอบ 4 :

้ า
borosilicate glass cell

ิธ์ ห
ขอที่ : 166
ชนิดของ Absorption cell ที่ควรใชกับคลื่นแสงในชวง 200-800 nm คือ

ิท
คําตอบ 1 :

ส
polyethylene cell
คําตอบ 2 :

น
quartz cell

ว
คําตอบ 3 : soft glass cell

ง
คําตอบ 4 : borosilicate glass cell

ขอที่ :

อ ส
ข
167

ร
ชนิดของ Absorption cell ที่ใชกับคลื่นแสง visible คือ

ก
คําตอบ 1 : polyethylene cell

ว
คําตอบ 2 : graphite cell

ศ
ิ
คําตอบ 3 :

ว
borosilicate glass cell

า
คําตอบ 4 : CsBr cell

สภ
ขอที่ : 168
AAS ใชวิเคราะหธาตุโดยตรง ในชวงความเขมขน
คําตอบ 1 : 1 - 100 %
คําตอบ 2 : 0.1 - 50 ppm
คําตอบ 3 : 1 - 100 ppb
คําตอบ 4 : 0.1 - 2 %
39 of 127
ขอที่ : 169
FAAS ยอมาจาก
คําตอบ 1 : Flame analyse atomic spectrometer

ย
คําตอบ 2 :

่ า
Flame atomic analysing spectrometer
คําตอบ 3 :

น
Flame atomic absorption spectrometer
คําตอบ 4 : Flame absorption atomizer spectrometer

ขอที่ : 170

ํจาห
ม
ICP ใชวิเคราะหธาตุโดยตรงชวงความเขมขน

้ า
คําตอบ 1 : 50 ppb – 50 ppm

ิธ์ ห
คําตอบ 2 : 1 - 100 ppm
คําตอบ 3 : 1 - 100 %

ิท
คําตอบ 4 : 0.1 - 50 %

นส
ว
ขอที่ : 171

ง
Analytical grade chemicals ตองมีความบริสุทธิ์ ไมต่ํากวาเทาใด

ส
คําตอบ 1 : 99.5 %

อ
คําตอบ 2 : 95 %

ข
คําตอบ 3 : 99 %

ร
คําตอบ 4 :

ก
100 %

ศ
ิ ว
ขอที่ : 172

ว
การนําสารละลายมาตรฐาน “A” ซึ่งเตรียมขึ้นโดยทราบความเขมขน อยางคราวๆ นําไป titrate กับ primary standard solution เพื่อคํานวณหาความเขมขน

า
ของสารละลาย มาตรฐาน “A” นั้น วิธีการนี้เรียกวา

สภ
คําตอบ 1 : standard titration
คําตอบ 2 : primary titration
คําตอบ 3 : secondary titration
คําตอบ 4 : Standardization

ขอที่ : 173
gravimetric analysis 40 of 127
 คําตอบ 1 : การวิเคราะหดวยการตกตะกอน และชั่งน้ําหนักตะกอน
คําตอบ 2 : การวิเคราะหดวยการ titrate และดูตะกอนที่เกิดขึ้น
คําตอบ 3 : การวิเคราะหดวยการ titrate และดูการเปลี่ยนสีของสารละลาย
คําตอบ 4 : การวิเคราะหดวยการใช indicator เพื่อการตกตะกอน

่ าย
น
ขอที่ : 174

ํจาห
สารเคมีตัวใดเปน inorganic precipitant
คําตอบ 1 : diethylamine
คําตอบ 2 : carbazone

ม
คําตอบ 3 :

้ า
sodium nitrate
คําตอบ 4 :

ิธ์ ห
ammonium sulphate

ขอที่ : 175

ิท
สารเคมีตัวใดเปน organic precipitant

ส
คําตอบ 1 :

น
dimethyl glyoxime

ว
คําตอบ 2 : ethanol

ง
คําตอบ 3 : EDTA

ส
คําตอบ 4 : sodium chloride

ขอที่ :

ร ขอ
176

ก
Redox titration คือ

ว
คําตอบ 1 : การ titrate โดยดูสีที่เปลี่ยนแปลงเปนจุดยุติ

ศ
ิ
คําตอบ 2 : การ titrate โดยใชหลักการของปฏิกิริยาการถายเทอิเลกตรอนของ reactants

าว
คําตอบ 3 : การ titrate โดยใชหลักการทําปฏิกิริยาใหเกิดสารประกอบเชิงซอน

สภ
คําตอบ 4 : การ titrate ที่ตองไมมีตะกอนเกิดขึ้นในสารละลายระหวางทําปฏิกิริยา

ขอที่ : 177
Complexometric titration คือ
คําตอบ 1 : การ titrate โดยการทําปฏิกิริยากับสารประกอบเชิงซอน
คําตอบ 2 : การ titrate โดยมีสารประกอบเชิงซอนทําหนาที่เปน masking agent
คําตอบ 3 : การ titrate โดยใชเครื่องมือที่ซับซอนเปนเครื่องชวยวัด end point 41 of 127
 คําตอบ 4 : การ titrate โดยมีสารประกอบเชิงซอนเปนตัวเรงปฏิกิริยา

ขอที่ : 178

ย
primary standard solution

่ า
คําตอบ 1 : เปนสารละลายมาตรฐานที่เตรียมขึ้นโดยทราบปริมาตรที่แนชัด

น
คําตอบ 2 : เปนสารละลายมาตรฐานที่ตองซื้อจากบริษัทผูผลิตเทานั้น

ํจาห
คําตอบ 3 : เปนสารมาตรฐานที่ใชเตรียม secondary standard substance
คําตอบ 4 : เปนสารละลายมาตรฐานที่เตรียมขึ้นโดยทราบความเขมขนที่แนนอน

้ าม
ขอที่ : 179

ิธ์ ห
กรดซัลฟูริกที่มีปายระบุวา 95 % (wt / wt) specific gravity 1.83 จะมีความเขมขนกี่โมลาร
คําตอบ 1 : 9M
คําตอบ 2 :

ิท
18 M
คําตอบ 3 :

ส
20 M
คําตอบ 4 :

น
36 M

ขอที่ : 180

ง ว
ส
กรดซัลฟูริกที่มีปายระบุวา 95 % (wt / wt) specific gravity 1.83 จะมีความเขมขนกี่นอรมัล

ขอ
คําตอบ 1 : 9N

ร
คําตอบ 2 : 18 N

ก
คําตอบ 3 : 36 N

ว
คําตอบ 4 : 72 N

าวศ
ิ
ขอที่ : 181

สภ
ถาตองการเตรียมสารละลายกรดเกลือ 20 % (by volume) ปริมาณ 120 ml โดยเตรียมจากกรดเกลือที่มีความเขมขน 10 M จะตองใชกรดเกลือ 10 M นี้ กี่ ml
คําตอบ 1 : 10
คําตอบ 2 : 12
คําตอบ 3 : 24
คําตอบ 4 : 20

ขอที่ : 182 42 of 127

 กรดไนทริกเขมขนที่มีปายระบุวา 72 % (by wt.) density 1.42 g/ml ปริมาณ 100 ml จะนําไปเตรียมสารละลายกรดไนทริก 1.6 M ไดกี่ ml.
คําตอบ 1 : 1000
คําตอบ 2 : 2000
คําตอบ 3 : 3000

ย
คําตอบ 4 :

่ า
4000

น
ํจาห
ขอที่ : 183
การเตรียมสารละลายกรดเจือจางจากกรดเขมขนผสมกับน้ํา ควรทําดังนี้
คําตอบ 1 : ตองเติมกรดเขมขนและน้ําลงไปผสมพรอมๆ กัน

ม
คําตอบ 2 : ตองเติมน้ําลงไปในกรดเขมขน

้ า
คําตอบ 3 : ตองเติมกรดเขมขนลงไปในน้ํา

ิธ์ ห
คําตอบ 4 : เติมน้ําหรือกรดเขมขนกอนก็ได

ิท
ขอที่ : 184

ส
Redox method เหมาะกับการวิเคราะหธาตุประเภทใด

วน
คําตอบ 1 : transition elements ที่มี oxidation state มากกวา 1 คา

ง
คําตอบ 2 : alkali elements

ส
คําตอบ 3 : alkaline earth elements

อ
คําตอบ 4 : ธาตุที่มีหลาย oxidation state และเปลี่ยนแปลง oxidation state ไดงาย

ขอที่ :

ก ร ข
185

ว
สีของ Silica gel ที่ยังคงมีประสิทธิภาพดีเหมาะแกการดูดความชื้น โดยทั่วไปจะมีสี

ศ
ิ
คําตอบ 1 : ชมพู

าว
คําตอบ 2 : ขาว

สภ
คําตอบ 3 : น้ําตาล
คําตอบ 4 : น้ําเงินเขม

ขอที่ : 186
อุปกรณที่เปนแกวไมเหมาะที่จะใชกับสารเคมีชนิดใด
คําตอบ 1 : organic solvent
คําตอบ 2 : concentrated sodium hydroxide 43 of 127
 คําตอบ 3 : concentrated hydrochloric acid
คําตอบ 4 : sulphuric acid

ย
ขอที่ : 187

่ า
Flame test เปนกระบวนการลักษณะเดียวกันกับกระบวนการขนิดใด

น
คําตอบ 1 : diffraction process

ํจาห
คําตอบ 2 : diffusion process
คําตอบ 3 : refraction process
คําตอบ 4 : emission process

้ าม
ิธ์ ห
ขอที่ : 188
Interfering ions หมายถึง
คําตอบ 1 : สิ่งเจือปน

ิท
คําตอบ 2 : สารตัวที่สนใจจะหาปริมาณ

ส
คําตอบ 3 : ions ที่รบกวนการทดลอง หรือรบกวนปฏิกิริยาที่เกิดขึ้นในขณะนั้น

วน
คําตอบ 4 : ions ที่เปนตัวเขาทําปฏิกิริยาเพื่อใหเกิด product ที่ตองการ

ขอที่ :

สง
อ
189
Blank test หมายถึง

ร ข
คําตอบ 1 : การวัดองคประกอบที่มีคานอยมาก

ก
คําตอบ 2 : การทดลองเพื่อทํา Background correction

ว
คําตอบ 3 : การวัดตัวรบกวนที่นอยมาก โดยไมตองนํามาคํานึงถึง

ศ
ิ
คําตอบ 4 : การทดสอบกอนวัดคาจริง

าว
สภ
ขอที่ : 190
trace constituents หมายถึงองคประกอบที่มีประมาณเทาใด
คําตอบ 1 : มากกวา 100 ppm
คําตอบ 2 : มากกวา 90 %
คําตอบ 3 : นอยกวา 1 %
คําตอบ 4 : นอยกวา 100 ppm

44 of 127
ขอที่ : 191
Detection limit หมายถึง
คําตอบ 1 : คาต่ําสุดที่จะวัดได หรือตรวจสอบได โดยวิธีที่กําหนด
คําตอบ 2 : คาสูงสุดที่จะวัดได หรือตรวจสอบได โดยวิธีที่กําหนด

ย
คําตอบ 3 : ความถูกตองของการทดสอบ หรือตรวจสอบได โดยวิธีที่กําหนด

่ า
คําตอบ 4 : ความแมนยําของการวิเคราะห หรือตรวจสอบได โดยวิธีที่กําหนด

น
ํจาห
ขอที่ : 192
Coprecipitation หมายถึง

ม
คําตอบ 1 : การตกตะกอนซ้ํา เพื่อใหประสิทธิภาพสูงขึ้น

้ า
คําตอบ 2 : การตกตะกอนของสารมากกวา 1 ชนิด พรอมกัน

ิธ์ ห
คําตอบ 3 : การลางตะกอนหลาย ๆ ครั้ง
คําตอบ 4 : การตกตะกอนของสิ่งเจือปน

ขอที่ : 193

สิท
วน
Precipitant หมายถึง

ง
คําตอบ 1 : การลางตะกอน

ส
คําตอบ 2 : น้ําหนักสุทธิของตะกอนสารเพื่อการวิเคราะห

อ
คําตอบ 3 : ตัวที่ทําใหเกิดการตกตะกอน

ข
คําตอบ 4 : ตัวละลายตะกอน

ก ร
ว
ขอที่ : 194

ศ
ิ
ขอมูลใดถูกตอง

าว
คําตอบ 1 : ตองหลีกเลี่ยงการเกิด coprecipitation เพื่อปองกันการปนเปอน

สภ
คําตอบ 2 : ตองทําใหเกิด coprecipitation เพื่อความสมบูรณของปฏิกิริยา
คําตอบ 3 : การเกิด coprecipitation ชวยลดการละลายของตะกอน ทําใหได product ที่สะอาดมากขึ้น
คําตอบ 4 : การเกิด coprecipitation ชวยลดความคลาดเคลื่อนจากการชั่งน้ําหนักตะกอน

ขอที่ : 195
การกําจัดตัว interfere ที่สลายตัวกลายเปนไอไดงาย เมื่อไดรับความรอน เรียกวา

คําตอบ 1 : masking 45 of 127

 คําตอบ 2 : fusion
คําตอบ 3 : digestion
คําตอบ 4 : evaporation

่ าย
ขอที่ : 196

น
เหตุใดจีงควรใช excess precipitant .

ํจาห
คําตอบ 1 : เพื่อทดแทนการละลายของ reactant
คําตอบ 2 : เพื่อทดแทนการละลายของ precipitant
คําตอบ 3 : เพื่อปองกันการละลายของ precipitate

ม
คําตอบ 4 : เพื่อปองกันการละลายของ precipitant

ขอที่ : 197

ิธ์ ห้ า
การใช precipitant ดวยปริมาณมากเกินไป อาจมีผลเสียทางเทคนิค คือ

ิท
คําตอบ 1 : เกิดปฏิกิริยารุนแรง

ส
คําตอบ 2 : precipitate อาจเปลี่ยนเปน soluble complex หรือ soluble salt

วน
คําตอบ 3 : precipitate กลายเปน precipitant

ง
คําตอบ 4 : ปฏิกิริยาไมสามารถดําเนินตอไป

ขอที่ :

อ ส
ข
198

ร
ปจจัยที่ไมมีผลตอความสมบูรณของการตกตะกอนคือ

ก
คําตอบ 1 : อุณหภูมิ

ว
คําตอบ 2 : ระยะเวลาที่ทิ้งใหตกตะกอน

ศ
ิ
คําตอบ 3 : อัตราเร็วของการเติมตัวที่ทําใหเกิดการตกตะกอน

าว
คําตอบ 4 : ภาชนะที่ใช

สภ
ขอที่ : 199
ถาในตัวอยางประกอบดวยปริมาณธาตุที่ตองการวิเคราะหประมาณ 30-40 % ทานคิดวาควรเลือกวิเคราะหเชิงปริมาณโดยเทคนิคใด
คําตอบ 1 : ICP
คําตอบ 2 : UV - Vis spectrometry
คําตอบ 3 : XRD
คําตอบ 4 : Titration
46 of 127
ขอที่ : 200
analytical technique หรือเครื่องมือที่ใชวิเคราะหตัวอยางที่อยูในสถานะของแข็ง โดยไมตองสกัดใหเปนสารละลาย
คําตอบ 1 : Titration

ย
คําตอบ 2 :

่ า
ICP
คําตอบ 3 :

น
AAS
คําตอบ 4 : XRD

ขอที่ : 201

ํจาห
ม
ขอใดจัดเปน Instrumental Analysis

้ า
คําตอบ 1 :

ิธ์ ห
Titrimetry
คําตอบ 2 : Optical emission spectroscopy
คําตอบ 3 : Gravimetry

ิท
คําตอบ 4 : Flame test

นส
ว
ขอที่ : 202

ง
อุปกรณใดที่ไมเกี่ยวของกับการวัดปริมาตร

ส
คําตอบ 1 : volumetric flask

อ
คําตอบ 2 : volumetric pipette

ข
คําตอบ 3 : graduated cylinder

ร
คําตอบ 4 :

ก
erlenmeyer flask

ศ
ิ ว
ขอที่ : 203

ว
อุปกรณใดที่ไมจําเปนตองใชในงาน filtration

า
สภ
คําตอบ 1 : spatula
คําตอบ 2 : filtering funnel
คําตอบ 3 : funnel stand
คําตอบ 4 : filter paper

ขอที่ : 204
อุปกรณที่ไมเกี่ยวของกับ titration process
47 of 127
 คําตอบ 1 : buret
คําตอบ 2 : pipet
คําตอบ 3 : volumetric flask
คําตอบ 4 : porcelain crucible

่ าย
น
ขอที่ : 205

ํจาห
้ าม
ิธ์ ห
คําตอบ 1 : 0.191
คําตอบ 2 : 0.138
คําตอบ 3 : 0.094

ิท
คําตอบ 4 : 0.383

นส
ว
ขอที่ : 206

ง
ชิ้นงานโลหะตัวอยางหนัก 0.6630 กรัม นํามา digest เพื่อเตรียมเปนstock sample solution (A) ปริมาตร 250.0 มล. เมื่อปเปต (A) มา 5 มล. นําไปใสใน

ส
volumetric flask ขนาด 50 มล. ปรับปริมาตรดวย 0.5 M nitric acid ได solution (B) แลวนําไปวิเคราะห พบวา (B) มีความเขมขนของตะกั่ว 1.2 ppm จง

อ
คํานวณหาวาชิ้นโลหะตัวอยางประกอบดวยตะกั่วกี่เปอรเซ็นต

ข
คําตอบ 1 : 0.45

ร
คําตอบ 2 : 0.91

ก
คําตอบ 3 :

ว
0.22
คําตอบ 4 :

ศ
ิ
1.07

าว
ขอที่ : 207

สภ
ถามี silicon dioxide 5% อยากทราบวาคิดเปน silicon ไดเปอรเซ็นต ( Si = 28.1, O= 16 )
คําตอบ 1 : 4.66
คําตอบ 2 : 10.73
คําตอบ 3 : 2.33
คําตอบ 4 : 5.36

ขอที่ : 208 48 of 127

 ชั่งตัวอยางทราย 0.5010 กรัม ใสใน platinum crucible ซึ่งหนัก 20.1230 กรัม เมื่อเติมHF 5 มล. และ sulphuric acid 0.5 มล. นําไปใหความรอน แลว
ระเหยจนแหงสนิท นําไปชั่งน้ําหนักของ platinum crucible และ residue พบวามีน้ําหนัก 20.1348 กรัม วัสดุตัวอยางนี้มีเปอรเซ็นตของ silica เทาไร
คําตอบ 1 : 97.64
คําตอบ 2 : 99.10

ย
คําตอบ 3 : 99.58

่ า
คําตอบ 4 : 98.23

น
ํจาห
ขอที่ : 209
อุปกรณหรือเครื่องมือใดที่ไมเกี่ยวของกับการชั่งวัสดุผง

ม
คําตอบ 1 : spatula

้ า
คําตอบ 2 : analytical balance

ิธ์ ห
คําตอบ 3 : stirring rod
คําตอบ 4 : weighing paper

ขอที่ : 210

สิท
น
อุปกรณหรือเครื่องมือใดที่ไมเกี่ยวของกับการทํา acid digestion เพื่อการละลายสารตัวอยางที่เปนของแข็งใหเปนสารละลาย

ง ว
คําตอบ 1 : stirring rod

ส
คําตอบ 2 : hot plate

อ
คําตอบ 3 : beaker

ข
คําตอบ 4 : porcelain crucible

ก ร
ว
ขอที่ : 211

ศ
ิ
อุปกรณหรือเครื่องมือใดที่ไมเกี่ยวของกับการวิเคราะหหาคา LOI

ว
คําตอบ 1 :

า
platinum crucible
คําตอบ 2 :

สภ
porcelain crucible
คําตอบ 3 : graduated cylinder
คําตอบ 4 : analytical balance

ขอที่ : 212
อุปกรณหรือเครื่องมือใดที่ไมเกี่ยวของกับการวิเคราะหคาความชื้นของตัวอยางผง
คําตอบ 1 : analytical balance
49 of 127
 คําตอบ 2 : spatula
คําตอบ 3 : muffle furnace
คําตอบ 4 : electric oven

่ าย
ขอที่ : 213

น
อุปกรณหรือเครื่องมือใดที่ไมเกี่ยวของกับการเตรียม primary standard solution จาก primary standard chemical

ํจาห
คําตอบ 1 : volumetric flask
คําตอบ 2 : buret
คําตอบ 3 : analytical balance

ม
คําตอบ 4 :

้ า
electric oven

ิธ์ ห
ขอที่ : 214
สิ่งใดที่ไมจําเปนตองใชในวิธีการเตรียม secondary standard solution

ิท
คําตอบ 1 :

ส
analytical reagent
คําตอบ 2 :

น
graduated cylinder

ว
คําตอบ 3 : beaker

ง
คําตอบ 4 : stirring rod

ขอที่ :

อ ส
ข
215

ร
UV – VIS spectrophotometry หมายถึง

ก
คําตอบ 1 : ultraviolet - visible spectrophotometry

ว
คําตอบ 2 : ultrasonic - visualize spectrophotometry

ศ
ิ
คําตอบ 3 :

ว
ultrasonic - visible spectrophotometry

า
คําตอบ 4 : ultrasound - visualize spectrophotometry

สภ
ขอที่ : 216
การวิเคราะหปริมาณธาตุทองแดงเจือปนที่มีปริมาณนอยมาก ระดับ part per billion ในน้ํา ควรใชวิธีใด
คําตอบ 1 : XRD
คําตอบ 2 : AAS
คําตอบ 3 : ICP
คําตอบ 4 : XRF
50 of 127
ขอที่ : 217

คําตอบ 1 : 6.2

่ าย
น
คําตอบ 2 : 6.0

ํจาห
คําตอบ 3 : 12.6
คําตอบ 4 : 10.2

ขอที่ : 218

้ าม
ิธ์ ห
คาAbsorbance ที่ไดจากการวัดดวย Atomic Absorption Spectrophotometer จะมีคาสูงสุดในทางทฤษฎีไดเทาใด
คําตอบ 1 : 1.0

ิท
คําตอบ 2 : 2.0

ส
คําตอบ 3 : 0.1

น
คําตอบ 4 : 100

ง ว
ส
ขอที่ : 219

อ
คาAbsorbance ที่ไดจากการวัดดวย UV-Vis Spectrophotometer จะมีคาสูงสุดในทางทฤษฎีไดเทาใด

ข
คําตอบ 1 : 0.1

ร
คําตอบ 2 : 1.0

ก
คําตอบ 3 :

ว
2.0
คําตอบ 4 :

ศ
ิ
100

าว
ขอที่ : 220

สภ คําตอบ 1 :
คําตอบ 2 :
2 หรือ 3
2
คําตอบ 3 : 3
คําตอบ 4 : 4
51 of 127
ขอที่ : 221

คําตอบ 1 : 18.2

่ าย
น
คําตอบ 2 : 10.5

ํจาห
คําตอบ 3 : 20.1
คําตอบ 4 : 20.9

ขอที่ : 222

้ าม
ิธ์ ห
เมื่อละลายชิ้นงานตัวอยาง 1.000กรัม แลวเตรียมเปน stock solution “A” 250.0 ml. จากนั้นจึง pipet สารละลายจาก “A” นี้มา 20.00 ml ทําใหเจือจางเปน
สารละลาย “B” 50.00 ml กอนนําไปวิเคราะหปริมาณแมกนีเซียมดวย AAS พบวาสารละลาย “B” มีแมกนีเซียม 10 ppm จงหาคํานวณหาเปอรเซ็นต
แมกนีเซียม ในตัวอยางนี้

ิท
คําตอบ 1 : 0.15

ส
คําตอบ 2 : 0.63

น
คําตอบ 3 :

ว
4.63

ง
คําตอบ 4 : 4.74

ขอที่ :

อ
223
ส
ข
เมื่อละลายชิ้นงานตัวอยาง 0.8100กรัม แลวเตรียมเปน stock solution “A” 250.0 ml. จากนั้นจึง pipet สารละลายจาก “A” นี้มา 10.00 ml ทําใหเจือจางเปน

ร
สารละลาย “B” 50.00 ml กอนนําไปวิเคราะหปริมาณ titanium พบวาสารละลาย “B” มี titanium 10 ppm จงหาคํานวณหาเปอรเซ็นต titaniumในตัวอยางนี้

วก
คําตอบ 1 : 1.54

ศ
ิ
คําตอบ 2 : 0.5

ว
คําตอบ 3 : 2.57

า
คําตอบ 4 : 0.57

สภ
ขอที่ : 224
เมื่อละลายชิ้นงานตัวอยาง 1.0350กรัม แลวเตรียมเปน stock solution “A” 250.0 ml. จากนั้นจึง pipet สารละลายจาก “A” นี้มา 20.00 ml ทําใหเจือจางเปน
สารละลาย “B” 50.00 ml กอนนําไปวิเคราะหปริมาณ titanium พบวาสารละลาย “B” มี titanium 12 ppm จงหาคํานวณหาเปอรเซ็นต titanium dioxideใน
ตัวอยางนี้ ( Ti=48.9)

คําตอบ 1 : 0.9
คําตอบ 2 : 1.2 52 of 127
 คําตอบ 3 : 0.7
คําตอบ 4 : 1.8

ย
ขอที่ : 225

่ า
ผงแรยิปซั่ม 1.0300 กรัม เมื่อผานการอบที่อุณหภูมิ 50 องศาเซลเชียส พบวามีน้ําหนักคงเหลือ 1.0260 กรัม เมื่อนําไปอบตอที่อุณหภูมิ 230 องศาเซลเชียส

น
พบวามีน้ําหนักคงเหลือ 0.8315 กรัม จากการวิเคราะหโดยวิธีศึกษา combined water จะไดวาตัวอยางแรยิปซัมนี้มีความบริสุทธิ์รอยละเทาไร ( Ca=40 , S
=32 , O=16)

ํจาห
คําตอบ 1 : 98.4
คําตอบ 2 : 94.8

ม
คําตอบ 3 : 92.9

้ า
คําตอบ 4 : 89.51

ขอที่ : 226

ิธ์ ห
ิท
ผงแรยิปซั่ม 1.0612 กรัม เมื่อผานการอบที่อุณหภูมิ 50 องศาเซลเชียส พบวามีน้ําหนักคงเหลือ 1.0594 กรัม เมื่อนําไปอบตอที่อุณหภูมิ 225 องศาเซลเชียส

ส
พบวามีน้ําหนักคงเหลือ 0.8633 กรัม จากการวิเคราะหโดยวิธีศึกษา combined water จะไดวาตัวอยางแรยิปซัมนี้มี calcium sulphate รอยละเทาไร

น
( Ca=40 , S =32 , O=16)

ว
คําตอบ 1 : 74.8

ง
คําตอบ 2 : 87.1

ส
คําตอบ 3 : 71.4

อ
คําตอบ 4 : 74.1

ขอที่ :

ก ร ข
227

ว
มหาสมุทรมีพื้นที่รวม 363 ลานตารางกิโลเมตร มีความลึกเฉลี่ย 3800 เมตร มีความเขมขนเฉลี่ยของ dissolved gold 5.8 นาโนกรัมตอลิตร ถามวาในมหาสมุทร

ศ
ิ
จะมีทองอยูทั้งหมดเทาไร

ว
คําตอบ 1 : 8 ลาน ตัน

า
สภ
คําตอบ 2 : 8 ลานลาน ตัน
คําตอบ 3 : 80 ลาน ตัน
คําตอบ 4 : 80 ลาน กิโลกรัม

ขอที่ : 228
ถาตองการชั่งวัตถุที่ตองการความละเอียดถึง 0.1 % โดยสิ่งที่ตองการชั่งมีน้ําหนักประมาณ 0.5 กรัม ควรเลือกใชเครื่องชั่งชนิดใด

คําตอบ 1 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึง 0.001 กรัม

53 of 127
 คําตอบ 2 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึง 0.0001 กรัม
คําตอบ 3 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึง 0.01 กรัม
คําตอบ 4 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึง 0.1 กรัม

่ าย
ขอที่ : 229

น
ถาตองการชั่งวัตถุโดยที่ยอมรับความคลาดเคลื่อนของการชั่งได 0.01 % และสิ่งที่ตองการชั่งมีน้ําหนักประมาณ 2 กรัม ควรเลือกใชเครื่องชั่งชนิดใด

ํจาห
คําตอบ 1 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึงทศนิยมตําแหนงที่ 1 ของกรัม
คําตอบ 2 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึงทศนิยมตําแหนงที่ 2 ของกรัม
คําตอบ 3 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึงทศนิยมตําแหนงที่ 3 ของกรัม

ม
คําตอบ 4 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึงทศนิยมตําแหนงที่ 4 ของกรัม

ขอที่ : 230

ิธ์ ห้ า
ถาตองการชั่งวัตถุโดยที่ยอมรับความคลาดเคลื่อนของการชั่งไดถึงรอยละ 0.1 และสิ่งที่ตองการชั่งมีน้ําหนักประมาณ 120 กรัม ควรเลือกใชเครื่องชั่งชนิดใด

ิท
คําตอบ 1 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึงทศนิยมตําแหนงที่ 2 ของกรัม

ส
คําตอบ 2 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึงทศนิยมตําแหนงที่ 3 ของกรัม

วน
คําตอบ 3 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึงทศนิยมตําแหนงที่ 4 ของกรัม

ง
คําตอบ 4 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึงทศนิยมตําแหนงที่ 1 ของกรัม

ขอที่ :

อ ส
ข
231

ร
ถาตองการชั่งวัตถุที่ตองการความละเอียดถึง 0.1 % โดยสิ่งที่ตองการชั่งมีน้ําหนักประมาณ 13 กรัม ควรเลือกใชเครื่องชั่งชนิดใด

ก
คําตอบ 1 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึง 0.0001 กรัม

ว
คําตอบ 2 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึง 0.001 กรัม

ศ
ิ
คําตอบ 3 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึง 0.01 กรัม

าว
คําตอบ 4 : เครื่องชั่งที่มีความละเอียดถึง 0.01 มิลลิกรัม

สภ
ขอที่ : 232
ถาเผา calcium carbonate 20.0 กรัม ที่อุณหภูมิ 1000 องศาเซลเซียส เปนเวลา 1 ชั่วโมง จะมีน้ําหนักคงเหลือกี่กรัม (Ca = 40, C = 12, 0 = 16)
คําตอบ 1 : 8
คําตอบ 2 : 8.8
คําตอบ 3 : 11.2
คําตอบ 4 : 20.2
54 of 127
ขอที่ : 233
ถาใช calcium carbonate 13 กรัม นําไปเผาที่อุณหภูมิ 1050 องศาเซลเซียส เปนเวลา 1 ชั่วโมง จะมีน้ําหนักสูญหายไปเทาไร (Ca = 40, C = 12, 0 = 16)
คําตอบ 1 : 44 %

ย
คําตอบ 2 :

่ า
56 %
คําตอบ 3 :

น
65 %
คําตอบ 4 : 40 %

ขอที่ : 234

ํจาห
ม
ถาตองการกําจัดความชื้นจากสารเคมีที่มีน้ําผลึก ควรทําอยางไร

้ า
คําตอบ 1 : อบที่อุณหภูมิ 100 องศาเซลเซียส เปนเวลา 1 ชั่วโมง

ิธ์ ห
คําตอบ 2 : อบที่อุณหภูมิ 100-110 องศาเซลเซียส เปนเวลา 1 ชั่วโมง
คําตอบ 3 : เก็บในเดสิกเคเตอรที่อุณหภูมิหอง

ิท
คําตอบ 4 : อบที่อุณหภูมิ 150 องศาเซลเซียส เปนเวลา 1 ชั่วโมง

นส
ว
ขอที่ : 235

ง
สารเคมีที่ไมควรใชกับวัสดุทองคําขาว คือ

ส
คําตอบ 1 : sulfuric acid

อ
คําตอบ 2 : Hydrofluoric acid

ข
คําตอบ 3 : Aqua regia

ร
คําตอบ 4 :

ก
Hydrochloric acid

ศ
ิ ว
ขอที่ : 236

ว
ขอใดเปนสภาวะการใชงานที่เปนอันตราย สําหรับการใชกรด Perchloricซี่งเปน Strong oxidizing agent

า
สภ
คําตอบ 1 : ทําปฏิกิริยากับน้ําที่อุณหภูมิหอง
คําตอบ 2 : ทําปฏิกิริยากับ Strong oxidizing agent
คําตอบ 3 : ทําปฏิกิริยากับเกลือแกง
คําตอบ 4 : ทําปฏิกิริยากับ Strong reducing agent ที่อุณหภูมิสูง

ขอที่ : 237
ขอใดไมตรงกับความหมายของ Wet analysis
55 of 127
 คําตอบ 1 : Classical analysis
คําตอบ 2 : Chemical analysis
คําตอบ 3 : X-Rays analysis
คําตอบ 4 : Assaying

่ าย
น
ขอที่ : 238

ํจาห
ละลายลวดทังสเตน 3.00 กรัม ในสารละลายของกรดกัดทอง แลวนําไประเหย ตัวทําละลายและสารระเหยออกไป พบวา acid-insoluble residue มีน้ําหนักคง
เหลือ 0.0950 กรัม หลังจาก treat ดวย HF พบวามีน้ําหนักที่หายไปอีก 20 % ถามวา % Si ในลวดทังสเตนมีคาเทาไร ( Si=28.1, O=16, W=183.8)
คําตอบ 1 : 2%

ม
คําตอบ 2 : 0.2%

้ า
คําตอบ 3 : 3%

ิธ์ ห
คําตอบ 4 : 0.3 %

ิท
ขอที่ : 239

ส
ละลายลวดทังสเตน 3.00 กรัม ในสารละลายของกรดกัดทอง แลวนําไประเหยตัวทําละลายและสารระเหยออกไป พบวา acid-insoluble residue มีน้ําหนักคง

น
เหลือ 0.0950 กรัมหลังจาก treat ดวย HF พบวามีน้ําหนักที่หายไปอีก 20 % ถามวา % W ในลวดทังสเตนมีคา เทาไร (W=183.8, O=16)

ว
คําตอบ 1 :

ง
2%

ส
คําตอบ 2 : 3%

อ
คําตอบ 3 : 4%

ข
คําตอบ 4 : 5%

ก ร
ว
ขอที่ : 240

ศ
ิ
การเตรียม standard solution ของ Cadmium ความเขมขน 1 ppm. 50.00 ml จาก สารละลาย standard cadmium solution 1000 ppm ควรเตรียมดังนี้

ว
คําตอบ 1 : pipet สารละลาย 1000 ppm มา 0.005 ml. แลว dilute ใหเปน 50.00 ml.

า
คําตอบ 2 : pipet สารละลาย 1000 ppm มา 0.05 ml. แลว dilute ใหเปน 50.00 ml.

สภ
คําตอบ 3 : pipet สารละลาย 1000 ppm มา 1.0 ml. แลว dilute ใหเปน 100.00 ml. (A) จากนั้นpipet (A) มา 5.0 ml. dilute ใหเปน 50.0 ml.
คําตอบ 4 : pipet สารละลาย 1000 ppm มา 5.0 ml. แลว dilute ใหเปน 100.00 ml. (A) จากนั้นจึง pipet (A) มา 0.5 ml. dilute ใหเปน 50.0 ml.

ขอที่ : 241
ถาตองการเตรียม 0.05 M sulphuric acid solution โดยเริ่มตนจาก Sulphuric acid ปริมาณ 0.10 mole จะตองใชน้ําในการเตรียมเปนปริมาตรเทาไร
คําตอบ 1 : 10 ml
คําตอบ 2 : 100 ml 56 of 127
 คําตอบ 3 : 200 ml
คําตอบ 4 : 2000 ml

ย
ขอที่ : 242

่ า
ขอใดที่ไมใชสมบัติของ Analytical grade reagent

น
คําตอบ 1 : High purity (% assay > 99.5)

ํจาห
คําตอบ 2 : ระบุชนิดของ Impurities
คําตอบ 3 : ระบุปริมาณของ Impurities
คําตอบ 4 : เหมาะกับการใชเตรียม Secondary standard solution

้ าม
ิธ์ ห
ขอที่ : 243
ขอใดเปนการทํางานของ Masking agent
คําตอบ 1 : เปนตัวเรงปฏิกริยา

ิท
คําตอบ 2 : เปนตัวทําใหเกิดการตกตะกอน

ส
คําตอบ 3 : เปน Releasing agent เพื่อควบคุม สภาวะของปฏิกริยาที่ตองการ

วน
คําตอบ 4 : เปน Complexing agent ที่ใชจับตัว Interfere ใหอยูในสภาพที่ไมรบกวนปฏิกริยาที่ตองการ

ขอที่ :

สง
อ
244
Instrumental technique ที่ใชกับตัวอยางเปนของแข็งได

ร ข
คําตอบ 1 : ICP, AAS spectrometry

ก
คําตอบ 2 : XRF, EDX spectrometry

ว
คําตอบ 3 : FAAS UV-Vis spectrometry

ศ
ิ
คําตอบ 4 :

ว
SEM, UV-Vis spectrometry

า
สภ
ขอที่ : 245
Instrumental technique ที่ใชตัวอยางเปนของเหลวเทานั้น
คําตอบ 1 : AAS UV-Vis spectrometry
คําตอบ 2 : XRD, Mass spectrometry
คําตอบ 3 : EPMA, UV-Vis spectrometry
คําตอบ 4 : WXRF, XRD

57 of 127
ขอที่ : 246
โดยปกติสารละลาย Fe3+ ในกรด มีสีเหลืองออน สารละลาย oxine (ในคลอโรฟอรม) ไมมีสี แตเมื่อเหล็กรวมกับ oxine จะไดสารประกอบเชิงซอนสีเขียวเขม
ทานจะเลือกใชเทคนิคใดในการวิเคราะหปริมาณ Fe3+ ในสารละลายกรด
คําตอบ 1 : Gravimetric

ย
คําตอบ 2 : Complexometric

่ า
คําตอบ 3 : Colorimetric

น
คําตอบ 4 : Potentiometric

ขอที่ : 247

ํจาห
ม
โดยปกติสารละลาย Fe3+ ในกรด มีสีเหลืองออน (ความยาวคลื่นดูดกลืนสูงสุด = A) สารละลาย oxine (ในคลอโรฟอรม) ไมมีสี แตเมื่อเหล็กรวมกับ oxine จะ

้ า
ไดสารประกอบเชิงซอนสีเขียวเขม ความยาวคลื่นดูดกลืนสูงสุด = B) หากทานเลือกใชเทคนิค UV-VIS spectrometricในการวิเคราะหปริมาณ Fe3+ ในสาร

ิธ์ ห
ละลายกรด ทานจะเลือกวัดคา absorbance ที่ความยาวคลื่นใด
คําตอบ 1 : เลือกใชความยาวคลื่น A
คําตอบ 2 : เลือกใชความยาวคลื่น B

ิท
คําตอบ 3 : เลือกใชความยาวคลื่นระหวาง A - B

ส
คําตอบ 4 : ตองสแกนหาความยาวคลื่นไหม

ขอที่ : 248

ง วน
ส
ขอใดเปนหลักการพื้นฐานของ UV-VIS spectroscopy

อ
คําตอบ 1 :

ข
molecular adsorption

ร
คําตอบ 2 : molecular absorption

ก
คําตอบ 3 : atomic absorption

ว
คําตอบ 4 : atomic emission

าวศ
ิ
ขอที่ : 249

สภ
ขอใดเปนหลักการพื้นฐานของ AA spectroscopy
คําตอบ 1 : molecular adsorption
คําตอบ 2 : molecular absorption
คําตอบ 3 : atomic adsorption
คําตอบ 4 : atomic absorption

ขอที่ : 250 58 of 127

 ขอใดเปนหลักการพื้นฐานของ AE spectroscopy
คําตอบ 1 : atomic absorption
คําตอบ 2 : atomic adsorption
คําตอบ 3 : atomic emission

ย
คําตอบ 4 :

่ า
atomic vibration

น
ํจาห
ขอที่ : 251
ขอใดไมใชเทคนิคสําหรับ AAS
คําตอบ 1 : Flame atomization

ม
คําตอบ 2 :

้ า
graphite furnace atomization
คําตอบ 3 :

ิธ์ ห
plasma atomization
คําตอบ 4 : non-flame atomization

ิท
ขอที่ : 252

ส
ขอใดไมใชเทคนิคสําหรับ AES

วน
คําตอบ 1 : Flame exitation

ง
คําตอบ 2 : graphite furnace exitation

ส
คําตอบ 3 : elctrical (discharge) exitation

อ
คําตอบ 4 : plasma exitation

ขอที่ :

ก ร ข
253

ว
ขอใดไมใชเทคนิคสําหรับ plasma exitation ใน AES

ศ
ิ
คําตอบ 1 :

ว
inductively coupled plasma (ICP)

า
คําตอบ 2 : microwave induced plasma (MIP)

สภ
คําตอบ 3 : laser induced plasma (LIP)
คําตอบ 4 : UV induced plasma (UVIP)

ขอที่ : 254
ขอใดไมใช application ของ UV-VIS spectroscopy

คําตอบ 1 : photometric tritration

คําตอบ 2 : colorimetric tritration 59 of 127
 คําตอบ 3 : potentiometric tritration
คําตอบ 4 : complexometric titration

ย
ขอที่ : 255

่ า
หากสาร A เปนสารไมมีสี (ดูดกลืนแสงสูงสุดที่ 260 nm) หากนําไปฉายแสงดวย High voltage UV จะเกิดการแตกตัวไดเปนสาร B (Cation) สีเขียวเขม (ดูด

น
กลืนแสงสูงสุดที่ 620 nm) และ OH- ทานจะเลือกใชเทคนิคใดในการติดตามการเกิด Photoreaction นั้น

ํจาห
คําตอบ 1 : ใชเทคนิค AAS วัดคา absorbance ของ cation ที่เกิดขึ้น
คําตอบ 2 : ใชเทคนิค ICP วัดคา absorbance ของ cation ที่เกิดขึ้น
คําตอบ 3 : ใชเทคนิค UV-VIS วัดคา absorbance ของ cation ที่เกิดขึ้น

ม
คําตอบ 4 : ใชเทคนิค IRS วัดคา absorbance ของ cation ที่เกิดขึ้น

ขอที่ : 256

ิธ์ ห้ า
ในการวัดความเขมขนสารดวยเทคนิค UV-VIS หากวัดคา absorbance แลวเกิน 1 มากๆ ทานจะแกไขอยางไร

ิท
คําตอบ 1 : เจือจางสารละลายนั้นไปเรื่อยๆจนคา A<1

ส
คําตอบ 2 : ใช Sample cell หรือ Cuvette ที่ออกแบบพิเศษใหมี path length นอยลง

น
คําตอบ 3 : เลือกวัดคา absorbance ที่ไมใชความยาวคลื่นสูงสุด

ง ว
คําตอบ 4 : ใช Sample cell หรือ Cuvette ที่ออกแบบพิเศษใหแสงผานไดนอยลง

ขอที่ :

อ
257
ส
ข
precipitate หมายถึง

ก ร
คําตอบ 1 : น้ําลางตะกอน

ว
คําตอบ 2 : สารที่ชวยรวมตะกอนใหมีขนาดใหญขึ้น

ศ
ิ
คําตอบ 3 : ตะกอน

ว
คําตอบ 4 : สารที่ชวยทําใหเกิดการตกตะกอน

า
สภ
ขอที่ : 258
ขอใดเปน wet analysis
คําตอบ 1 : volumetric method
คําตอบ 2 : straining test
คําตอบ 3 : flame test
คําตอบ 4 : EDX
60 of 127
ขอที่ : 259
อุปกรณหรือเครื่องมือใดที่ไมจําเปนสําหรับกับการเตรียม primary standard solution
คําตอบ 1 : Analytical balance

ย
คําตอบ 2 :

่ า
buret
คําตอบ 3 :

น
Volumetric flask
คําตอบ 4 : Spatula

ขอที่ : 260

ํจาห
ม
อุปกรณหรือเครื่องมือใดที่ไมจําเปนตองใช ในงานเตรียม secondary standard solution

้ า
คําตอบ 1 :

ิธ์ ห
balance
คําตอบ 2 : Beaker
คําตอบ 3 : Spatula

ิท
คําตอบ 4 : Volumetric flask

นส
ว
ขอที่ : 261

ง
อุปกรณหรือเครื่องมือใดที่ไมเกี่ยวของกับกระบวนการทํา acid digestion

ส
คําตอบ 1 : Beaker

อ
คําตอบ 2 : Stirring rod

ข
คําตอบ 3 : Spatula

ร
คําตอบ 4 :

ก
Hot plate

ศ
ิ ว
ขอที่ : 262

ว
ชิ้นงานที่ไมนําไฟฟาสามารถตรวจสอบดวยกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบกวาด (Scanning Electron Microscope)ไดหรือไม

า
สภ
คําตอบ 1 : ไมได
คําตอบ 2 : ได โดยเคลือบสารนําไฟฟา เชน ทอง
คําตอบ 3 : ได โดยเตรียมชิ้นงานตามปกติ
คําตอบ 4 : ได โดยตัดชิ้นงานใหบางมาก

ขอที่ : 263
ธาตุใดที่ไมสามารถตรวจสอบไดดวย Energy Dispersive Spectrometer (EDS) แบบ Be window
61 of 127
 คําตอบ 1 : Fe
คําตอบ 2 : Na
คําตอบ 3 : Cr
คําตอบ 4 : O

่ าย
น
ขอที่ : 264

ํจาห
วัสดุใดตอไปนี้ ไมสามารถตรวจสอบโครงสรางของวัสดุเพื่อยืนยันชนิดของวัสดุดวย X-Ray Diffractometer (XRD)
คําตอบ 1 : Al2O3 ที่มีโครงสรางแบบ corundum
คําตอบ 2 : C ที่มีโครงสรางเปนอะมอฟส

ม
คําตอบ 3 : Fe ที่มีโครงสราง FCC

้ า
คําตอบ 4 : ไมมีวัสดุชนิดใดที่ตรวจสอบดวยวิธีนี้ไมได

ขอที่ : 265
ิธ์ ห
ิท
วิธี GIXD หรือ GAXD ใชหลักการเหมือนกับเครื่องมือวิเคราะหใด

ส
คําตอบ 1 :

น
Scanning Electron Microscope

ว
คําตอบ 2 : Transmission Electron Microscope

ง
คําตอบ 3 : X-Ray Diffractometer

ส
คําตอบ 4 : Atomic Absorption

ขอที่ :

ร ขอ
266

ก
วิธีใดไมนิยมใชในการตรวจสอบพื้นผิว

ว
คําตอบ 1 : Auger Electron Microscopy

ศ
ิ
คําตอบ 2 :

ว
X-Ray Photoelectron Spectrometer

า
คําตอบ 3 : Electron Spectroscopy for Chemical Analysis

สภ
คําตอบ 4 : Atomic Absorption

ขอที่ : 267
การตรวจสอบธาตุผสมที่มีปริมาณนอย ในระดับหนึ่งในลาน หรือ part per million (ppm) ควรใชวิธีใด

คําตอบ 1 : Atomic Absorption

คําตอบ 2 : X-Ray Diffractometer
คําตอบ 3 : X-Ray Fluorescence 62 of 127
 คําตอบ 4 : Energy Dispersive Spectrometer

ขอที่ : 268

ย
การตรวจสอบวิธีใดไมสามารถแสดงผลเปนภาพถายได

่ า
คําตอบ 1 : Scanning Electron Microscope (SEM)

น
คําตอบ 2 : Transmission Electron Microscope (TEM)

ํจาห
คําตอบ 3 : Auger Electron Microscopy (AES)
คําตอบ 4 : Energy Dispersive Spectrometer (EDS)

้ าม
ขอที่ : 269

ิธ์ ห
การตรวจสอบ Energy Dispersive Spectrometer และ Wavelength Dispersive Spectrometer ตรวจสอบอะไรจากชิ้นงาน
คําตอบ 1 : Auger electron
คําตอบ 2 :

ิท
Secondary electron
คําตอบ 3 :

ส
Characteristic X-ray
คําตอบ 4 :

น
Back scattering electron

ขอที่ : 270

ง ว
ส
SEM เปนชื่อยอของเครื่องมืออะไร

ขอ
คําตอบ 1 : Secondary Electron Microscope

ร
คําตอบ 2 : Semi-Electron Microscope

ก
คําตอบ 3 : Scanning Electron Microscope

ว
คําตอบ 4 : Scattering Electron Microscope

าวศ
ิ
ขอที่ : 271

สภ
TEM เปนชื่อยอของเครื่องมืออะไร
คําตอบ 1 : Transmission Electron Microscope
คําตอบ 2 : Transition Element Microscope
คําตอบ 3 : Transition Electron Microscope
คําตอบ 4 : Transmitted Beam Electron Microscope

ขอที่ : 272 63 of 127

 AES ตรวจสอบธาตุตางๆดวย
คําตอบ 1 : Characteristic X-ray
คําตอบ 2 : Diffracted X-ray
คําตอบ 3 : Transmitted Electron

ย
คําตอบ 4 :

่ า
Auger Electron

น
ํจาห
ขอที่ : 273
วิธีการตรวจสอบวิธีใดตอไปนี้ไมสามารถตรวจสอบสารประกอบได
คําตอบ 1 : Energy Dispersive Spectrometer

ม
คําตอบ 2 :

้ า
X-Ray Photoelectron Spectrometer
คําตอบ 3 :

ิธ์ ห
X-Ray Diffractometer
คําตอบ 4 : Electron Spectroscopy for Chemical Analysis

ิท
ขอที่ : 274

ส
คาใดตอไปนี้สามารถหาไดโดยตรงจาก electron diffraction pattern

วน
คําตอบ 1 : ขนาดของเกรน

ง
คําตอบ 2 : พันธะของผลึก

ส
คําตอบ 3 : คาขนาดของโครงผลึก (lattice parameter)

อ
คําตอบ 4 : ความหนาของชิ้นงานที่ตรวจสอบ

ขอที่ :

ก ร ข
275

ว
ขอใดตอไปนี้ไมสามารถทําไดในกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบกวาด (Scanning Electron Microscope, SEM) ที่มี Energy Dispersive Spectrometer

ศ
ิ
คําตอบ 1 : ถายภาพ 3 มิติ

าว
คําตอบ 2 : ตรวจสอบสวนผสมของเฟสใดๆวามีธาตุใดบาง

สภ
คําตอบ 3 : ตรวจสอบการกระจายตัวของธาตุ
คําตอบ 4 : ตรวจสอบคา lattice parameter

ขอที่ : 276
Electron Diffraction pattern สามารถตรวจสอบไดจากเครื่องมือใด
คําตอบ 1 : Energy Dispersive Spectrometer
คําตอบ 2 : X-Ray Photoelectron Spectrometer 64 of 127
 คําตอบ 3 : X-Ray Diffractometer
คําตอบ 4 : กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองผาน (Transmission Electron Microscope)

ย
ขอที่ : 277

่ า
เครื่องมือวิเคราะหใดสามารถถายรูปผิวของรอยแตก (Fracture surface) เพื่อวิเคราะหได

น
คําตอบ 1 : กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองผาน (Transmission Electron Microscope)

ํจาห
คําตอบ 2 : กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบกวาด (Scanning Electron Microscope)
คําตอบ 3 : กลองจุลทรรศนแสง (Optical Microscope)
กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองผาน (Transmission Electron Microscope) และ กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบกวาด (Scanning

ม
คําตอบ 4 :
Electron Microscope)

ขอที่ : 278

ิธ์ ห้ า
ขอใดกลาวถูกตองเกี่ยวกับกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบกวาด (Scanning Electron Microscope)

ิท
คําตอบ 1 : ชิ้นงานที่เปนโลหะจะตองเคลือบดวยคารบอนหรือทองจึงจะใชงานได

ส
คําตอบ 2 : สามารถถายรูปรอยแตกไมไดเนื่องจากมีความชัดลึกต่ํา

น
คําตอบ 3 : ใชลําอิเล็กตรอนในการกระตุนใหเกิดอิเล็กตรอนทุติยภูม(ิ secondary electron) เพื่อแสดงภาพ

ง ว
คําตอบ 4 : สามารถวิเคราะหธาตุไดทุกธาตุที่มีเลขอะตอม มากกวาหรือเทากับ 2

ขอที่ :

อ
279
ส
ร ข
ชิ้นงานฉนวนไฟฟาเมื่อนําไปถายภาพดวยกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนจะสามารถถายภาพไดหรือไม

ก
คําตอบ 1 : สามารถถายภาพไดตามปกติ

ว
คําตอบ 2 : จะเกิด Charging ของอิเล็กตรอนทําใหภาพสวางจา

ศ
ิ
คําตอบ 3 : จะเกิด Exciting ทําใหเปลี่ยนแปลงสวนผสม

ว
คําตอบ 4 : จะเกิด Evaporation ทําใหเปลี่ยนแปลงสวนผสม

า
สภ
ขอที่ : 280
สวนที่ทําใหเกิดลําอิเล็กตรอนปฐมภูมิในกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอน คือ
คําตอบ 1 : ปนอิเล็กตรอน (electron gun)
คําตอบ 2 : เลนสแมเหล็ก (magnetic len)
คําตอบ 3 : วินโดวที่ทําจากแบริลเลี่ยม
คําตอบ 4 : ชิ้นงาน
65 of 127
ขอที่ : 281
วัสดุซิลิกาที่มีโครงสรางแบบอะมอฟส ตรวจสอบดวย X-Ray Diffractometer แลวไดผลอยางไร
คําตอบ 1 : เกิดเปนพีคตามแบบแฟมขอมูลมาตรฐานของซิลิกา

ย
คําตอบ 2 : ไมปรากฏพีคที่มุมใดอยางชัดเจน

่ า
คําตอบ 3 : เกิดพีคตามแบบแฟมขอมูลมาตรฐานของซิลิกา แตพีคจะมีการเลื่อนจากมาตรฐานไปเล็กนอย

น
คําตอบ 4 : ไมสามารถบรรจุชิ้นงานในเครื่องตรวจสอบได

ขอที่ : 282

ํจาห
ม
การคํานวณ lattice parameter จาก ผลการตรวจสอบดวย X-Ray Diffractometer ใชหลักการใด

้ า
คําตอบ 1 :

ิธ์ ห
Hall-Petch Relation
คําตอบ 2 : Vegard’s Law
คําตอบ 3 : Snell’s Law

ิท
คําตอบ 4 : Bragg’s Law

นส
ว
ขอที่ : 283

ง
ขอใดตอไปนี้ถูกตอง

ส
คําตอบ 1 : กลองจุลทรรศนแสงมีความชัดลึกมากกวากลองจุลทรรศนอิเล็กตรอน

อ
คําตอบ 2 : กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองผาน (TEM) สามารถตรวจสอบโครงสรางผลึกได

ข
คําตอบ 3 : กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแสงสามารถตรวจสอบโครงสรางผลึกได

ร
คําตอบ 4 : กลองจุลทรรศนแสงมี resolution ดีกวากลองจุลทรรศนอิเล็กตรอน

วก
ศ
ิ
ขอที่ : 284

ว
Energy Dispersive Spectrometer ตรวจสอบสารประกอบไดหรือไม

า
สภ
คําตอบ 1 : ไมได
คําตอบ 2 : ได เฉพาะสารประกอบที่มีพันธะโควาเลนซ
คําตอบ 3 : ได เฉพาะสารประกอบที่มีโครงสรางผลึก
คําตอบ 4 : ได เฉพาะสารประกอบที่มีพันธะอิออนิก

ขอที่ : 285
Wavelength Dispersive Spectrometer ตรวจสอบสารประกอบไดหรือไม
66 of 127
 คําตอบ 1 : ไมได
คําตอบ 2 : ได เฉพาะสารประกอบที่มีพันธะโควาเลนซ
คําตอบ 3 : ได เฉพาะสารประกอบที่มีโครงสรางผลึก
คําตอบ 4 : ได เฉพาะสารประกอบที่มีพันธะอิออนิก

่ าย
น
ขอที่ : 286

ํจาห
Energy Dispersive Spectrometer ตรวจสอบธาตุโดยใชสัญญาณจากอะไร
คําตอบ 1 : พลังงานของอิเล็กตรอนทุติยภูมิ (secondary electron)
คําตอบ 2 : ความยาวคลื่นของอิเล็กตรอนทุติยภูมิ (secondary electron)

ม
คําตอบ 3 : พลังงานของรังสีเอกซเฉพาะตัว (characteristic X-ray)

้ า
คําตอบ 4 : ความยาวคลื่นของรังสีเอกซเฉพาะตัว (characteristic X-ray)

ขอที่ : 287
ิธ์ ห
ิท
Wavelength Dispersive Spectrometer ตรวจสอบธาตุโดยใชสัญญาณจากอะไร

ส
คําตอบ 1 : พลังงานของอิเล็กตรอนทุติยภูมิ (secondary electron)

วน
คําตอบ 2 : ความยาวคลื่นของอิเล็กตรอนทุติยภูมิ (secondary electron)

ง
คําตอบ 3 : พลังงานของรังสีเอกซเฉพาะตัว (characteristic X-ray)

ส
คําตอบ 4 : ความยาวคลื่นของรังสีเอกซเฉพาะตัว (characteristic X-ray)

ขอที่ :

ร ขอ
288

ก
สิ่งใดตอไปนี้ที่ไมเกิดขึ้นในกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอน

ว
คําตอบ 1 : อิเล็กตรอนทุติยภูมิ (secondary electron)

ศ
ิ
คําตอบ 2 :

ว
Back scattered electron

า
คําตอบ 3 : ออเจอิเล็กตรอน (Auger electron)

สภ
คําตอบ 4 : โฟโตอิเล็กตรอน (Photo electron)

ขอที่ : 289
การวิเคราะหดวย X-Ray Diffractometer สามารถตรวจสอบขนาดของผลึกไดหรือไม จากอะไร

คําตอบ 1 : ไมได
คําตอบ 2 : ได จากการคํานวณการเลื่อนของพีคตามกฏ Vegard’s law
คําตอบ 3 : ได จากความกวางของพีคที่ครึ่งหนึ่งของความสูง (Full Width Half Max) ตาม Scherrer’s Formula 67 of 127
 คําตอบ 4 : ไดในบางกรณี ขึ้นอยูกับพันธะของผลึกในวัสดุ

ขอที่ : 290

ย
เมื่อตองการตรวจสอบปริมาณการละลายของคารบอนในเหล็กดวย X-Ray Diffractometer สามารถทําไดหรือไม

่ า
คําตอบ 1 : ไมได

น
คําตอบ 2 : ได จากการคํานวณการเลื่อนของพีคตามกฏ Vegard’s law

ํจาห
คําตอบ 3 : ได จากความกวางของพีคที่ครึ่งหนึ่งของความสูง (Full Width Half Max) ตาม Scherrer’s Formula
คําตอบ 4 : ได โดยการคํานวณจาก Bragg’s law

้ าม
ขอที่ : 291

ิธ์ ห
เพราะเหตุใด กลองจุลทรรศนแสงจึงนิยมใชแสงสีเขียว
คําตอบ 1 : เพราะวาเปนแสงที่สามารถทําใหเกิดไดงาย
คําตอบ 2 : เพราะวาเปนแสงที่ใหความถี่ต่ําทําใหไดภาพคมชัด

ิท
คําตอบ 3 : เพราะวาเปนแสงที่มีความยาวคลื่นต่ําทําให resolution สูง

ส
คําตอบ 4 : เพราะวาเปนแสงที่มีหลายความยาวคลื่นทําใหไดภาพที่มีความชัดลึก

ขอที่ : 292

ง วน
ส
เครื่องมือใดตอไปนี้ถายภาพได

ขอ
คําตอบ 1 : กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอน

ร
คําตอบ 2 : Atomic Absorption

ก
คําตอบ 3 : X-ray Photoelectron spectrometer

ว
คําตอบ 4 : X-ray Diffractometer

าวศ
ิ
ขอที่ : 293

สภ
ขอมูลใดตอไปนี้ไมสามารถไดจาก X-ray Diffractometer
คําตอบ 1 : โครงสรางผลึก
คําตอบ 2 : ชนิดของสารประกอบที่เปนอะมอฟส
คําตอบ 3 : ขนาดของผลึก
คําตอบ 4 : ปริมาณของสารแตละชนิด

ขอที่ : 294 68 of 127

 ขอใดตอไปนี้เปนจริง
คําตอบ 1 : X-ray Diffractometer ใชหาระยะหางระหวางระนาบตางเพื่อหาคาขนาดของโครงผลึกและบอกชนิดของผลึกได
คําตอบ 2 : X-ray Diffractometer ใชหาคาขนาดของผลึกได
คําตอบ 3 : X-ray Diffractometer ใชพลังงานของรังสีเอกซในการบอกชนิดของสาร

ย
คําตอบ 4 : X-ray Diffractometer ใชรังสีเอกซที่มีคาความยาวคลื่นคาเดียว

น่ า
ํจาห
ขอที่ : 295
กลองจุลทรรศนแสงสามารถใหกําลังขยายมากที่สุดเทาไร
คําตอบ 1 : 10 เทา

ม
คําตอบ 2 : 100 เทา

้ า
คําตอบ 3 : 1000 เทา

ิธ์ ห
คําตอบ 4 : 100000 เทา

ิท
ขอที่ : 296

ส
ขอจํากัดใดของกลองจุลทรรศนแสงถูกตอง

วน
คําตอบ 1 : ตรวจสอบขนาดเกรนไมได

ง
คําตอบ 2 : ตรวจสอบไดเฉพาะชิ้นงานที่เตรียมผิวใหเรียบมาแลว

ส
คําตอบ 3 : ตรวจสอบไดเฉพาะชิ้นงานที่นําไฟฟาเทานั้น

อ
คําตอบ 4 : ตรวจสอบไดเฉพาะชิ้นงานที่เปนโลหะเทานั้น

ขอที่ :

ก ร ข
297

ว
กลองจุลทรรศนแสงที่มีกําลังขยายที่เลนสตา 10 เทา เมื่อใชเลนสวัตถุ 50 เทาจะมีกําลังขยายเทาใด

ศ
ิ
คําตอบ 1 : 5 เทา

าว
คําตอบ 2 : 40 เทา

สภ
คําตอบ 3 : 60 เทา
คําตอบ 4 : 500 เทา

ขอที่ : 298
ขั้นตอนใดที่ไมตองทําในการตรวจสอบขนาดชิ้นงานดวยกลองจุลทรรศนแสง
คําตอบ 1 : ขัดผิวใหเรียบ
คําตอบ 2 : กัดกรดหรือสารเคมีที่เหมาะสม 69 of 127
 คําตอบ 3 : ทําใหผิวที่จะตรวจสอบไดระนาบ
คําตอบ 4 : เคลือบผิวดวยทองหรือคารบอน

ย
ขอที่ : 299

่ า
วิธีการเตรียมชิ้นงานเพื่อตรวจสอบดวยกลองจุลทรรศนแสงและกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนขอใดไมถูกตอง

น
คําตอบ 1 : ชิ้นงานที่ตรวจสอบดวยกลองจุลทรรศนแสงตองทําใหผิวเรียบไดระนาบ

ํจาห
คําตอบ 2 : ชิ้นงานที่ตรวจสอบดวยกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนไมจําเปนตองทําใหผิวเรียบแตตองทําใหนําไฟฟา
คําตอบ 3 : ชิ้นงานที่ตรวจสอบดวยกลองจุลทรรศนแสงและกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนตองกัดผิวดวยสารที่เหมาะสมเพื่อใหไดภาพที่มีคุณภาพดี
คําตอบ 4 : ชิ้นงานที่ตรวจสอบดวยกลองจุลทรรศนแสงและกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนตองทําใหชิ้นงานบางกวา 100 ไมโครเมตร

้ าม
ิธ์ ห
ขอที่ : 300
เทคนิดใดของ X-ray Diffractometer ที่ใชตรวจสอบชั้นฟลมบาง
คําตอบ 1 :

ิท
theta-2theta
คําตอบ 2 : GIXD หรือ GAXD

ส
คําตอบ 3 : คํานวนจากการตรวจสอบความเคนเหลือคางในชิ้นงาน

วน
คําตอบ 4 : คํานวนจากคาคงที่ของผลึก(lattice parameter)ที่เปลี่ยนแปลง

ขอที่ :

สง
อ
301
การเตรียมตัวอยางของกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบกวาด (SEM) กับแบบสองผาน (TEM) แตกตางกันอยางไร

ร ข
คําตอบ 1 : ชิ้นงานของ TEM ตองบางมาก

ก
คําตอบ 2 : ชิ้นงานของ SEM จะตองบางมาก

ว
คําตอบ 3 : เตรียมชิ้นงานเหมือนกัน

ศ
ิ
คําตอบ 4 : ชิ้นงานไมจําเปนตองเตรียม สามารถตรวจสอบไดเลย

าว
สภ
ขอที่ : 302
การวิเคราะหวัสดุดวยวิธี XRF ทําใหทราบถึง
คําตอบ 1 : สมบัติทาง x-ray
คําตอบ 2 : สวนประกอบทางเคมี
คําตอบ 3 : ชนิดของวัสดุ
คําตอบ 4 : สมบัติการเรืองแสง

70 of 127
ขอที่ : 303
หลักการพื้นฐานของการวิเคราะหดวยวิธี XRF คือ ความเขมขนของ secondary x-ray ขึ้นอยูกับ
คําตอบ 1 : ตัวกลางระหวาง tube กับตัวอยาง
คําตอบ 2 : ความถวงจําเพาะของตัวอยาง

ย
คําตอบ 3 : ปริมาณของธาตุในตัวอยาง

่ า
คําตอบ 4 : รัศมีอะตอมของธาตุในตัวอยาง

น
ํจาห
ขอที่ : 304
ในการวิเคราะหดวยวิธี XRF เมื่อใช tungsten (W) tube จะไมเหมาะสําหรับการวิเคราะหธาตุ

ม
คําตอบ 1 :

้ า
Cu
คําตอบ 2 :

ิธ์ ห
Cu
คําตอบ 3 : W
คําตอบ 4 : Ca

ขอที่ : 305

สิท
วน
การบอกปริมาณของธาตุในตัวอยางในการวิเคราะหดวยวิธี XRF สามารถทําไดโดย

ง
คําตอบ 1 : เทียบกับตัวอยางมาตรฐาน (standard)

ส
คําตอบ 2 : คํานวณไดโดยตรงจากสูตรความเขมขนของ x-ray

อ
คําตอบ 3 : คํานวณจากสูตรเคมีของสารประกอบ

ข
คําตอบ 4 : การชั่งดวยตาชั่ง

ก ร
ว
ขอที่ : 306

ศ
ิ
ขอดีของการวิเคราะหดวยเครื่อง XRF แบบ energy dispersive (EDX) คือ

าว
คําตอบ 1 : สามารถวิเคราะหไดหลายธาตุพรอมกัน

สภ
คําตอบ 2 : สามารถวิเคราะหธาตุที่มีปริมาณต่ํามาก (ppm) ไดดี
คําตอบ 3 : มี detection limit ต่ํา
คําตอบ 4 : เหมาะสําหรับอยางที่มีปริมาณนอย

ขอที่ : 307
ขอใดที่ไมใช x-ray detector

คําตอบ 1 : Gas-filled 71 of 127

 คําตอบ 2 : Scintillation
คําตอบ 3 : Geiger counter
คําตอบ 4 : Photomultiplier

่ าย
ขอที่ : 308

น
องคประกอบใดที่ไมมีผลตอ matrix effects

ํจาห
คําตอบ 1 : Atomic number
คําตอบ 2 : Absorption factor
คําตอบ 3 : Fluorescence factor

ม
คําตอบ 4 :

้ า
Specific gravity

ิธ์ ห
ขอที่ : 309
ในการวิเคราะหดวยวิธี XRF ผลการวิเคราะหที่ผิดพลาด มักเกิดจาก

ิท
คําตอบ 1 : ปริมาณของตัวอยางนอยเกินไป

ส
คําตอบ 2 : ใช spectral line ที่ทับซอนกัน

วน
คําตอบ 3 : ตัวอยางเปนผงเม็ดละเอียดมากเกินไป

ง
คําตอบ 4 : ตัวอยางเปนแบบลูกปด (bead)

ขอที่ :

อ ส
ข
310

ร
ขอใดที่ไมจําเปนในการวิเคราะหแบบ wavelength dispersive XRF

ก
คําตอบ 1 : Analyzing crystal

ว
คําตอบ 2 : Multi-channel analyzer

ศ
ิ
คําตอบ 3 :

ว
Geiger counter

า
คําตอบ 4 : Photomultiplier

สภ
ขอที่ : 311
ขอใดที่ไมมีผลตอการวิเคราะหดวยวิธี XRF
คําตอบ 1 : Packing density
คําตอบ 2 : Specific gravity
คําตอบ 3 : Grain size
คําตอบ 4 : Surface roughness
72 of 127
ขอที่ : 312
Auger electrons หมายถึง
อิเล็กตรอนวงนอกที่หลุดออกมาจากชิ้นงานจากการกระตุนของพลังงานที่ไดมาจากความแตกตางระหวางระดับพลังงานของอิเล็กตรอนวงใน

ย
คําตอบ 1 :
กับอิเล็กตรอนวงนอก

่ า
อิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons) ที่ตกกระทบชิ้นงาน และกระเจิงกลับออกมาจากชิ้นงานแบบไมยืดหยุน และมีพลังงานต่ํากวา 50

น
คําตอบ 2 :
eV

ํจาห
คําตอบ 3 : อิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons) ที่ตกกระทบชิ้นงาน และกระเจิงกลับออกมาจากชิ้นงานแบบไมยืดหยุน
คําตอบ 4 : อิเล็กตรอนวงในของชิ้นงานที่หลุดออกมาจากการชนของอิเล็กตรอนหรือโฟตอน

้ าม
ขอที่ : 313

ิธ์ ห
ขอใดเปนสัญญาณที่ใชกระตุนชิ้นงาน (Incident beam) ในเทคนิค Auger electron spectroscopy, AES
คําตอบ 1 : Ions
คําตอบ 2 :

ิท
Electrons
คําตอบ 3 :

ส
X-rays or electrons
คําตอบ 4 :

น
Auger electrons

ขอที่ : 314

ง ว
ส
ขอใดเปนระดับสุญญากาศที่ใชในเทคนิค Auger electron spectroscopy, AES

ขอ
คําตอบ 1 : Low vacuum

ร
คําตอบ 2 : Medium vacuum

ก
คําตอบ 3 : High vacuum

ว
คําตอบ 4 : Ultra high vacuum

าวศ
ิ
ขอที่ : 315

สภ
ในการวิเคราะหผลของเทคนิค Auger electron spectroscopy, AES สมบัติใดของ Auger electrons ที่ใชในการวิเคราะหธาตุ
คําตอบ 1 : Kinetic energy
คําตอบ 2 : Wavelength
คําตอบ 3 : Diffraction angle
คําตอบ 4 : Intensity

ขอที่ : 316 73 of 127

 เทคนิค Auger electron spectroscopy, AES สามารถวิเคราะหธาตุตางๆ ได ยกเวน
คําตอบ 1 : H, He
คําตอบ 2 : ธาตุที่มี Atomic number > 4
คําตอบ 3 : ธาตุที่มี Atomic number > 9

ย
คําตอบ 4 : ธาตุที่มี Atomic number > 11

น่ า
ํจาห
ขอที่ : 317
ขอใดไมใชเทคนิควิเคราะหของ Auger electron spectroscopy, AES
คําตอบ 1 : Line scans

ม
คําตอบ 2 :

้ า
Elemental mapping
คําตอบ 3 :

ิธ์ ห
Depth profiling
คําตอบ 4 : Phase determination

ิท
ขอที่ : 318

ส
เหตุใดการวิเคราะหดวยเทคนิค Auger electron spectroscopy, AES จึงเปนการวิเคราะหพื้นผิวที่ลึกไมเกิน 2 นาโนเมตรเทานั้น

วน
คําตอบ 1 : เพราะสภาวะความเปนสุญญากาศภายใน ทําใหสัญญาณที่ไดรับลดลง

ง
คําตอบ 2 : เพราะพลังงานที่ใชกระตุนชิ้นงานต่ํา

ส
คําตอบ 3 : เพราะชิ้นงานที่ไดเกิดการสะสมประจุอยางตอเนื่อง

อ
คําตอบ 4 : เพราะพลังงานจลนของ Auger electrons คอนขางต่ํา

ขอที่ :

ก ร ข
319

ว
ขอใดกลาวไมถูกตองเกี่ยวกับความหมายของสเปกตรัม “KLL” จากเทคนิค Auger electron spectroscopy, AES

ศ
ิ
คําตอบ 1 : K เปนระดับพลังงานของอิเล็กตรอน (K shell) ที่มาตกกระทบชิ้นงาน

าว
คําตอบ 2 : K เปนระดับพลังงานของอิเล็กตรอน (K shell) ที่หลุดออกมาจากชิ้นงานเมื่อถูกกระตุนโดยอิเล็กตรอนหรือโฟตอน

สภ
คําตอบ 3 : L ตัวที่ 2 เปนระดับพลังงานของอิเล็กตรอน (L shell) ที่เขามาแทนที่อิเล็กตรอนวงใน (K) ที่หลุดออกไป
L ตัวที่ 3 เปนระดับพลังงานของอิเล็กตรอน (L shell) ที่หลุดออกมาจากชิ้นงานเมื่อถูกกระตุนจากความแตกตางระหวางพลังงานของ
คําตอบ 4 :
อิเล็กตรอนK shell กับ L shell

ขอที่ : 320
การวิเคราะห Depth profiling ของชิ้นงานดวยเทคนิค Auger electron spectroscopy, AES ตองอาศัยสัญญาณใดกระตุน

คําตอบ 1 : Electrons
74 of 127
 คําตอบ 2 : Ion beam
คําตอบ 3 : Electron and Ion beam
คําตอบ 4 : Electron and Photon

่ าย
ขอที่ : 321

น
Photoelectrons หมายถึง

ํจาห
อิเล็กตรอนวงนอกที่หลุดออกมาจากชิ้นงานจากการกระตุนของพลังงานที่ไดมาจากความแตกตางระหวางระดับพลังงานของอิเล็กตรอนวงใน
คําตอบ 1 :
กับอิเล็กตรอนวงนอก
อิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons) ที่ตกกระทบชิ้นงาน และกระเจิงกลับออกมาจากชิ้นงานแบบไมยืดหยุน และมีพลังงานต่ํากวา 50
คําตอบ 2 :

ม
eV

้ า
คําตอบ 3 : อิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons) ที่ตกกระทบชิ้นงาน และกระเจิงกลับออกมาจากชิ้นงานแบบไมยืดหยุน

ิธ์ ห
คําตอบ 4 : อิเล็กตรอนวงในของชิ้นงานที่หลุดออกมาจากการชนของอิเล็กตรอนหรือโฟตอน

ิท
ขอที่ : 322

ส
ขอใดเปนเทคนิคที่ควรเลือกใชในการวิเคราะห Oxidation state ของสนิมเหล็กที่เกิดบนผิวของชิ้นงาน

น
คําตอบ 1 : XPS หรือที่เรียกวา ESCA

ว
คําตอบ 2 :

ง
SEM
คําตอบ 3 :

ส
EPMA

อ
คําตอบ 4 : XRF

ขอที่ :

ก ร ข
323
ขอใดเปนระดับสุญญากาศที่ใชในเทคนิค X-ray photoelectron spectroscopy, XPS หรือที่เรียกวา ESCA

ศ
ิ ว
คําตอบ 1 : Low vacuum

ว
คําตอบ 2 : Medium vacuum

า
คําตอบ 3 : High vacuum

สภ
คําตอบ 4 : Ultra high vacuum

ขอที่ : 324
ขอใดเปนสัญญาณที่ใชกระตุนชิ้นงาน (Incident beam) ในเทคนิค X-ray photoelectron spectroscopy, XPS หรือที่เรียกวา ESCA
คําตอบ 1 : Ions
คําตอบ 2 : Electrons
คําตอบ 3 : X-rays 75 of 127
 คําตอบ 4 : Photoelectrons

ขอที่ : 325

ย
ขอใดเปนขอมูลที่ใชในการวิเคราะหชิ้นงาน(Signal) ในเทคนิค X-ray photoelectron spectroscopy, XPS หรือที่เรียกวา ESCA

่ า
คําตอบ 1 : Ions

น
คําตอบ 2 : Electrons

ํจาห
คําตอบ 3 : X-rays
คําตอบ 4 : Photoelectrons

้ าม
ขอที่ : 326

ิธ์ ห
พลังงานจลนของ Photoelectrons ขึ้นอยูกับตัวแปรขอใด
คําตอบ 1 : พลังงานของ Incident beam ที่มาตกกระทบชิ้นงาน
คําตอบ 2 : ระดับพลังงานจลนของอิเล็กตรอนที่ออกมาจากชิ้นงาน

ิท
คําตอบ 3 : ลักษณะการชนของ Incident beam บนชิ้นงาน

ส
คําตอบ 4 : ถูกทุกขอ

ขอที่ : 327

ง วน
ส
ขอใดกลาวไมถูกตอง

ขอ
คําตอบ 1 : Spatial resolution ของ Auger electron microscopy (AES) ดีกวา X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)

ร
คําตอบ 2 : Detection limit ของ Auger electron microscopy (AES) ดีกวา X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)

ก
คําตอบ 3 : เทคนิค Auger electron microscopy (AES) และ X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) เปนการวิเคราะหพื้นผิวของชิ้นงาน

ว
คําตอบ 4 : Depth resolution ของ Auger electron microscopy (AES) ดีกวา X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)

าวศ
ิ
ขอที่ : 328

สภ
ขอใดเปนลักษณะการกระเจิงแบบไมยืดหยุน (Inelastic scattering) ของอิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons) เมื่อตกกระทบชิ้นงาน
คําตอบ 1 : อิเล็กตรอนเปลี่ยนทิศทางการเคลื่อนที่ แตพลังงานคงที่
คําตอบ 2 : อิเล็กตรอนมีทิศทางการเคลื่อนที่และพลังงานคงที่
คําตอบ 3 : อิเล็กตรอนเปลี่ยนทิศทางการเคลื่อนที่ และพลังงานลดลง
คําตอบ 4 : ไมมีขอใดถูก

ขอที่ : 329 76 of 127

 อิเล็กตรอนทุติยภูมิ (Secondary electrons) หมายถึง
คําตอบ 1 : อิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons) ที่ตกกระทบชิ้นงาน และกระเจิงกลับออกมาจากชิ้นงานแบบยืดหยุน
อิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons) ที่ตกกระทบชิ้นงาน และกระเจิงกลับออกมาจากชิ้นงานแบบไมยืดหยุน และมีพลังงานต่ํากวา 50
คําตอบ 2 :
eV

ย
คําตอบ 3 : อิเล็กตรอนที่ปลดปลอยจากชิ้นงาน ซึ่งเกิดจากการที่ชิ้นงานถูกกระตุนโดยการชนแบบยืดหยุนจากอิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons)

่ า
อิเล็กตรอนที่ปลดปลอยจากชิ้นงาน และมีพลังงานต่ํากวา 50 eV ซึ่งเกิดจากการที่ชิ้นงานถูกกระตุนโดยการชนแบบไมยืดหยุนจาก

น
คําตอบ 4 :
อิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons)

ํจาห
ขอที่ : 330

ม
ขอมูลใดเปนสัญญาณที่ไดจากอิเล็กตรอนทุติยภูมิ (Secondary electrons) ในกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองกราด (Secondary electron microscope,

้ า
SEM)

ิธ์ ห
คําตอบ 1 : การเรียงตัวของผลึก (Crystal orientation)
คําตอบ 2 : โครงสรางผลึก (Crystal structure)
คําตอบ 3 : สวนประกอบทางเคมี (Chemical compositions)

ิท
คําตอบ 4 : ภาพแสดงลักษณะพื้นผิวของชิ้นงาน (Topography)

นส
ว
ขอที่ : 331

ง
ขอมูลใดเปนสัญญาณที่ไดจากอิเล็กตรอนกระเจิงกลับ (Backscattered electrons) ในกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองกราด (Secondary electron

ส
microscope, SEM)

อ
คําตอบ 1 : การเรียงตัวของผลึก (Crystal orientation)

ข
คําตอบ 2 : โครงสรางผลึก (Crystal structure)

ก ร
คําตอบ 3 : ภาพที่แสดงใหเห็นถึงความแตกตางของธาตุตามเลขอะตอม

ว
คําตอบ 4 : ภาพแสดงลักษณะพื้นผิวของชิ้นงาน (Topography)

าวศ
ิ
ขอที่ : 332

สภ
ปจจัยขอใดที่มีผลตอขนาดของปริมาตรที่เกิดอันตรกิริยา (Interaction volume) ในชิ้นงาน เมื่ออิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons) ตกกระทบชิ้นงาน
คําตอบ 1 : พลังงานของอิเล็กตรอนปฐมภูมิ
คําตอบ 2 : ความหนาแนนของชิ้นงาน
คําตอบ 3 : เลขอะตอมของธาตุในชิ้นงาน
คําตอบ 4 : ถูกทุกขอ

ขอที่ : 333
77 of 127
 ขอใดไมใชเหตุผลที่เครื่องมือวิเคราะหวัสดุบางชนิด เชน TEM และ AES เปนตน จําเปนตองปรับสภาวะการทํางานของเครื่องมือใหอยูภายใตความดัน
สุญญากาศระดับหนึ่ง
คําตอบ 1 : เพราะอะตอมของแกสภายในเครื่องมือชนกับสัญญาณที่วิ่งมาตกกระทบชิ้นงาน ทําใหสัญญาณที่ไดลดนอยลง
คําตอบ 2 : เพราะอะตอมของแกสทําใหเครื่องมือเกิดสนิมขึ้น ผลการวิเคราะหสวนประกอบทางเคมีของชิ้นงานจึงคลาดเคลื่อน

ย
คําตอบ 3 : เพราะอะตอมของแกสเกิดการไอออไนเซชัน (Ionization) กับสัญญาณ ทําใหสัญญาณที่ไดไมคงที่และสม่ําเสมอ

่ า
คําตอบ 4 : เพราะอะตอมของแกสไปจับตัวบริเวณผิวหนาชิ้นงาน ทําใหผลการวิเคราะหสวนประกอบทางเคมีของผิวชิ้นงานคลาดเคลื่อน

น
ํจาห
ขอที่ : 334
Sensitivity หรือ Detection limit หมายถึง

ม
คําตอบ 1 : ปริมาณที่นอยที่สุดของธาตุแตละชนิดในชิ้นงานที่เครื่องมือสามารถตรวจพบได

้ า
คําตอบ 2 : ความลึกที่สุดจากผิวชิ้นงานที่เครื่องมือสามารถวิเคราะหสวนประกอบทางเคมีได

ิธ์ ห
คําตอบ 3 : ขนาดเสนผาศูนยกลางที่เล็กที่สุดที่เครื่องมือสามารถวิเคราะหสวนประกอบทางเคมีได
คําตอบ 4 : จํานวนธาตุที่มากที่สุดที่เครื่องมือสามารถวิเคราะหไดจากชื้นงานในแตละครั้ง

ขอที่ : 335

สิท
น
ขอใดเปนปญหาที่เกิดจากการวิเคราะหชิ้นงานที่ไมนําไฟฟา (Nonconductive samples) บนกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองกราด (Secondary electron

ว
microscope, SEM)

ง
คําตอบ 1 :

ส
ทําใหชิ้นงานเกิดการบิดงอหรือเปลี่ยนรูปขณะทําการวิเคราะห

อ
คําตอบ 2 : เกิดการสะสมอิเล็กตรอนบนชิ้นงาน ทําใหเกิดผลกระทบตอการวิเคราะหหรือภาพที่ได

ข
คําตอบ 3 : ชิ้นงานเกิดการสูญเสียน้ํา ทําใหผลการวิเคราะหคลาดเคลื่อน

ร
คําตอบ 4 : ไมเกิดปญหาแตอยางใด

วก
ศ
ิ
ขอที่ : 336

ว
ขอใดไมใชชนิดของ Electron guns ที่ใชในกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอน SEM และ TEM

า
คําตอบ 1 : Tungsten hairpin

สภ
คําตอบ 2 : LaB6
คําตอบ 3 : Field emission
คําตอบ 4 : Wehnelt cup

ขอที่ : 337
อิเล็กตรอนกระเจิงกลับ (Backscattered electrons) หมายถึง
คําตอบ 1 : อิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons) ที่ตกกระทบชิ้นงาน และกระเจิงกลับออกมาจากชิ้นงานแบบยืดหยุน 78 of 127
 คําตอบ 2 : อิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons) ที่ตกกระทบชิ้นงาน และกระเจิงกลับออกมาจากชิ้นงาน และเปนการชนแบบไมยืดหยุน
คําตอบ 3 : อิเล็กตรอนที่ปลดปลอยจากชิ้นงาน ซึ่งเกิดจากการที่ชิ้นงานถูกกระตุนโดยการชนแบบยืดหยุนจากอิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons)
อิเล็กตรอนที่ปลดปลอยจากชิ้นงาน และมีพลังงานต่ํากวา 50 eV ซึ่งเกิดจากการที่ชิ้นงานถูกกระตุนโดยการชนแบบไมยืดหยุนจาก
คําตอบ 4 :
อิเล็กตรอนปฐมภูมิ (Primary electrons)

่ าย
น
ขอที่ : 338

ํจาห
กําลังขยาย (Magnification) ของกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองกราด (Secondary electron microscope, SEM) ปรับไดโดย
คําตอบ 1 : ปรับระยะกวาด (Scan length) ของลําอิเล็กตรอนบนชิ้นงาน
คําตอบ 2 : ปรับระยะโฟกัส (Focal length) ของลําอิเล็กตรอน

ม
คําตอบ 3 : ปรับความเขมของเลนสวัตถุ (Strength of objective lens)

้ า
คําตอบ 4 : ปรับกระแสของ Electron gun

ขอที่ : 339
ิธ์ ห
ิท
Spot size หรือ Probe size หมายถึง

ส
คําตอบ 1 : ระยะทางที่เล็กที่สุดระหวางจุดสองจุดที่สามารถแยกแยะได

น
คําตอบ 2 :

ว
ขนาดเสนผาศูนยกลางของลําอิเล็กตรอนบนชิ้นงาน

ง
คําตอบ 3 : ขนาดของจุดบนชิ้นงานที่ถูกแสดงเปนขอมูล 1 จุดบน CRT

ส
คําตอบ 4 : ระยะความลึกที่สูงกวาหรือต่ํากวาระนาบที่เกิด Optimum focus แลวภาพยังไมเกิดการ blurring

ขอที่ :

ร ขอ
340

ก
Resolution หมายถึง

ว
คําตอบ 1 : ระยะทางที่เล็กที่สุดระหวางจุดสองจุดที่สามารถแยกแยะได

ศ
ิ
คําตอบ 2 : ขนาดเสนผาศูนยกลางของลําอิเล็กตรอนบนชิ้นงาน

ว
คําตอบ 3 : ขนาดของจุดบนชิ้นงานที่ถูกแสดงเปนขอมูล 1 จุดบน CRT

า
คําตอบ 4 : ระยะความลึกที่สูงกวาหรือต่ํากวาระนาบที่เกิด Optimum focus แลวภาพยังไมเกิดการ blurring

สภ
ขอที่ : 341
Picture element หมายถึง
คําตอบ 1 : ระยะทางที่เล็กที่สุดระหวางจุดสองจุดที่สามารถแยกแยะได
คําตอบ 2 : ขนาดเสนผาศูนยกลางของลําอิเล็กตรอนบนชิ้นงาน
คําตอบ 3 : ขนาดของจุดบนชิ้นงานที่ถูกแสดงเปนขอมูล 1 จุดบน CRT
79 of 127
 คําตอบ 4 : ระยะความลึกที่สูงกวาหรือต่ํากวาระนาบที่เกิด Optimum focus แลวภาพยังไมเกิดการ blurring

ขอที่ : 342

ย
Depth of field หมายถึง

่ า
คําตอบ 1 : ระยะทางที่เล็กที่สุดระหวางจุดสองจุดที่สามารถแยกแยะได

น
คําตอบ 2 : ขนาดเสนผาศูนยกลางของลําอิเล็กตรอนบนชิ้นงาน

ํจาห
คําตอบ 3 : ขนาดของจุดบนชิ้นงานที่ถูกแสดงเปนขอมูล 1 จุดบน CRT
คําตอบ 4 : ระยะความลึกที่สูงกวาหรือต่ํากวาระนาบที่เกิด Optimum focus แลวภาพยังไมเกิดการ blurring

้ าม
ขอที่ : 343

ิธ์ ห
จากภาพ 2 ภาพดานลาง ดานบนเปนภาพที่ไดจาก Optical Microscope ในขณะที่ดานลางเปนภาพจาก SEM ใหพิจารณาวาภาพทั้งสองนี้เปนการเปรียบ
เทียบใหเห็นขอไดเปรียบขอใดของ SEM ที่มีเหนือกวา Optical microscope

สิท
ง วน
อ ส
ก ร ข
ศ
ิ ว คําตอบ 1 : Resolution

ว
คําตอบ 2 :

า
Magnification

สภ
คําตอบ 3 : Depth of field
คําตอบ 4 : Detection limit

ขอที่ : 344

80 of 127
จากรูปดานลาง ขอใดเปนสัญญาณที่ไดมาจากบริเวณ (a)
 ่ าย
น
ํจาห
้ าม
ิธ์ ห
สิท
ง วน
อ ส
ก ร ข
ศ
ิ ว
าว
สภ
81 of 127
 ่ าย
น
ํจาห
้ าม
ิธ์ ห
สิท
ง วน
อ ส
ก ร ข
ศ
ิ ว
าว
สภ
82 of 127
 คําตอบ 1 : Auger electrons
คําตอบ 2 : Secondary electrons
คําตอบ 3 : Backscattered electrons
คําตอบ 4 : Characteristics x-rays

่ าย
น
ขอที่ : 345

ํจาห
้ าม
ิธ์ ห
สิท
ง วน
อ ส
ก ร ข
ศ
ิ ว
าว
สภ
83 of 127
จากรูปดานลาง ขอใดเปนสัญญาณที่ไดมาจากบริเวณ (b)
 ่ าย
น
ํจาห
้ าม
ิธ์ ห
สิท
ง วน
อ ส
ก ร ข
ศ
ิ ว
าว
สภ
84 of 127
 ่ าย
น
ํจาห
้ าม
ิธ์ ห
สิท
ง วน
อ ส
ก ร ข
ศ
ิ ว
าว
สภ
85 of 127
 คําตอบ 1 : Auger electrons
คําตอบ 2 : Secondary electrons
คําตอบ 3 : Backscattered electrons
คําตอบ 4 : Characteristics x-rays

่ าย
น
ขอที่ : 346

ํจาห
้ าม
ิธ์ ห
สิท
ง วน
อ ส
ก ร ข
ศ
ิ ว
าว
สภ
86 of 127
จากรูปดานลาง ขอใดเปนสัญญาณที่ไดมาจากบริเวณ (c)
 ่ าย
น
ํจาห
้ าม
ิธ์ ห
สิท
ง วน
อ ส
ก ร ข
ศ
ิ ว
าว
สภ
87 of 127
 ่ าย
น
ํจาห
้ าม
ิธ์ ห
สิท
ง วน
อ ส
ก ร ข
ศ
ิ ว
าว
สภ
88 of 127
 คําตอบ 1 : Continuous x-rays
คําตอบ 2 : Secondary electrons
คําตอบ 3 : Backscattered electrons
คําตอบ 4 : Characteristics x-rays

่ าย
น
ขอที่ : 347

ํจาห
้ าม
ิธ์ ห
สิท
ง วน
อ ส
ก ร ข
ศ
ิ ว
าว
สภ
89 of 127
จากรูปดานลาง ขอใดเปนสัญญาณที่ไดมาจากบริเวณ (d)
 ่ าย
น
ํจาห
้ าม
ิธ์ ห
สิท
ง วน
อ ส
ก ร ข
ศ
ิ ว
าว
สภ
90 of 127
 ่ าย
น
ํจาห
้ าม
ิธ์ ห
สิท
ง วน
อ ส
ก ร ข
ศ
ิ ว
าว
สภ
91 of 127
 คําตอบ 1 : Continuous x-rays
คําตอบ 2 : Secondary electrons
คําตอบ 3 : Backscattered electrons
คําตอบ 4 : Characteristics x-rays

่ าย
น
ขอที่ : 348

ํจาห
้ าม
ิธ์ ห
สิท
ง วน
อ ส
ก ร ข
ศ
ิ ว
าว
สภ
92 of 127
จากรูปดานลาง ขอใดเปนสัญญาณที่ไดมาจากบริเวณ (e)
 ่ าย
น
ํจาห
้ าม
ิธ์ ห
สิท
ง วน
อ ส
ก ร ข
ศ
ิ ว
าว
สภ
93 of 127
 ่ าย
น
ํจาห
้ าม
ิธ์ ห
สิท
ง วน
อ ส
ก ร ข
ศ
ิ ว
าว
สภ
94 of 127
 คําตอบ 1 : Continuous x-rays
คําตอบ 2 : Secondary electrons
คําตอบ 3 : Backscattered electrons
คําตอบ 4 : Characteristics x-rays

่ าย
น
ขอที่ : 349

ํจาห
สัญญาณในขอใดจากเทคนิค Secondary electron microscopy, SEM ที่นําไปใชในการวิเคราะหสวนประกอบทางเคมี
คําตอบ 1 : Secondary electrons
คําตอบ 2 : Backscattered electrons

ม
คําตอบ 3 :

้ า
Characteristics x-rays
คําตอบ 4 :

ิธ์ ห
Auger electrons

ขอที่ : 350

ิท
ขอใดเปน Detector ที่นิยมใชในการวิเคราะหสวนประกอบทางเคมีของเทคนิค Secondary electron microscopy, SEM

ส
คําตอบ 1 :

น
Energy dispersive spectrometer (EDS)

ว
คําตอบ 2 : Everhart-Thornley detector

ง
คําตอบ 3 : Scintillator detector

ส
คําตอบ 4 : Solid state detector

ขอที่ :

ร ขอ
351

ก
ขอใดเปน Detector ที่นิยมใชในการสรางภาพจาก Secondary electrons ของเทคนิค Secondary electron microscopy, SEM

ว
คําตอบ 1 : Energy dispersive spectrometer (EDS)

ศ
ิ
คําตอบ 2 :

ว
Everhart-Thornley detector

า
คําตอบ 3 : Wavelength dispersive spectrometer (WDS)

สภ
คําตอบ 4 : Solid state detector

ขอที่ : 352
ขอใดเปน Detector ที่นิยมใชในการสรางภาพจาก Backscattered electrons ของเทคนิค Secondary electron microscopy, SEM

คําตอบ 1 : Energy dispersive spectrometer (EDS)

คําตอบ 2 : Everhart-Thornley detector
คําตอบ 3 : Wavelength dispersive spectrometer (WDS) 95 of 127
 คําตอบ 4 : Solid state detector

ขอที่ : 353

ย
กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองกราด (Secondary electron microscope, SEM) ที่ใชกันอยูทั่วไปตองการสภาวะความเปนสุญญากาศเชนใด

่ า
คําตอบ 1 : Low vacuum pressure

น
คําตอบ 2 : Medium vacuum pressure

ํจาห
คําตอบ 3 : High vacuum pressure
คําตอบ 4 : Ultra high vacuum pressure

้ าม
ขอที่ : 354

ิธ์ ห
จุดประสงคหลักของการวิเคราะหโลหะดวยเทคนิค Electron probe microanalyzer (EPMA) คือ
คําตอบ 1 : หาสวนประกอบทางเคมีของตัวอยางโดยวิเคราะหจาก Characteristic x-rays ที่ปลดปลอยออกมาจากตัวอยาง
คําตอบ 2 : หาสวนประกอบทางเคมีของตัวอยางโดยวิเคราะหจาก Backscattered electrons ที่สะทอนกลับออกมาจากตัวอยาง

ิท
คําตอบ 3 : ใชสัญญาณ Secondary electrons มาสรางภาพ (Image) เพื่อศึกษาขนาดและการกระจายตัวของอนุภาคที่มีขนาดเล็ก

ส
คําตอบ 4 : ใชวิเคราะหโครงสรางผลึกของตัวอยาง

ขอที่ : 355

ง วน
ส
ขอใดเปนสัญญาณที่ใชกระตุนชิ้นงาน (Incident beam) ใน EPMA

ขอ
คําตอบ 1 : Scanned electron beam

ร
คําตอบ 2 : Monochromatic x-rays

ก
คําตอบ 3 : Electron beam

ว
คําตอบ 4 : Ions

าวศ
ิ
ขอที่ : 356

สภ
การวิเคราะหสวนประกอบทางเคมีซึ่งมีปริมาตรที่เกิดอันตรกิริยาขนาดเล็ก (A small interaction volume) แสดงใหเห็นถึง
คําตอบ 1 : A high spatial resolution
คําตอบ 2 : A high sensitivity
คําตอบ 3 : A large escape depth
คําตอบ 4 : A large penetration depth

ขอที่ : 357 96 of 127

 ขอใดเปนสัญญาณที่ใชในการฟอรมภาพ Bright field (BF) ใน TEM
คําตอบ 1 : Transmitted electrons
คําตอบ 2 : Diffracted electrons
คําตอบ 3 : Backscattered electrons

ย
คําตอบ 4 :

่ า
Secondary electrons

น
ํจาห
ขอที่ : 358
ขอใดเปนสัญญาณที่ใชในการฟอรมภาพ Dark field (DF) ใน TEM
คําตอบ 1 : Transmitted electrons

ม
คําตอบ 2 :

้ า
Diffracted electrons
คําตอบ 3 :

ิธ์ ห
Backscattered electrons
คําตอบ 4 : Secondary electrons

ิท
ขอที่ : 359

ส
เทคนิคใดที่ควรเลือกใชในการวิเคราะหสวนประกอบทางเคมีของวัตถุโบราณที่มีขนาดประมาณ 5 ไมครอน

วน
คําตอบ 1 : XRD

ง
คําตอบ 2 : EPMA

ส
คําตอบ 3 : TEM

อ
คําตอบ 4 : XPS

ขอที่ :

ก ร ข
360

ว
เทคนิคใดที่ควรเลือกใชในการวิเคราะหหาขนาดและการกระจายตัวของ CdS nanocrystals

ศ
ิ
คําตอบ 1 :

ว
EPMA

า
คําตอบ 2 : SEM

สภ
คําตอบ 3 : TEM
คําตอบ 4 : AEM

ขอที่ : 361
ขอมูลใดไมสามารถหาไดจาก Bright field (BF) และ Dark field (DF) imaging

คําตอบ 1 : Average particle size

คําตอบ 2 : Density of second phase particles 97 of 127
 คําตอบ 3 : Dislocation density
คําตอบ 4 : Chemical composition

ย
ขอที่ : 362

่ า
เทคนิคใดที่ควรเลือกใชในการศึกษาลักษณะ Fracture surface

น
คําตอบ 1 : Optical microscope

ํจาห
คําตอบ 2 : SEM
คําตอบ 3 : TEM
คําตอบ 4 : XRD

้ าม
ิธ์ ห
ขอที่ : 363
Pump ในขอใดที่เรามักเลือกใชกับระบบสุญญากาศของ SEM
คําตอบ 1 :

ิท
Diffusion pump
คําตอบ 2 : Rotary vane pump และ Diffusion pump

ส
คําตอบ 3 : Rotary vane pump และ Ion pump

วน
คําตอบ 4 : Diffusion pump และ Ion pump

ขอที่ :

สง
อ
364

ก ร ข
ศ
ิ ว
าว
สภ
98 of 127
ขอใดเปน Image ที่ไดจากการฟอรมภาพของ TEM ในรูปดานลาง
 ่ าย
น
ํจาห
้ าม
ิธ์ ห
สิท
ง วน
อ ส
ก ร ข
ศ
ิ ว
าว คําตอบ 1 : Bright field image

สภ
คําตอบ 2 : Dark field image
คําตอบ 3 : Secondary electron image
คําตอบ 4 : Backscattered electron image

ขอที่ : 365

99 of 127
ขอใดเปน Image ที่ไดจากการฟอรมภาพของ TEM ในรูปดานลาง
 ่ าย
น
ํจาห
้ าม
ิธ์ ห
สิท
ง วน
อ ส
ก ร ข
ศ
ิ ว
าว
สภ
คําตอบ 1 : Bright field image
คําตอบ 2 : Dark field image
คําตอบ 3 : Secondary electron image
คําตอบ 4 : Backscattered electron image

ขอที่ : 366
ขอใดเปน X-ray microanalyzer ที่ติดตั้งบน EPMA ซึ่งทําใหการวิเคราะหสวนประกอบทางเคมีของ EPMA เหนือกวา SEM
100 of 127
 คําตอบ 1 : Energy dispersive x-ray detector (EDS)
คําตอบ 2 : Everhart-Thornley detector
คําตอบ 3 : Wavelength dispersive spectrometer (WDS)
คําตอบ 4 : Solid state detector

่ าย
น
ขอที่ : 367

ํจาห
ขอใดเปรียบเทียบระหวาง WDS และ EDS ไดไมถูกตอง
คําตอบ 1 : Energy resolution ของ WDS ดีกวา EDS
คําตอบ 2 : Sensitivity ของ WDS ดีกวา EDS

ม
คําตอบ 3 : Analysis time ของ WDS เร็วกวา EDS

้ า
คําตอบ 4 : Peak-to-background ratio ของ WDS ดีกวา EDS

ขอที่ : 368
ิธ์ ห
ิท
ทําไม Electron microscope จึงมี Resolution ที่ดีกวา Optical microscope

ส
คําตอบ 1 : เพราะเลนสที่ใชใน Electron microscope เปน Electromagnetic lens

วน
คําตอบ 2 : เพราะ Electron microscope มีจํานวนเลนสมากกวาใน Optical microscope

ง
คําตอบ 3 : เพราะ Electrons ใน Electron microscope มีความยาวคลื่นสั้นกวา Photons ใน Optical microscope

ส
คําตอบ 4 : เพราะราคาของ Electron microscope แพงกวา Optical microscope

ขอที่ :

ร ขอ
369

ก
ขอมูล Spots diffraction patterns จาก TEM นําไปใชประโยชนในการวิเคราะห

ว
คําตอบ 1 : Crystal phases

ศ
ิ
คําตอบ 2 :

ว
Crystal structure

า
คําตอบ 3 : Crystal orientation

สภ
คําตอบ 4 : ถูกทุกขอ

ขอที่ : 370
ขอใดเปนตัวกําหนด Resolution ใน TEM

คําตอบ 1 : Accelerating voltage

คําตอบ 2 : Magnification
คําตอบ 3 : Working distance 101 of 127
 คําตอบ 4 : Depth of focus

ขอที่ : 371

ย
ขอใดที่เปนขอบเขตความสามารถในการวิเคราะหของ TEM ที่เหนือกวา SEM

่ า
คําตอบ 1 : Electron Diffraction patterns

น
คําตอบ 2 : Atomic structure

ํจาห
คําตอบ 3 : Crystal orientation
คําตอบ 4 : ถูกทุกขอ

้ าม
ขอที่ : 372

ิธ์ ห
ภายใตสภาวะที่กําหนด ขอใดมี Resolution ดีที่สุด
คําตอบ 1 : 100 keV accelerating voltage
คําตอบ 2 :

ิท
100 k magnification
คําตอบ 3 :

ส
200 keV accelerating voltage
คําตอบ 4 :

น
200 k magnification

ขอที่ : 373

ง ว
ส
เลนสตัวใดบน TEM ที่ใชโฟกัสลําอิเล็กตรอนลงบนชิ้นงานตามตําแหนงที่ตองการ

ขอ
คําตอบ 1 : Objective lens

ร
คําตอบ 2 : Condenser lens

ก
คําตอบ 3 : Intermediate lens

ว
คําตอบ 4 : Projector lens

าวศ
ิ
ขอที่ : 374

สภ
ขอใดเปนแลททิซพารามิเตอรของโลหะ BCC เกรนเดี่ยวชนิดหนึ่งที่มีการเรียงตัวในระนาบ (110) เมื่อผลการวิเคราะหโดยเทคนิค XRD ที่ใชรังสี x-rays ความ
ยาวคลื่น 1.790 อังสตรอมปรากฏสัญญาณ (Peak) ขึ้นที่มุม 2Theta เทากับ 52.05 องศา
คําตอบ 1 : 3.152 อังสตรอม
คําตอบ 2 : 2.885 อังสตรอม
คําตอบ 3 : 4.078 อังสตรอม
คําตอบ 4 : 2.986 อังสตรอม

102 of 127
ขอที่ : 375
ในการวิเคราะหโลหะชนิดหนึ่งที่มีแลททิซพารามิเตอร 3.69 อังสตรอม ดวยเทคนิค XRD โดยใชรังสี x-ray ที่มีความยาวคลื่น 3.9 อังสตรอม ใหหาวาตําแหนง
สัญญาณ (Peak) ของโลหะดังกลาวจากระนาบ {100} ปรากฏที่มุม Theta เทาใด
คําตอบ 1 : 31.9 องศา

ย
คําตอบ 2 : 52.4 องศา

่ า
คําตอบ 3 : 26.2 องศา

น
คําตอบ 4 : 63.8 องศา

ขอที่ : 376

ํจาห
ม
Characteristics X-rays เกิดจากขอใด

้ า
คําตอบ 1 : พลังงานที่ปลดปลอยจากอะตอมในรูปของรังสี X-rays เมื่ออิเล็กตรอนชั้นนอกของอะตอมถูกกระตุนใหหลุดออกจากอะตอม

ิธ์ ห
คําตอบ 2 : พลังงานที่ปลดปลอยจากอะตอมในรูปของรังสี X-rays เมื่ออะตอมไดรับความรอน
คําตอบ 3 : พลังงานที่ปลดปลอยจากอะตอมในรูปของรังสี X-rays จากการที่อิเล็กตรอนปฐมภูมิเปลี่ยนทิศทางการเคลื่อนที่

ิท
พลังงานที่ปลดปลอยจากอะตอมในรูปของรังสี X-rays จากการที่อิเล็กตรอนชั้นในของอะตอมถูกกระตุนใหหลุดออกไปและอิเล็กตรอนวงถัด
คําตอบ 4 :
ไปเขามาแทนที่

นส
ว
ขอที่ : 377

ง
เมื่ออิเล็กตรอนวงในของอะตอมถูกกระตุนใหหลุดออกไป ทําใหอะตอมอยูในสภาวะ Excitation การคืนสภาพหรือลดพลังงานของอะตอมสูสภาวะปกติ ทําได

ส
โดยการปลดปลอยพลังงานในรูปใดบาง

อ
คําตอบ 1 : Auger electron, Characteristics x-ray, Cathodoluminescence

ร ข
คําตอบ 2 : Auger electron, Continuous x-rays, Cathodoluminescence

ก
คําตอบ 3 : Auger electron, Characteristics x-ray, Continuous x-rays, Cathodoluminescence

ว
คําตอบ 4 : Characteristics x-ray, Continuous x-rays, Cathodoluminescence

าวศ
ิ
ขอที่ : 378

สภ
ขอใดกลาวไมถูกตองเกี่ยวกับเทคนิค XRD
คําตอบ 1 : รังสี X-ray ที่ใชเปนรังสีที่มีความยาวคลื่นคาเดียว (Monochromatic x-ray)
คําตอบ 2 : ผลจากการวิเคราะหแสดงใหเห็นปริมาณของธาตุแตละชนิดที่มีอยูในตัวอยาง
คําตอบ 3 : ตัวอยางที่วิเคราะหตองเปนผลึก
คําตอบ 4 : การสะทอนของรังสี X-ray เปนไปตามกฎของแบรกส (Bragg’s law)

ขอที่ : 379 103 of 127

 ขอมูลดานลางแสดงใหเห็นระดับพลังงานอิเล็กตรอนของโลหะ Erbium, Hafnium, Tantalum และ Tungsten ใหหาวา Characteristic x-ray ของธาตุใดมี
พลังงานเทากับ 55,752 eV

่ าย
น
ํจาห
้ าม
ิธ์ ห
สิท
น
คําตอบ 1 : Erbium

ว
คําตอบ 2 : Hafnium

ง
คําตอบ 3 : Tantalum

ส
คําตอบ 4 : Tungsten

ขอที่ :

ร ขอ
380

ก
ขอใดเปนพลังงานของ x-ray จากโลหะทังสเตน (Tungsten) กําหนดใหระดับพลังงานอิเล็กตรอนของโลหะ Tungsten เปนดังนี้ K shell = -69,510 eV , L

ว
shell = -10,200 eV และ M shell = -1,814 eV

ศ
ิ
คําตอบ 1 : 67,696 eV

ว
คําตอบ 2 :

า
59,310 eV
คําตอบ 3 :

สภ
57,496 eV
คําตอบ 4 : 8,386 eV

ขอที่ : 381
ขอใดเปนพลังงานของ K-alpha x-ray จากโลหะทังสเตน (Tungsten) กําหนดใหระดับพลังงานอิเล็กตรอนของโลหะ Tungsten เปนดังนี้ K shell = -69,510
eV , L shell = -10,200 eV และ M shell = -1,814 eV
คําตอบ 1 : 67,696 eV
104 of 127
 คําตอบ 2 : 59,310 eV
คําตอบ 3 : 57,496 eV
คําตอบ 4 : 8,386 eV

่ าย
ขอที่ : 382

น
ขอใดเปนพลังงานของ K-beta x-ray จากโลหะทังสเตน (Tungsten) กําหนดใหระดับพลังงานอิเล็กตรอนของโลหะ Tungsten เปนดังนี้ K shell = -69,510

ํจาห
eV , L shell = -10,200 eV และ M shell = -1,814 eV
คําตอบ 1 : 67,696 eV
คําตอบ 2 : 59,310 eV

ม
คําตอบ 3 : 57,496 eV

้ า
คําตอบ 4 : 8,386 eV

ขอที่ : 383
ิธ์ ห
ิท
สัญญาณ (Incident beam) ที่ใชในการกระตุนตัวอยางในเทคนิค XRD คือ

ส
คําตอบ 1 : Monochromatic x-ray

น
คําตอบ 2 :

ว
White x-ray

ง
คําตอบ 3 : Electrons

ส
คําตอบ 4 : Ions

ขอที่ :

ร ขอ
384

ก
ขอมูลที่ใชในการวิเคราะหตัวอยาง (Information signals) ในเทคนิค XRD คือ

ว
คําตอบ 1 : Secondary x-ray

ศ
ิ
คําตอบ 2 : Diffracted x-ray

ว
คําตอบ 3 :

า
Continuous x-ray
คําตอบ 4 :

สภ
Back reflected x-ray

ขอที่ : 385
ขอใดเปนสภาวะสุญญากาศใน XRD

คําตอบ 1 : No vacuum
คําตอบ 2 : Low vacuum
คําตอบ 3 : Medium vacuum
105 of 127
 คําตอบ 4 : High vacuum

ขอที่ : 386

ย
ขอใดเปนพลังงานของ K-alpha x-ray จาก Tungsten กําหนดใหระดับพลังงานอิเล็กตรอนของโลหะดีบุก (Tin) เปนดังนี้ K shell = -29,199 eV , L shell =

่ า
-3,929 eV และ M shell = -709 eV

น
คําตอบ 1 : 28,490

ํจาห
คําตอบ 2 : 25,270
คําตอบ 3 : 24,561
คําตอบ 4 : 3,220

้ าม
ิธ์ ห
ขอที่ : 387
Characteristic x-ray ที่มีพลังงาน 10,553 eV จากโลหะตะกั่ว (Lead) เปน X-ray แบบใด กําหนดใหระดับพลังงานอิเล็กตรอน K shell = -88,018 eV , L
shell = -13,773 eV และ M shell = -3,220 eV

ิท
คําตอบ 1 : K-alpha

ส
คําตอบ 2 : K-beta

น
คําตอบ 3 : L-alpha

ว
คําตอบ 4 :

ง
L-beta

ขอที่ :

อ
388

ส
ข
X-ray tube เปนหลอดกําเนิดสัญญาณ X-ray ที่ใชในเทคนิค XRD โดยอาศัยการชนของอนุภาคขอใดบนโลหะหนักแลวกอใหเกิด X-ray จากโลหะหนักขึ้น

ร
คําตอบ 1 :

ก
Photon

ว
คําตอบ 2 : Electron

ศ
ิ
คําตอบ 3 : Ion

ว
คําตอบ 4 : Microwave

า
สภ
ขอที่ : 389
ในการวิเคราะหผลของเทคนิค XRD ตองอาศัยกฎของแบรกส (Bragg’s law) ใหพิจารณาวาตัวแปรขอใดเปนตัวแปรที่ไมทราบคากอนการวิเคราะห
คําตอบ 1 : ไมมี
คําตอบ 2 : ความยาวคลื่น
คําตอบ 3 : d-spacing
คําตอบ 4 : มุม Theta
106 of 127
ขอที่ : 390
ขอใดเปนเทคนิคที่ควรเลือกใชในการวิเคราะห Crystalline phases ในวัสดุเซรามิกส
คําตอบ 1 : XRF

ย
คําตอบ 2 :

่ า
XRD
คําตอบ 3 :

น
EPMA
คําตอบ 4 : XPS

ขอที่ : 391

ํจาห
ม
ขอใดเปนเทคนิคที่ควรเลือกใชในการวิเคราะหธาตุที่ประกอบของเม็ดสี (Pigments) ในสี

้ า
คําตอบ 1 :

ิธ์ ห
XRF
คําตอบ 2 : XPS
คําตอบ 3 : XRD

ิท
คําตอบ 4 : EPMA

นส
ว
ขอที่ : 392

ง
สัญญาณ (Incident beam) ที่ใชในการกระตุนตัวอยางในเทคนิค XRF คือ

ส
คําตอบ 1 : Monochromatic x-ray

อ
คําตอบ 2 : White x-ray

ข
คําตอบ 3 : Electrons

ร
คําตอบ 4 :

ก
Ions

ศ
ิ ว
ขอที่ : 393

ว
ขอมูลที่ใชในการวิเคราะหตัวอยาง (Information signals) ในเทคนิค XRF คือ

า
สภ
คําตอบ 1 : Secondary x-ray
คําตอบ 2 : Diffracted x-ray
คําตอบ 3 : Continuous x-ray
คําตอบ 4 : Back reflected x-ray

ขอที่ : 394
ในการวิเคราะหผลของ WDS ตองอาศัยกฎของแบรกส (Bragg’s law) ใหพิจารณาวาตัวแปรขอใดเปนตัวแปรที่ไมทราบคากอนการวิเคราะห
107 of 127
 คําตอบ 1 : ไมมี
คําตอบ 2 : ความยาวคลื่น
คําตอบ 3 : d-spacing
คําตอบ 4 : มุม Theta

่ าย
น
ขอที่ : 395

ํจาห
ขอใดเปนเทคนิคที่ควรเลือกใชในการวิเคราะห Bulk elemental analysis ของซุปเปอรอัลลอย
คําตอบ 1 : XRD
คําตอบ 2 : XRF

ม
คําตอบ 3 :

้ า
SEM
คําตอบ 4 :

ิธ์ ห
TEM

ขอที่ : 396

ิท
ขอใดไมใช Detector ที่ใชใน XRD

ส
คําตอบ 1 :

น
Gas-filled counter

ว
คําตอบ 2 : Scintillation counter

ง
คําตอบ 3 : Semiconductor counter

ส
คําตอบ 4 : Energy dispersive spectrometer

ขอที่ :

ร ขอ
397

ก
ขอใดเปน Detector ที่ใชใน XRF

ว
คําตอบ 1 : Gas-filled counter

ศ
ิ
คําตอบ 2 :

ว
Scintillation counter

า
คําตอบ 3 : Semiconductor counter

สภ
คําตอบ 4 : Wavelength dispersive spectrometer

ขอที่ : 398
Powder X-ray Diffractometer เครื่องหนึ่งสามารถเก็บขอมูลในชวงมุม Theta เทากับ 2.5-75 องศา ถาตองการวิเคราะหเฟสที่มี d-spacing เทากับ 0.65
อังสตรอม ควรใชหลอด X-ray แบบใด

คําตอบ 1 : Cu-tube (K-alpha = 1.54 อังสตรอม)

คําตอบ 2 : Cr-tube (K-alpha = 2.29 อังสตรอม)
108 of 127
 คําตอบ 3 : Mo-tube (K-alpha = 0.709 อังสตรอม)
คําตอบ 4 : Co-tube ((K-alpha = 1.789 อังสตรอม)

ย
ขอที่ : 399

่ า
ผลการวิเคราะหจากเทคนิค XRD อยูในรูปของ

น
คําตอบ 1 : Intensity v.s. 2Theta

ํจาห
คําตอบ 2 : Intensity v.s. Energy
คําตอบ 3 : Intensity v.s. Wavelength
คําตอบ 4 : Energy v.s. 2Theta

้ าม
ิธ์ ห
ขอที่ : 400
ขอใดกลาวไมถูกตองเกี่ยวกับเทคนิค XRF
คําตอบ 1 : สามารถนํามาวิเคราะหธาตุของอนุภาคขนาด 10 ไมครอน

ิท
คําตอบ 2 : สามารถวิเคราะหตัวอยางที่เปนของเหลว

ส
คําตอบ 3 : สามารถวิเคราะหธาตุที่มีเลขอะตอม > 9

วน
คําตอบ 4 : Detector ที่ใชเปน EDS หรือ WDS

ขอที่ :

สง
อ
401
ผลการวิเคราะหจาก EDS อยูในรูปของ

ร ข
คําตอบ 1 : Intensity v.s. 2Theta

ก
คําตอบ 2 : Intensity v.s. Energy

ว
คําตอบ 3 : Intensity v.s. Wavelength

ศ
ิ
คําตอบ 4 :

ว
Energy v.s. 2Theta

า
สภ
ขอที่ : 402
ผลการวิเคราะหจาก WDS อยูในรูปของ
คําตอบ 1 : Intensity v.s. 2Theta
คําตอบ 2 : Wavelength v.s. Energy
คําตอบ 3 : Intensity v.s. Wavelength
คําตอบ 4 : Wavelength v.s. 2Theta

109 of 127
ขอที่ : 403
Powder X-ray Diffractometer เครื่องหนึ่งสามารถเก็บขอมูลในชวงมุม Theta = 2.5-75 องศา ถาตองการวิเคราะหเฟสที่มี d-spacing เทากับ 22 อังสตรอม
ควรใชหลอด X-ray แบบใด
คําตอบ 1 : Cu-tube (K-alpha = 1.54 อังสตรอม)

ย
คําตอบ 2 : Cr-tube (K-alpha = 2.29 อังสตรอม)

่ า
คําตอบ 3 : Mo-tube (K-alpha = 0.709อังสตรอม)

น
คําตอบ 4 : Co-tube (K-alpha = 1.789 อังสตรอม)

ขอที่ : 404

ํจาห
ม
เครื่อง Optical Emission Spectrometer แบบ Spark source โดยทั่วไปไมใชสําหรับวิเคราะหหาปริมาณธาตุในโลหะกลุมใด

้ า
คําตอบ 1 : โลหะกลุมเหล็ก (Fe base)

ิธ์ ห
คําตอบ 2 : โลหะกลุมทองแดง (Cu base)
คําตอบ 3 : โลหะกลุมอลูมิเนียม (Al base)

ิท
คําตอบ 4 : โลหะบัดกรี (โลหะผสมตะกั่ว-ดีบุก)

ขอที่ : 405

นส
ง ว
ขอใดเปนขอจํากัดของชิ้นงานตัวอยาง (sample) สําหรับเครื่อง OEM แบบ spark source

ส
คําตอบ 1 : ชิ้นงานตัวอยางตองเปนของแข็งที่นําไฟฟาได

อ
คําตอบ 2 : ชิ้นงานตัวอยางตองเปนฉนวนไฟฟา

ข
คําตอบ 3 : ชิ้นงานตัวอยางตองเปนของเหลว

ร
คําตอบ 4 : ชิ้นงานตัวอยางตองมีลักษณะเปนผง

วก
ศ
ิ
ขอที่ : 406

ว
เครื่อง OEM แบบ Spark Source ไมเหมาะกับการประยุกตใชงานในดานใด

า
คําตอบ 1 : อุตสาหกรรมดานการหลอเหล็ก และผลิตเหล็กกลา

สภ
คําตอบ 2 : การตรวจสอบวัตถุดิบ (โลหะผสมอลูมิเนียม) ที่จะนํามาขึ้นรูป(extrusion)เปนผลิตภัณฑ
คําตอบ 3 : การวิเคราะหหาปริมาณ SiC dispersion ในวัสดุผสม Aluminum-SiC
คําตอบ 4 : การวิเคราะหหาธาตุเจือในโลหะผสมทองแดง

ขอที่ : 407
ขอใด ไมใช ชนิดของ Emission Source ในเครื่อง OEM
110 of 127
 คําตอบ 1 : High-voltage sparks
คําตอบ 2 : Induction furnace
คําตอบ 3 : Flame
คําตอบ 4 : Glow discharge

่ าย
น
ขอที่ : 408

ํจาห
ภาวะที่อะตอมของธาตุไดรับพลังงาน จึงทําให electron ขยับไปสูวงนอก (ชั้นถัดไป) มีชื่อเรียกวาอยางไร
คําตอบ 1 : Excited state
คําตอบ 2 : Ground state

ม
คําตอบ 3 :

้ า
Normal state
คําตอบ 4 :

ิธ์ ห
Abnormal state

ขอที่ : 409

ิท
ขอใด ไมใช สวนประกอบโดยทั่วไปของเครื่อง OEM แบบ spark source

ส
คําตอบ 1 :

น
Spark Source

ว
คําตอบ 2 : Tube furnace

ง
คําตอบ 3 : หัววัดแสงชนิด photomultiplier tube

ส
คําตอบ 4 : ระบบสุญญากาศ

ขอที่ :

ร ขอ
410

ก
ขอใด ไม ถูกตอง

ว
คําตอบ 1 : ขอดีของการวิเคราะหธาตุสวนผสมในโลหะดวยเครื่อง OEM แบบ spark source คือ มีความเที่ยงตรงและรวดเร็ว

ศ
ิ
คําตอบ 2 : ความเที่ยงตรงของการวิเคราะหธาตุสวนผสมในโลหะดวยเครื่อง OEM แบบ spark source ขึ้นอยูกับการปรับเทียบโดยใชโลหะมาตรฐาน

าว
คําตอบ 3 : เครื่อง OEM แบบ Spark source สามารถวิเคราะหหาปริมาณธาตุตาง ๆ ในโลหะ ไดต่ําถึงระดับ ppm

สภ
การวิเคราะหธาตุสวนผสมในโลหะดวยเครื่อง OEM แบบ spark source มีการเตรียม ตัวอยางยุงยาก ซับซอน กลาวคือตองนํามาขัดใหมี
คําตอบ 4 :
ความบางมากๆ (นอยกวา 1mm)

ขอที่ : 411

111 of 127
จากภาพที่แสดง จงบอกชื่อของอิเล็กตรอนที่หลุดออกจากอะตอมในภาพ
 ่ าย
น
ํจาห
คําตอบ 1 :

้ าม
โฟโตอิเล็กตรอน (Photoelectron)

ิธ์ ห
คําตอบ 2 : ออเจอิเล็กตรอน (Auger electron)
คําตอบ 3 : แบคสแกตเตอริง อิเล็กตรอน (Back scattering electron)
คําตอบ 4 : อิเล็กตรอนทุติยภูมิ (Secondary electron)

สิท
น
ขอที่ : 412

ว
จากภาพที่แสดง จงบอกชื่อของอิเล็กตรอนที่หลุดออกจากอะตอมในภาพ

สง
ร ขอ
วก
าวศ
ิ
สภ
คําตอบ 1 : โฟโตอิเล็กตรอน (Photoelectron)
คําตอบ 2 : ออเจอิเล็กตรอน (Auger electron)
คําตอบ 3 : แบคสแกตเตอริ่งอิเล็กตรอน (Back scattering electron)
คําตอบ 4 : อิเล็กตรอนทุติยภูมิ (Secondary eletron)

ขอที่ : 413 112 of 127

 พลังงานจลนที่ตรวจสอบไดจากโฟโตอิเล็กตรอน(Photoelectron, Ek) มีความสัมพันธกับพลังงานพันธะ(Binding Energy, Eb)ของอะตอมอยางไร
คําตอบ 1 : พลังงานพันธะ เทากับ พลังงานของโฟตอนลบดวยพลังงานจลนที่ไดจากโฟโตอิเล็กตรอน
คําตอบ 2 : พลังงานพันธะ เทากับ พลังงานของโฟตอนบวกดวยพลังงานจลนที่ไดจากโฟโตอิเล็กตรอน
คําตอบ 3 : พลังงานพันธะคูณสอง เทากับ พลังงานของโฟตอนลบดวยพลังงานจลนที่ไดจากโฟโตอิเล็กตรอน

ย
คําตอบ 4 : ไมมีความเกี่ยวของกัน

น่ า
ํจาห
ขอที่ : 414
เมื่อวิเคราะห CrN และ Cr2N จะพบวาพลังงานพันธะ(binding energy)ของโครเมียมและไนโตรเจนมีคาเทากันหรือไม
คําตอบ 1 : คาที่วัดไดไมแนนอน ขึ้นอยูกับวิธีที่ใชในการตรวจสอบ

ม
คําตอบ 2 : เทากัน

้ า
คําตอบ 3 : คาไมเทากัน เนื่องจากพลังงานพันธะของอิเล็กตรอนในแตละสารประกอบมีคาไมเทากัน

ิธ์ ห
คําตอบ 4 : คาพลังงานพันธะของโครเมียมไมเทากัน แตคาพลังงานพันธะของไนโตรเจนมีคาเทากัน เนื่องจากเปนธาตุเบา

ิท
ขอที่ : 415

ส
ขอใดกลาวไมถูกตองเกี่ยวกับพลังงานของออเจอิเล็กตรอน (Auger electron)

วน
คําตอบ 1 : พลังงานที่ไดจากอิเล็กตรอนที่หลุดออกจากชั้นพลังงานที่แตกตางกันมีคาไมเทากัน

ง
คําตอบ 2 : พลังงานที่ไดจากอิเล็กตรอนที่หลุดออกจากธาตุตางชนิดกัน จะมีคาไมเทากัน

ส
คําตอบ 3 : พลังงานของออเจอิเล็กตรอนที่หลุดออกจากอะตอมจากชั้นพลังงานใดๆจะมีคาคงที่เสมอ

อ
คําตอบ 4 : คาพลังงานของออเจอิเล็กตรอนของอะตอมใดๆไมขึ้นกับสภาวะแวดลอม เชน พันธะทางเคมี

ขอที่ :

ก ร ข
416

ว
การตรวจสอบ วิเคราะหสารโดยใช AES (Auger Electron Spectroscope) สามารถตรวจสอบสารประกอบไดหรือไม

ศ
ิ
คําตอบ 1 : ได โดยการพิจารณาการเลื่อนของพีค N(E)

าว
คําตอบ 2 : ไดโดยการตรวจสอบคาพลังงานของรังสีเอกซ

สภ
คําตอบ 3 : ไดโดยการตรวจสอบพลังงานของโฟโตอิเล็กตรอน
คําตอบ 4 : ไมได

ขอที่ : 417
ขอใดตอไปนี้กลาวไมถูกตองเกี่ยวกับการตรวจสอบเชิงปริมาณดวย AES (Auger Electron Spectroscope)

คําตอบ 1 : การตรวจสอบเชิงปริมาณดวยAES ไมสามารถทําได

คําตอบ 2 : การตรวจสอบเชิงปริมาณดวยAES สามารถทําไดดวยการตรวจสอบพื้นที่ใตกราฟของพีคที่ไดจากกราฟแสดงความสัมพันธระหวาง N(E)กับ

113 of 127
 ความเขม (Intensity)
การตรวจสอบเชิงปริมาณดวยAES สามารถทําไดดวยการตรวจสอบคาสูงสุดและต่ําสุดของพีค(peak to peak height) ของ dN(E)/dEที่ได
คําตอบ 3 :
จากกราฟแสดงความสัมพันธกับคาความเขม
คําตอบ 4 : การตรวจสอบเชิงปริมาณสามารถทําไดทั้งสารประกอบและธาตุ

่ าย
น
ขอที่ : 418
การตรวจสอบเชิงปริมาณดวยวิธี X-ray Photoelectron Spectrometry สามารถทําไดหรือไม อยางไร

ํจาห
คําตอบ 1 : ไมสามารถตรวจสอบได
คําตอบ 2 : สามารถตรวจสอบได แตจะไดคาปริมาณของธาตุที่มีอยูโดยไมสามารถแยกแยะธาตุและสารประกอบออกจากกันได

ม
คําตอบ 3 : สามารถตรวจสอบไดเฉพาะธาตุเทานั้น

้ า
คําตอบ 4 : สามารถตรวจสอบได แยกแยะปริมาณของสารที่มีวาอยูในรูปธาตุและสารประกอบออกจากกันได

ขอที่ : 419
ิธ์ ห
ิท
ขอใดกลาวถูกตองเกี่ยวกับรังสีเอกซและรังสีแกมมา

ส
คําตอบ 1 : รังสีเอกซมีความสามารถในการทะลุทลวงสูงกวารังสีแกมมา จึงมักนํามาใชในการตรวจสอบวัสดุ

น
คําตอบ 2 : รังสีเอกซมีความสามารถในการทะลุทลวงนอยกวารังสีแกมมา แตสามารถควบคุมการเกิดขึ้นไดจึงนํามาใชงานตรวจสอบวัสดุ

ง ว
คําตอบ 3 : รังสีเอกซสามารถนํามาใชงานในการตรวจสอบดวยการถายภาพได แตรังสีแกมมาไมสามารถนํามาใชได

ส
คําตอบ 4 : รังสีเอกซและรังสีแกมมาเปนรังสีชนิดเดียวกัน

ขอที่ :

ร ขอ
420

ก
ขอใดกลาวถูกตองเกี่ยวกับรังสีที่ใชในการวิเคราะหดวยวิธี X-ray diffraction

ว
คําตอบ 1 : ใชรังสีเอกซที่มีคาความยาวคลื่นหลายคา (continuous X-ray)

ศ
ิ
คําตอบ 2 : ใชรังสีเอกซที่มีคาความยาวคลื่นเพียงคาเดียว (characteristic X-ray)

ว
คําตอบ 3 : ใชรังสีเอกซที่มีคาความยาวคลื่นหลายคา (continuous X-ray) และคาความยาวคลื่นเพียงคาเดียว (characteristic X-ray)

า
คําตอบ 4 : ใชรังสีเอกซและรังสีแกมมาที่มีคาความยาวคลื่นเพียงคาเดียว (characteristic X-ray)

สภ
ขอที่ : 421
เมื่ออิเล็กตรอนเปลี่ยนชั้นพลังงานจาก L มาเปน K จะทําใหเกิด

คําตอบ 1 : รังสีแกมมา K alpha

คําตอบ 2 : รังสีแกมมา K beta
คําตอบ 3 : รังสีเอกซ K alpha
114 of 127
 คําตอบ 4 : รังสีเอกซ K beta

ขอที่ : 422

ย
การตรวจสอบวัสดุดวยวิธี X-ray diffraction ตองเตรียมชิ้นงานอยางไร

่ า
คําตอบ 1 : เตรียมเปนผงเทานั้น

น
คําตอบ 2 : เตรียมเปนชิ้นเทานั้น

ํจาห
คําตอบ 3 : เตรียมอยูในรูปสารละลาย
คําตอบ 4 : เตรียมอยูในรูปแบบผงหรือชิ้นงานก็ได

้ าม
ขอที่ : 423

ิธ์ ห
การตรวจสอบดวยวิธี X-ray Diffraction สามารถแยกแยะวัสดุที่ตางชนิดกันออกจากกันไดโดยอาศัยสมบัติขอใดของวัสดุ
คําตอบ 1 : ระยะหางระหวางระนาบในโครงสรางผลึกที่แตกตางกัน
คําตอบ 2 : ความแตกตางของความสามารถในการดูดซํบรังสีเอกซที่ในแตละวัสดุ

ิท
คําตอบ 3 : ความแตกตางของความสามารถในการสะทอนของระสีเอกซในแตละวัสดุ

ส
คําตอบ 4 : ความแตกตางของพลังงานของรังสีเอกซเฉพาะตัว (Characteristic X-ray) ในวัสดุแตละชนิด

ขอที่ : 424

ง วน
ส
การตรวจสอบดวย Energy Dispersive Spectrometer และ Wavelength Dispersive Spectrometer วามีธาตุอะไรบาง ทําไดโดยอาศํย

ขอ
คําตอบ 1 : ระยะหางระหวางระนาบในโครงสรางผลึกที่แตกตางกัน

ร
คําตอบ 2 : ความแตกตางของความสามารถในการดูดซับรังสีเอกซที่ในแตละวัสดุ

ก
คําตอบ 3 : ความแตกตางของความสามารถในการสะทอนของระสีเอกซในแตละวัสดุ

ว
คําตอบ 4 : ความแตกตางของพลังงานของรังสีเอกซเฉพาะตัว (Characteristic X-ray) ในวัสดุแตละชนิด

าวศ
ิ
ขอที่ : 425

สภ
หากตองการตรวจสอบปริมาณโครเมียมที่ละลายอยูในเหล็ก และปริมาณโครเมียมที่ตกตะกอนเปนเฟสที่สองในเหล็กชิ้นงานเดียวกัน ควรใชวิธีใด จึงจะสามารถ
แยกแยะโครเมียมทั้งสองอยางออกจากกันได
คําตอบ 1 : กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองผาน(Transmission Electron Microscope)
คําตอบ 2 : Spark Emission Spectrometer
คําตอบ 3 : X-ray Photoelectron Spectrometer
คําตอบ 4 : กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบกวาด (Scanning Electron Microscope)

115 of 127
ขอที่ : 426
หากตองการตรวจสอบปริมาณของความผิดปกติในผลึก(Dislocation)จะใชวิธีใด
คําตอบ 1 : กลองจุลทรรศนแสง
คําตอบ 2 : กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบกวาด(Scanning Electron Microscope)

ย
คําตอบ 3 : กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองผาน (Transmission Electron Microscope)

่ า
คําตอบ 4 : ตรวจสอบดวยภาพถายจากรังสีเอกซ

น
ํจาห
ขอที่ : 427
การตรวจสอบความผิดปกติในผลึก (dislocation) โดยการถายภาพ จะสามารถมองเห็นความผิดปกติในผลึกไดโดยอาศัย

ม
คําตอบ 1 : ความแตกตางที่เกิดจากเฟส (phase contrast)

้ า
คําตอบ 2 : ความแตกตางที่เกิดจากความหนา (thickness contrast)

ิธ์ ห
คําตอบ 3 : ความแตกตางที่เกิดจากการเลี้ยวเบน (diffraction contrast)
คําตอบ 4 : ความแตกตางจากรังสีเอกซ (X-ray contrast)

ขอที่ : 428

สิท
วน
วิธีใดบางที่ใชในการตรวจสอบโครงสรางผลึกได

ง
คําตอบ 1 : พลังงานของรังสีเอกซใน Energy Dispersive Spectrometer

ส
คําตอบ 2 : พลังงานของรังสีเอกซใน Wavelength Dispersive Spectrometer

อ
คําตอบ 3 : ผลที่วัดไดจากเครื่อง X-ray Fluoresence

ข
คําตอบ 4 : Electron Diffraction Pattern จากกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองกวาด (Transmission Electron Microscope)

ก ร
ว
ขอที่ : 429

ศ
ิ
การหักเหของอิเล็กตรอนที่ทะลุผานเนื้อวัสดุมีประโยชนอยางไร

าว
คําตอบ 1 : สามารถเพิ่มการทะลุทลวงในเนื้อวัสดุ

สภ
คําตอบ 2 : ชวยลดอุณหภูมิของวัสดุขณะตรวจสอบ
คําตอบ 3 : ชวยใหทราบถึงโครงสรางผลึกของวัสดุ
คําตอบ 4 : ชวยลดพลังงานในการใชเรงอิเล็กตรอน

ขอที่ : 430
ความดันในกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองผาน (Transmission Electron) ควรเปนอยางไร เพราะอะไร

คําตอบ 1 : ความดันต่ํา เพื่อเพิ่มปริมาณของอิเล็กตรอนที่ชนกับชิ้นงาน 116 of 127

 คําตอบ 2 : ความดันต่ํา เพื่อลดการกระเจิงของอิเล็กตรอนที่เกิดจากการชนของอิเล็กตรอนกับอะตอมของกาซ
คําตอบ 3 : ความดันสูง เพื่อเพิ่มความเขมของรังสีเอกซจะใชในการวิเคราะห
คําตอบ 4 : ความดันปกติ เพื่อความสะดวกในการทํางาน

่ าย
ขอที่ : 431

น
การตรวจสอบโครงสรางเพื่อยืนยันชนิดของเฟสที่สองขนาดเล็กระดับนาโนเมตรที่ตกผลึกในเนื้อวัสดุ ควรใชเทคนิคใดในการตรวจสอบ

ํจาห
คําตอบ 1 : X-ray Photoelectron Spectrometer
คําตอบ 2 : ภาพถายจากกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบกวาด (Scanning Electron Microscope)
Electron Diffraction pattern จากชิ้นงานที่ทําดวยเทคนิค replicaจากกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองผาน(Transmission Electron

ม
คําตอบ 3 :
Microscope)

้ า
คําตอบ 4 : X-ray Fluoresence

ขอที่ : 432
ิธ์ ห
ิท
Kikuchi pattern สามารถสรางไดจากเครื่องมือวิเคราะหใด

ส
คําตอบ 1 : กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองผาน (Transmission Electron Microscope)

น
คําตอบ 2 : กลองจุลทรรศนแสง

ง ว
คําตอบ 3 : X-ray Diffractrometer

ส
คําตอบ 4 : X-ray Photoelectron spectrometer

ขอที่ :

ร ขอ
433

ก
Kikuchi Pattern สามารถใหขอมูลใดไดบาง

ว
คําตอบ 1 : โครงสรางมหภาค

ศ
ิ
คําตอบ 2 : โครงสรางจุลภาค

ว
คําตอบ 3 : โครงสรางผลึก

า
คําตอบ 4 : ขนาดเกรน

สภ
ขอที่ : 434
ขอมูลใดตอไปนี้สามารถบอกไดจาก Electron Channeling Pattern

คําตอบ 1 : โครงสรางจุลภาค
คําตอบ 2 : โครงสรางมหภาค
คําตอบ 3 : โครงสรางผลึก
117 of 127
 คําตอบ 4 : ขนาดของผลึก

ขอที่ : 435

ย
ในการตรวจสอบดวยกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองผาน (Transmission Electron Microscope) ที่ Back Focal Plane จะเกิดภาพอะไร และใหขอมูล

่ า
อะไร

น
คําตอบ 1 : ไดภาพถายแบบ dark field image โดยจะแสดงถึงโครงสรางจุลภาค

ํจาห
คําตอบ 2 : ไดภาพถายแบบ bright field image โดยจะแสดงถึงโครงสรางจุลภาค
คําตอบ 3 : ไดภาพของ electron diffraction pattern แสดงถึงโครงสรางผลึกและชนิดของวัสดุ
คําตอบ 4 : ไดภาพถายที่แสดงถึงปริมาณของสวนผสมที่บริเวณตางๆ

้ าม
ิธ์ ห
ขอที่ : 436
ภาพถายแบบใดไดจากลําอิเล็กตรอนที่หักเหในกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองผาน(Transmission Electron Microscope)
คําตอบ 1 : electron diffraction pattern

ิท
คําตอบ 2 : bright field image

ส
คําตอบ 3 : dark field image

น
คําตอบ 4 :

ว
back focal image

ขอที่ : 437

สง
อ
electron diffraction pattern ของชิ้นงานที่มีผลึกเดียวจะมีลักษณะอยางไร

ร ข
คําตอบ 1 : เปนเสนรูปรางสี่เหลี่ยม

ก
คําตอบ 2 : เปนเสนวงกลม

ว
คําตอบ 3 : เปนจุดหลายจุดกระจายอยางมีแบบแผน

ศ
ิ
คําตอบ 4 : เปนเสนรูปรางหกเหลี่ยม

าว
สภ
ขอที่ : 438
เมื่อตรวจสอบดวย Energy Dispersive Spectrometer (EDS) จะมีความลึกจากผิวที่ตรวจสอบลงไปในเนื้อชิ้นงานประมาณเทาไร
คําตอบ 1 : 1-2 นาโนเมตร
คําตอบ 2 : 10-15 นาโนเมตร
คําตอบ 3 : 1-2 ไมโครเมตร
คําตอบ 4 : 1-2 มิลลิเมตร

118 of 127
ขอที่ : 439
ในการตรวจสอบดวยวิธีใดสามารถใหภาพที่แสดงรายละเอียดระดับอะตอมได โดยแสดง lattice image
คําตอบ 1 : กลองจุลทรรศนแสง
คําตอบ 2 : กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบกวาด (Scanning Electron Microscope)

ย
คําตอบ 3 : กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองผาน (Transmission Electron Microscope)

่ า
คําตอบ 4 : กลองจุลทรรศนทุกแบบ

น
ํจาห
ขอที่ : 440
ขอใดไมใชเหตุผลที่เลือกใชรังสีเอกซ K alpha ในการตรวจสอบดวยเทคนิค X-ray Diffraction

ม
คําตอบ 1 : รังสีเอกซ K alpha มีความเขมมากกวา รังสีเอกซ K beta

้ า
คําตอบ 2 : สามารถกรองรังสีเอกซ K beta ได

ิธ์ ห
คําตอบ 3 : รังสีเอกซ K alpha มีความแตกตางของความยาวคลื่นนอยกวา รังสีเอกซ K beta
คําตอบ 4 : พลังงานที่ใชในการเกิดรังสีเอกซ K alpha ต่ํากวา

ขอที่ : 441

สิท
วน
ขอใดไมชวยใหเกิดความแตกตางของความความดําในภาพถาย(contrast) ที่ไดจากกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองผาน

ง
คําตอบ 1 : มุมของการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอน

ส
คําตอบ 2 : สีของวัสดุ

อ
คําตอบ 3 : ชนิดของอะตอมในชิ้นงาน

ข
คําตอบ 4 : ความหนาของชิ้นงาน

ก ร
ว
ขอที่ : 442

ศ
ิ
เมื่อใชรังสีเอกซชนิด Cu K-alpha ที่มีความยาวคลื่น 1.54 อังสตรอมตรวจสอบชิ้นงานดวยเทคนิค XRD จะสามารถตรวจสอบวัสดุที่มีระยะระหวางเพลน

ว
(interplanar spacing ) ต่ําที่สุดไดเทาไร

า
คําตอบ 1 :

สภ
0.30
คําตอบ 2 : 0.51
คําตอบ 3 : 0.77
คําตอบ 4 : 1.54

ขอที่ : 443
การลด working distance ในกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบกวาด (SEM) จะทําให
119 of 127
 คําตอบ 1 : ลําอิเล็กตรอนมีเสนผานศูนยกลางลดลง
คําตอบ 2 : ความยาวคลื่นของอิเล็กตรอนลดลง
คําตอบ 3 : ความตางศักยที่ใชในการเรงอิเล็กตรอนลดลง
คําตอบ 4 : ไมเกิดการเปลี่ยนแปลงใดๆ

่ าย
น
ขอที่ : 444

ํจาห
ระนาบใดที่จะไมปรากฏ electron diffraction pattern ของอะลูมิเนียมที่มีโครงสรางแบบ เฟซเซนเตอร คิวบิก (FCC)
คําตอบ 1 : 100
คําตอบ 2 : 111

ม
คําตอบ 3 :

้ า
200
คําตอบ 4 :

ิธ์ ห
311

ขอที่ : 445

ิท
ระนาบใดที่ปรากฏ electron diffraction pattern ของอะลูมิเนียมที่มีโครงสรางแบบ บอดีเซนเตอร คิวบิก (BCC)

ส
คําตอบ 1 :

น
100

ว
คําตอบ 2 : 111

ง
คําตอบ 3 : 200

ส
คําตอบ 4 : 210

ขอที่ :

ร ขอ
446

ก
ขอใดกลาวถูกตองเกี่ยวกับ resolution ของกลองจุลทรรศน

ว
Resolution ของกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบกวาด (SEM) ดีกวากลองจุลทรรศนแสง (OM) เนื่องจากแสงมีความยาวคลื่นสั้นกวา

ศ
ิ
คําตอบ 1 :
อิเล็กตรอน

ว
Resolution ของกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบกวาด (SEM) เมื่อถายภาพโดยอาศัยความแตกตางของสวนผสม (composition contrast)

า
คําตอบ 2 :
จะสูญเสียไปถาตรวจสอบวัสดุที่มีเลขอะตอมใกลเคียงกัน

สภ
คําตอบ 3 : Resolution ของกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบกวาด (SEM) จะดีขึ้นเมื่อขยายลําอิเล็คตรอนใหมีขนาดใหญ
คําตอบ 4 : Resolution ของกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบกวาด (SEM) จะดีที่สุดเมื่อมีความยาวคลื่นใกลเคียงกับความยาวคลื่นแสง

ขอที่ : 447
ในวัสดุที่มีเกรนเล็กขนาดนาโน เมื่อตรวจสอบดวย การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ (X-ray diffraction) ผลที่ไดจะแตกตางจากวัสดุที่มีเกรนขนาดใหญอยางไร
คําตอบ 1 : มีคาความเขมของรังสีเอ็กซที่ตรวจสอบไดสูงกวามาก
คําตอบ 2 : มีคาความกวางของยอดกราฟ(peak)ที่ครึ่งหนึ่งของความสูง (full width half max, FWHM) มาก 120 of 127
 คําตอบ 3 : มีการเลื่อนตําแหนงของยอดกราฟ (peak) ที่ตรวจสอบได
คําตอบ 4 : ไมมีลักษณะที่แตกตางกัน

ย
ขอที่ : 448

่ า
การวิเคราะหผลจากกราฟที่ตรวจสอบวัสดุดวยวิธีการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ (X-ray diffraction) จะไมสามารถใหขอมูลในเรื่องใดได

น
คําตอบ 1 : ปริมาณของตัวถูกละลายในสารละลายของแข็ง

ํจาห
คําตอบ 2 : ขนาดของผลึก
คําตอบ 3 : ชนิดของวัสดุที่มีโครงสราง
คําตอบ 4 : ชนิดของวัสดุอสัณฐาน (amorphous)

้ าม
ิธ์ ห
ขอที่ : 449
ขอใดสามารถบงบอกถึง electron diffraction pattern ของวัสดุได
คําตอบ 1 : ผลึกสวนกลับ (reciprocal lattice)

ิท
คําตอบ 2 : อีวาลดสเฟย (Ewald sphere)

ส
คําตอบ 3 : อีวาลดสเฟย (Ewald sphere)และผลึกสวนกลับ (reciprocal lattice)

วน
คําตอบ 4 : ขนาดของอะตอม

ขอที่ :

สง
อ
450
เมื่อตองการตรวจสอบความตอเนื่องของอะตอมในผลึกควรเลือกใชเครื่องมือใดตอไปนี้ เพราะเหตุผลใด

ร ข
คําตอบ 1 : กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบกวาด (SEM) เพราะมีกําลังขยายสูง

ก
คําตอบ 2 : กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองผาน (TEM) เพราะสามารถถายภาพที่มี resolution สูงมากได

ว
คําตอบ 3 : เครื่องตรวจสอบการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ (X-ray diffractometer) เพราะบอกโครงสรางผลึกได

ศ
ิ
คําตอบ 4 : การถายภาพดวยรังสีเอกซ

าว
สภ
ขอที่ : 451
การเพิ่มความตางศักยในการเรงอิเล็กตรอนในกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนทําใหเกิดผลหลายอยางยกเวน
คําตอบ 1 : เพิ่มขนาดของอันตรกริยา(interaction volume)
คําตอบ 2 : ลดความยาวคลื่นของอิเล็กตรอน
คําตอบ 3 : เพิ่ม resolution
คําตอบ 4 : เพิ่มจํานวนอิเล็กตรอน

121 of 127
ขอที่ : 452
การตรวจสอบรอยแตกของชิ้นงานเพื่อวิเคราะหลักษณะของการแตกหักควรใชเครื่องมือใด
คําตอบ 1 : กลองจุลทรรศนแสง(optical microscope,OM)เพราะใชงานไดงาย
คําตอบ 2 : กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบกวาด(Scanning Electron Microscope,SEM) เพราะมีความชัดลึกมาก

ย
คําตอบ 3 : กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองผาน(Transmission Electron Microscope,TEM) เพราะมีกําลังขยายสูง

่ า
คําตอบ 4 : เครื่องตรวจวัดการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซเพราะสามารถวิเคราะหสารประกอบได

น
ํจาห
ขอที่ : 453
การตรวจสอบโดยใชโฟโตอิเล็กตรอน (X-ray Photoelectron Spectrometry,XPS)แตกตางการตรวจสอบดวย (Auger Electron Spectrocopy,AES) ใน

ม
เรื่องใด

้ า
คําตอบ 1 : การตรวจสอบผิวบางของชิ้นงาน

ิธ์ ห
คําตอบ 2 : พลังงานของอิเล็กตรอนที่ใชในการตรวจสอบธาตุและสารประกอบจะแตกตางกันตามชนิดของอิเล็กตรอน
คําตอบ 3 : ภาพถายที่ไดจากการตรวจสอบแตกตางกัน

ิท
คําตอบ 4 : ชิ้นงานจะถูกทําลายเมื่อตรวจสอบโดยใชโฟโตอิเล็กตรอน (XPS)แตไมถูกทําลายเมื่อตรวจสอบดวย (AES)

ขอที่ :

นส
ว
454

ง
ภาพ electron diffraction pattern นี้แสดงถึงโครงสรางผลึกของวัสดุวา

อ ส
ก ร ข
ศ
ิ ว
าว
สภ คําตอบ 1 : เปนวัสดุผลึกเดี่ยวที่มีโครงสรางผลึกแบบ FCC
คําตอบ 2 : เปนวัสดุหลายผลึกที่มีโครงสรางผลึกแบบ FCC
คําตอบ 3 : เปนวัสดุที่ไมมีโครงผลึก 122 of 127
 คําตอบ 4 : ไมสามารถบอกโครงสรางผลึกของวัสดุไดจาก electron diffraction pattern

ขอที่ : 455

ย
ภาพ electron diffraction pattern ตอไปนี้แสดงขอมูลใดของวัสดุ

น่ า
ํจาห
้ าม
ิธ์ ห
สิท
ง วน
ส
คําตอบ 1 : เปนวัสดุผลึกเดี่ยว

อ
คําตอบ 2 : เปนวัสดุหลายผลึก

ข
คําตอบ 3 : เปนวัสดุแบบอสัณฐาน หรือ อะมอฟส

ร
คําตอบ 4 : ไมสามารถแสดงขอมูลใดได

วก
ศ
ิ
ขอที่ : 456

ว
วัสดุที่เปนผลึกเดี่ยวจะมี electron diffraction pattern แบบใด

า
สภ คําตอบ 1 :

123 of 127
 ่ าย
น
ํจาห
้ าม
ิธ์ ห
สิท
ง วน
อ ส
ร ข
คําตอบ 2 :

วก
าวศ
ิ
สภ
124 of 127
 ่ าย
น
ํจาห
คําตอบ 3 :

้ าม
ิธ์ ห
สิท
วน
คําตอบ 4 : ไมมีรูปแบบของ electron diffraction pattern ที่แนนอน

ขอที่ :

สง
อ
457
เมื่อเพิ่มความตางศักยในการเรงอิเล็กตรอน (accelerated voltage) ในกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนจะทําใหเกิดสิ่งใดขึ้น

ร ข
คําตอบ 1 : ความยาวคลื่นของลําอิเล็กตรอนยาวขึ้น

ก
คําตอบ 2 : ขนาดของอันตรกริยาเพิ่มขึ้น

ว
คําตอบ 3 : ขนาดของลําอิเล็กตรอนใหญขึ้น

ศ
ิ
คําตอบ 4 : ไมเกิดอะไรขึ้น

าว
สภ
ขอที่ : 458
ในการตรวจสอบวัสดุดวยกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอน เลขอะตอมของวัสดุเพิ่มขึ้นจะมีผลตอขนาดของอันตรกริยา(interaction volume) อยางไร
คําตอบ 1 : ขนาดของอันตรกริยา(interaction volume) เล็กลง
คําตอบ 2 : ขนาดของอันตรกริยา(interaction volume) ใหญขึ้น
คําตอบ 3 : ขนาดของอันตรกริยา(interaction volume) เทาเดิม
คําตอบ 4 : ไมสามารถบอกไดเนื่องจากไมมีความสัมพันธระหวาง ขนาดของอันตรกริยา(interaction volume) กับเลขอะตอมของวัสดุ

125 of 127
ขอที่ : 459
การสราง Kikuchi pattern สามารถทําไดโดยใชเครื่องมือใด
คําตอบ 1 : กลองจุลทรรศนแสง
คําตอบ 2 : กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบกวาด (Scanning Electron Microscope,SEM)

ย
คําตอบ 3 : กลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองผาน (Transmission Electron Microscope,TEM)

่ า
คําตอบ 4 : เครื่องตรวจสอบการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ (X-ray Diffractometer)

น
ํจาห
ขอที่ : 460
Kikuchi pattern สามารถบอกขอมูลใดไดหลายอยาง ยกเวน

ม
คําตอบ 1 : ขนาดของโครงผลึก

้ า
คําตอบ 2 : ชนิดของโครงผลึก

ิธ์ ห
คําตอบ 3 : ชนิดของวัสดุที่มีโครงสราง
คําตอบ 4 : ชนิดของวัสดุอสัณฐาน

ขอที่ : 461

สิท
วน
การตรวจสอบฟลมบางระดับนาโนเมตรบนผิวชิ้นงานควรเลือกใชทคนิคใด

ง
คําตอบ 1 : การตรวจสอบพลังงานของออเจอิเล็กตรอน

ส
คําตอบ 2 : การตรวจสอบพลังงานของโฟโตอิเล็กตรอน

อ
คําตอบ 3 : การตรวจสอบพลังงานของออเจอิเล็กตรอนและโฟโตอิเล็กตรอน

ข
คําตอบ 4 : การตรวจสอบพลังงานของรังสีเอกซแบบเฉพาะตัว (characteristic x-ray)

ก ร
ว
ขอที่ : 462

ศ
ิ
ในการตรวจสอบธาตุในวัสดุดวยรังสีเอกซเฉพาะตัว (characteristic x-ray) โดยตรวจสอบจากความยาวคลื่น (Wavelength Dispersive

ว
Spectrometry,WDS) และพลังงาน (Energy Dispersive Spectrometry,EDS) จะมีขอแตกตางกันอยางไร

า
ขนาดของอันตรกริยาของการตรวจสอบจากความยาวคลื่น (Wavelength Dispersive Spectrometry,WDS)เล็กกวาทําใหตรวจสอบได

สภ
คําตอบ 1 :
แมนกวา
คําตอบ 2 : ขนาดของอันตรกริยาของการตรวจสอบจากพลังงาน (Energy Dispersive Spectrometry,EDS)เล็กกวาทําใหตรวจสอบไดแมนกวา
ชวงของพลังงานที่ตรวจสอบไดเปนชวงกวางมากกวาชวงของความยาวคลื่นที่ตรวจสอบไดจากธาตุใดๆทําใหการตรวจสอบดวย พลังงาน
คําตอบ 3 :
(Energy Dispersive Spectrometry,EDS) มีความแมนยํานอยกวา
ชวงของพลังงานที่ตรวจสอบไดเปนชวงแคบกวาชวงของความยาวคลื่นที่ตรวจสอบไดจากธาตุใดๆทําใหการตรวจสอบดวย พลังงาน
คําตอบ 4 :
(Energy Dispersive Spectrometry,EDS) มีความแมนยํามากกวา

126 of 127
ขอที่ : 463
ขอใดเปนขอไดเปรียบของการตรวจสอบธาตุจากรังสีเอกซแบบเฉพาะตัว (Characteristic x-ray)โดยใชพลังงานของรังสีเอกซ (Energy Dispersive
Spectrometry,EDS)
คําตอบ 1 : ตรวจสอบไดแมนยํากวาการใชความยาวคลื่น (Wavelength Dispersive Spectrometry,WDS)

ย
คําตอบ 2 : ตรวจสอบไดเร็วกวาการใชความยาวคลื่น (Wavelength Dispersive Spectrometry,WDS)

่ า
คําตอบ 3 : ตรวจสอบไดจํานวนธาตุหลากหลายกวาการใชความยาวคลื่น (Wavelength Dispersive Spectrometry,WDS)

น
คําตอบ 4 : ไมมีขอแตกตาง

ขอที่ : 464

ํจาห
ม
เทคนิค ZAF ใน Energy Dispersive Spectrometer (EDS) ใชเพื่ออะไร

้ า
คําตอบ 1 : คํานวณหาปริมาณสารประกอบในวัสดุ

ิธ์ ห
คําตอบ 2 : คํานวณหาปริมาณธาตุในวัสดุ
คําตอบ 3 : คํานวนหาสัดสวนโดยปริมาตรของแตละเฟสในวัสดุ

ิท
คําตอบ 4 : คํานวนหาสัดสวนโดยพื้นที่ของแตละเฟสในวัสดุ

นส
ง ว
อ ส
ก ร ข
ศ
ิ ว
าว
สภ
127 of 127