Laboratorium Podstaw Fizyki

Ćwiczenie nr 44.

Pomiar zależności oporu metali i

półprzewodników od temperatury.
Adnotacje dotyczące wymaganych poprawek oraz daty otrzymania poprawnego sprawozdania.

1
1 Cel ćwiczenia
Celem ćwiczenia jest wyznaczenie oporu elektrycznego metalu i półprzewodnika w zależności od
temperatury oraz wyznaczenie temperaturowego współczynnika oporu metalu i szerokości pasma
wzbronionego półprzewodnika.

2 Wykaz przyrządów
– Komora pomiarowa zawierająca: badane próbki(metalowe i półprzewodnikowe), grzejnik
i wentylator,
– Miernik oporu – M3850 o niepewności ±0, 5%rdg + 1dgt.

3 Oznaczenia zmiennych
– Rx – opór elektryczny,
– T – temperatura,
– ux (X) – niepewność pomiarowa,
– α – temperaturowy współczynnik oporu,
– Eg – szerokość pasma wzbronionego.

4 Pomiary
4.1 Przebieg pomiarów
Pomiar oporu przeprowadziłyśmy za pomocą miernika oraz komory. Po sprawdzeniu poprawności
podłączenia przyrządów przez prowadzącego zajęcia, odczytałyśmy pierwszy pomiar w tempera-
turze 30◦ C. Nie była to temperatura pokojowa, z powodu niedopatrzenia pozostawionej, przez
poprzedników, temperatury na grzejniku. Kolejne wyniki odczytywałyśmy co ok. 5◦ C do 100◦ C.
Po skończonych pomiarach rozpoczęłyśmy proces schładzania poprzez zmniejszenie temperatury
na urządzeniu oraz włączenie wentylatora aż do momentu zakończenia zajęć.

2
4.2 Wyniki dla pierwszej wybranej próbki – metalu

Rysunek 1: Pomiary parametrów

Rysunek 2: Współczynniki prostej oraz niepewności pomiarowe

4.3 Przykładowe obliczenia

Obliczenie niepewności pomiarowej T oraz R4 dla pomiaru pierwszego:
s
(∆T )2
u(T ) = uB (T ) = ≈ 0, 58,
3
∆R4 = ±5%rdg + 1dgt = 0, 005 · 110, 4 + 1 · 0, 1 ≈ 0, 66 [Ω],
s
(∆R4 )2
u(R4 ) = uB (R4 ) =≈ 0, 38.
3
Obliczenie temperaturowego współczynnika oporu α i jego niepewności, gdzie a oraz b to współ-
czynniki prostej obliczone metodą regresji liniowej:
a 0, 2583
α= = ≈ 0, 002531 [◦ C −1 ],
b 102, 07
s s
 δα 2  δα 2 1 2  a 2
uc (α) = · u(a) + · u(b) = · u(a) + − · u(b) ≈ 0, 000035.
δa δb b b2

3
4.4 Wykres

4
4.5 Wyniki dla drugiej wybranej próbki – półprzewodnika

Rysunek 3: Pomiary parametrów

Rysunek 4: Niepewności pomiarowe

4.6 Przykładowe obliczenia

1000
Obliczenie niepewności pomiarowej T
, R2 oraz ln(R2 ) dla pomiaru pierwszego:
s s
 1000   δ 1000 2  1000 2
T
uc = · u(T ) = − · u(T ) ≈ 0, 0063,
T δT T2
∆R2 = ±5%rdg + 1dgt = 0, 005 · 25, 9 + 1 · 0, 1 ≈ 0, 23 [Ω],
s
(∆R2 )2
u(R2 ) = uB (R2 ) = ≈ 0, 13,
3
u(R2 )
uc (ln(R2 )) = ≈ 0, 0052.
R2

5
Obliczenie pasma wzbronionego Eg i jego niepewności:

Eg = 2000 · 1, 3806 · 10−23 · 2, 315 ≈ 6, 4 · 10−20 [J] ≈ 0, 4 [eV],

s r
 δE 2  2
g
uc (Eg ) = · u(A) = 2000 · 1, 38066 · 10−23 · u(A) ≈ 9, 8 · 10−22 .
δA

4.7 Wykres

6
4.8 Wyniki końcowe
Temperaturowy współczynnik oporu metalu – α ≈ (0, 002531 ± 0, 000035) [◦ C −1 ].
Szerokość pasma wzbronionego półprzewodnika – Eg ≈ (0, 4000 ± 0, 0062) [eV].

5 Wnioski
Dzięki analizie pomiarów doświadczenia przeprowadzonego na metalu i półprzewodniku udało się
wyznaczyć ich parametry – temperaturowy współczynnik oporu α dla metalu oraz szerokość pasma
wzbronionego Eg dla półprzewodnika. Wraz ze wzrostem temperatury opór metalu zwiększał się,
a półprzewodnika zmniejszał, przy czym dla półprzewodnika te zmiany były większe. Niepewności
co do wartości są niewielkie co oznacza dużą dokładność urządzenia pomiarowego.