กล้องจุลทรรน์อิเล็กตรอน

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (Electron Microscope) เป็ น

กล้องจุลทรรศน์ที่ใช้ลำอนุภาคอิเล็กตรอนพลังงานสูงในการตรวจสอบ
วัตถุแทนแสงธรรมดา เนื่องจากความยาวคลื่นของลำอนุภาค
อิเล็กตรอนนัน
้ สัน
้ กว่าความยาวคลื่นแสงถึง 100,000 เท่า ทำให้
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสามารถให้ประสิทธิภาพของกำลังขยาย
และการแจกแจงรายละเอียดได้เหนือกว่ากล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสง
โดยสามารถแยกรายละเอียดของวัตถุที่เล็กขนาด 10 อังสตรอม หรือ
0.1 นาโนเมตร (กล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงจะแจกแจงรายละเอียดได้
ประมาณ 0.2 ไมโครเมตร) จึงทำให้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนมีกำลัง
ขยายสูงมากถึง 500,000 เท่า และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนมี 2
ชนิด ได้แก่ Transmission electron microscope (TEM) และ
Scanning electron microscope (SEM)

Transmission Electron Microscope (TEM)

เป็ นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่ใช้ศึกษาตัวอย่างชนิดบาง ซึ่ง
เตรียมขึน
้ โดยวิธีพิเศษเพื่อให้ลำอนุภาคอิเล็กตรอนผ่านทะลุได้ การ
สร้างภาพจากกล้องประเภทนีจ
้ ะทำได้โดยการตรวจวัดอิเล็กตรอนที่
ทะลุผ่านตัวอย่างนั่นเอง เครื่อง TEM เหมาะสำหรับศึกษารายละเอียด

1
ขององค์ประกอบภายในของตัวอย่าง เช่น องค์ประกอบภายในเซลล์
ลักษณะของเยื่อหุ้มเซลล์ ผนังเซลล์ เป็ นต้น ซึ่งจะให้รายละเอียดสูง
กว่ากล้องจุลทรรศน์ชนิดอื่นๆ เนื่องจากมีกำลังขยายสูงสุดประมาณ
0.1 นาโนเมตร และประสิทธิภาพในการแจกแจงรายละเอียดสูงมาก

Scanning Electron Microscope (SEM)

SEM มีกำลังขยายสูงสุดประมาณ 10 นาโนเมตร เป็ น
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่มีกำลังขยายไม่สูงเท่ากับเครื่อง TEM
เนื่องจากไม่ได้ตรวจวัดจากการที่อิเล็กตรอนเคลื่อนที่ทะลุผ่านตัวอย่าง
การเตรียมตัวอย่างเพื่อที่จะดูด้วยเครื่อง SEM จึงไม่จำเป็ นจะต้องมี
ขนาดบางเท่ากับเมื่อดูด้วยเครื่อง TEM การสร้างภาพทำได้โดยการ
ตรวจวัดอิเล็กตรอนที่สะท้อนจากพื้นผิวหน้าของตัวอย่างที่ทำการ
สำรวจ ซึง่ ภาพที่ได้จากเครื่อง SEM จะเป็ นภาพลักษณะของ 3 มิติ
ดังนัน
้ เครื่อง SEM จึงถูกนำมาใช้ในการศึกษาสัณฐานและรายละเอียด
ของลักษณะพื้นผิวของตัวอย่าง เช่น ลักษณะพื้นผิวด้านนอกของ
เนื้อเยื่อและเซลล์ หน้าตัดของโลหะและวัสดุ เป็ นต้น
ข้อดีของเครื่อง SEM เมื่อเปรียบเทียบกับเครื่อง TEM คือ ภาพ
โครงสร้างที่เห็นจากเครื่อง SEM จะเป็ นภาพลักษณะ 3 มิติ ในขณะที่
ภาพจากเครื่อง TEM จะให้ภาพลักษณะ 2 มิติ อีกทัง้ วิธีการใช้งาน
เครื่อง SEM จะมีความรวดเร็วและใช้งานง่ายกว่าเครื่อง TEM มาก

2
 เครื่อง SEM (Scanning Electron Microscope)

หลักการทำงานของเครื่อง SEM
SEM จะประกอบด้วยแหล่งกำเนิดอิเล็กตรอนซึ่งทำหน้าที่ผลิต
อิเล็กตรอนเพื่อป้ อนให้กบ
ั ระบบ โดยกลุ่มอิเล็กตรอนที่ได้จากแหล่ง
กำเนิดจะถูกเร่งด้วยสนามไฟฟ้ า จากนัน
้ กลุ่มอิเล็กตรอนจะผ่านเลนส์
รวบรวมรังสี (condenser lens) เพื่อทำให้กลุ่มอิเล็กตรอนกลายเป็ น
ลำอิเล็กตรอน ซึง่ สามารถปรับให้ขนาดของลำอิเล็กตรอนใหญ่หรือเล็ก
ได้ตามต้องการ หากต้องการภาพที่มีความคมชัดจะปรับให้ลำ
อิเล็กตรอนมีขนาดเล็ก หลังจากนัน
้ ลำอิเล็กตรอนจะถูกปรับระยะ
โฟกัสโดยเลนส์ใกล้วัตถุ (objective lens) ลงไปบนผิวชิน
้ งานที่
ต้องการศึกษา หลังจากลำอิเล็กตรอนถูกกราดลงบนชิน
้ งานจะทำให้
เกิดอิเล็กตรอนทุติยภูมิ (secondary electron) ขึน
้ ซึ่งสัญญาณจาก

3
อิเล็กตรอนทุติยภูมินจ
ี ้ ะถูกบันทึก และแปลงไปเป็ นสัญญาณทางอิเล็ก
ทรอกนิกส์และ ถูกนำไปสร้างเป็ นภาพบนจอโทรทัศน์ต่อไป และ
สามารถบันทึกภาพจากหน้าจอโทรทัศน์ได้เลย

ส่วนประกอบและการทำงานของเครื่อง SEM

ประโยชน์ของเครื่อง SEM ในทางการแพทย์

1. การถ่ายภาพพื้นผิวชิน
้ งานศึกษา ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
แบบส่องกราด SEM
2. การศึกษาสัณฐาน และรายละเอียดลักษณะพื้นผิวของตัวอย่าง
3. การศึกษาลักษณะพื้นผิวด้านนอกของเนื้อเยื่อและเซลล์
4. การศึกษาตัวอย่างด้านชีววิทยา, พยาธิวิทยา, เทคโนโยลีชีวภาพ

4
5. วิเคราะห์วัสดุทางทันต์แพทย์, วัสดุทำฟั น จัดฟั น วิเคราะห์วัสดุ
ทางการแพทย์
6. การทดสอบวิเคราะห์ยา เคมีภัณฑ์ ด้วยเครื่อง SEM,EDS

ตรวจสอบลักษณะพื้นผิวและรูปร่างของวัสดุสำหรับงาน
วิจัยทางทันตแพทย์
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิด SEM มีความนิยมในงานวิจัย
ทางทันตกรรมมาก สามารถใช้ในการตรวจสอบการเกิดคราบจุลินทรีย์
หรือ การรั่วซึมของแบคทีเรียในคลองรากฟั นหรือการตรวจสอบพื้นิว
ไทเทเนียมบนรากเทียม เนื่องจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็คตรอนส่อง
กราดอาศัยลำอิเล็คตรอนในการสร้างภาพ จึงต้องมีการเตรียมชิน
้ งาน
แบบพิเศษยุ่งยากและซับซ้อนกว่ากล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสง จึง

5
อธิบายเพิ่มเติมโดยสังเขปดังนี ในการนำชิน
้ ตัวอย่างมาส่องด้วยกล้อง
จุลทรรศน์อิเล็คตรอนส่องกราดจะต้องผ่านขัน
้ ตอนการเตรียมชิน
้ งาน
ด้วยวิธีการพิเศษหลัก 3 ขัน
้ ตอน คือการคงสภาพชิน
้
ตัวอย่าง(fixation) การกำจัดน้ำ (dehydration) การเคลือบพื้นผิว
ของชิน
้ งาน (coating)

การคงสภาพชิน
้ งาน (Fixation)
วัตถุประสงค์ของการคงสภาพชิน
้ ตัวอย่างทำขึน
้ เพื่อรักษารูปร่าง
และรายละเอียดของสิ่งที่ต้องการศึกษาให้เหมือนจริงที่สุด เนื่องจาก
เมื่อมีการดึงน้ำออกจะทำให้เกิดการเปลี่ยนสภาพของชิน
้ ตัวอย่างจึง
ต้องทำการคงสภาพชิน
้ งานให้เหมือนสภาพก่อนการสูญเสียน้ำ โดยใช้
สารกลูตาราลดีไฮด์(glutaraldehyde) และออสเมียมเททรอกไซด์
(osmium tetroxide) โดยสารที่นิยมมากที่สุดคือกลูตาราลดีไฮด์
อย่างไรก็ตามลำดับในการเตรียมชิน
้ งานในขัน
้ ตอนคงสภาพกับดึงน้ำ
นัน
้ ขึน
้ อยู่กับคุณสมบัติของชิน
้ ตัวอย่างและข้อมูลที่ต้องการศึกษา เช่น
หากต้องการศึกษาโครงสร้างของแมลงวันจะต้องทำการคงสภาพชิน
้
ตัวอย่างก่อนดึงน้ำเพื่อคงสภาพให้ สมบูรณ์ที่สุด แต่หากต้องการศึกษา
รอยต่อระหว่างเรซินกับเนื้อฟั นสามารถทำการดึงน้ำก่อนได้ เนื่องจาก
ส่วนเนื้อฟั นได้ถก
ู คงสภาพไว้ด้วยเรซินแล้ว การทำการดึงน้ำก่อนจึง
ไม่มีผลต่อโครงสร้างของเนื้อฟั น

6
การดึงน้ำออกชิน
้ ตัวอย่าง (Dehydration)
หลังจากที่ทำการคงสภาพชิน
้ ตัวอย่างจะต้องนำชิน
้ ตัวอย่างมา
กำจัดโมเลกุลน้ำออก เนื่องจากโมเลกุลของน้ำจะรบกวนการสร้างภาพ
ทำให้ได้ภาพที่ไม่ชัด ดังนัน
้ จึงต้องกำจัดน้ำที่ตกค้างในชิน
้ งานที่
ต้องการทดลอง โดยการดึงน้ำสามารถทำได้สองวิธีคือซีเรียลดีไฮเดร
ชัน (serial dehydration) กับคริติคอลพอยท์ไดรเออร์ (critical
point dryer)

ซีเรียลดีไฮเดรชัน (serial dehydration)

เป็ นวิธีการกำจัดน้ำด้วยสารเคมีเช่น แอลกอฮอล์ (alcohol)
หรืออะซีโตน (acetone) โดยวิธีการทำคือนำตัวอย่างแช่ในสารเคมี
เหล่านี ้ โดยเริ่มจากความเข้มข้นต่ำไปหาความเข้ม
ข้นที่สูงขึน
้ ซึง่ วิธีการนีม
้ ักทำให้เกิดการหดตัวของชิน
้ ตัวอย่าง
เนื่องจากทำให้เกิดพลาสโมไลซิส (plasmolysis) รวมถึงส่วนประกอบ
ของชิน
้ ตัวอย่างบางชนิดที่สามารถละลายในแอลกอฮอล์หรืออะซีโตน

แสดงขัน
้ ตอนการทำซีเรียลดีไฮเดรชัน

7
คริติคอลพอยท์ไดรเออร์ (critical point dryer)
วิธีกำจัดน้ำอีกวิธีคือการใช้เครื่องคริติคอลพอยท์ไดรเออร์ โดย
เป็ นระบบการกำจัดน้ำออกจากชิน
้ ตัวอย่างซึ่งจะทำการแทนที่น้ำด้วย
คาร์บอนไดออกไซด์เหลว (liquid carbon dioxide) ที่มีจุดวิกฤติของ
การเปลี่ยนวัฏภาค (critical point) ที่ 31 องศาเซลเซียส ซึ่งเมื่อ
คาร์บอนไดออกไซด์เหลวเจอกับอุณภูมิวิกฤติจะเปลี่ยนสถานะเป็ นก๊าซ
และระเหยออกจากชิน
้ งานจนหมดทำให้ชน
ิ ้ ตัวอย่างมีการหดตัวน้อย
กว่า เกิดความเสียหายน้อยกว่าวิธีซีเรียลดีไฮเดรชันแต่ต้องใช้เครื่องมือ
เฉพาะ

การเคลือบผิวของชิน
้ ตัวอย่าง (coating)
ขัน
้ ตอนสุดท้ายคือการเคลือบผิวชิน
้ ตัวอย่างด้วยเครื่องเคลือบ
สปั ตเตอร์ (sputter coater module) เพื่อเพิ่มความสามารถในการ
สะท้อนอิเล็คตรอน โดยที่ความหนาของสารเคลือบผิวจะขึน
้ อยู่กับ
ลักษณะข้อมูลที่ต้องการศึกษา เช่น หากต้องการศึกษาโครงสร้างโดย
รวมจะต้องทำการเคลือบสารให้
หนากว่ากรณีที่ต้องการศึกษาส่วนประกอบที่เฉพาะเจาะจงมีความ
ละเอียดมากกว่าสารที่นำมาเคลือบผิวนัน
้ จะขึน
้ อยู่กับข้อมูลที่ต้องการ
ศึกษา เช่น การวิเคราะห์ปริมาณธาตุมักจะใช้สารเคลือบผิวชนิด

8
คาร์บอน แต่กรณีที่ต้องการศึกษาลักษณะทางกายภาพ ซึง่ ต้องการ
ภาพที่มีความคมชัดสูงมักจะใช้สารเคลือบชนิดโลหะ นอกจากนีค
้ วาม
หนาของสารเคลือบผิวมีผลต่อภาพที่ออกมา เช่น การเคลือบทองที่
บางเกินไปจะทำให้ได้ภาพที่มีรายละเอียดที่ไม่ชัดเจนทัง้ ภาพเนื่องจาก
ทำให้ความเปรียบต่าง
ของภาพสูงเกินไป กล้องจุลทรรศน์อิเล็คตรอนให้ความละเอียดของชิน
้
ตัวอย่างได้มากเนื่องจากกำลังขยายที่สูงถึง 50-10000 เท่าและการ
แยกความละเอียดของภาพที่ระดับ 50-100 นาโนเมตร โดยที่การ
ควบคุมใช้งานง่ายสามารถนำข้อมูลไปวิเคราะห์ได้เร็วหากสร้างเป็ น
ไฟล์ดิจิตอล อย่างไรก็ตาม เนื่องจากเป็ นการตรวจดูบริเวณพื้นผิวของ
ชิน
้ ตัวอย่างเท่านัน
้ จึงทำให้การใช้งานจะจำกัดอยู่ที่บริเวณพื้นผิว เช่น
การตรวจดูชน
ั ้ เสมียร์ (smear layer) หรือการดูรูเปิ ดของท่อเนื้อฟั น

เครื่องมือวิเคราะห์ธาตุและสารประกอบ (energy dispersive

spectroscopy on the SEM)
นอกจากการตรวจสอบพื้นผิวกล้องจุลทรรศน์ชนิดนี ้ ยังสามารถ
วิเคราะห์ข้อมูลปริมาณธาตุเชิงสัมพัทธ์ที่แสดงถึงองค์ประกอบทางเคมี
ของชิน
้ ตัวอย่างได้ โดยใช้อุปกรณ์ตรวจจับในการตรวจจับรังสีเอกซ์ (x-
ray) ซึง่ มีลักษณะเฉพาะแตกต่างกันไปในธาตุต่างชนิดกัน แล้วนำมา
วิเคราะห์เป็ นสเปกตรัมของพลังงานของธาตุแต่ละชนิดให้เป็ นข้อมูลที่

9
แสดงถึงปริมาณสัดส่วนของธาตุพ้น
ื ฐานของชิน
้ ตัวอย่างนัน
้ ๆ โดย
ข้อมูลจะถูกนำมาวิเคราะห์และแปลผลออกมาเป็ นกราฟซึ่งแสดง
ปริมาณธาตุเชิงสัมพัทธ์ของธาตุพ้น
ื ฐานบนพื้นผิวที่ต้องการศึกษา
มีการวิเคราะห์ส่วนประกอบทางเคมีของชิน
้ ตัวอย่าง ทัง้ การ
วิเคราะห์ปริมาณหรือปริมาณเชิงสัมพัทธ์ของธาตุการใช้กล้อง
จุลทรรศน์ชนิดนีช
้ ่วยวิเคราะห์จะทำให้ได้ผลที่รวดเร็ว แต่ยังมีข้อจำกัด
คือไม่สามารถตรวจจับธาตุที่มีเลขอะตอมต่ำกว่าธาตุโซเดียมได้รวมถึง
การซ้อนทับกันของเสปกตรัมของพลังงานที่ใกล้เคียงกันอาจทำให้ค่าที่
ได้ไม่ถูกต้อง

การตรวจวิเคราะห์โลหะอะมัลกัม
ใช้เทคนิคการวิเคราะห์การเลีย
้ วเบนรังสีเอกซ์และ
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดชนิดที่มีการวิเคราะห์ธาตุ
ด้วยการเรืองรังสีเอกซ์แบบกระจายพลังงาน เพื่อศึกษาวัฏภาค
(phase) ของธาตุและการกระจายตัวของธาตุองค์ประกอบที่อยู่ในวัสดุ
อะมัลกัม โดยใช้ตัวอย่างฟั นที่ได้จากผู้ป่วย และถูกนำออกจากช่อง
ปากด้วยเหตุผลทางการแพทย
อะมัลกัมเป็ นวัสดุทางทันตกรรมที่ใช้ในการอุดฟั นมามากกว่า
150 ปี การใช้วัสดุอะมัลกัมยังมีข้อถกเถียงในเรื่อง ความปลอดภัย
ประเด็นที่ว่าธาตุองค์ประกอบจากอะมัลกัมสามารถหลุด และถูกดูด

10
ซึมเข้าสู่ร่างกายได้ เมื่อเร็วๆ นีค
้ ณะผู้วิจัยได้เสนอรายงานการศึกษา
การแพร่กระจายของปรอทไปสู่เนื้อฟั น และรากฟั นด้วยเทคนิคการ
วิเคราะห์ด้วยการกระตุ้นการปล่อยรังสีเอกซ์ด้วยลำอนุภาคขนาดเล็ก
พบว่าไม่มีหลักฐานแสดงการแพร่ของปรอทไปสู่เนื้อฟั น และรากฟั น
อย่างไรก็ตาม พบว่ามีการสะสมของโลหะบางชนิดในบริเวณพื้นที่ที่อะ
มัลกัมสัมผัสกับอาหาร นี่เป็ นหลักฐานสำคัญที่แสดงให้เห็นว่ามีการ
หลุดของโลหะบางชนิดที่เคลื่อนย้ายออกจากอะมัลกัม เป็ นผลมาจาก
การสึกกร่อน และการละลายออกมากับน้ำลาย วัฏภาค ของธาตุมี
ความสำคัญต่อการหลุดของธาตุที่เป็ นองค์ประกอบของอะมัลกัม จึงมี
การใช้เทคนิคการเลีย
้ วเบนของรังสีเอกซ์ (XRD) ศึกษาพื้นผิวและธาตุ
องค์ประกอบด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)
อะมัลกัมหรือโลหะผสมนี ้ มีส่วนประกอบของโลหะหลากหลาย
ชนิด เช่น เงิน ดีบุก สังกะสี ปรอท และโลหะอื่นๆ ซึ่งการพัฒนาส่วน
ประกอบมีมาอย่างต่อเนื่อง เพื่อให้เกิดความปลอดภัยของคนที่ต้องใช้
การรักษาทางทันตกกรรมด้วยการอุดฟั นให้มากขึน
้ ปั จจุบันอะมัลกัมที่
ถูกใช้งานทางทันตกรรมส่วนใหญ่จะถูกทำให้อยู่ในรูปที่พร้อมจะใช้งาน
โดยถูกบรรจุอยู่ในแคปซูล ทำให้สามารถใช้งานได้อย่างสะดวก และอีก
ทัง้ ยังสามารถลดการได้รับปรอทของผู้ปฏิบัติงาน และผู้ป่วย

11
วิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (Scanning
Electron Microscope-Energy Dispersive X-ray
fluorescence analysis: SEM-EDX)
ใช้ตรวจวัดตัวอย่างฟั นตัดขวางแสดงส่วนที่เป็ นอะมัลกัม ส่วนที่
เป็ นรอยต่อระหว่างอะมัลกัมและเนื้อฟั น และส่วนที่เป็ นเนื้อฟั น เพื่อ
ตรวจสอบพื้นที่ผิวหน้าของตัวอย่าง โดยศึกษาลักษณะสัณฐาน ชนิด
ของธาตุ และการกระจายตัวของโลหะ
การถ่ายภาพด้วย SEM-EDX ใช้สำหรับการพิจารณาองค์
ประกอบของธาตุต่างๆ บริเวณที่เป็ นเนื้อฟั น และที่เป็ นอะมัลกัม พื้นที่
สำหรับการวิเคราะห์ตัวอย่างที่บริเวณรอยต่อระหว่างเนื้อฟั นและอะ
มัลกัม ผลการวิเคราะห์บริเวณพื้นผิวของตัวอย่างฟั นที่วิเคราะห์เชิง
คุณภาพ และแสดงการกระจายตัวของแต่ละธาตุ เป็ นการวิเคราะห์
ตัวอย่างฟั นหมายเลข 12 แสดงในภาพที่ 4B พบธาตุดังนี ้ คาร์บอน
ออกซิเจน ฟอสฟอรัส แคลเซียม ทองแดง ดีบุก ปรอท สังกะสี และ
เงิน แทนด้วยสีแดง สีเขียว สีเหลือง สีฟ้า สีม่วงอ่อน สีม่วงเข้ม สีชมพู
สีส้ม และสีน้ำเงิน ตามลำดับ พบว่า ธาตุต่างๆ ในตัวอย่างฟั นมีการก
ระจายตัวอย่างสม่ำเสมอ หากพิจารณาที่ภาพการกระจายตัวของดีบุก
สามารถสังเกตเห็นความหนาแน่นของดีบุกที่มีการสะสมเป็ นจ านว
นมากบริเวณอะมัลกัมในพื้นที่ใช้สำหรับการบดเคีย
้ วหรือการสัมผัสกับ
อาหารโดยตรง และบริเวณรอยต่อระหว่างอะมัลกัมและเนื้อฟั น

12
นอกจากนีห
้ ากพิจารณาที่ธาตุ สังกะสี พบว่าที่บริเวณรอยต่อระหว่า
งอะมัลกัมและเนื้อฟั นมีการสะสมของสังกะสีที่มากกว่าบริเวณอื่นๆ
ผลการวิเคราะห์ของ Sn และ Zn นีส
้ ามารถตรวจพบได้ในทำนอง
เดียวกันกับตัวอย่างฟั นอื่นๆ

ภาพตัวอย่างฟั นตัดขวางแสดงส่วนที่เป็ นอะมัลกัม รอยต่อระหว่างอะ

มัลกัมและเนื้อฟั น
และส่วนที่เป็ นเนื้อฟั นวงกลมสีแดง แสดงบริเวณอะมัลกัมที่ใช้ในการ
วิเคราะห์ด้วย SEM

13
 ผลการวิเคราะห์จากเครื่อง SEM แสดงการกระจายตัวแต่ละธาตุของ
ตัวอย่างฟั น

ผลการวิเคราะห์พ้น
ื ที่ที่เป็ นอะมัลกัมพบว่ามีปริมาณของปรอท
มากที่สุด แต่บริเวณเนื้อฟั นไม่พบว่ามีโลหะที่เคลื่อนย้ายจากอะมัลกัม
เข้าสู่เนื้อฟั นอย่างมีนัยสำคัญ ซึ่งธาตุคาร์บอน และออกซิเจนอาจเกิด
จากสารอินทรีย์ที่เป็ นองค์ประกอบผลการวิเคราะห์ตัวอย่างฟั นด้วย
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด แสดงให้เห็นว่า มีการสะสม
ของโลหะบางชนิดบริเวณอะมัลกัมที่ใช้สำหรับการบดเคีย
้ ว และ
บริเวณพื้นที่ที่ใกล้กับบริเวณรอยต่อระหว่างอะมัลกัมและเนื้อฟั น

สรุปและอภิปรายผล
จากการวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
แสดงให้เห็นว่า ส่วนประกอบของอะมัลกัมประกอบไปด้วยปรอท และ

14
โลหะอื่นๆ เช่น เงิน สังกะสี ดีบุก เป็ นต้น นอกจากนีย
้ ังพบว่ามีการ
สะสมของดีบุกและสังกะสี อยู่บริเวณอะมัลกัมที่ใช้สำหรับการบดเคีย
้ ว
และบริเวณของอะมัลกัมที่เชื่อมต่อกับบริเวณเนื้อฟั น แต่ไม่พบว่า
ปรอท และโลหะอื่นๆ มีการเคลื่อนย้ายจากอะมัลกัมเข้าสู่เนื้อฟั น

15