Chương 2

Bài 1: Sơ lược về quan

sát thế giới vi mô
 Why We Need
• Moät caùch tröïc tieáp nhaát
“Special” Microscopes
ñeå bieát daïng cuûa caùc
vaät theå laø nhìn chuùng.
• Neá
Let’s say u chuù
that thensmallest
g quaù nhoû
objectta
duø n g kính hieå n vi.
you can resolve with your eyes is
about 0.1 – 0.2 mm which is
100,000 – 200,000 nm
• Tuy nhieâ n vôù i kính
With a 100x objective, you should
hieåtonresolve
be able vi thoâobjects
ng thöôøthatnare
g
1000coù
– 2000moänm
t giôùi haïn khi
nhìn caù c vaä t nhoû
So, with a 1000x objective, we
.
should be able to resolve objects
that are 100 – 200nm, right?
1 Giới hạn nhiễu xạ

100 nm
particle

• Giôùi haïn ñoù ( giôùi haïn nhieãu xaï) laøm cho ta khoâng theå thaáy caùc vaät
coù kích thöôùc raát nhoû hôn böôùc soùng ñöôïc duøng ñeå nhìn chuùng.
• Böôùc soùng cuûa aùnh saùng nhìn thaáy ñöôïc khoaûng 400 -800 nm trong
khi vật liệu cỡ 100nm.
2 Bước sóng của các hạt

Ta coù theå duøng caùc loaïi soùng khaùc

coù böôùc soùng naèm trong khoaûng vaøi
Ao ñeán vaøi nm
Töø Cô hoïc löôïng töû : caùc haït coù baûn
chaát soùng. Haït chuyeån ñoäng caøng
nhanh thì böôùc soùng caøng ngaén .
Hai loaïi haït coù theå gia toác ñeán vaän
toác ñuû taïo ra soùng coù böôùc soùng
ngaén ñoù laø : nôtron vaø electron.
2 Bước sóng của các hạt

12,4
Tia X : (A0) =
E (keV )
0,28
Neutron: (A0) = E (eV )

12
Electron: (A0) =
E (eV )

Ví dụ: neutron
Khoái löôïng nôtron = 1,675x10-27 kg
Böôùc soùng ñieån hình 1- 0,01 nm
Vaän toác ñieån hình 400 – 40000 ms-1
Naêng löôïng ñieån hình 0,8 – 8000 meV
 3 Vật liệu nano, thiết bị nano và ứng dụng
3.3 Characterizing tools
A number of characterizing tools have been developed to help us in
understanding the behaviour of nanomaterials and nanostructures.
3 Các phương pháp phân tích

• X-ray Diffraction
→ Phân tích cấu trúc tinh thể
• Scanning Electron Microscope
→ Quan sát cấu trúc bề mặt
• Transmission Electron Microscope
→ Quan sát cấu trúc cắt ngang
• Atomic Force Microscope
→ Quan sát hình thái bề mặt
• Scanning Tunnel Microscope
→ Quan sát hình thái bề mặt
3 Các phương pháp phân tích

• X-ray Diffraction
→ Phân tích cấu trúc tinh thể
• Scanning Electron Microscope
→ Quan sát cấu trúc bề mặt
• Transmission Electron Microscope
→ Quan sát cấu trúc cắt ngang
• Atomic Force Microscope
→ Quan sát hình thái bề mặt
• Scanning Tunnel Microscope
→ Quan sát hình thái bề mặt
3 Các phương pháp phân tích

AFM SEM TEM