CHƯƠNG 6: PHÂN TÍCH HỆ THỐNG

ĐIỀU KHIỂN PHẢN HỒI

1
Nội dung

 Cấu trúc chung

 Cấu hình chuẩn của hệ điều khiển phản hồi

 Chuẩn hóa mô hình

 Phát biểu bài toán chuẩn

 Đánh giá chất lượng trên miền thời gian

 Đánh giá chất lượng trên miền tần số

2
6.1. Cấu hình chung

Cấu trúc chung của một hệ thống có điều khiển phản hồi

3
6.1. Cấu hình chung

Thiết bị đo

4
 6.1. Cấu hình chung
Thiết bị đo
o Đặc tính vận hành
• Phạm vi đo (range), dải đo (span)

• Đô phân giải: một bước thay đổi của tín hiệu ra

• Độ tin cậy: điều kiện làm việc, phạm vi đo, độ

lệch đầu ra cho phép

5
6.1. Cấu hình chung
Thiết bị đo
o Đặc tính tĩnh: quan hệ giữa đại lượng đo đầu vào và tín hiệu đầu ra ở trạng thái
xác lập
• Sai số đo và độ chính xác thiết bị đo
• Định chuẩn (calibration)
• Dải chết và độ trễ
• Độ tuyến tính

6
6.1. Cấu hình chung
Thiết bị đo
o Đặc tính tĩnh
• Độ tuyến tính

( : là độ nhạy)

Ví dụ: Một cảm biến điện trở thay đổi điện trở R của nó một cách tuyến tính từ 100Ω đến 180 Ω khi
nhiệt độ T thay đổi từ 20o tới 120o C. Viết phương trinh đặc tinh vào ra

7
6.1. Cấu hình chung
Thiết bị đo
o Chuẩn hóa tín hiệu đo
o Chuẩn hóa về % tương ứng với dải tín hiệu ra (0% - 100%)
o Chuẩn hóa đơn vị (0 - 1)
Ví dụ: Một thiết bị đo áp suất có đặc tính tuyến tính, phạm vi đo từ 20 đến 220 psig và phạm vi tín hiệu
ra từ 4 đến 20mA.
Phương trình đặc tuyến vào-ra cho tín hiệu đo chưa chuẩn hóa là:

𝑦 𝑚𝐴 = 𝑃 − 20 + 4 = 0.08𝑃 + 5.6 (𝑘 = 0.08[𝑚𝐴/𝑝𝑠𝑖𝑔])

Chuẩn hóa tín hiệu đo theo % dải tín hiệu vào

𝑦% = 𝑃 − 20 = 0.5𝑃 − 10 (𝑘 = 0.5[%/𝑝𝑠𝑖𝑔])

8
6.1. Cấu hình chung
Thiết bị đo
o Đặc tính động học
• Do quán tính, ma sát,… tín hiệu đầu ra không thể đáp ứng ngay với sự thay
đổi của đại lượng đo
• Đặc tính của thiết bị đo là tuyến tinh, có thể biểu diễn dưới dạng khâu quán
tính bậc 1 hoặc khâu bậc 2 ổn định
• Nếu động học thiết bị đo nhanh hơn nhiều so với động học quá trinh  đặc
tính động của thiết bị đo là 1 khâu khuếch đại

9
6.1. Cấu hình chung
Thiết bị chấp hành

10
6.1. Cấu hình chung
Thiết bị chấp hành
 Kiểu tác động của van
• Van đóng an toàn

• Van mở an toàn

Lựa chọn kiểu tác động của van phụ thuộc vào yêu
cầu an toàn hệ thống
11
6.1. Cấu hình chung
Thiết bị chấp hành
 Chiều tác động của van
 Chiều tác động thuận: độ mở van giảm khi tín hiệu điều khiển tăng (FO)
 Chiều tác động nghịch: độ mở van tăng khi tín hiệu điều khiển tăng (FC)

12
6.1. Cấu hình chung
Thiết bị chấp hành
• Đặc tính dòng chảy qua van
• Đặc tính cố hữu

∆
•

• Tuyến tính
• Mở nhanh
• Phần trăm bằng nhau
• P, Cv hằng số

13
6.1. Cấu hình chung
Thiết bị chấp hành
• Đặc tính dòng chảy qua van
• Đặt tính lắp đặt (thực tế)
• P thay đổi

14
6.1. Cấu hình chung

Ở trạng thái làm việc bình thường, độ mở van là 0.5, lưu lượng trung bình qua van F = 200
(gallons/ph), độ chênh áp suất qua van Ps = 30 psi , Pv = 10 psi
Xem xét sự thay đổi độ mở van khi giảm lưu lượng xuống còn 25% (F = 50lit/phút)
Ta có độ chênh áp khi có giảm lưu lượng: Ps = 30.(0.25)2 = 1.875 [psi]
 Pv = 40 – 1.875 =38.125 [psi]

15
6.1. Cấu hình chung

Sự thay đổi độ mở van

• Van tuyến tính:

∆

• Van thay đổi theo phần trăm bằng nhau ( )

16
6.1. Cấu hình chung

Thiết bị chấp hành

• Đặc tính động học

Chậm, dạng khâu quán tính Nhanh, hệ số khuếch đại

17
6.1. Cấu hình chung
Thiết bị chấp hành
• Đặc tính động học

p  u : FC valve
p  1  u : FO valve

Nếu cơ cấu chấp hành là tuyến tính trong dải làm việc
• dp/du = 1 cho van đóng an toàn (FC)
• dp/du = -1 cho van mở an toàn (FO)
18
6.1. Cấu hình chung
Các bộ điều khiển phản hồi
• Thiết bị điều khiển vòng đơn
• Khối phần mềm cài đặt trong các thiết bị điều khiển chia sẻ DCS, PLC
• Máy tính cá nhân công nghiệp

19
Cấu trúc cơ bản của bộ điều khiển phản hồi

 Bộ điều khiển tương tự

20
Cấu trúc cơ bản của bộ điều khiển phản hồi

 Bộ điều khiển số

21
6.1. Cấu hình chung
Các bộ điều khiển phản hồi
• Chiều tác động
• Tác động thuận (DA – Direct acting): đầu ra (tín hiệu điều khiển u) là hàm
đồng biến với biến cần điều khiển (y)
 hệ số KĐ có giá trị âm:

• Tác động nghịch (RA – Reverse acting): tín hiệu điều khiển nghịch biến với
biến cần điều khiển (y)
 hệ số KĐ có giá trị dương:

22
6.1. Cấu hình chung
Các bộ điều khiển phản hồi
• Chiều tác động
• Van tác động ngược (FC) : +
• Bộ đk tác động nghịch (RC): +

23
6.1. Cấu hình chung
Các bộ điều khiển phản hồi
• Chiều tác động

24
6.1. Cấu hình chung
Các bộ điều khiển phản hồi
• Điều khiển ON/OFF

• Điều khiển P, PI, PID

25
6.2. Cấu hình chuẩn

G: mô hình đối tượng K: khâu điều chỉnh

Gd : mô hình nhiễu P : khâu lọc trước

26
Ví dụ: Hệ thống điều khiển nhiệt độ

 Phương trình cân bằng nhiệt

: tín hiệu ra thực của bộ điều khiển

: tín hiệu đo và phản hồi thực

27
Ví dụ:

 : khâu tạo tín hiệu đặt  : tín hiệu đặt có đơn vị

 : hàm truyền đạt của van  : tín hiệu ra được điều khiển

 : hàm truyền đạt thiết bị đo  : tín hiệu điều khiển

28
Ví dụ:

 Mô hình tuyến tính hóa tại điểm làm việc

Với

Mô hình van điều khiển và thiết bị đo

29
Cấu trúc đơn giản hóa hệ thống điều khiển nhiệt độ

C cần được chọn sao cho có đặc tính gần giống với
Thực tế, thường chọn C = hoặc C =
30
Ví dụ: Hệ thống điều khiển thành phần

31
Ví dụ: Hệ thống điều khiển thành phần

Phương trình cân bằng thành phần trong hệ thống

32
Ví dụ: Hệ thống điều khiển thành phần

Thực hiện tuyến tính hóa quanh điểm làm việc, ta được

33
34
6.3. Chuẩn hóa mô hình

 Mô hình ban đầu chưa được chuẩn hóa:



 Chuẩn hóa tín hiệu

 u d
 : dải tín hiệu đo, : dải tín hiệu điều khiển , : dải nhiễu quá trình

35
6.3. Chuẩn hóa mô hình

 Mô hình chuẩn hóa



36
Ví dụ hệ thống điều khiển nhiệt độ

,
 ,
,

37
Ví dụ hệ thống điều khiển nhiệt độ

, , ,

38
6.4. Phát biểu bài toán chuẩn

 Cho trước mô hình G và Gd xác định khâu điều chỉnh K và khâu lọc trước P thỏa:
Hệ thống hoạt động ổn định, đảm bảo các điều kiện vận hành theo yêu cầu của quy trình
công nghệ
 Chất lượng và tốc độ đáp ứng của đầu ra y được cải thiện, sai lệch điều khiển triệt tiêu
 Tín hiệu điều khiển u có giá trị nhỏ, thay đổi chậm và trơn tru

 Các quan hệ cơ bản

 Hàm truyền đạt hệ hở:

 Hàm truyền đạt hệ kín:

 Hàm nhạy

 Chênh lệch hồi tiếp 39

Yêu cầu về chất lượng điều khiển

Tính ổn định: mục tiêu duy trì điểm làm việc, bảo đảm vận hành hệ thống
an toàn

Tốc độ và chất lượng đáp ứng: Khả năng bám giá trị biến chủ đạo, khả
năng kháng nhiễu, nhằm mục tiêu đảm bảo năng suất, chất lượng sản phẩm
và các điều kiện vận hành

Tính bền vững: Tính ổn định và chất lượng được đảm bảo với sai lệch mô
hình, đặc tính quá trình thay đổi và với tác động của nhiễu đo.

 Diễn biến trơn tru và ít thay đổi của biến điều khiển, nhằm mục tiêu tiết
kiệm chi phí năng lượng và tăng tuổi thọ cho thiết bị chấp hành.
40
Các yêu cầu cần thỏa hiệp

 Tốc độ đáp ứng và chất lượng đáp ứng

Đặc tính bám giá trị đặt, loại bỏ nhiễu quá trình và tính bền vững với nhiễu
đo

 Đáp ứng đầu ra và đáp ứng tín hiệu điều khiển

 Chất lượng điều khiển tối ưu và tính bền vững với sai lệch mô hình

41
6.5. Tính ổn định của hệ thống

 Ổn định Lyapunov
 ,
 Trạng thái cân bằng của hệ gọi là ổn định, nếu với mỗi số luôn tồn tại
một số sao cho 

42
6.5. Tính ổn định của hệ thống

 Ổn định nội : một hệ gọi là ổn định nội nếu như kích thích từ bên ngoài một
tín hiệu bị chặn vào bất cứ chỗ nào trong hệ thống thì tín hiệu trích ra từ bất
cứ chỗ nào của hệ thống cũng bị chặn
 Xét ảnh hưởng của mọi tín hiệu tác động vào hệ thống tới mọi tín hiệu đo được
ở bất kì chỗ nào trong hệ thống
 Hệ thống có hàm bền (tất cả điểm cực bên trái mặt phẳng phức) có thể ổn định
BIBO nhưng không ổn định nội

43
6.5. Tính ổn định của hệ thống

 Ví dụ:

Hệ thống ổn định BIBO

Hệ thống không định nội vì v  ∞

 Điều kiện ổn định nội : xét với tất cả các biến nội và biến ra,
hoặc xét không có sự triệt tiêu các điểm cực không ổn định
44
6.5. Tính ổn định của hệ thống

 Xét điều kiện ổn định nội của hệ thống kín

 Tất cả các hàm truyền đạt là hàm bền

45
6.5. Tính ổn định của hệ thống

 Tiêu chuẩn ổn định nội hệ kín:

 P là hàm bền (phương trình đặc tính có nghiệm bên trái mp phức)
 Hàm chênh lệch hồi tiếp 1+GK không có điểm không nằm trên nửa kín bên phải
mp phức
 Nhân G và K không xảy ra sự triệt tiêu điểm không – điểm cực không ổn định

46
6.5. Tính ổn định của hệ thống

 Tiêu chuẩn ổn định nội của hệ SISO

 P là hàm bền (phương trình đặc tính có nghiệm bên trái mp phức)
 Đa thức đặc tính tạo bởi 1+GK cũng là hàm bền

47
6.5. Tính ổn định của hệ thống (ổn định nội)

 Ví dụ: Xét quá trình với mô hình

Xét tính ổn đinh của hệ thống khi Sử dụng bộ điều khiển P với 2 trường hợp Kc
= 2 và Kc = 4

48
6.5. Tính ổn định của hệ thống (ổn định nội)
G=zpk([],[-1 -2],[1.5],'ioDelay',1);
Gc1=2;
Gh1=series(G,Gc1);
Gk1=feedback(Gh1,1);
Gc2=4;
Gh2=series(G,Gc2);
Gk2=feedback(Gh2,1);
figure(1);
nyquist(Gh1)
figure(2)
nyquist(Gh2)
49
6.5. Tính ổn định của hệ thống

 Tiêu chuẩn ổn định Nyquist : một hệ SISO ổn định khi và chỉ khi đường đồ
thị Nyquist của hàm truyền đạt vòng L(s) xoay quanh điểm -1 một góc
với np là số điểm cực của L(s) nằm trong nửa kín bên phải của mp phức.
 Để hệ ổn định nội, không được xảy ra triệt tiêu các điểm cực – điểm không

50
6.5. Tính ổn định của hệ thống

 Tiêu chuẩn ổn định Nyquist (hệ MIMO) : xét hệ hở với ma trận hàm truyền
đạt L(s) không có điểm cực nằm trên trục ảo. Điều kiện cần và đủ để hệ kín
ổn định là đồ thị Nyquist của det(I+L(s)) bao quanh (không đi qua) gốc tọa
độ ngược chiều kim đồng hồ một số lần đúng bằng số điểm cực không ổn
định của L(s)

51
6.5. Tính ổn định của hệ thống

 Tiêu chuẩn ổn định Bode: xác định hệ thống ổn định như thế nào
 Xét hệ hở L(s) ổn định hoặc có 1 điểm cực nằm tại gốc tọa độ
 Đặc tính tần số L(j), 0   <  , có một tần số cắt biên c duy nhất thì điều kiện
cần và đủ để hệ kín ổn định là  L(j c) > - 
 Đặc tính tần số L(j), 0   <  , có một tần số cắt pha - duy nhất thì điều kiện
cần và đủ để hệ kín ổn định là |L(j -)| < 1

 Độ dự trữ biên – pha


( )


52
6.6. Đánh giá chất lượng trong miền thời gian

Đáp ứng đầu ra của hệ thống với thay đổi giá trị đặt: chất lượng bám giá trị
đặt

 Đáp ứng đầu ra với tác động của nhiễu quá trình: chất lượng loại bỏ nhiễu

 Đánh giá thông qua phân tích hoặc mô phỏng

 Đánh giá bằng phương pháp đại số hoặc phương pháp đồ thị

 Đánh giá dựa trên từng chỉ tiêu riêng rẽ hoặc dựa trên chỉ tiêu tổng hợp

53
6.6.1. Chất lượng bám giá trị đặt

 Đáp ứng đầu ra

54
Chỉ tiêu chất lượng

 Thời gian đáp ứng/Thời gian tăng (Response time, Tr): thời gian đạt 90% giá
trị xác lập

 Thời gian quá độ (Settling time, Ts): thời gian đạt sai lệch 5% giá trị xác lập

 Độ quá điều chỉnh (Overshoot, max)

Hệ số tắt dần (decay ratio) : tỉ số giữa biên độ đỉnh thứ 2 và biên độ đỉnh thứ
nhất

Sai lệch tĩnh (steady-state error, ess): sai lệch giữa giá trị xác lập đầu ra so
với giá trị đặt

 Diễn biến của tín hiệu điều khiển 55

6.6.2. Chất lượng khử nhiễu

 Đáp ứng đầu ra và đáp ứng tín hiệu điều khiển

56
Chỉ tiêu chất lượng

 Các chỉ tiêu như trong chất lượng bám giá trị đặt cho nhiễu hằng số

 Sai lệch điều khiển, emax : phụ thuộc thuật toán điều khiển, biên độ nhiễu

57
6.7. Đánh giá chất lượng trong miền tần số

 Đặc tính bám tiệm cận

 Dải thông và tần số cắt

 Độ dự trữ biên - pha

58
Đặc tính bám tiệm cận

 Điều kiện bám tiệm cận:

59
Đặc tính bám tiệm cận

 Điều kiện bám tiệm cận: giả thiết hệ ổn định nội và d = n = 0

 Nếu r thay đổi dạng bậc thang thì sai lệch điều khiển tiến tới 0 khi và chỉ khi S(s)
có ít nhất một điểm không tại gốc tọa độ hoặc L(s) có ít nhất một điểm cực tại gốc
tọa độ
 Nếu r thay đổi dạng tín hiệu dốc thì sai lệch điều khiển tiến tới không khi và chỉ
chỉ khi có ít nhất 2 điểm không tại gốc tọa độ hoặc L(s) có ít nhất 2 điểm cực tại
gốc tọa độ

60
Dải thông và tần số cắt của hệ kín

 Dải thông: phạm vi tần số của tín

hiệu vào mà hệ thống “cho qua” với
một hệ số khuếch đại

Dải thông phản ảnh đặc tính đáp

ứng với giá trị đặt, nhiễu quá trình và
nhiễu đo

61
Dải thông và tần số cắt của hệ kín

 Vai trò điều khiển phản hồi: Mở rộng dải thông của hệ thống kín, nhưng làm
tăng độ nhạy với nhiễu đo và tín hiệu điều khiển thay đổi lớn

62
Dải thông và tần số cắt của hệ kín

 Hàm sai lệch điều khiển

 Tín hiệu điều khiển

63
Hai định nghĩa về dải thông hệ kín

 Dải thông là tần số lớn nhất thỏa

 Dải thông là tần số lớn nhất thỏa

 Có thể sử dụng làm chỉ tiêu chất lượng

vì hàm nhạy S(jω) phản ánh tốt hơn đặc tính
bám giá trị đặt và nhiễu quá trình.

64
Biên độ đỉnh của hàm nhạy và hàm bù nhạy

 Thông thường
 : biên độ đỉnh hàm nhạy
 : biên độ đỉnh hàm bù nhạy
65
Độ dự trữ biên - pha

 Dựa trên phân tích đồ thị Bode hoặc Nyquist của hệ hở L(j)

66
Độ dự trữ biên - pha

 Tần số cắt c (crossover frequency):

 Tần số nhỏ nhất mà
 Ý nghĩa tương đương dải tần

 Độ dự trữ biên độ Am thông thường yêu cầu > 2


( )

 Ý nghĩa: Hệ số tăng lên cho phép của hệ số khuếch đại của quá trình mà vẫn
đảm bảo hệ kín ổn định

67
Độ dự trữ biên - pha

 Độ dự trữ pha m thông thường yê cầu > 30o

 Ý nghĩa: Cho phép độ lệch pha tăng lên R mà vẫn đảm bảo tính ổn định của hệ
kín
 Độ dự trữ pha phản ánh chất lượng đáp ứng của hệ kín

68
Bài tập 1

 Một quá trình với hàm truyền đạt

69
Bài tập 1

. ( )
 Điều khiển phản hồi đơn:

 Điều khiển tầng: K1 = K , K2 = 5

Phân tích chất lượng đáp ứng quá độ điều khiển phản hồi và điều khiển tầng,
xét với bộ điều khiển PI

Phân tích chất lượng khử nhiễu quá trình (xét nhiễu d2) của điều khiển phản
hồi và điều khiển tầng.

70
Bài tập 2

 Một quá trình với hàm truyền đạt

Ổn định quá trình bằng bộ điều khiển P. Xác định hệ số khuếch đại nhỏ nhất
của bộ điều khiển để :
a. Hệ kín ổn định
b. Sai lệch tĩnh nhỏ hơn 0.1 khi tín hiệu đặt là r(t)=1(t)
c. Sai lệch tĩnh nhỏ hơn 0.1 với bất cứ nhiễu quá trình nào có chuẩn bậc 2 nhỏ hơn
1, khi giá trị đặt không thay đổi, nhiễu đo n = 0
71
Bài tập 3

 Cho quá trình được mô tả bởi các hàm truyền đạt của đối tượng

a. Xác định bộ điều khiển phản hồi sao cho

hàm truyền đạt của hệ hở có dạng như sau. 𝐿 𝑠 =
𝑘 (0.1𝑠 + 1)
𝑠 0.05𝑠 + 1 (0.01𝑠 + 1)
b. Ước lượng chỉ tiêu chất lượng trong miền
𝜔 = 10𝑟𝑎𝑑/𝑠
thời gian, miền tần số

72