Professional Documents
Culture Documents
haftanın konuları
- Kristal Kafes Noktaları, Doğrultuları ve Düzlemleri
* Doğrultu ve düzlem çizimi
* Doğrultu ve düzlemlerin Miller indislerinin belirlenmesi
* Doğrusal düzlemsel atom yoğunluğu hesaplama
- Kristal yapılı olan ve olmayan malzemeler
- Kristal yapı kusurları
* Noktasal kusurlar
* Çizgisel kusurlar
* Arayüz kusurları
* Hacim kusurları
- Mikroskopik inceleme yöntemleri
- Tane boyutunun belirlenmesi
Kristal Kafes Noktaları, Doğrultuları ve Düzlemleri
Nokta Koordinatları
Birim hücre içinde her hangi noktanın yeri, birim hücre kenarları (a, b ve c) ile orantılı koordinatlarına
göre belirtilir.
Şekil 3.13 (a) YMK birim hücresi ve doğrultusu (b) üzerindeki atomlar ve doğrulusu ile taban
düzlemi.
Dikkat: Düzlemsel atom yoğunluğu (DÜAY)
birim alan başına atom sayısı olarak
tanımlanır. Merkezleri, söz konusu düzlem
üzerinde bulunan atomlar gözönüne alınır
Kristal yapılı olan ve olmayan malzemeler
Kristal yapılı bir katıda, tekrar eden atom düzeninin, numunenin tamamı boyunca kesintisiz devam etmesi
durumunda tek kristal yapı meydana gelir. Atom düzeninin mükemmel olduğu tek kristaller de mevcuttur.
Kristal katıların çoğu, çok sayıda küçük kristalden ya da taneden meydana gelmiştir. Böyle malzemeler çok-kristal
olarak adlandırılır.
Bazı malzemelerin tek kristallerinde fiziksel özellikler, ölçümün gerçekleştirildiği kristal doğrultulara göre
değişir. Örneğin, elastiklik modülü, elektrik iletkenliği ve kırınım indeksi [100] ve [111] doğrultularında farklı
değerler alabilir.
Özelliklerin yöne bağlı olması anizotropi olarak adlandırılır. Kristal doğrultularda atom veya iyon dizilişlerinin
(atom ya da iyonlar arası mesafenin) farklı olmasından kaynaklanır. Özelliklerin yönden bağımsız olduğu
malzemeler izotropik olarak adlandırılır.
Çok kristalli malzemelerin pek çoğu için tane yönlenmesi, taneden taneye gelişigüzel bir şekilde farklılık
gösterir. Dolayısıyla her bir tane anizotropik olsa da, birçok taneden meydana gelen numune izotropik
davranış gösterir ve ölçülen bir özellik, yöne bağlı değerlerin bir ortalamasını temsil eder.
X‐ IŞINLARI KIRINIMI, malzemelerin kimyasal bileşiminin nitel ve nicel olarak belirlenmesi, kristal büyüklüğünün (atom
düzlemleri arasındaki mesafelerin, kristal yapıların) ve artık gerilmelerin belirlenmesinde kullanılır.
NOKTASAL KUSURLAR
Uzun süre radyasyonun etkisinde kalan metal malzemelerin özelliklerinde ne tür değişikler olur ve
nedeni nedir ?
Kristali oluşturan atomlardan biri, normal şartlarda
atomların bulunmadığı arayer boşluklarına
girebilir. Bu tip atomlara kendinde-arayer atomu denir.
Empürite noktasal kusurları, katı çözeltilerde
bulundukları yere göre yeralan ve arayer
olmak üzere ikiye ayrılır. Yeralan türünde, çözünen ya
da empürite atomları bazı kafes noktalarında, çözen
atomlarının yerlerini alır.
KATILARDA EMPÜRİTELER
Yalnız tek bir element atomlarından oluşan, empürite veya yabancı atomların bulunmadığı, tamamen saf bir metalin bulunması
imkânsızdır. Gelişmiş tekniklerin kullanılması durumunda bile, bir metalin % 99,9999’dan daha yüksek saflı ğa sahip olacak şekilde
arıtılması çok zordur.
Metallerin çoğunda, malzemelere belirli özellikler kazandırmak üzere empürite atomları bilerek ilave edilir ve dolayısıyla saf
metallerin yerine, daha çok alaşımları kullanılır. Metaller, genellikle mekanik ve korozyon dayanımlarının iyile ştirilmesi için
alaşımlandırılır.
Empürite atomlarının çözen atomların (matris atomların) yapısındaki çözünürlüğü, aşağıda sıralanan birkaç özelliğine bağlıdır:
1.Atomsal boyut faktörü.
2. Kristal Yapıları:
3. Elektronegatiflikleri:
4. Değerlikleri:
• Dış yüzeyler
En belirgin arayüz kusurlarından olan dış yüzeylerde, kristal yapı sona erer. Yüzey
atomları yapabileceklerinden daha az sayıda komşu atom ile bağ yaptıkları için, iç
kısımlardaki atomlara göre enerjileri daha yüksektir. Yüzey atomlarının
gerçekleştiremediği bağlardan dolayı, yüzeylerde alan başına enerji (J/m2 ya da
erg/cm2) olarak tanımlanan bir yüzey enerjisi söz konudur.
• Tane sınırları
Birkaç atom genişliğinde olan tane sınırı bölgesinde, bir tanenin kristal yönlenmesinden, diğer
tanenin yönlenmesine geçişte, atom dizilişinde bir süreksizlik ya da sapma meydana gelir.
Faz sınırları
Çok fazlı malzemelerde, sınırın iki tarafında başka fazların bulunduğu faz sınırları bulunur. Ayrıca alaşımı
oluşturan her fazın kendine özgü fiziksel ve/veya kimyasal özellikleri vardır. Sonraki bölümlerde görüleceği üzere
bazı çok fazlı alaşımlarda faz sınırlarının, malzemenin mekanik özellikleri üzerinde etkileri çok büyüktür.
İkiz sınırları
İkiz sınırı kristal kafeste ayna simetrisi oluşturan, yani bu sınırın bir tarafında bulunan atomların, diğer taraftaki
atomların ayna görüntüsü konumlarında bulunduğu bir tür tane sınırıdır. Bu sınırların arasında kalan bölgede
bulunan malzeme ikiz olarak adlandırılır.
Hacim kusurları
Bütün katılarda, imalat ya da üretim aşamaları sırasında oluşan gözenekler, çatlaklar, yabancı
katışkılar ve diğer fazlar gibi buraya kadar anlatılanlara göre çok daha büyük olan kusurlar da
bulunur.
Mikroskobik İnceleme Yöntemleri
Optik mikroskop ile inceleme
Bu yöntemin uygulandığı mikroyapı incelemelerinde, ana elemanları görüntüleme ve ışıklandırma sistemleri olan ışık mikroskobu kullanılır.
Görünür ışığı geçirmeyen yani opak (saydam olmayan) sadece yüzeylerinin incelenmesi mümkündür ve ışık mikroskobu yansıtma modunda
kullanılmalıdır.
Mikroskop ile bakıldığında, mikroyapıdaki çeşitli bölgelerin ışığı farklı yansıtmasından dolayı, içyapı görüntülerinde farklı tonlarda (kontrastlarda)
bölgeler görülür.
Elektron mikroskobu optik mikroskopla aynı prensiple çalışır fakat ışık yerine elektron kullanılır.
Bir optik mikroskop ile en fazla 2000 büyütme elde edilebilir, pratikte en yaygın x1000’de çalışılır.
Elektron mikroskobunda görüntü birkaç milyon defa büyütülebilir.
Bu kadar büyütme özelliği elektronun dalga boyunun ışığın dalga boyundan birkaç bin defa küçük olmasındandır.
Çok kristalli malzemelerde tane boyutunu belirlemek için çeşitli yöntemler mevcuttur. Bu amaçla,
tane boyutunun, ortalama tane hacmi, çapı ya da alanı olarak belirtildiği yöntemler vardır. Örneğin,
tane boyutu çizgi kesim yöntemiyle belirlenebilir.
Tane yapısını gösteren, bir kaç mikroyapı fotoğrafı üstünde, aynı uzunlukta doğrular çizilir. Her doğru
parçasının kestiği tane sayısı belirlenir ve daha sonra doğru uzunluğu, doğruları kesen ortalama tane
sayısına bölünür. Bu değerin mikroyapı fotoğrafının büyütme oranına bölünmesi ile ortalama tane
boyutu bulunur.
Diğer bir yöntem ise ASTM tarafından geliştirilmiştir. ASTM tane boyutu numarasının belirlenmesi
için aşağıdaki ifade kullanılır.
Bu ifadede n ASTM tane boyutu numarasını ve N′ ise büyütme oranı ×100 olan bir mikroyapı
fotoğrafının bir santimetre karesinde bulunan ortalama tane sayını gösterir.
Soru: şekilde verilen malzemenin ASTM tane boyutunu hesaplayalım.
Öncelikle x100 büyültmede, kenar uzunluğu 1 in (25.4mm) olan kırmızı kare
içinde kalan tam tane sayısı (N) belirlenerek hesaplamaya geçilecektir.
Not: sayım parçalı taneler birbirlerine tamamlanmak suretiyle yapılacaktır.