BÀI TẬP CHƯƠNG 2

1. Trình bày ngắn gọn nguyên lý đo XRD?

Nguyên lý: electron được phóng ra từ catode với vận tốc cao sẽ đập vào anode tạo ra
các tia X đơn sắc: K alpha và K beta. Sau đó chùm tia này được đi qua bộ lọc bỏ K
beta. K alpha còn lại sẽ chiếu vào mẫu gây nên hiện tượng nhiễu xạ và detector sẽ ghi
lại hiện tượng này.

Sử dụng một chùm tia X song song hẹp, đơn sắc, chiếu vào mẫu. Người ta sẽ quay
mẫu và quay đầu thu chùm nhiễu xạ trên đường tròn đồng tâm, ghi lại cường độ
chùm tia phản xạ và ghi phổ nhiễu xạ bậc 1 (n = 1). Phổ nhiễu xạ sẽ là sự phụ thuộc
của cường độ nhiễu xạ vào 2 lần góc nhiễu xạ (2θ). Đối với các mẫu màng mỏng,
cách thức thực hiện có một chút khác, người ta chiếu tia X tới dưới góc rất hẹp (để
tăng chiều dài tia X tương tác với màng mỏng, giữ cố định mẫu và chỉ quay đầu thu.

1
 2. Từ phổ XRD, chúng ta có thể thu được những thông tin gì?
 Xác định pha (phân tích pha định tính)
 Việc sử dụng thường xuyên/ quan trọng nhất của PXRD
 Công cụ phân tích định tính
 Tìm kiếm mẫu dựa trên cơ sở dữ liệu để xác định các giai đoạn hiện nay
- Vật liệu khởi đầu mục tiêu các hợp chất đã biết, có thể có tạp chất.

- Giả định: vật liệu hoặc một vật liệu đồng hình có trong cơ sở dữ liệu

 Áp dụng cho hỗn hợp của hai hoặc nhiều pha tinh thể
 So sánh cường độ của các đỉnh đã chọn của tất cả các pha
- Về lý thuyết chỉ yêu cầu một đỉnh pha, nhưng tốt hơn với nhiều đỉnh

 Phân tích chính xác yêu cầu tiêu chuẩn hóa

- Hỗn hợp số lượng đã biết của hai pha trong một số khác nhau tỉ lệ

 Thận trọng: có thể có các phân số định hình

 Tham số mạng
 Hai phương thức phân tích
- Các thông số mạng chính xác cho một hợp chất đã biết kết cấu

- Xác định ô đơn vị cho một hợp chất không xác định thông qua chỉ số

 Chính xác vị trí đỉnh là rất quan trọng!

 Xác định cấu trúc từ dữ liệu bột
 Nhiễu xạ dạng bột tuân theo các định luật vật lí giống như nhiễu xạ đơn tinh thể,
nhưng dữ liệu trùng lặp
 Phân tích cẩn thận có thể cho phép xác định những điều chưa biết cấu trúc
 Thường được thực hiện với dữ liệu synctron và/ hoặc neutron chất lượng cao
 Yêu cầu dữ liệu xuất sắc và kiến thức tinh thể học
 Phân tích hình dạng đường
 Chiều rộng của các đỉnh Bragg tỷ lệ nghịch với kích thước tinh thể
- Thường được sử dụng để ước tính kích thước tinh thể cho các hạt nano

2
- Yêu cầu sử dụng một tiêu chuẩn để xác định đóng góp của công cụ đầu tiên

 Microstrain ( sự biến dạng không đồng nhất)

- Do rối loạn nguyên tử, trật tự, chỗ trống,…

- Phụ thuộc gốc khác nhau so với hiệu ứng kích thước

- Ứng suất số dư có thể được xác định

 Các khiếm khuyết như lỗi xếp chồng và các đường biên đối đỉnh cũng ảnh hưởng
đến hình dạng đường
Công dụng chính của phân tích XRD là xác định các vật liệu dựa trên mẫu nhiễu xạ
của chúng. Cũng như nhận dạng pha, XRD cũng cung cấp thông tin về cấu trúc thực
tế lệch khỏi cấu trúc lý tưởng, do ứng suất hoặc khuyết tật bên trong.

3. Trình bày các kiểu mạng của cấu trúc tinh thể và 14 mạng tinh thể
Bravais?
P – Primitive, I - Body centered, C -Base centered, F - Face centered

1. Triclinic

2. Monoclinic

P C

3
3. Orthorhombic

P C I F
4. Tetragonal

P I

5. Rhombohedral

R or P

6. Hexagonal

4
 7. Cubic

P(pcc) I (bcc) F(fcc)

4. Trình bày định luật Bragg’s và cách xác định chỉ số Miller (h, k, l)?
a. Định luật Vulf-Bragg:

Định luật Bragg giả thiết rằng mỗi mặt phẳng nguyên tử phản xạ sóng tới độc
lập như phản xạ gương.

Giả sử có 2 mặt phẳng song

song 1 và 2 (hình minh họa) có
cùng chỉ số Miller (h,k,l) và cách
nhau vởi khoảng cách giữa các mặt
phẳng nguyên tử dhkl

Giả thiết rằng tia tới là tia đơn sắc song song và cùng pha với bước sóng λ
chiếu vào hai mặt phẳng 1 và 2 này 1 góc θ. Hai tia x và y bị tán xạ bởi nguyên tử A 1
và A2 cho hai tia phản xạ x’ và y’ cùng một góc θ so với mặt phẳng 1, 2.

Điều kiện để nhiễu xạ là hiện quang lộ: δ = (yA2y’) – (xA1x’) = nλ

Su ra: δ = BA2 + A2C = 2dhlk.sinθ =nλ với n là số nguyên n = 1, 2, 3,…..

b. Phương trình Vulf-Bragg:

Phương trình Bragg liên hệ khoảng cách giữa các mặt phẳng tinh thể liền kề và góc
nhiễu xạ.

nλ = 2d sinθ

5
Trong đó d là khoảng cách giữa các mặt phẳng nhiễu xạ, θ là góc tới, n là số nguyên và λ là
bước sóng. Các hướng cụ thể xuất hiện dưới dạng các điểm trên mẫu nhiễu xạ được gọi là
phản xạ. Do đó các mẫu nhiễu xạ tia X là kết quả của các sóng điện từ tác động vào một loạt
các chất tán xạ thông thường.

Tia X được sử dụng để tạo ra hình ảnh nhiễu xạ và bước sóng của chúng

c. Xác định chỉ số Miller (h, k, l)

Trong mạng lưới tinh thể có rất nhiều họ mặt phẳng song song và cách đều nhau.
Mỗi một họ mặt phẳng song song với nhau đó được đặc trưng bằng 3 chỉ số Miller (h,
k, l)
Cách xử lý sau đây của quy trình được sử dụng để chỉ định Chỉ số Miller là một cách
được đơn giản hóa chỉ có một hệ tinh thể lập phương (một hệ có ô đơn vị khối với
kích thước a x b x c ) theo ví dụ ở dưới.

6
Cách xác định theo dữ liệu thu được từ XRD

Xác định chỉ số (h, k, l) bằng cách đối chiếu kết quả thu được từ XRD với các tài liệu
tham khảo về XRD hoặc sử dụng phần mềm hỗ trợ phân tích XRD (MDI Jade 6).
Trong tất cả các cơ sở dữ liệu, tìm kết quả phù hợp hoàn hảo của giá trị 2theta với
cường độ cao và qua đó ta xác định được giá trị (hkl).

5. Trình bày ngắn gọn nguyên lý đo ED?

Nguồn tạo tia e chiếu vào mẫu là từ súng bắn electron. Trong súng có điện
trường bắn ra các electrons có bước sóng và năng lượng phù hợp với mẫu.
Những electrons nhiễu xạ được quan sát bởi các màn hình huỳnh quang sau
lưới lọc năng lượng. Chỉ chọn lọc những electrons có cùng mức năng lượng
với các primary electrons.
Tóm lại: Để thực hiện đo ED, chùm tia e được tạo ra từ hệ súng điện tử, sau
khi hội tụ (bằng trường tĩnh điện hay tĩnh từ), được chiếu lên mẫu tinh thể. Các
tia nhiễu xạ, tạo thành giản đồ nhiễu xạ e, được ghi nhận bằng: phim ảnh, màn
huỳnh quang, camera CCD.
⇒ Như vậy, nói chung thiết bị ED chỉ gồm có 3 bộ phận chính:Nguồn (súng) e
-hệ thống thấu kính chùm tia e-detector/màn hiển thị.
-Nguồn điện tử
-Hệ thống thấu kính (từ hoặc tĩnh điện)

7
6. Từ kết quả ED, chúng ta có thể thu được những thông tin gì?
Kết quả là một mẫu ED. Mẫu mà người ta thu được hoàn toàn phụ thuộc vào
khoảng cách d và thành phần của tinh thể đang được phân tích.

Nếu một ED được tạo ra từ một cấu trúc vô định hình thì người ta chỉ cần nhận
được một điểm sáng trung tâm bao gồm các electrons truyền qua và một vòng
đơn gồm các electrons phân tán chuyển tiếp ngẫu nhiên.

Nếu ED được tạo ra từ trường gồm nhiều tinh thể, một số trong số đó được
định hướng theo định luật Bragg’s trong khi những tinh thể khác thì không, sẽ
tạo ra một mẫu với các vòng đồng tâm được xác định rõ, nhưng không có
điểm, sẽ có kết quả.

è Từ mô hình ED giúp chúng ta dự đoán cấu trúc của tinh thể

è ED cho biết cấu trúc trật tự gần của chất rắn vô định hình và cấu trúc hình
học của các phân tử tự do của các chất khí.

7. Làm thế nào để tăng hoặc giảm bước sóng của chùm tia electron chiếu vào
mẫu?
Dựa vào bước sóng de Broglie của điện tử được gia tốc dưới điện thế V là:

λ (Angstroms)=
√ 151.3
V (volts)

8
 Muốn tăng giảm bước sóng ta chỉ cần điều chỉnh V (electron velocity)
Giảm λ => tăng V
Tăng λ => giảm V

8. Trình bày các bước tính toán d-spacing từ ảnh ED?

 Đo 2R (đường kính của vòng) [1 / nm]. (Đo từng vòng, đo xuyên tâm)
 Đo R (bán kính) của vòng [1 / nm] (không gian tương hỗ)
 Chuyển R thành đơn vị nm (sử dụng công thức = 1 / R) (không gian thực)
 So sánh các phép tính của R với dữ liệu XRD hoặc cơ sở dữ liệu ICSD

9
Họ và tên sinh viên : Nhóm 1
1. Phan Ngọc Vân Anh - 4501106001
2. Nguyễn Ngọc Khánh Mai - 4501106037
3. Đoàn Ngọc Trà Mi - 4501106039
4. Đặng Thị Nhung - 4501106052
5. Huỳnh Nhật Phi - 4501106059
6. Trần Quang Trường – 4501106084

10