Knowledge-Driven Board-Level

Functional Fault Diagnosis 1st Edition

Fangming Ye
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Foods 1st Edition Xingqian Ye

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Data Driven Technology for Engineering Systems Health

Management Design Approach Feature Construction Fault
Diagnosis Prognosis Fusion and Decisions 1st Edition
Gang Niu (Auth.)
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engineering-systems-health-management-design-approach-feature-
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Intelligent Fault Diagnosis and Accommodation Control

1st Edition Sunan Huang (Author)

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Functional Foods 1st Edition Xingqian Ye (Editor)

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Process control system fault diagnosis: a Bayesian

approach First Edition Gonzalez

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Artificial Intelligence in Process Fault Diagnosis:

Methods for Plant Surveillance 1st Edition
Fickelscherer

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Advanced Automotive Fault Diagnosis Automotive

Technology Vehicle Maintenance and Repair Tom Denton

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Driven to the Brink: Why Corporate Governance, Board

Leadership and Culture Matter 1st Edition Alicia
Micklethwait

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Fangming Ye · Zhaobo Zhang
Krishnendu Chakrabarty · Xinli Gu

Knowledge-
Driven
Board-Level
Functional
Fault Diagnosis
Knowledge-Driven Board-Level Functional
Fault Diagnosis
Fangming Ye Zhaobo Zhang
•

Krishnendu Chakrabarty Xinli Gu

•

Knowledge-Driven
Board-Level Functional
Fault Diagnosis

123
Fangming Ye Krishnendu Chakrabarty
Huawei Technologies Department of Electrical and Computer
Santa Clara, CA Engineering
USA Duke University
Durham, NC
Zhaobo Zhang USA
Huawei Technologies
Santa Clara, CA Xinli Gu
USA Huawei Technologies
Santa Clara, CA
USA

ISBN 978-3-319-40209-3 ISBN 978-3-319-40210-9 (eBook)

DOI 10.1007/978-3-319-40210-9

Library of Congress Control Number: 2016942023

© Springer International Publishing Switzerland 2017

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Printed on acid-free paper

This Springer imprint is published by Springer Nature

The registered company is Springer International Publishing AG Switzerland
To my beloved family for their boundless
support.
Fangming Ye

To those days and nights at graduate school.

Zhaobo Zhang
Preface

The semiconductor industry continues to relentlessly advance silicon technology

scaling into the deep-submicron (DSM) era. High integration levels and structured
design methods enable complex systems that can be manufactured in high volume.
However, due to increasing integration densities and high operating speeds, subtle
manifestation of defects leads to functional failures at the board level. Functional
fault diagnosis is, therefore, necessary for board-level product qualification.
However, ambiguous diagnosis results can lead to long debug times and wrong
repair actions, which significantly increase repair cost and adversely impact yield.
A state-of-the-art diagnosis system involves several key components: (1) design
of functional test programs, (2) collection of functional-failure syndromes,
(3) building of the diagnosis engine, (4) isolation of root causes, and (5) evaluation
of the diagnosis engine. Advances in each of these components can pave the way
for a more effective diagnosis system, thus improving diagnosis accuracy and
reducing diagnosis time. Machine-learning techniques offer an unprecedented
opportunity to develop an automated and adaptive diagnosis system to increase
diagnosis accuracy and speed.
This book provides a comprehensive set of characterization, prediction, opti-
mization, evaluation, and evolution techniques for a diagnosis system. Readers with
a background in electronics design or system engineering can use this book as a
reference to derive insightful knowledge from data analysis and use this knowledge
as guidance for designing reasoning-based diagnosis systems. Meanwhile, readers
with a background in statistics or data analytics can use this book as a case study for
adapting data mining and machine-learning techniques to electronic system design
and diagnosis.
This book identifies the key challenges in reasoning-based board-level diagnosis
system design, and presents machine-learning-based solutions and corresponding
results that have emerged from cutting edge research in this domain. It broadly
explores a series of topics ranging from high-accuracy fault isolation, adaptive fault
isolation, diagnosis system robustness design, system performance analysis and
evaluation, knowledge discovery, and knowledge transfer.

vii
viii Preface

This book first describes a diagnosis system based on support-vector machine

(SVM), multi-kernel SVM (MK-SVM), and incremental learning. The MK-SVM
method leverages a linear combination of single kernels to achieve accurate
root-cause isolation. The MK-SVMs thus generated also can be updated based on
incremental learning. Furthermore, a data-fusion technique, namely majority-
weighted voting, is used to leverage multiple learning techniques for diagnosis.
The diagnosis time is considerable for complex boards due to the large number
of syndromes that must be used to ensure diagnostic accuracy. Syndrome collection
and analysis are major bottlenecks in state-of-the-art diagnosis procedures.
Therefore, this book describes an adaptive diagnosis method based on decision
trees (DT). The number of syndromes required for diagnosis can be significantly
reduced compared to the number of syndromes used for system training.
Furthermore, an incremental version of DTs is used to facilitate online learning, so
as to bridge the knowledge obtained at test-design stage with the knowledge gained
during volume production.
This book also includes an evaluation and enhancement framework based on
information theory for guiding diagnosis systems using syndrome and root-cause
analysis. Syndrome analysis based on subset selection provides a representative set
of syndromes. Root-cause analysis measures the discriminative ability of differ-
entiating a given root cause from others. The metrics obtained from the proposed
framework can provide guidelines for test redesign to enhance diagnosis. In addi-
tion, traditional diagnosis systems fail to provide appropriate repair suggestions
when the diagnostic logs are fragmented and some syndromes are not available.
The feature of handling missing syndromes based on imputation methods has
therefore been added to the diagnosis system.
Finally, to tackle the bottleneck of data acquisition during the initial product
ramp-up phase, a knowledge-discovery method and a knowledge-transfer method
are proposed for enriching the training data set, thus facilitating board-level func-
tional fault diagnosis.
In summary, this book targets the realization of an automated diagnosis system
that offers the benefits of high accuracy, low diagnosis time, self-evaluation,
self-learning, and ability of selective learning from other diagnosis systems.
Although the goal of this work was to advance board-level diagnosis, the core
techniques developed in this book can also be leveraged for electronic systems
beyond the board level.

Santa Clara Fangming Ye

Santa Clara Zhaobo Zhang
Durham Krishnendu Chakrabarty
Santa Clara Xinli Gu
Acknowledgments

The authors acknowledge the support received from Huawei Technologies. The
authors also appreciate the contribution of Shi Jin to the work on handling missing
syndromes, described in Chap. 6.

ix
Contents

1 Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
1.1 Introduction to Manufacturing Test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
1.1.1 System and Tests . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
1.1.2 Testing in the Manufacturing Line . . . . . . . . . . . . . . . . 3
1.2 Introduction to Board-Level Diagnosis . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
1.2.1 Review of State-of-the-Art . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
1.2.2 Automation in Diagnosis System . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
1.2.3 New Directions Enabled by Machine Learning . . . . . . . . 13
1.2.4 Challenges and Opportunities . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15
1.3 Outline of Book . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
2 Diagnosis Using Support Vector Machines (SVM) . . . . . . . . . . . . 23
2.1 Background and Chapter Highlights . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
2.2 Diagnosis Using Support Vector Machines . . . . . . . . . . . . . . . 25
2.2.1 Support Vector Machines . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
2.2.2 SVM Diagnosis Flow . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
2.3 Multi-kernel Support Vector Machines and Incremental
Learning . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
2.3.1 Multi-kernel Support Vector Machines . . . . . . . . . . . . . 29
2.3.2 Incremental Learning . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
2.4 Results . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
2.4.1 Evaluation of MK-SVM-Based Diagnosis System . . . . . 36
2.4.2 Evaluation of Incremental SVM-Based Diagnosis
System . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ...... 37
2.4.3 Evaluation of Incremental MK-SVM-Based
Diagnosis System . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ...... 39
2.5 Chapter Summary . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ...... 41
References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ...... 42

xi
xii Contents

3 Diagnosis Using Multiple Classifiers and Majority-Weighted

Voting (WMV) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
3.1 Background and Chapter Highlights . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
3.2 Artificial Neural Networks (ANN) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
3.2.1 Architecture of ANNs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
3.2.2 Demonstration of ANN-Based Diagnosis System . . . . . . 48
3.3 Comparison Between ANNs and SVMs . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
3.4 Diagnosis Using Weighted-Majority Voting . . . . . . . . . . . . . . . 49
3.4.1 Weighted-Majority Voting . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
3.4.2 Demonstration of WMV-Based Diagnosis System . . . . . 51
3.5 Results . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
3.5.1 Evaluation of ANNs-Based Diagnosis System . . . . . . . . 52
3.5.2 Evaluation of SVMs-Based Diagnosis System . . . . . . . . 55
3.5.3 Evaluation of WMV-Based Diagnosis System . . . . . . . . 56
3.6 Chapter Summary . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
4 Adaptive Diagnosis Using Decision Trees (DT) . . . . . . . . . . . . . . . 61
4.1 Background and Chapter Highlights . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
4.2 Decision Trees . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
4.2.1 Training of Decision Trees . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
4.2.2 Example of DT-Based Training and Diagnosis . . . . . . . . 65
4.3 Diagnosis Using Incremental Decision Trees . . . . . . . . . . . . . . 67
4.3.1 Incremental Tree Node . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
4.3.2 Addition of a Case . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68
4.3.3 Ensuring the Best Splitting . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 70
4.3.4 Tree Transposition . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
4.4 Diagnosis Flow Based on Incremental Decision Trees . . . . . . . . 72
4.5 Results . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74
4.5.1 Evaluation of DT-Based Diagnosis System . . . . . . . . . . 75
4.5.2 Evaluation of Incremental DT-Based
Diagnosis System . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ........ 77
4.6 Chapter Summary . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ........ 78
References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ........ 78
5 Information-Theoretic Syndrome and Root-Cause Evaluation . . . . 79
5.1 Background and Chapter Highlights . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 80
5.2 Evaluation Methods for Diagnosis Systems . . . . . . . . . . . . . . . 82
5.2.1 Subset Selection for Syndromes Analysis . . . . . . . . . . . 82
5.2.2 Class-Relevance Statistics . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 84
5.3 Evaluation and Enhancement Framework . . . . . . . . . . . . . . . . . 85
5.3.1 Evaluation and Enhancement Procedure . . . . . . . . . . . . 85
5.3.2 An Example of the Proposed Framework . . . . . . . . . . . 86
Contents xiii

5.4 Results . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 87
5.4.1 Demonstration of Syndrome Analysis . . . . . . . . . . . . . . 89
5.4.2 Demonstration of Root-Cause Analysis . . . . . . . . . . . . . 89
5.5 Chapter Summary . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 92
References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 93
6 Handling Missing Syndromes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95
6.1 Background and Chapter Highlights . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95
6.2 Methods to Handle Missing Syndromes . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97
6.2.1 Missing-Syndrome-Tolerant Fault Diagnosis Flow . . . . . 98
6.2.2 Missing-Syndrome-Preprocessing Methods . . . . . . . . . . 98
6.2.3 Feature Selection . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 105
6.3 Results . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 106
6.3.1 Evaluation of Label Imputation . . . . . . . . . . . . . . . . . . 107
6.3.2 Evaluation of Feature Selection in Handling Missing
Syndromes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109
6.3.3 Comparison of Different Missing-Syndrome Handling
Methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 110
6.3.4 Evaluation of Training Time . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114
6.4 Chapter Summary . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 118
References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 118
7 Knowledge Discovery and Knowledge Transfer . . . . . . . . . . . . . . 121
7.1 Background and Chapter Highlights . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 121
7.2 Overview of Knowledge Discovery and
Transfer Framework . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123
7.3 Knowledge-Discovery Method . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 124
7.4 Knowledge-Transfer Method . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 128
7.5 Results . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 133
7.5.1 Evaluation of Knowledge-Discover Method . . . . . . . . . . 138
7.5.2 Evaluation of Knowledge-Transfer Method . . . . . . . . . . 138
7.5.3 Evaluation of Hybrid Method . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139
7.6 Chapter Summary . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 141
References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 142
8 Conclusions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143

Index . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 147
Chapter 1
Introduction

Relentless technology scaling has increased the performance and complexity of

electronic products by orders of magnitude in the past few decades. A complex
system today consists of several chassis, and each of them contains a number of
printed circuit boards (PCBs). A typical board consists of many application-specific
integrated circuits (ASICs) and memory devices. Each ASIC in turn consists of hun-
dreds of inputs/outputs (I/Os), millions of logic gates, and several tens of millions
of bits of embedded memory. Moreover, the operating frequencies of high-speed
ASICs are above 1 GHz, and the data rates of high-speed I/Os are up to 6 Gbps [1, 2].
With increasing complexity and higher speeds, defective-parts-per-million (DPPM)
rates continue to increase and subtle functional failures are becoming increasingly
difficult to detect and diagnose for root-cause identification [3, 4].
In this chapter, we provide motivation for the book and introduce basic concepts
and terminology. Section 1.1 presents an overview of manufacturing tests and diag-
nosis. Section 1.2 discusses the state-of-the-art in board-level diagnosis. Section 1.2.4
presents the challenges of board-level diagnosis and motivation for this book. Finally,
an outline of this book is provided in Sect. 1.3.

1.1 Introduction to Manufacturing Test

1.1.1 System and Tests

This section presents some basic definitions that are used in system test and diagnosis
[5, 6].

• Definition 1. A system S is defined as a heterogeneous collection of cooperating

entities, designed to realize a specified group of functionalities.

© Springer International Publishing Switzerland 2017 1

F. Ye et al., Knowledge-Driven Board-Level Functional Fault Diagnosis,
DOI 10.1007/978-3-319-40210-9_1
2 1 Introduction

Definition 1 is quite general and it can be adopted to cover a set of different types of
systems in different fields of engineering, from digital systems to computer networks,
nuclear facilities, and chemical plants [5, 6].

• Definition 2. A fault f is defined as a source of misbehavior of a system. The

presence of a fault puts the system in a state where the execution of one or more
of its functionalities is different from the expected execution.

In the reliability literature [7], there is a distinction between defects, which corre-
spond to locations of a system instance containing a difference between specification
and implementation, faults, defined as the actual causes of a system misbehavior, and
failures, representing the external observable effects of a fault, producing a deviation
of functionality from specifications.

• Definition 3. Diagnosis refers to the process of determining the causes of system

failure.

In order to describe the diagnosis process, some additional definitions are needed,
covering both the targets of this process (components) and the information required
to be collected to execute diagnosis (tests). These concepts will be introduced later.

• Definition 4. A component c represents a part of system.

Let CS = {c1 , c2 , c3 . . .cn } be the set of all components that constitute system S.
A component containing (at least) one fault is referred to as a root-cause component;
every other component is fault-free.
Definition 4 requires that each component must be identified unambiguously
within the system. An extension of Definition 2 is that a fault can affect only one
component, and two components of a system cannot overlap.
According to the above definitions, a component can correspond to a physical
device in the system (e.g., a memory chip in a digital system). However, this condition
is not strictly required. A component can also refer to a group of physically connected
elements within the system, or even a set of noninterconnected entities contained in
a system (virtual component).

• Definition 5. A subcomponent sc represents a part within a component c

of system S.

Note that the relationship between components and subcomponents is similar to

the relationship between system and components, since it introduces a partition of
the fault set of each component.

• Definition 6. A (diagnostic) test t represents a measurement of a property of system

S, targeting the identification of the syndromes corresponding to the presence of
a fault.

Let TS = {t1 , t2 , t3 . . . tn } denote the set of all tests used for system S, also
referred to as Test Suite. In general, testing a system can be described as the operation
1.1 Introduction to Manufacturing Test 3

of performing a set of tests [5]. In a diagnostic environment, tests are designed

specifically to identify a potential syndrome of a failure, in order to make the defect
observable within the system.

• Definition 7. A syndrome s characterizes the measurement of a test t.

Syndromes can provide detailed information about the output values of a circuit
[8] or system parameters (e.g., the value of a sensor measurement [9]). In some
cases, the information can be compacted in some form in order to keep only its
most significant part, e.g., the correspondence between the observed value of the
parameter and its expected one. When maximally compacted, a test outcome is a
binary variable that takes the value pass or fail.

• Definition 8. A root cause is the faulty component that leads to the failure of
system S.

The isolation of a root cause is achieved on the basis of the syndromes observed
for some or for all tests TS . These syndromes contain the information that can be
used to reveal the cause of misbehavior in system S.
A common assumption adopted in diagnosis is the so-called single fault hypoth-
esis. This assumption is necessary in order to reduce the complexity of considering
an exponential number of fault combinations to describe all possible system failures.
According to this assumption, any instance of a system can contain at most one
root-cause component.

1.1.2 Testing in the Manufacturing Line

Manufacturing test ensures that electronic products have no defects before they are
shipped to customers. Each fabricated product is subject to manufacturing test. The
process of manufacturing test is described as the explanation or interpretation of a set
of failure symptom [10], where a sequence of diagnostic tests is selected efficiently
to locate the root causes of failures. A diagnosis strategy has to tackle the following
fundamental issues [11]:
• Detection, i.e., the capability of a combination of tests to identify the presence of
a fault in a system.
• Isolation, i.e., the capability of a diagnostic strategy to achieve fine-grained local-
ization in order to allow the repair of a single component.
Compared to detection, isolation is a more difficult task in manufacturing test and
it is the main focus of this book. We use the term Diagnosis to refer to root-cause
isolation.
Diagnosis strategies vary across the different stages of system assembly. In order
to better understand the problems and challenges at the board level, let us first examine
chip-level testing. At the chip level, scan test is commonly used. In order to shift test
4 1 Introduction

patterns and response in and out of the chip, respectively, all the flip-flops are stitched
to one or multiple scan chains. Test patterns are generated by automatic test-pattern
generation (ATPG) tools and scanned into the circuit under test (CUT). The response
of the circuit is compared with the expected response. The circuit is deemed to be
fault-free if the test response matches the expected response. This testing process
can be performed on automatic test equipment (ATE).
A modern ATE is a complex equipment operating at GHz frequency and with
high throughput. The test cost on a high-end ATE can be up to thousands of dollars
per pin [6]. Therefore, test-data compression techniques have been widely explored
in the literature, in order to reduce the volume of test patterns and testing time. To
reduce dependence of an expensive ATE, built-in-self-test (BIST) techniques have
also been used [6]. In BIST, pseudo-random patterns are generated on-chip using a
pattern generation circuit, e.g., a linear-feedback shift register (LFSR). The on-chip
pattern generation approach eliminates the need for expensive external testers, and
makes high-speed test possible. However, the reliance on pseudorandom patterns to
achieve adequate fault coverage leads to a large volume of test data, compared to the
use of deterministic patterns generated by ATPG tools.
Chip-level test has been well studied in the past. The testing goal is straightforward
and quantifiable, i.e., to detect a high percentage of defects that are introduced during
manufacturing. The test environment (ATE) is well-understood and a given number
of pins are available for probing. Sophisticated tools and methodologies are available
for inserting effective design-for-testability (DFT) structures and for automatically
generating test patterns to get the desired fault coverage. This book focuses on the
testing and diagnostic problems at higher integration levels. Much less attention has
been devoted in the literature to these problems.
Circuit boards consist of previously tested components. An important objective
of board testing is to verify the printed wiring and the contacts between wires and
components. Moreover, the at-speed interactions between the components must also
be tested. A typical manufacturing test line of electronic systems is shown in Fig. 1.1.
Testing starts on the left-hand side of the figure. On the right-hand side, completely
tested products are placed in inventory or shipped to customers. The testing process
is separated into multiple stages to provide better failure isolation and feedback to
the manufacturing process.

AOI AXI ICT Functional Test Burn-in Test

Fig. 1.1 A typical manufacturing test line for electronic systems

1.1 Introduction to Manufacturing Test 5

Process test, such as automated optical inspection (AOI) and automated X-ray
inspection (AXI), is first applied to immediately catch process flaws, e.g., solder
shorts and unreliable solder joints. In-circuit test (ICT) is used to verify the perfor-
mance of individual components using a bed-of-nails fixture. The bed-of-nails fix-
ture is used to gain access to the board. ICT is useful to guarantee that a component
receives the correct value, since many board failures are caused by open/short circuits
or wrong components. Functional test, which targets the functional correctness of
components and the whole system, is typically run after process tests. Sometimes,
system test is performed as the final test, which is also a type of functional test. Each
test technique has its advantages. For example, the solder reliability can be easily
checked by AXI. The reversed or inoperative components can be detected by ICT.
No single test can, however, cover all possible defects.
With the development of high-density assembly on PCBs, the number of access
points for in-circuit test keeps decreasing. An interconnection test method, namely
boundary-scan test, has been widely adopted by manufacturers. The boundary-
scan architecture is defined in the IEEE 1149.1 and 1149.6 standards [12, 13] to
ensure connectivity between components. Simple boards and complex multiboard
systems can effectively be tested using the IEEE 1149.6 standard-compliant equip-
ment from the product design phase to mainstream manufacturing. At present, there
is an increased focus in the electronics industry on using the concept of remote
test and diagnosis in order to provide a mechanism that allows continued support
of a product [14]. The boundary-scan test architecture is illustrated in Fig. 1.2. A
boundary-scan cell, which includes a multiplexer and latches, is added to each pin
on the chip. Boundary-scan cells can capture data from pins or core logic signals, and
force data to pins. The test data is serially shifted into the boundary-scan cells. Then,
the captured data is serially shifted out and externally compared with the expected

Shift out

Parallel in Parallel out

Boundary
scan cell

Shift in

Core
Shift DR Shift out Mode
Logic
Parallel in
Capture scan 0 Parallel out
Update hold
0
D Q D Q 1
1

>CLK >CLK

TAP Clock DR Update DR

Boundary‐scan cell

Fig. 1.2 Illustration of the boundary-scan test architecture

6 1 Introduction

responses. Boundary scan allows for full controllability and observability of board
wires and therefore enables a simple interconnect test with a high fault coverage.
Despite the benefits offered by the above techniques, individual component test-
ing and interconnection testing are no longer sufficient to guarantee the quality of
complex circuit boards [15, 16]. It is often the case that all the chips on a board
pass ATE tests, but the board still fails functional test, a scenario referred to as “No
Trouble found” (NTF). The reason for NTF is that the board-level test environment is
different from that at the chip level. At the chip manufacturing sites, chips are tested
in a standalone mode, but additional issues, e.g., signal integrity, power-supply noise,
and crosstalk involving multiple active chips, must be considered in board-level test
[17]. The main objective of functional tests is to detect NTFs and verify the functional
correctness of a board. Functional test plays an important role in capturing defects
that cannot be easily detected by structural test.
Functional tests are indispensable today in system test and diagnosis [1]. Typically,
functional test targets only a subset of all the designed functions, usually the critical
functions identified by designers. Functional test sequences are often derived from
design verification programs, and they are close to the practical scenarios that occur in
the field. With the need for high throughput and efficient manufacturing, sophisticated
functional test platforms based on open industry standards are required by electronics
contract manufacturers and equipment manufacturers.

1.2 Introduction to Board-Level Diagnosis

Fault diagnosis isolates the root cause of a malfunction system by collecting and
analyzing information on system status using measurements, tests, and other infor-
mation sources. It is important at all stages of the product life cycle, but particularly
crucial during manufacture and field maintenance.
The degree of accuracy with which faults can be located is referred to as diagnostic
resolution [8]. Diagnostic success ratio refers to the ratio of the number of correctly
diagnosed cases to the total number of cases under diagnosis. The diagnosis process
can be hierarchically carried out as a top-down process (with a system operating in
the field) or a bottom-up process (during the fabrication of a system). In the top-down
process (system → boards → chips), the first-level diagnosis usually deals with large
units such as boards. The faulty board is then tested to locate the faulty component on
the board. Accurate location of faults inside a faulty chip is important information for
chip manufacturers to improve the fabrication process. In the bottom-up approach
(chips → boards → system), a higher level is assembled only from components
already tested at a lower level. This is done to minimize the cost of diagnosis and
repair, which escalates with the level at which faults are detected.
At the chip level, existing electronic design automation tools are able to perform
accurate and high-resolution diagnosis. The failure mechanism, logic location, and
even physical location of a fault can be determined, according to scan-test patterns
[18]. The board-level diagnosis, in contrast, is much more challenging. There is
1.2 Introduction to Board-Level Diagnosis 7

no effective flow to locate the root cause of a failure during function tests. Once a
failure is detected in the manufacturing line, the failed product is sent to the diagno-
sis department for repair. Typically, technicians run additional functional tests and
measurements based on their personal experience. This process is time-consuming,
and there is no guarantee of the success of repair. In addition, a board has to be
scrapped after a few unsuccessful repair attempts. Current diagnostic software is not
able to accurately and rapidly locate the root cause. Above all, the development of
the diagnostic software is increasingly challenging, as electronic systems become
more complex. Developing a diagnosis software relies heavily on the experience of
debug technicians, which adds to total manufacturing costs.

1.2.1 Review of State-of-the-Art

A number of board-level fault diagnosis techniques have been presented in the

literature [5, 9, 11, 19–25].

1.2.1.1 Rule-Based Methods

Rule-based diagnosis methods take the form “IF syndrome(s), THEN fault(s)” to
locate a fault [19], as shown in Fig. 1.3. Hundreds or thousands of rules may be
required to represent all the relevant knowledge for the system under diagnosis.
Rule-based diagnosis involves the extraction of syndromes from the failure, and
the firing of rules that match the syndromes. This process is repeated iteratively
until the root cause of the failure is found. Rule-based expert systems have been
developed for board repair and maintenance. The primary advantage of this flow is
its simplicity and its ease of implementation for small systems, where rule-based
methods can provide a powerful tool for quickly filtering out least likely hypotheses.
These methods do not require a systematic understanding of the underlying system
architecture or operational principles.
However, rule-based diagnosis systems suffer from a number of disadvantages
that limit their use for complex systems. They do not incorporate adaptive learning

Syndrome 3
Syndrome 1: Root cause A
Syndrome 2: Root cause B
Syndrome 3: Root cause C
Syndrome 4: Root cause D Root cause C

Fig. 1.3 Illustration of rule-based diagnosis methods

8 1 Introduction

from experience and they are unable to deal with unseen scenarios. This is correlated
to the inability to update system knowledge. Furthermore, rule-based methods are
inefficient in dealing with inaccurate information. In hierarchical systems, the lack
of a reference with respect to the system structure makes it very difficult to reuse
diagnosis system developed for similar systems.
Nevertheless, these approaches are important for historical reasons, since they
represent the first attempts to solve diagnostic problems; furthermore, rules are the
most immediate instrument to describe failure symptoms in the form of “IF syn-
drome(s), THEN fault(s)” relationship to produce a systematic description of engi-
neering expertise.
For instance, in [20], the knowledge of the proposed rule-based system is a set
of If-Then rules, connecting different observations of tests to diagnostic conclusions
(fault candidates). The inference is performed by a sequential rule interpreter, which
activates rules according to observations, until a unique diagnostic conclusion is
reached.
In [26], authors reformulated fault diagnosis on the basis of a rule-based inference,
which stores the test information as a matrix. Diagnosis conclusion implies a set of
failures, and a failing test requires at least one diagnosis conclusion to be true.

1.2.1.2 Model-Based Methods

Model-based methods rely on an approximate representation of the system under

diagnosis, as shown in Fig. 1.4. The system model is typically constructed in a hierar-
chical manner; higher level models are based on lower level models. The advantages
of these methods are their robustness, straightforwardness, and ease of use. They
have the potential to solve new problems and their knowledge may be organized in
an expandable, upgradeable, and modular fashion.
However, a system model for complex topology and deep hierarchy is hard to
obtain using model-based methods. In addition, it is difficult to develop efficient
tests for these complex systems [22]. Due to design complexity, knowledge about

Board model

Subsystem model
Power model
Memory
Processor model
model Clock model

Fig. 1.4 Illustration of model-based diagnosis methods

1.2 Introduction to Board-Level Diagnosis 9

the system is typically “spread” over different engineers. Integrating and testing these
diagnosis systems is a time-consuming, tedious, and error-prone process.
Nevertheless, model-based diagnosis systems became popular during the last
decade and they are still being utilized. For instance, [27] presents a comprehen-
sive approach for model-based diagnosis, assuming that the system description is
augmented with system structure.
In [23], Agilent Technologies presented a strategy to automate the debug process
and allow for information sharing early in the design cycle between the hardware
and software designers. Engineering information of a system model is documented
during design time and it can be refined during product manufacturing time.

1.2.1.3 Reasoning-Based Methods

In reasoning-based diagnosis system, the fault isolation process is driven by an infer-

ence engine based on failure-symptoms correlation rules, expressed in the form of
labels, as shown in Fig. 1.5. In particular, reasoning-based systems are a special class
of expert systems that make their decisions based on experience and past situations.
They attempt to acquire relevant knowledge from past cases and previously used
solutions to propose solutions for new problems. This goal is achieved through the
learning of correlation patterns. When a problem is successfully solved, the solution
may be used in dealing with subsequent problems.
For example, in [28], authors proposed two diagnosis techniques based on fault
dictionaries generated using fault signatures in the presence of failures. Here, fault-
dictionary is a kind of reasoning engine. Dictionaries are used to train classifiers
that can infer root causes from syndromes. One diagnosis system is designed as a
fuzzy system to extract a set of if-then rules, while another is a radial-basis function
system. In [29], Pous et al. proposed an approach based on distance metrics to
overcome the limitation of the fault-dictionary approach. Since the faults used for
building the dictionary may be different from the set of faults in the actual system
under diagnosis, previously unrecognized faults may lead to incorrect prediction
in actual diagnosis. Therefore, postprocessing is used to reduce ambiguity in the
dictionary-based diagnosis system; however, the resulting computation may come at
a high cost.

Syndrome 3’

Syndrome 1: Root cause A

Syndrome 2: Root cause B Reasoning Engine
Syndrome
S 3: Root cause C
Syndrome 4: Root cause D
Root cause C

Fig. 1.5 Illustration of reasoning-based diagnosis methods

10 1 Introduction

Machine-learning-enabled reasoning diagnosis systems become prevailing in both

industry and academy in recent decade. However, basic reasoning-based systems
require an application-specific model and a large dataset of previous cases to avoid
incorrect learning. Furthermore, a broad set of different failure manifestations is
necessary to avoid overfitting [30]. From a computational point of view, time ineffi-
ciency may make them unusable in real-time diagnosis scenarios [26]. Details about
machine-learning-enabled reasoning diagnosis systems are discussed in Sect. 1.2.3.

1.2.2 Automation in Diagnosis System

Reasoning-based methods are becoming popular today since detailed system mod-
els are not needed to construct the diagnosis system. Benefits of reasoning-based
diagnosis system include:
• Reduced dependence on expert debug technicians.
• Faster ramp-up during the New Product Introduction (NPI) phase, since reasoning
is available much sooner than the time needed by debug technicians to come up to
speed (see Fig. 1.6).
• Transfer of diagnostic knowledge from engineering to manufacturing.
A reasoning-based diagnosis system is embedded in the manufacturing test line,
as shown in Fig. 1.7. In today’s manufacturing line, functional/system test is typically
performed after products pass process test (AOI/AXI) and structural test (ICT and
boundary scan test), in order to help isolation of the faults that escape structural tests.
Functional test is designed to be close to the practical scenarios that can occur in
the field. The conditions for each test are individually determined and set in order to
mimic the particular practical scenario and not to influence the follow-up tests [32].

100%
Learning curve effectiveness

Original Product Timeline

NPI using High volume

predictive production curve
tools curve using predictive
NPI High volume
and historical
curve production
tools
curve
New Timeline
0%
Time

Fig. 1.6 Illustration of new product ramp-up with and without reasoning-based tools [31]
1.2 Introduction to Board-Level Diagnosis 11

Surface Mount
No
Technology Failed board ?
Inspection (SMT)
Yes
Repair Attempt k = 1

Automated Optical Yes

inspection (AOI) Board
k > kmax ?
Scrapped
k =k+1 No

Automated X-Ray
Automated Diagnosis
Inspection (AXI)
System

In-circuit Test (ICT)

Repair action

No
Functional Test Board repaired ?

Yes

Functioning board
Burn-in Test

Fig. 1.7 Flowchart for automated diagnosis

Once a failure is detected in the manufacturing line or in the field, the failed prod-
uct is sent to the diagnosis department for repair. Typically, technicians run additional
functional tests and measurements based on their personal experience. This process
may take up to several days, and even several weeks if the board remains faulty after
the component is replaced at the repair center [33]. In automated diagnosis system,
test programs are loaded for diagnosing the faulty board. Based on the syndromes
collected from the tests, the automated diagnosis system offers several suspicious
root-cause candidates in a list, with the root cause of the most confidence on the
top of the list. Repair action is executed on the suggested root-cause component. A
repaired board is exercised again using test programs again to check functionality. If
it continues to fail the test program, the faulty board will be taken back to the diag-
nosis system for another iteration of diagnosis. Note that a board has to be scrapped
after a few unsuccessful repair attempts in a high-volume production environment.
Compared to traditional diagnosis procedure executed by technician labors, which is
time-consuming and no guarantee on the success of repair, the automated diagnosis
system is more accurate and can be adaptive to the new knowledge. In addition,
12 1 Introduction

SD587V_MASTERI:Interrupt Occur, SD587v_Masteri_Injt:0X00000028

SD587_srx_int:0x00000002
Interrupt caused by int_set[1]
SD587V_RBI_INT:0x00000020
A packet was received with a framing error in RBI
……
LA0 Engine error status…………….0x1000 0000 00
LA1 Engine error counter…………..0x000f ffff
……
Error Code: Ox26

Fig. 1.8 A segment of the log file for a failed functional test

current diagnostic software is not able to accurately and rapidly locate root causes.
After all, the reasoning-based automatic diagnostic system can facilitate board-level
fault diagnosis and repair, and significantly reduce manufacturing cost.
The extraction of fault syndromes is critical for model training in a diagnosis sys-
tem that targets functional failures. Design-for-Testability (DFT) support is required
for this purpose. Without appropriate DFT support, the diagnosis system cannot
generate meaningful syndromes for board diagnosis. The fault syndromes should
provide a complete description of the failure, and the extracted syndromes for dif-
ferent actions should have sufficient diversity such that ambiguity can be eliminated
in the eventual repair recommendations. Fault syndromes vary across products and
tests. Taking network systems as an example, traffic tests are performed through
route processors, interface modules, and port ASICs to ensure correct functionality
and connectivity. Critical fault syndromes in a failed traffic test often consist of error
counters, drop counters, interrupt bits, mismatch interfaces, ECC/CRC errors, etc.
To extract these fault syndromes, log files are parsed using keywords and syndromes
are extracted using different descriptive-language scripts. For example, a segment
of the log file for a failed traffic test is shown in Fig. 1.8. The fault syndromes
extracted are int_set[1] (interrupt bit), LA0 Engine 0x0000ffff (error counter) and
0x26 (error code). Each of these elements is considered to be one syndrome. Accord-
ing to the syntax of different log files, changes may be needed in parsing scripts.
The repair action is often directly recorded in the database, e.g., “replacement is
component U37”.
The above diagnosis flow requires the availability of a sufficient amount of fail data
that can be used for training. If such data is not available in sufficient quantity, fault-
insertion test (FIT) can be used to extract fail data in an artificial manner [16, 34].
FIT is a promising method for board/system reliability test and diagnosis coverage
measurement. Due to the complexity of today’s boards, random defects can occur,
and unlike systematic defects that occur in a predictable manner and multiple times,
random defects do not contribute in a meaningful way to system training. FIT verifies
error detection by intentionally inserting wrong values at the pin/logic level. FITs can
help mimic design corners and marginality, enrich the training set with rare events,
and facilitate the timely release of a quality diagnosis system, and also provide
feedback on the fault coverage of a complicated system.
1.2 Introduction to Board-Level Diagnosis 13

1.2.3 New Directions Enabled by Machine Learning

Over the past decade, big data techniques (including machine learning, cloud
computing, artificial intelligence, etc.) have been advocated in numerous fields, e.g.,
e-commerce, medicine, and the financial industry. Due to the nature of large volume
production and multi-dimensional data collected in the electronics manufacturing
line, manufacturing and product quality assurance is also an area where big data
techniques can be applied. Fault diagnosis is one of the main machine-learning-
enabled topics, that can contribute to the reduction of manufacturing cost.
In general, two main issues must be addressed when we attempt fault diagnosis
for electronic systems, namely diagnosis accuracy and diagnosis speed.

1.2.3.1 Research on Increasing Diagnosis Accuracy

A significant amount of academic and industrial research has focused on increasing

diagnosis accuracy, since increasing diagnosis accuracy directly improves product
yield. Butcher et al. [35] presented a diagnosis system based on Bayesian networks.
This diagnosis system can be either derived from domain knowledge or learned from
actual tests, which are extracted from debugging and maintenance data. A statistically
significant (large) dataset is required to reflect an appropriate relationship between
faults and test outcomes. However, since different components (with non-uniform
failure rates) are used in different production lines, and equipment used for testing can
vary, training a diagnosis system using these aggregated data may lead to incorrect
learning. Therefore, correction techniques based on conditional probabilities are
used to alleviate data corruption [35]. Similar Bayesian-network-based diagnosis
systems can also be seen in [36, 37]. Since the relationship between root causes and
syndromes is easy to be interpreted in Bayesian-network-based diagnosis systems,
such diagnosis system is useful in many industrial applications [36, 37].
Artificial neural networks (ANNs) have also been used for fault diagnosis in digital
systems. For instance, in [38], the authors built a diagnosing system using multilayer
ANNs for combinational circuits. Training of this diagnosis system is based on a
database of identified potential faults, which are generated by inserting one fault
in the circuit followed by simulation. In [33], Zhang et al. proposed a single-layer
ANN for board-level diagnosis to achieve a significant improvement over previous
ANN-based diagnosis methods. However, the training time becomes prohibitively
long as the system complexity increases.
Support-vector machines (SVM)-based diagnosis systems are also attracting
attention. Zhang [33] and Ye [39, 40] proposed SVM-based diagnosis systems, which
feature higher diagnosis accuracy over the existing Bayesian network and ANN-
based diagnosis systems, because SVM-based diagnosis systems can efficiently avoid
over-fitting and leverage the benefits of using multi-kernel techniques. In addition
to fault diagnosis, Saunders et al. extended the use of SVMs to stock control and
production planning for electronics manufacturing [41].
14 1 Introduction

1.2.3.2 Research on Increasing Diagnosis Speed

Efforts have also been devoted to the analysis and ranking of tests to increase
diagnosis speed [42, 43]. Sun [42] developed a diagnosis agent to facilitate eval-
uation of the quality of diagnosis tests by leveraging information about board struc-
ture and test coverage. This work aims to screen tests with weak diagnosis ability
and increase the diagnosis ability at test-design stage. As a follow-up, Sun [43] also
proposed a syndrome-merging framework with the help of domain knowledge in
order to reduce the number of features in the diagnosis system, therefore increasing
diagnosis speed. In this framework, syndrome evaluation is executed starting from
early-design stage till volume production, such that the test sequence is dynamically
evaluated and optimized from time to time.
Another diagnosis engine based on decision tree (DT) technique has also been
widely studied and adopted [44, 45]. Ye [44] proposed DT-based diagnosis systems
for board-level fault diagnosis. Faulty components are classified according to the
discriminative ability of the syndromes in DT training. The diagnosis procedure is
constructed as a binary tree, with the most discriminative syndrome as the root and
final repair suggestions are available as the leaf nodes of the tree. The syndrome to
be used in the next step is determined based on the observation of syndromes thus
far in the diagnosis procedure. The number of syndromes required for diagnosis can
be significantly reduced compared to the total number of syndromes used for system
training. Moreover, in [45], online learning is facilitated in the proposed diagnosis
system using an incremental version of DTs, so as to bridge the knowledge obtained
at test-design stage with the knowledge gained during volume production.

1.2.3.3 Other Relevant Research

Work has also been carried out on model-update (i.e., refinement) solutions for
reasoning-based diagnosis engines. An evaluation framework based on minimum-
redundancy-maximum-relevance (mRMR) has been used to identify a set of syn-
dromes with high discriminative ability [46–48]. However, it provides no diagnosis
ability and requires additional algorithms for diagnosis. Bolchini et al. proposed
Components-Tests Matrix (CTM) to evaluate the relationship between root causes
and syndromes, such that the number of tests can be reduced for diagnosis [49].
Moreover, depending on the complexity of the product, it usually takes several
months to accumulate an adequate database for training a reasoning-based diagnosis
system. During the initial product ramp-up phase, reasoning-based diagnosis is not
feasible for yield learning, since the required database is not available due to lack of
volume. In [50], researchers proposed a knowledge-sharing mechanism to increase
diagnosis accuracy in early-stage production.
More machine-learning-enabled diagnosis systems can be found in the literature
[19, 21, 38, 40, 51–53].
1.2 Introduction to Board-Level Diagnosis 15

1.2.4 Challenges and Opportunities

Printed circuit boards (PCBs) and electronic systems are found in a wide range of
applications, e.g., vehicles, medical equipment, data centers, and network commu-
nications. With an increase in system complexity, the need for automated effective
diagnostic tools has become more acute. This is driven by economic scaling of test,
limited board test access, reduced time-to-market, shorter life cycles of products, and
environmental requirements. We describe some of these issues in more detail below.

1.2.4.1 Cost of Manufacturing Test

With advances in process technology, the fabrication cost per transistor continues
to decrease, but the testing cost per transistor remains the same or even increases
slightly. According to the International Technology Roadmap for Semiconductors
(ITRS) published in 2013 [54], the costs associated with testing and diagnosis is one
of the highest contributors to manufacturing cost.
The cost of different levels of testing is often estimated using the rule of ten, as
shown in Table 1.1 [55]. The table shows that if it costs $1 to test an ASIC, the cost
of locating the same defective ASIC when it is mounted on a board is about $10;
when the defective board is plugged into a system, the cost of identifying the faulty
board and repairing the system is $100. If the defective system is delivered to end
users, the cost of recall and repair will go up to $1,000. In 2007, the hardware failure
on the Xbox 360, the Red Ring of Death, cost Microsoft more than $1 Billion [56].
In 2008, Amazon lost $31,000/min within 5 h of service outage [57]. Therefore, it
is necessary to diagnose failures at an early stage of assembly and provide practical
diagnostic tools to reduce diagnosis and repair cost.

1.2.4.2 Reduction of Yield Loss

The first-pass rate on current production lines is a matter of concern. For some
complex telecommunication boards, only 60–70 % boards pass functional tests the
first time [33]. The number of failed boards waiting for diagnosis accumulates rapidly,
especially in high-volume production. Circuit boards have to be scrapped, if failures
are still detected after a few times of repair. This is a significant impediment to profit,
since a complex telecommunication board costs up to thousands of dollars [58].
Therefore, efficient and accurate diagnosis methods are urgently needed.

Table 1.1 Rule of ten in test economics [55]

Testing ASIC testing Board testing System testing Out in field
Cost of test 1 10 100 1000
16 1 Introduction

1.2.4.3 Accelerated Diagnosis

In an increasingly competitive marketplace, time-to-market is critical for the success

of a company. This is another driver for the use of automated test and diagnostic
tools. Isolating the root cause of board-level functional failures usually requires an
expert, with engineering skills in both hardware and software. First, depending on
the complexity of the product, it can take several months (even years) to develop this
level of expertise. During initial product ramp-up, this expertise is especially needed
but often unavailable, hence diagnosis preparation time is often very long [31]. Next,
isolating the root cause itself takes long time, since debug technicians need to analyze
the diagnosis log manually to identify the suspicious component. As the production
volume increases and corresponding failing product volume increases, the diagnosis
time inevitably increase dramatically. Therefore, an automated diagnosis engine is
much needed for reducing the diagnosis time.
As discussed earlier in this chapter, a common scenario in industry is that of
NTF. To address this problem, a diagnostic method is desired that can not only
locate the faulty component on a malfunctioning board, but it can also narrow down
the defective area inside the faulty component. The detailed failure information,
e.g., failed test, failed submodules, failing cycles, is very important for component
suppliers to troubleshoot and debug their manufacturing problems.

1.2.4.4 Accommodate New Assembly Technology

Environmental concerns, legislation, and market requirements are leading to increas-

ing use of lead-free assembly technology in the electronics industry [59]. In 2006, the
European Union Waste Electrical and Electronic Equipment Directive and Restric-
tion of Hazardous Substances Directive (RoHS) came into effect to prohibit the
intentional addition of lead to consumer electronics produced in the European Union.
Quality and inspection of lead-free processes are emerging challenges in manufactur-
ing test. The new assembly methods result in less access to boards for testing, debug
and diagnosis. Changing package geometries are reducing the fault coverage that can
be obtained using human visual inspection techniques. Some process imperfection
and incorrect passive components may escape AXI, AOI, and ICT test. Detection
and diagnosis of such faults have become new requirements in the functional test
stage.

1.2.4.5 Expand Industry Adoption and Use

Another motivation for this line of research is that current application of automated
board-level diagnostic tools is limited. Fault diagnosis has been an active area of
recent research and development, but it still faces challenges related to accuracy,
resolution, and large data requirements. Over the past decades, automating fault
diagnosis using artificial intelligence (AI) techniques has been a major research
1.2 Introduction to Board-Level Diagnosis 17

topic. There has been much progress, but industry acceptance, particularly in cost-
sensitive segments, has not been high. The techniques described in this book are
expected to lead to generic and automated solutions for board-level fault diagnosis,
which will provide quantifiable improvements over brute-force methods, trial-and-
error manual repair, and previous proposed techniques based on expert systems. It is
expected that the proposed automated solutions can be implemented and deployed
in industrial manufacturing lines and debug departments.

1.3 Outline of Book

The remainder of this book is organized as follows.

Chapter 2 presents a fine-grained and adaptive diagnosis system for high-volume
products. The proposed diagnosis system is based on multikernel support-vector
machines (MK-SVMs) and incremental learning. The MK-SVM method leverages
a linear combination of single kernels to achieve accurate faulty component clas-
sification based on the errors observed. The MK-SVMs thus generated can also be
updated based on incremental learning, which allows the diagnosis system to quickly
adapt to new error observations and provide even more accurate fault diagnosis.
Chapter 3 first reviews the use of artificial neural networks (ANNs). A data fusion
technique is presented, namely majority-weight voting (MWV), to leverage multiple
classifiers in our diagnosis system. The proposed MWV takes advantage of both
ANNs and SVMs to provide an optimal repair-suggestion set.
Chapter 4 presents a decision tree-based diagnosis system to accelerate the diag-
nosis process. Considering that a large number of syndromes must be used in learning
techniques to ensure diagnosis accuracy and effective board repair, the diagnosis cost
can be prohibitively high due to the increase in diagnosis time and the complexity of
syndrome collection/analysis. In the proposed adaptive decision tree-based diagnosis
method, faulty components are classified according to the discriminative ability of
the syndromes in DT training. The diagnosis procedure is constructed as a binary
tree, with the most discriminative syndrome as root and final repair suggestions are
available as the leaf nodes of the tree. The syndrome to be collected in the next
step is determined based on the observations of syndromes collected thus far in the
diagnosis procedure. The number of syndromes required for diagnosis can also be
significantly reduced compared to the number of syndromes used for system training.
Furthermore, an incremental version of DTs is used to facilitate online learning, so
as to bridge the knowledge obtained at test-design stage with the knowledge gained
during volume production.
Chapter 5 presents an informative evaluation and enhancement framework for
a diagnosis system. Learning in a diagnosis system requires a rich set of test items
(syndromes) and a sizable database of faulty boards. An insufficient number of failed
boards, ambiguous root-cause identification, and redundant or irrelevant syndromes
can render the diagnosis system ineffective. The proposed evaluation and enhance-
ment framework is based on information-theoretic concepts for guiding diagnosis
18 1 Introduction

systems using syndrome and root-cause analysis. Syndrome analysis based on subset
selection provides a representative set of syndromes with minimum redundancy and
maximum relevance. Root-cause analysis measures the discriminative ability of dif-
ferentiating a given root cause from others. The metrics obtained from the proposed
framework can also provide guidelines for test redesign to enhance diagnosis.
Chapter 6 describes the design of preprocessing step in a diagnosis system to
handle missing syndromes. Traditional diagnosis systems fail to provide appropriate
repair suggestions when the diagnostic logs are fragmented and some error outcomes,
or syndromes, are not available during diagnosis. Missing syndromes can be han-
dled by using imputation methods. Several imputation methods are discussed and
compared in terms of their efficiency in handling missing syndromes.
Chapter 7 presents a knowledge-discovery and a knowledge-transfer method for
enhancing reasoning-based board-level functional fault diagnosis. Depending on the
complexity of the product, it usually takes several months to accumulate an ade-
quate database for training a reasoning-based diagnosis system. During the initial
product ramp-up phase, reasoning-based diagnosis is not feasible for yield learning,
since the required database is not available due to lack of volume. The proposed
knowledge-discovery method and knowledge-transfer method can be used to facil-
itate board-level functional fault diagnosis. First, an analysis technique based on
machine learning is used to discover knowledge from syndromes, which can be used
for training a diagnosis engine. Second, knowledge from diagnosis engines used
for earlier-generation products can be automatically transferred through root-cause
mapping and syndrome mapping based on keywords and board-structure similarities.
Finally, Chap. 8 summarizes the contributions of the book.

References

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homme pour demander le pardon de Clayton et sa remise en jugement. Le
gouverneur lui pardonna mais la cour suprême ne pouvait qu’annuler ce
pardon, elle l’annula, et l’infortuné Clayton fut pendu hier. La ville tout
entière est drapée de noir; on peut en dire autant de l’Etat, lui aussi.
L’Amérique entière fait chorus pour écraser de son mépris la justice
française et le méchant «petit soldat» qui, en l’instituant, affligea de cette
déplorable invention les autres nations chrétiennes.
 NOS DIPLOMATES
Vienne, le 5 janvier.—Je lis dans les journaux de ce matin que le
gouvernement des Etats-Unis vient d’allouer à chacun des deux membres
de la commission de la Paix cent mille dollars pour les six semaines qu’ils
ont passées à Paris. J’espère que ce fait est vrai; je me donne la satisfaction
de le considérer comme tel. Cette générosité constitue en effet un précédent
qui sera certainement bien accueilli en Amérique. Un précédent a toujours
sa valeur, surtout lorsqu’il offre la particularité de fixer l’attention d’une
nation tout entière. Lorsqu’un précédent sort victorieux des discussions
provoquées par sa création, il a toutes les chances de devenir un fait
accompli.
Nous constatons, en effet, que l’édifice de la justice publique repose, de
la base au sommet, sur des précédents; mais il n’en est pas de même des
autres détails de notre civilisation. Un précédent peut mourir au berceau ou
survivre; c’est uniquement une question de chance. S’il est immédiatement
imité, on peut dire qu’il a une chance de vivre; s’il est imité deux fois, trois
fois, il attire alors l’attention; quatre fois, cinq fois ou six fois, il a toute
chance de subsister pendant un siècle entier. Lorsqu’une ville lance une
mode, une nouvelle danse, une forme de chapeau, et qu’elle provoque
l’imitation de la ville voisine, on peut dire que ce précédent a le pied à
l’étrier.
De même, lorsqu’un prince couronné introduit un précédent, ce
précédent attire immédiatement l’attention générale, et ses chances de
réussite deviennent presque toujours une certitude.
Depuis longtemps, nous souffrons de l’existence et de la persistance de
deux précédents désastreux; l’un d’eux résulte de la déplorable habitude
que nous avons d’allouer des émoluments dérisoires aux représentants de
notre République à l’étranger; l’autre précédent consiste à les obliger à
paraître officiellement en public dans des tenues qui, non seulement
manquent de grâce et de dignité, mais qui offrent un contraste lugubre,
navrant avec les costumes portés par les représentants des autres puissances.
Actuellement, la tenue officielle d’un ambassadeur américain mérite bien ce
reproche. A toute réception d’une cour européenne, les représentants des
puissances étrangères portent des uniformes qui les distinguent du commun
des mortels et indiquent qu’ils personnifient leur patrie. Notre représentant
au contraire s’exhibe dans une lugubre queue de pie noire qui n’évoque
aucune idée de nationalité. Cette tenue se rencontre dans tous les pays, on
pourrait la désigner sous le nom de «Chemise de nuit internationale»; elle
n’offre aucune signification particulière, mais notre gouvernement prétend
lui en donner une; à son sens, elle est l’emblème de la simplicité, de la
modestie et de la bonhomie républicaines. Mais cette ostentation de
simplicité ne trompe personne. Une statue qui croit faire preuve de
modestie en s’affublant d’une feuille de vigne manque complètement son
effet. Dans une réunion publique notre queue de pie lugubre équivaut à une
déclaration disgracieuse et peu polie d’indépendance. Elle semble vouloir
dire: «A Rome nous nous moquons pas mal des usages de Rome; nous
refusons de respecter votre goût et vos traditions et de faire le moindre
sacrifice à vos coutumes; nous ne tenons nullement à nous plier aux
formalités de la courtoisie, nous préférons notre manière de faire et nous
prétendons l’implanter ici.»
Ceci n’est pas exactement la disposition d’esprit de l’Amérique, mais ces
uniformes nous font du tort: Quand un étranger vient chez nous, choque nos
coutumes et nos habitudes, nous nous déclarons offensés à juste titre; notre
gouvernement ordonne à ses ambassadeurs de porter à l’étranger une tenue
officielle qui offense nos voisins; tout le discrédit de ce fait retombe sur la
nation.
Avant Franklin, nous n’imposions pas à nos fonctionnaires publics une
tenue aussi peu distinguée; ce changement ne serait pas survenu si Franklin
eût été un homme ordinaire. Mais, aux yeux du monde, il personnifiait une
figure si imposante que la moindre de ses actions ou de ses attitudes attirait
l’attention universelle et créait un précédent. A propos des uniformes, le
représentant qui succéda à Franklin et tous les suivants durent imiter leur
illustre prédécesseur. La coutume s’en établit; or, toute coutume est une
pétrification; pour la déloger il faut la dynamite. Nous nous imaginons que
notre bizarre costume officiel doit symboliser notre simplicité républicaine
(qualité que nous n’avons jamais possédée et que nous sommes trop vieux
pour acquérir maintenant), mais nous nous trompons; c’est le précédent créé
par Franklin qui a consacré l’usage naturel et inconscient de ce costume. Au
lieu de donner à nos amiraux et à nos généraux dans toutes les exhibitions
publiques de superbes uniformes chamarrés d’or et de couleurs brillantes, le
gouvernement aurait pu leur imposer la queue de pie avec la cravate
blanche et les faire ressembler à des ambassadeurs ou à des laquais.
Peu importe si je me trompe en attribuant à Franklin la paternité de notre
curieuse tenue officielle; je le crois de taille à supporter ce lourd fardeau.
A mon avis, toutes les fois que nous nommons un ambassadeur ou un
ministre, nous devrions lui conférer temporairement le rang d’amiral ou de
général, et l’autoriser à porter aux réceptions officielles à l’étranger
l’uniforme correspondant.
Je trouve peu compatible avec la dignité des Etats-Unis d’Amérique que
leurs représentants s’exhibent dans des tenues qui les rendent grotesques;
c’est précisément l’effet qu’ils produisent lorsqu’ils apparaissent aux
splendides réceptions des cours continentales dans leur lugubre
accoutrement. Un homme timide, modeste et correct, souffre forcément de
cette situation, car il ne peut se dérober aux regards de la multitude.
J’émets cette critique dans l’intérêt de notre orgueil et notre dignité
nationales. Notre représentant est notre drapeau, il personnifie la
République, les Etats-Unis d’Amérique; et quand nos représentants
viennent à passer nous ne voulons pas qu’ils provoquent la risée publique;
pour cela il faut qu’ils soient convenablement et correctement habillés.
Notre gouvernement est très inconséquent au sujet des tenues officielles.
Quand il a pour représentant un civil qui n’a jamais été soldat, il le
condamne à porter la queue de pie et la cravate blanche; mais si ce civil a
été soldat, il l’autorise à porter l’uniforme du grade qu’il possédait. Quand
le général Sickles était ministre en Espagne, il portait toujours dans les
réceptions officielles le grand uniforme de Major général. Quand le général
Grant visita les cours étrangères, il apparaissait toujours dans son brillant et
élégant uniforme de général, mais il était entouré des personnages
diplomatiques de l’administration présidentielle; ces derniers, par nécessité
officielle, portaient la monotone queue de pie (charmant et ironique
contraste); la première tenue représentait l’honorable dignité de la nation,
l’autre, l’hypocrite tradition de la simplicité républicaine. A Paris, notre
représentant actuel paraît aux réceptions officielles dans une tenue
convenable, car il a été officier au ministère de la Guerre; il en était de
même à Londres; mais actuellement M. Choate représente la grande
république (même aux déjeuners officiels à 7 heures du matin) dans sa
grotesque queue de pie.
 Notre gouvernement a décidément des notions étranges sur l’à-propos
des costumes: généralement dans le monde, la queue de pie ne se porte pas
en plein jour; c’est une tenue du soir, exclusivement du soir, tout autant
qu’une chemise de nuit. Pourtant, quand notre représentant fait une visite
officielle le matin, il doit, par ordre de son gouvernement, porter une tenue
de nuit; les chevaux de fiacre eux-mêmes en étouffent de rire! Voici un
autre argument:—un argument d’affaires—en faveur d’une tenue
diplomatique rationnelle. Nous sommes une nation commerçante et notre
représentant est notre agent d’affaires. S’il se voit respecté, estimé et
apprécié partout où il se trouve, il peut exercer une influence qui étend
notre commerce et augmente notre prospérité. Ses relations sociales
développent beaucoup l’activité de ses affaires, et s’il porte une tenue qui
ne heurte pas les coutumes locales, il assure sans contredit l’extension de
ses affaires. Ce résultat eût été obtenu si Franklin était mort plus tôt.
Nous avons réalisé un grand et estimable progrès en créant le poste
d’ambassadeur; le titulaire de ce haut poste est beaucoup plus influent et
plus considéré qu’un ministre. Pour la dignité de notre patrie et pour son
avantage commercial nous devrions avoir des ambassadeurs et non des
ministres à toutes les grandes cours du monde. Mais pas avec les
appointements actuels. Non, certes, si nous prétendons maintenir ces
appointements, il vaut mieux ne plus créer d’ambassadeurs et supprimer
ceux qui existent. Un représentant à l’étranger doit, pour servir les intérêts
de sa patrie, être en bons termes avec les fonctionnaires de la capitale et, en
général, avec tous les personnages influents. Il faut qu’il se mêle à la société
et qu’il ne reste pas claquemuré chez lui. Il doit assister aux dîners, aux
banquets, aux bals, aux réceptions, mais il lui faut rendre ces politesses
telles qu’ils les a reçues pour la dignité de sa patrie et pour le bien de ses
affaires. Jamais depuis l’époque de Franklin jusqu’à nos jours nous n’avons
eu un ministre ou un ambassadeur capable de le faire avec ses
appointements.
D’autres nations comprennent la nécessité de bien garnir les poches de
leurs représentants, mais notre gouvernement semble ignorer cette
opportunité. L’Angleterre est la plus grande nation commerçante du monde
et elle prend grand soin des gardiens qui veillent au sommet du phare de ses
intérêts commerciaux. Voilà longtemps que nous rougissons de nos
représentants à l’étranger; pourtant nous envoyons des hommes de
distinction, très cultivés, très capables, nous les trions sur le volet, mais
nous paralysons leur influence par l’exiguïté de leurs émoluments. Voici la
liste comparative des soldes des ministres et ambassadeurs anglais et
américains à l’étranger.
Appointements
Villes
|
Américains Anglais
Paris 17.500 dollars 45.000 dollars
Berlin 17.500 — 40.000 —
Vienne 12.000 — 40.000 —
Constantinople 10.000 — 40.000 —
Pétersbourg 17.500 — 39.000 —
Rome 12.000 — 35.000 —
Washington — 32.500 —
Sir Julien Pauncefote, l’ambassadeur anglais à Washington, avait en plus
de ses appointements un très bel hôtel offert gracieusement par la
métropole; les ambassadeurs anglais ne paient jamais de loyer; ils vivent
dans des palais qui sont la possession de l’Angleterre. Nos ambassadeurs
paient leur loyer sur leurs appointements. Vous pouvez vous rendre compte,
d’après ces chiffres, quel genre de maisons peuvent habiter, à l’étranger, les
représentants des Etats-Unis d’Amérique et quelles réceptions ils peuvent y
donner. Il n’y a pas d’appointements sur notre liste qui suffisent à payer le
loyer de nos représentants en leur laissant une marge de 3.000 dollars pour
assurer la consommation de lard et de beignets de leur famille; cet étrange
et économique mets constitue la nourriture habituelle des familles
d’ambassadeurs américains, à l’exception du dimanche, où ils ajoutent des
«pétards» cristallisés de Boston.
Les ambassadeurs et ministres des nations étrangères reçoivent non
seulement de généreux émoluments, mais leur gouvernement les défraie de
tous leurs frais de réceptions. A ma connaissance, notre gouvernement
n’alloue de frais de représentations qu’à la marine.
Pourquoi refuse-t-il à nos diplomates cette possibilité d’étendre notre
crédit à l’étranger? Je me le demande depuis longtemps et je considère cette
lacune comme une inconséquence bien mystérieuse.
 Mais revenons à la question des loyers. Dans les capitales d’Europe, les
maisons bien meublées se paient très cher; aussi nos représentants à
l’étranger sont-ils obligés de vivre dans les greniers, quelquefois même sur
les toits. Comment pourraient-ils rendre les politesses qu’ils reçoivent?
C’est impossible, ils épuiseraient leurs appointements en trois mois.
Pourtant ils doivent recevoir certains personnages influents; et ils le font
de leur mieux avec leurs ressources restreintes. A la place de champagne ils
offrent de la limonade, à la place de gibier du jambon, à la place de baleine,
des sardines; ils remplacent les liqueurs par du lait condensé, et la légion
des laquais pimpants et poudrés par une modeste servante qu’ils louent pour
la circonstance; en guise de décoration dans leur appartement, ils drapent le
poêle avec le drapeau américain, et comme orchestre ils offrent à leurs
invités une cithare et une ballade chantée par un membre de la famille. Ne
croyez pas que ce soit de l’exagération de ma part; j’ai vu le fait se produire
il y a plusieurs années:
Un ministre cherchait à se créer des amis influents pour la réalisation
d’un projet qui devait rapporter dix millions par an aux agriculteurs de la
République; notre gouvernement lui avait fourni du jambon et de la
limonade pour enlever cette grosse affaire; naturellement le ministre
échoua. Si ses appointements eussent été de 50.000 ou de 60.000 dollars par
an, il aurait quintuplé ses chances; en tout cas ni lui, ni ses dîners, ni la
nation qu’il représentait n’auraient été l’objet de l’hilarité publique.
Un courtier habile qui veut faire de bonnes affaires ne s’amuse pas à des
économies de jambon et de limonade; il conduit son client au théâtre, à
l’opéra, au cirque, lui offre à dîner, lui fait boire des vins recherchés, en un
mot il exerce toutes les séductions possibles sur sa nature humaine, car il
sait de longue expérience que c’est le meilleur moyen pour lui d’obtenir une
commande de son client.
De toutes les nations de premier rang, notre pays est le seul qui offre à
ses représentants à l’étranger des appointements dérisoires. Si nous étions
pauvres, j’excuserais, à la rigueur, ces économies; mais ce n’est pas notre
cas. Comme je viens de l’établir, certains de nos plus importants agents
diplomatiques reçoivent des émoluments qui varient de 12.000 à 17.500
dollars. Ces appointements, indignes de notre pavillon, les condamnent au
jambon et à la limonade. Lorsque nous avons un riche ambassadeur à
Londres ou à Paris, il y tient honorablement son rang, mais cela lui coûte
100.000 dollars par an. Comment pouvons-nous admettre qu’il paye de sa
poche cette énorme différence? Je trouve ce fait inconvenant, car la
République ne doit recevoir la charité de personne. Dans bien des cas, nos
appointements de 17.500 dollars devraient être portés à 75.000 ou à
100.000 dollars, étant donné surtout que nous ne payons pas le loyer de nos
représentants. Notre département des affaires étrangères reconnaît cette
erreur; il voudrait la rectifier, mais il n’en a pas le pouvoir.
Quand une jeune fille atteint ses dix-huit ans, on la considère comme une
femme; elle ajoute six pouces à sa robe, déroule les nattes qui lui pendent
dans le dos et relève ses cheveux au sommet de sa tête. Elle cesse de dormir
avec sa plus jeune sœur et possède une chambre particulière, elle devient en
un mot un sujet de grande dépense; elle fait maintenant partie de la société
et il faut que son père s’y résigne.
Eh bien! la grande République vient d’allonger ses robes l’année
dernière, de relever ses cheveux, de démolir ses nattes et d’entrer dans la
société mondiale. Cela signifie que si elle veut prospérer et tenir son rang
dans la société, il lui faut renoncer aux chers préjugés de son enfance et se
comporter comme une grande personne.
Si notre gouvernement a réellement payé ses représentants au comité de
la paix à Paris cent mille dollars pour six semaines de travail, j’estime que
cette générosité est un des meilleurs placements faits par la nation depuis
bien des années. Il me semble impossible, en effet, qu’après ce précédent
créé dans son budget notre gouvernement ose maintenir ses appointements
diplomatiques actuellement si piteux.
P. S. Vienne, le 10 janvier.—Je vois dans les télégrammes de ce matin
que je ne suis pas désigné comme le nouvel ambassadeur à Vienne. J’en
demeure plutôt surpris et ne sais que dire. Au fond peu m’importe! J’en suis
quand même très étonné.
Depuis des mois j’ai usé toute mon influence à Washington pour que ce
siège diplomatique soit transformé en ambassade avec l’espoir que...—mais
peu m’importe, n’y pensons plus. Cela n’a pas d’importance, je le dis avec
calme, car je suis calme de tempérament; d’ailleurs, cette question, ne m’a
jamais intéressé particulièrement. Je n’ai jamais songé sérieusement à ce
poste, bien que cette idée me soit venue voilà plusieurs mois.
Maintenant que je me sens calme, je puis affirmer ceci: aussi longtemps
que je posséderai en moi l’amour de l’honneur et de la dignité de ma patrie,
je n’accepterai jamais un poste d’ambassadeur qui me laisserait en déficit
de 75.000 dollars par an. Une nation qui ne peut entretenir ses
ambassadeurs est indigne d’avoir des ambassadeurs.
Quel grotesque, inconvenant et risible spectacle qu’un ambassadeur
américain affublé de 17.500 dollars! Ce spectacle évoque l’idée d’un
billionnaire dans un col de papier, d’un roi dans des culottes de pauvre, d’un
archange avec une auréole de fer-blanc.
Et pour comble d’hypocrisie ces appointements dérisoires marchent de
pair avec la tenue officielle des ambassadeurs. Emblèmes arrogants de cette
simplicité républicaine qui se manifeste chez nous sous forme
d’appointements de 50.000 dollars alloués aux présidents des compagnies
d’assurances et de chemin de fer, et sous forme de palais dont le décor et
l’ameublement dépassent en splendeur et en richesse le luxe des palais des
têtes couronnées d’Europe; c’est toujours cette simplicité républicaine qui a
inventé et exporté vers l’ancien continent les palais démontables, les
sleeping-cars les tramways électriques, les meilleures bicyclettes, les
meilleurs autos, les calorifères à vapeur, les meilleurs systèmes de sonnettes
électriques, tous les perfectionnements du téléphone, les ascenseurs, les
installations de bains les plus sybarites (avec eau chaude et eau froide
toujours sous pression), le palace hôtel, avec son confort et son luxe
éblouissants, le.....—Oh! la liste en est interminable! En un mot, c’est cette
simplicité républicaine qui, au point de vue du luxe et du confort de la vie, a
trouvé l’Europe primitive vêtue d’une simple et modeste chemise et qui
s’est empressée de la draper de la tête aux pieds dans un sybaritisme
complet.
Nous sommes le peuple le plus prodigue, le plus fastueux et le plus
sensible au bien-être; et au sommet de notre mât nous faisons flotter un vrai
et honnête symbole, le pavillon le plus éclatant que le monde ait jamais vu.
Oh! simplicité républicaine, le monde est plein de bluff et de charlatanisme,
mais rien ne t’oblige à te découvrir devant ces imposteurs.
 EN VOYAGEANT AVEC UN
RÉFORMATEUR
Le printemps dernier, j’allai à Chicago pour y visiter la foire.
A New-York, je fis la connaissance d’un major de l’armée régulière, qui,
lui aussi, allait à la foire; nous décidâmes de faire route ensemble. J’avais
d’abord à m’arrêter à Boston: il me dit que cela ne le dérangeait en rien. Ce
major était un très bel homme; bâti comme un gladiateur, il avait cependant
des manières charmantes et s’exprimait avec douceur et persuasion. Très
sociable, il paraissait extrêmement placide et inaccessible à la gaieté. Il
s’intéressait à tout ce qui se passait autour de lui, mais sa sérénité était
imperturbable, rien ne le troublait, rien ne l’excitait.
Avant la fin de notre première journée de voyage, je découvris cependant
en lui une profonde passion: celle de réformer tous les petits abus publics. Il
avait la marotte du droit de cité. D’après lui, tout citoyen de la république
doit se considérer comme un policeman officieux, et veiller bénévolement,
sans aucune rétribution, à l’exécution des lois. Il pensait que le seul moyen
effectif de conserver et de protéger les droits publics est que chaque citoyen
contribue à empêcher ou à punir toute infraction aux lois dès qu’il en a
connaissance. Cette théorie était bonne, mais, à mon humble avis, son
application devait donner bien de l’ennui à ses partisans; on aurait fort à
faire s’il fallait renvoyer les petits employés toutes les fois qu’on les prend
en faute; en tout cas, on s’exposerait à se faire moquer de soi. Il m’affirma
le contraire, disant que je ne comprenais pas son idée: il ne s’agissait de
renvoyer personne, en cela j’étais dans l’erreur; mais de réformer les
individus en les rendant plus aptes aux emplois qu’ils occupent.
—S’agit-il alors, demandai-je, de dénoncer les coupables en priant leurs
chefs de ne pas les renvoyer, mais de les réprimander vertement?
—Non, ce n’est pas mon idée; il ne faudrait nullement les dénoncer, car
vous risquez de leur faire perdre leurs moyens d’existence; mais vous feriez
semblant de les dénoncer. Je n’aime jamais employer la force, car la force
constitue un mauvais procédé; la diplomatie vaut mille fois mieux quand un
homme a du tact et qu’il sait s’en servir.
 Depuis deux minutes nous attendions devant un guichet du télégraphe, et
le major s’évertuait en vain d’attirer l’attention d’un des jeunes employés
qui plaisantait avec ses voisins. Le major prit alors la parole et demanda à
l’un d’eux de recevoir son télégramme. Un employé lui répondit sur un ton
dégagé:
—Il me semble que vous pourriez bien attendre une minute, n’est-ce
pas?
Et les plaisanteries continuèrent de plus belle.
Le major répondit qu’il n’était pas pressé et qu’il attendrait, puis il
rédigea le nouveau télégramme suivant:
«Président de l’Union Télégraphique; venez dîner avec moi ce soir, je
vous édifierai sur ce qui se passe dans un de vos bureaux.»
Au moment où le jeune employé saisit le télégramme, il pâlit
brusquement et commença à faire des excuses, déclarant qu’il perdrait sa
place si ce télégramme arrivait à destination. Il promit au major de ne plus
jamais recommencer, s’il consentait à lui pardonner.
Le compromis fut accepté.
En sortant du bureau, le major me dit:
—Tenez, voilà de la diplomatie. Vous voyez qu’elle a produit son effet.
Presque toujours les gens s’emportent et tempêtent, mais cela n’avance à
rien. Croyez-moi, la douceur et la diplomatie sont les meilleurs procédés.
—Oui, j’en conviens, mais tout le monde ne peut pas en faire autant, car
tout le monde ne connaît pas le président de l’Union Télégraphique.
—Vous ne saisissez pas; je ne connais pas le président, je ne me sers de
lui que diplomatiquement pour le bien et l’intérêt publics; il n’y a pas de
mal à cela.
—Mais, hasardai-je, il n’est jamais très louable de dire un mensonge.
Sans prendre garde à ma délicate et timide suggestion, il me répondit
avec son imperturbable gravité:
—Si, pourtant, quelquefois. Un mensonge qui a pour objet de faire du
tort à quelqu’un et de profiter à son auteur est blâmable; mais lorsqu’il a
pour but de venir en aide à quelqu’un, ou qu’il vise l’intérêt public, dame!
c’est tout différent. Peu importe la méthode, vous voyez le résultat. Ce
jeune homme se conduira mieux à l’avenir; il avait une bonne physionomie
et méritait qu’on l’épargnât, sinon pour lui-même, du moins pour sa mère.
Naturellement il a une mère et des sœurs. Maudits soient ceux qui
l’oublient. Tel que vous me voyez, je ne me suis jamais battu en duel et
pourtant, comme tout le monde, j’ai été provoqué. Je voyais toujours entre
moi et mon ennemi l’image de sa femme et de ses petits enfants
irresponsables; eux ne m’avaient rien fait, je ne me sentais pas le courage
de leur briser le cœur.
Pendant le cours de cette journée, il continua à réprimer plusieurs abus,
toujours sans violence, avec une fine et courtoise diplomatie; il paraissait si
heureux et si satisfait du résultat de ses manœuvres que vraiment, pour ma
part, je lui enviais son habileté.
Ce même soir, nous regagnions la ville, dans un tramway à chevaux,
lorsque trois individus débraillés et tapageurs montèrent dans la voiture et
se mirent à débiter de grossières plaisanteries en présence des voyageurs
composés surtout de femmes et d’enfants. Personne ne cherchait à les
arrêter.
Le conducteur essaya de les calmer avec quelques paroles persuasives,
mais les drôles l’injurièrent et se moquèrent de lui. A ce moment, je
compris que le major préparait une de ces interventions diplomatiques à lui
familières; je sentais que sa première observation diplomatique allait le
couvrir de ridicule, mais avant que j’aie pu lui glisser un mot à l’oreille
pour l’arrêter, il dit au conducteur avec son calme imperturbable:
—Conducteur, expulsez-moi ces «pourceaux»; je vais vous aider.
Je ne m’attendais certes pas à cela. En un clin d’œil les trois voyous se
précipitèrent sur lui, mais ils reçurent une volée de coups de poing dignes
du plus bel assaut de boxe; ils tombèrent comme des masses et ne purent se
relever. Le major les tira hors de la voiture et nous continuâmes notre route.
J’étais étonné de voir un homme si doux agir avec une telle énergie et
obtenir un résultat aussi complet; la tournure rapide et expéditive de cet
incident ne manquait pas de me surprendre; mon compagnon m’avait
tellement parlé de douce persuasion et d’habile diplomatie que j’étais bien
tenté d’attirer son attention sur ce dernier incident et de lui décocher
quelques pointes ironiques; mais lorsque je le regardai, je compris que ma
tentative serait déplacée et qu’il ne la comprendrait certes pas. Car il ne
s’était pas départi un seul instant de sa placidité. Lorsque nous quittâmes le
tramway je hasardai:
 —Voilà un bon coup de diplomatie, voire même trois bons coups de
diplomatie.
—Vous vous trompez, ce n’était pas de la diplomatie, c’était de la force.
—Maintenant que vous vous expliquez, je crois que vous avez peut-être
raison.
—Raison! naturellement. J’ai bien employé la force.
—Cela m’en a tout l’air. Avez-vous l’habitude de réformer les gens par
ce procédé?
—Oh! non; cela ne m’arrive presque jamais. A peine deux fois par an.
—Croyez-vous que ces trois hommes se rétablissent?
—Naturellement, ils ne courent aucun danger. Je sais où et comment
frapper. Vous avez remarqué que je ne les frappais pas sous la mâchoire; là,
j’aurais pu les tuer.
J’avais remarqué en tout cas que d’un doux agneau il était devenu un
bélier batailleur; mais, avec sa franche simplicité il protesta, déclarant
qu’un bélier ne lui ressemblait en rien. Cette fois, j’étais exaspéré et j’avais
très envie de lui dire qu’il manquait totalement de jugement; je retins ma
langue, pensant que rien ne me pressait de lui exprimer ma façon de penser,
et qu’une autre fois je pourrais tout aussi bien la lui dire par téléphone.
Nous partîmes pour Boston le jour suivant. Comme le salon-fumoir était
plein de voyageurs, mon compagnon se rendit dans le compartiment réservé
aux fumeurs. Un vieil homme, à l’air humble, d’une pâleur maladive et qui
ressemblait à un fermier, était assis en face de nous; il maintenait la porte
ouverte avec son pied pour avoir plus d’air. Au même instant l’homme
préposé au frein, un individu gros et fort, entra brusquement dans le wagon;
lorsqu’il arriva devant la porte ouverte il s’arrêta, lança des yeux furieux au
vieux fermier et claqua la porte avec une telle violence qu’il faillit arracher
le soulier du vieux bonhomme, puis il retourna à ses affaires. Plusieurs
voyageurs se mirent à rire, mais le vieux fermier paraissait honteux et
déconfit. Peu après le conducteur vint à passer. Le major l’arrêta et lui
demanda avec sa courtoisie habituelle:
—Conducteur, à qui doit-on se plaindre des mauvais procédés d’un
préposé au frein, est-ce à vous?
—Vous pouvez vous plaindre à Newhaven, si vous le désirez; qu’a-t-il
donc fait?
 Le major lui raconta l’histoire. Le conducteur parut s’en amuser et lui
répondit avec une pointe d’ironie:
—D’après ce que je vois, l’homme du frein n’a pas prononcé une parole.
—Non, il n’a rien dit.
—Mais d’après vous il a menacé le voyageur?
—Oui.
—Et il a claqué grossièrement la porte?
—Parfaitement.
—Voilà tout?
—Oui, c’est tout.
Le conducteur sourit et ajouta:
—Si vous tenez absolument à le dénoncer, libre à vous, mais je ne vois
pas bien ce qui en résultera. Vous direz sans doute que le préposé au frein a
insulté ce voyageur? On vous demandera ce qu’il a dit. Vous répondrez
qu’il n’a rien dit; on vous demandera alors, j’en suis sûr, où vous voyez une
insulte lorsque vous reconnaissez vous-même qu’aucune parole n’a été
prononcés.
Un bruit d’applaudissements salua le raisonnement serré du conducteur
qui en éprouva un certain plaisir. Sans se troubler le major reprit:
—Vous venez précisément de toucher du doigt un défaut criant du
système des réclamations. Les employés du chemin de fer, comme
d’ailleurs le public et vous-même semblez le croire, n’ont pas l’air de savoir
qu’il existe d’autres insultes que celles proférées; ainsi, personne ne va à
votre direction se plaindre des insultes de manières, de gestes, de regards,
etc., et pourtant parfois ces insultes sont plus graves que celles constituées
par des paroles. Il me semble que votre administration devrait prier avec
instance le public de lui dénoncer les affronts et les impolitesses non
exprimés.
Le conducteur se mit rire et dit:
—Tout cela n’arrangerait guère les choses.
—C’est possible. Je rapporterai le fait à Newhaven, et je suis persuadé
qu’on m’en saura gré.
Le visage du conducteur se rembrunit. Je dis à mon compagnon:
 —Voyons, vous n’allez pas faire des embarras pour cette mesquine
histoire?
—Je ne la considère pas comme mesquine. On devrait toujours dénoncer
de pareils faits; c’est un devoir public et aucun citoyen n’a le droit de s’y
soustraire, mais je n’aurai pas besoin de rapporter cet incident.
—Pourquoi?
—Ce sera inutile, la diplomatie arrangera tout, vous verrez.
A ce moment le conducteur repassa et quand il vint près du major il se
pencha vers lui, en disant:
—Vous n’aurez pas besoin de le dénoncer; je le considère comme
répréhensible, et s’il recommence je le réprimanderai sévèrement.
Le major répondit cordialement.
—Eh bien! c’est tout ce que je voulais. Vous ne supposerez pas que j’aie
été animé d’un sentiment de vengeance; j’ai agi uniquement par devoir.
Mon beau-frère est un des directeurs de la ligne; lorsqu’il saura que vous
êtes décidé à réprimander votre préposé au frein la prochaine fois qu’il
insultera brutalement un vieillard inoffensif, il en sera très satisfait, croyez-
moi bien.
Le conducteur ne parut pas aussi joyeux qu’on aurait pu le supposer;
l’air soucieux et mal à l’aise il se retira de quelques pas et dit:
—Je pense plutôt qu’il faudrait dès maintenant agir, je vais renvoyer ce
préposé au frein.
—Le renvoyer! quel avantage y verriez-vous? ne croyez-vous pas qu’il
serait plus sage de faire son éducation et de le garder.
—Vous avez peut-être raison, que me conseillez-vous alors?
—Il a insulté le vieux voyageur en présence de tous les autres, pourquoi
ne pas le faire venir et l’obliger à des excuses publiques?
—Entendu, je vais le faire venir et lui dirai ceci: «Si au lieu de rester
muets sur votre conduite, les voyageurs étaient venus se plaindre à moi,
vous auriez bientôt à vous en repentir.»
Le préposé au frein vint et fit des excuses. Après son départ, le major fit
la réflexion suivante:
—Eh! bien, vous voyez comme c’est simple et facile. Un citoyen
ordinaire n’aurait obtenu aucun résultat; mais le beau-frère d’un directeur
peut arriver à tout ce qu’il veut.
—Mais êtes-vous réellement le beau-frère d’un directeur?
—Naturellement. Je le suis toutes les fois que l’intérêt public l’exige.
J’ai un beau-frère dans tous les coins, partout; cela m’épargne une foule de
désagréments.
—Voilà une parenté bien étendue.
—Oui, j’ai plus de trois cents beaux-frères.
—Pourquoi n’avez-vous pas laissé le conducteur aller de l’avant et
renvoyer l’homme du frein qui le méritait bien?
Le major me répondit avec un soupçon d’impatience:
—Si vous réfléchissiez un instant, vous ne me poseriez pas de
semblables questions. Prenez-vous donc l’homme du frein pour un chien
pour vouloir le traiter ainsi? N’oubliez pas que c’est un homme et qu’en
tant qu’homme il a à lutter pour la vie. Il a certainement une sœur, une
mère, ou une femme et des enfants à soutenir. Lorsque vous supprimez ses
moyens d’existence, c’est aux siens que vous faites du tort. Eux n’y sont
pour rien, n’est-ce pas? Quel avantage voyez-vous à renvoyer un préposé au
frein insolent, pour en reprendre un autre qui lui ressemblera point pour
point? Trouvez-vous cela sage? Il me paraît beaucoup plus rationnel de
réformer l’homme du frein et de le garder.
Il me cita alors la conduite d’un certain inspecteur divisionnaire du
chemin de fer à l’égard d’un aiguilleur qui, après deux ans de service,
commit une négligence, fit dérailler un train et causa la mort de plusieurs
personnes. Les citoyens vinrent avec passion réclamer le renvoi de
l’aiguilleur, mais l’inspecteur leur répondit:
—Non, vous avez tort, il vient de recevoir une dure leçon et il ne fera
plus dérailler de trains. A mes yeux il est deux fois plus capable
qu’auparavant; je le garde.
Nous eûmes encore une aventure pendant notre voyage entre Hartford et
Springfield. Un garçon de service du train entra bruyamment dans notre
compartiment et bouscula maladroitement un voyageur qui somnolait: ce
dernier s’éveilla en tressaillant et se mit en colère; plusieurs de ses amis
partagèrent son indignation et firent chorus avec lui. Ils envoyèrent chercher
le conducteur du train, lui rapportèrent l’incident et déclarèrent qu’ils
exigeaient le renvoi du garçon. Les trois plaignants étaient de riches
marchands de Holyoak et le conducteur avait certainement assez peur
d’eux. Il essaya de les calmer en leur expliquant que ce garçon ne dépendait
pas de lui, mais il n’obtint aucun résultat.
Le major alors intervint pour prendre sa défense:
—Je vois, dit-il, la situation; sans le vouloir, messieurs, vous exagérez la
gravité de l’incident. Ce jeune garçon s’est comporté comme beaucoup
d’étourdis de son âge. Si vous prétendez policer ses manières et réformer
son éducation, je suis tout prêt à vous aider; mais je trouve mal de le faire
renvoyer d’une façon aussi implacable.
Mais ils ne voulurent rien entendre. Ils connaissaient particulièrement,
disaient-ils, le président de la Compagnie et se plaindraient dès le
lendemain à Boston de la conduite de ce garçon. Le major répondit que lui
aussi allait s’occuper de cette affaire et qu’il ferait tout son possible pour
sauver le garçon. Un des voyageurs lui lança un coup d’œil irrité et dit:
—Dans ce cas, nous verrons bien celui qui a le plus d’influence auprès
du président. Connaissez-vous personnellement M. Bliss?
Le major répondit avec componction:
—Je pense bien, c’est mon oncle.
L’effet fut immédiat; après un silence maladroit de deux ou trois
minutes, les voyageurs comprirent qu’ils s’étaient livrés à un ressentiment
exagéré; leur colère s’apaisa et, devenant plus sociables, ils résolurent
d’oublier cet incident pour ne pas faire tort au jeune garçon. Je m’étais bien
attendu à ce résultat: le président de la Compagnie n’était nullement l’oncle
du major, ou plutôt nous l’appellerons son oncle d’adoption pour un seul
jour.
Notre voyage de retour se passa sans incident, probablement parce que
nous prîmes un train de nuit et que nous dormîmes pendant tout le trajet.
Nous quittâmes New-York le samedi soir par la ligne de Pensylvanie.
Après déjeuner, le lendemain matin, nous entrâmes dans le wagon-salon;
nous le trouvâmes sombre et lugubre; à peine quelques voyageurs
l’occupaient-ils. Il nous parut sans la moindre animation.
Nous nous rendîmes alors dans le fumoir qu’occupaient trois voyageurs.
Deux d’entre eux maugréaient contre le règlement de la Compagnie qui
interdisait de jouer aux cartes le dimanche. Ils avaient commencé un jeu
innocent de jacquet et on les avait empêchés de continuer. Le major
intervint et s’adressant au troisième voyageur:
—Avez-vous protesté contre le jeu? lui demanda-t-il.
—Pas le moins du monde; je suis professeur à l’Université de Yale et
quoique religieux pratiquant je n’ai aucun préjugé contre le jeu.
Le major dit aux autres:
—Dans ce cas, messieurs, vous êtes parfaitement libres de continuer à
jouer. Personne ici ne s’y oppose.
L’un d’eux objecta qu’ils courraient un certain risque, mais l’autre
déclara qu’ils joueraient immédiatement si le major voulait bien se joindre à
eux. Ils étendirent une couverture sur leurs genoux et le jeu commença. Sur
ces entrefaites, le conducteur du train arriva et dit avec brusquerie:
—Veuillez cesser, messieurs; mettez de côté vos cartes, ce n’est pas
permis.
Le major continua à battre les cartes et répliqua:
—Par ordre de qui les cartes sont-elles défendues?
—Par mon ordre.
La discussion commença; le major répartit:
—Etes-vous l’inventeur de cette idée?
—Quelle idée?
—L’idée de défendre l’usage des cartes le dimanche?
—Non, naturellement.
—Qui alors?
—La Compagnie.
—Ainsi, somme toute, ce n’est pas sur votre ordre, mais sur celui de la
Compagnie?
—Oui, parfaitement; mais vous continuez à jouer. Je vous prie
d’interrompre votre jeu immédiatement.
—On ne gagne rien à brusquer les choses. Qui a autorisé la Compagnie à
formuler semblable prescription?
—Mon cher monsieur, cela m’importe peu.
—Vous oubliez que vous êtes la seule personne en jeu. Cette
considération est au contraire très importante pour moi. Je ne saurais me
soustraire à une exigence légale de mon pays sans me déshonorer moi-
même; je n’accepterai jamais qu’un homme ou qu’une corporation se
permette d’entraver ma liberté par des règlements illégaux (abus que les
compagnies de chemin de fer ont tendance à propager), car j’entends faire
respecter mon droit de citoyen. J’en reviens donc à ma question: En vertu
de quel droit la Compagnie a-t-elle formulé ce règlement?
—Je n’en sais rien, cela la regarde.
—Cela me regarde aussi; je doute que la Compagnie ait aucun droit de
prendre pareille mesure, car la ligne traverse plusieurs Etats. Savez-vous
dans quel Etat nous nous trouvons en ce moment et quelles sont les lois de
cet Etat à ce sujet?
—Ces lois m’importent peu; je ne connais que les règlements de ma
Compagnie. Mon devoir, messieurs, est d’empêcher de jouer; il vous faut
arrêter votre jeu.
—C’est possible, mais encore une fois rien ne presse. Dans les hôtels on
affiche dans les chambres certains règlements, mais on cite toujours à
l’appui de ces règlements les passages de la loi qui les régit. Je ne vois rien
ici qui soit affiché. Veuillez donc justifier de votre pouvoir et finissons-en,
car vous voyez bien que vous troublez notre jeu.
—J’ai des ordres, je les exécute, cela suffit; on doit m’obéir.
—N’arrivons pas si vite à la conclusion. Il vaut beaucoup mieux
examiner cette question de sang-froid et ne pas nous emballer à la légère,
car le fait d’entraver la liberté d’un citoyen des Etats-Unis constitue une
offense beaucoup plus grave que vous et les Compagnies de chemin de fer
ne semblez le croire; et pour ma part je ne souffrirai une atteinte portée à
ma liberté qu’autant que la restriction de ma liberté paraîtra justifiée. Ainsi
donc...
—Mon cher monsieur, voulez-vous déposer ces cartes?
—Nous verrons tout à l’heure, cela dépendra. Vous dites qu’on doit vous
obéir. Ce mot «doit» est bien sévère! Une compagnie avisée ne devrait pas
vous imposer un règlement aussi drastique sans prononcer une peine contre
toute infraction à ce règlement. Autrement elle risquerait de se faire moquer
d’elle en émettant des prescriptions qui restent lettre-morte. Quelle est la
peine prévue pour une infraction à cette loi?
—Une peine! je n’en ai jamais entendu parler.
 —Sans contredit vous vous trompez. Votre Compagnie vous ordonnerait
d’arrêter un jeu innocent et elle ne vous donnerait aucun moyen de faire
respecter cet ordre! Ne voyez-vous pas que ce serait insensé? Que faites-
vous quand les gens refusent d’obéir à cette injonction? Leur arrachez-vous
les cartes des mains?
—Non.
—Débarquez-vous le délinquant à la prochaine station?
—Non, nous ne le pouvons s’il a un billet.
—Le traduisez-vous devant un tribunal?
Le conducteur restait silencieux et paraissait troublé. Le major continua:
—Vous voyez bien que vous êtes sans recours et que la Compagnie vous
place dans une situation grotesque. Vous formulez un ordre sur un ton
arrogant avec un certain fracas, et lorsqu’il s’agit de le faire exécuter vous
vous apercevez que vous n’avez aucun moyen d’imposer obéissance.
Le conducteur reprit avec dignité:
—Messieurs, je vous ai donné un ordre formel, mon devoir s’arrête là.
Obéissez ou n’obéissez pas, je m’en lave les mains!
Et ce disant, il fit mine de tourner les talons.
—Permettez, ne vous en allez pas; vous vous trompez en croyant votre
devoir accompli; en tout cas moi j’ai un devoir à remplir.
—Que voulez-vous dire?
—Allez-vous dénoncer ma désobéissance à la Direction à Pittsburg?
—Non, à quoi cela servirait-il?
—Il faut que vous me dénonciez ou moi je vous dénoncerai.
—Me dénoncer? pourquoi?
—Pour contrevenir aux ordres de la Compagnie en n’empêchant pas ce
jeu. En tant que citoyen, mon devoir est d’aider les Compagnies de chemin
de fer à maintenir les employés dans la voie de leurs devoirs.
—Parlez-vous sérieusement?
—Oui, très sérieusement. Je ne vous en veux nullement comme homme,
mais comme employé je vous reproche de n’avoir pas su faire respecter un
règlement; donc, si vous ne me dénoncez pas, c’est moi qui le ferai.
Le conducteur parut embarrassé et resta songeur quelques instants.