Professional Documents
Culture Documents
TÜRK STANDARDI
TURKISH STANDARD
TS EN 1290
Şubat 2003
(EN 1290/A1:2002 Dahil)
ICS 25.160.40
Ön söz
- Bu standard, CEN tarafından kabul edilen EN 1290 (1998) + A1 (2002) standardı esas alınarak,
TSE Metalurji Hazırlık Grubu’na bağlı Tahribatsız Muayene ve Kaynak Özel Daimi Komitesi’nce
hazırlanmış ve TSE Teknik Kurulu’nun 5 Şubat 2003 tarihli toplantısında Türk Standardı olarak kabul
edilerek yayımına karar verilmiştir.
- EN 1290/A1:2002 ile yapılmış olan değişiklikler metinde düşey (I) çizgilerle gösterilmiştir.
İçindekiler
1 Kapsam ................................................................................................................................................... 1
2 Atıf yapılan standard ve/veya dokümanlar.......................................................................................... 1
3 Tarifler..................................................................................................................................................... 1
4 Güvenlik tedbirleri ................................................................................................................................. 1
5 Genel ....................................................................................................................................................... 2
5.1 Bilgi..................................................................................................................................................... 2
5.2 Personelin vasfı.................................................................................................................................. 2
5.3 Yüzey şartları ve hazırlık.................................................................................................................... 2
5.4 Mıknatıslama..................................................................................................................................... 2
5.5 Uygulama teknikleri............................................................................................................................ 3
5.6 Hata tespit ortamı............................................................................................................................... 9
5.7 İnceleme şartları................................................................................................................................. 9
5.8 Tespit edici ortamın uygulanması ...................................................................................................... 9
5.9 Tam performans deneyi ..................................................................................................................... 9
5.10 Yanıltıcı belirtiler................................................................................................................................. 9
5.11 Belirtilerin kaydedilmesi.................................................................................................................... 10
5.12 Mıknatıslık giderme .......................................................................................................................... 10
5.13 Muayene raporu ............................................................................................................................... 10
Ek A (Bilgi için) Hassasiyet ile ilgili hususlar .......................................................................................... 11
Ek ZA (Bilgi için) Bu standardın AB Direktiflerinin temel özelliklerine veya diğer hükümlerine atıfta
bulunan maddeleri ...................................................................................................................................... 12
1 Kapsam
Bu standard, ferromanyetik kaynaklarda, ısıdan etkilenen bölge de kapsanacak şekilde, yüzey kusurlarının
manyetik metotla tespit edilmesi için manyetik parçacıkla muayene tekniklerini kapsar. Önerilen teknikler,
birçok kaynak işlemleri ve bağlantı konfigürasyonları için uygundur. Daha yüksek veya düşük muayene
hassasiyeti sağlayan, temel tekniklerdeki değişiklikler Ek A‘da tanımlanmıştır.
Çizelge 1, Çizelge 2 ve Çizelge 3‘te gösterilen geometrilerle uyumlu olan kaynakların muayenesi için bu
standarddaki teknikler doğrudan kullanılabilir.
3 Tarifler
Bu standardın amacı bakımından, EN 12062’de verilen tarifler uygulanır:
4 Güvenlik tedbirleri
Avrupa, milli ve yerel güvenlik ve çevre koruma düzenlemelerine her durumda uyulmalıdır.
Zehirli yanıcı ve/veya uçucu maddelere, elektrikle ilgili güvenliğe ve filtre edilmemiş UV ışımasına özellikle
dikkat edilmelidir.
1) TSE Notu: Atıf yapılan standardların TS numarası ve Türkçe adı 3. ve 4. kolonda verilmiştir.
5 Genel
5.1 Bilgi
Operatörler, tespit edilen süreksizliklerin özellikleri hakkında karar vermek için daha fazla bilgi isteyebilirler.
Belirtilerin doğru yorumlanmasını sağlamak için, bölgesel taşlama veya zımpara işlemleri ile yüzey
durumunun iyileştirilmesi gerekebilir.
Yüzeylerin temizlenmesi ve hazırlanması, uygulanacak son yüzey işlemi veya manyetik muayene ortamını
olumsuz yönde etkilememelidir.
5.4 Mıknatıslama
5.4.1 Mıknatıslayıcı teçhizat
Başka teçhizat üzerinde anlaşılmadığı durumlarda, aşağıda belirtilen alternatif akımla (a.a) çalışan
mıknatıslayıcı teçhizat tipleri kullanılmalıdır:
a) Elektromanyetik boyunduruklar,
b) Prodlarla akım geçirme cihazları,
c) Komşu veya tetikleyici iletkenler veya bobin teknikleri.
Kullanılan mıknatıslama cihazları, ilgili EN standardlarının şartlarını sağlamalıdır. Konu ile ilgili EN
standardları yayımlanıncaya kadar buna karşılık gelen milli standardlar kullanılabilir.
Prodların kullanıldığı yerlerde, temas noktalarında ısınmayı, yanmayı veya ark oluşmasını en aza
indirgeyecek önlemler alınmalıdır. Gerektiğinde, ark yanıkları yüzeyden giderilebilir. Bu durumda, etkilenen
alan uygun bir metotla yüzey
TSEbütünlüğünü sağlamak
tarafndan MOLU için
ENEJ A.S e muayene
kullanm edilmelidir.
izni verilmitir.
2 Dokümann indirildii tarih: 2009-06-25
Sadece tek kullanc iznidir,kopyalamak ve sisteme aktarmak yasaklanmtr.
ICS 25.160.40 TÜRK STANDARDI TS EN 1290/Şubat 2003
a) En istenmeyen konumlarda çok küçük doğal veya yapay süreksizlikler içeren bir parçada, tam
performans deneyinin yapılması,
b) Muayene yüzeyine mümkün olduğunca yakın pozisyonda, Hall probu ile teğetsel alan şiddetinin
ölçülmesi,
c) Tavsiye edilen teğetsel alan şiddetine ulaşabilmek için gereken yaklaşık akım değerinin hesaplanması.
Bu hesaplama, Çizelge 2 ve Çizelge 3’te belirtilen akım değerlerine dayanılarak yapılabilir.
d) Bilinen prensiplere dayanan diğer metotlar.
Not - Muayene yüzeyine temas edecek şekilde yerleştirilen manyetik akı belirteçleri, teğetsel alanın
büyüklüğü ve yönü hakkında bir fikir verir; ancak, alan şiddetinin yeterli olduğunu doğrulamak için
kullanılamazlar.
Bütün yönlenmedeki süreksizliklerin tespitini garanti etmek için kaynaklar, azami sapma 30o olmak kaydıyla,
birbirlerine yaklaşık dik olacak şekilde mıknatıslanmalıdır. Bu durum, bir veya daha fazla mıknatıslama
metotlarının kullanılmasıyla sağlanır.
Muayenede boyunduruklar veya prodlar kullanılıyorsa, her kutbun ve temas noktasının etrafında, aşırı
yüksek manyetik alan şiddeti nedeniyle, kendisini manyetik parçacıkların aşırı yığılmasıyla gösteren,
muayenesi imkansız olan bölgeler oluşur.
Şekil 2 ve Şekil 3’te gösterildiği gibi, muayene alanlarının yeterince üstüste binmesini sağlamaya dikkat
edilmelidir.
Şekil 2 - Boyundurukla ve prodlarla mıknatıslama için etkin muayene alanı örnekleri (taralı alanlar)
1 Etkin alan
2 Üstüste binme
d ≥ 75
b ≤ d/2
β ≈ 90°
d1 ≥ 75
b1 ≤ d1/2
b2 ≤ d2 - 50
d2 ≥ 75
d1 ≥ 75
d2 > 75
b1 ≤ d1/2
b2 ≤ d2 - 50
d1 ≥ 75
d2 ≥ 75
b1 ≤ d1/2
b2 ≤ d2 - 50
Çizelge 2 - Prodlar için tipik mıknatıslama teknikleri, 5 A/mm (r.m.s.) prod mesafesi değerinden büyük
mıknatıslama akımı kullanarak.
d ≥ 75
b ≤ d/2
β ≈ 90°
d ≥ 75
b ≤ d/2
d1 ≥ 75
b ≥ d/2
d ≥ 75
b ≥ d/2
20 ≤ a ≤ 50
N.I ≥ 8D
20 ≤ a ≤ 50
N.I ≥ 8D
20 ≤ a ≤ 50
N.I ≥ 8D
5.6.1 Genel
Tespit ortamı, kuru toz veya sıvı halinde olabilir ve ilgili EN standardlarının şartlarını sağlamalıdır. Konu ile
ilgili EN standardları yayımlanıncaya kadar buna karşılık gelen millî standardlar kullanılabilir.
Doğrulama, bilinen doğal veya yapay yüzey süreksizliklerine sahip parçalar üzerinde veya önceden
mıknatıslanmış referans bloklar üzerinde yapılmalıdır.
Doğrulanacak ortamla elde edilen belirtiler, bilinen ve kabul edilebilir performansa sahip bir ortamla elde
edilenlerle karşılaştırılmalıdır. Bu amaçla kullanılacak referans belirtiler aşağıdakilerden biri olabilir:
a) Gerçek süreksizlikler,
b) Fotoğraf(lar) veya
c) Replikalar.
Manyetik süspansiyonlar kullanıldığında, süspansiyon halindeki taşıyıcı sıvının çoğu muayene yüzeyinden
süzülüp uzaklaşıncaya kadar, manyetik alan, muayene cismini etkilemelidir. Bu uygulama, belirtilerin
yüzeyden akıp gitmesini engeller.
Muayene edilen malzemeye, malzemenin yüzey şartlarına ve manyetik geçirgenliğine bağlı olarak,
manyetik alanın etkisi ortadan kalktıktan sonra da, artık mıknatıslanma nedeniyle, belirtiler normalde
yüzeyde kalacaktır. Bununla birlikte, artık mıknatıslanmanın var olduğu varsayılmamalıdır. Yalnızca,
muayene yüzeyinde manyetik belirtilerin kaldığı, bir parça üzerinde tam performans deneyi ile
ispatlandıktan sonra, manyetik alanın esas kaynağı devreden çıktıktan sonraki değerlendirme tekniklerine
izin verilir.
En güvenilir deney, tipi, konumu, boyutu ve boyut dağılımı bilinen gerçek süreksizliklere sahip ve muayene
parçasını temsil edebilecek parçaları kullanmaktır. Bu tip parçalar elde edilemiyorsa, yapay süreksizliklere
sahip şekilde imal edilen parçalar veya çarpı ve çizgi tipindeki akı yolunu değiştiren belirteçler kullanılabilir.
Bu parçalar, mıknatıslık giderme işleminden geçirilmeli ve önceki muayenelerden kalan belirtiler yüzeyden
giderilmiş olmalıdır.
a) Yazarak tanımlama,
b) Çizimler,
c) Fotoğraf,
d) Şeffaf yapışkan bant,
e) Belirtilerin muayene yüzeyinde “dondurulması” için şeffaf vernik,
f) Çıkarılabilir kontrast arttırıcı yardımcılar,
g) Video kaydı,
h) Epoksi veya kimyasal manyetik parçacık karışımları,
i) Manyetik bantlar,
j) Elektronik tarama.
Mıknatıslık giderme işlemi, şartname gerektiriyorsa, tanımlanmış bir metot kullanılarak ve belirli bir
seviyeye kadar yapılmalıdır.2)
Başka bir husus belirtilmedikçe, muayene raporu aşağıdaki bilgiyi ihtiva etmelidir:
2) Metal kesme işlemleri için, tipik artık alan şiddeti olarak H ≤ 0,4 kA/m değeri önerilir.
3) TSE Notu : Deney raporu, burada istenilen bilgilere ilâveten, TS EN ISO/IEC 17025’de verilen bilgileri
de ihtiva edecek şekilde düzenlenebilir.
TSE tarafndan MOLU ENEJ A.S e kullanm izni verilmitir.
10 Dokümann indirildii tarih: 2009-06-25
Sadece tek kullanc iznidir,kopyalamak ve sisteme aktarmak yasaklanmtr.
ICS 25.160.40 TÜRK STANDARDI TS EN 1290/Şubat 2003
Ek A
(Bilgi için)
Kesintili olmaması ve kalınlığının 50 µm’yi aşmaması kaydıyla, ince ve manyetik olmayan boya ile kaplı
(astar boya gibi) yüzeyler de muayene edilebilir. Bu kalınlığı aşan değerlerde, metodun hassasiyeti düşer
ve bu durumda muayeneye başlamadan önce metot hassasiyetinin özel olarak belirlenmesi gerekebilir.
Boyunduruklar, basit plaka kaynaklarında yeterli manyetik alan üretirler, ancak T-birleştirmelerindeki gibi
boşluklar veya aşırı akı geçiş mesafesi nedeniyle manyetik akıda azalma olduğunda, muayene
hassasiyetinde azalma olabilir.
Eğim açısı 90o’den daha az olan bağlantılar gibi karmaşık birleştirme konfigürasyonlarında, boyunduruk
kullanımı uygun olmayabilir. Bu durumda, prodlar veya içinden akım geçirilen kablo daha uygun olabilir.
Manyetik geçirgenlik, genellikle, düşük alaşımlı çelikler gibi yumuşak manyetik malzemelerde yüksek,
martensitik çelikler gibi daha sert manyetik malzemelerde ise düşüktür. Geçirgenlik mıknatıslayıcı akımın
bir fonksiyonu olduğundan, düşük geçirgenlikli malzemeler, aynı akı yoğunluğunu üretebilmek için
çoğunlukla yumuşak alaşımlara nazaran daha yüksek mıknatıslama değerinin uygulanmasını gerektirir. Bu
nedenle, manyetik parçacık muayenesine başlamadan önce, yeterli akı yoğunluğunu elde etmek esastır.
Koyu fon ve ışıldayan belirti arasındaki daha yüksek kontrast nedeniyle, fluorışıl manyetik tespit ortamları,
boya kontrast ortamlardan genellikle daha yüksek muayene hassasiyeti sağlar. Bununla birlikte, manyetik
parçacıkların kalmasına ve gözü yanıltan arka fon ışımasına neden olan yüzey pürüzlülüğünün artmasına
bağlı olarak fluorışıl metodun hassasiyeti azalır.
Arka fon yansımasının yeterince azaltılamaması veya arka fon ışıldamasının fazla olması durumunda,
kontrast yardımcısının yüzey düzeltici etkisiyle birlikte renkli tespit ortamları, genellikle daha fazla
hassasiyet sağlayacaktır.
Ek ZA
(Bilgi için)
Bu standard, Avrupa Komisyonu ve Avrupa Serbest Ticaret Örgütü’nün CEN’e verdiği talimat çerçevesinde
hazırlanmıştır ve 97/23/EEC sayılı AB Direktifi’nin ve basınçlı cihazlarla ilgili olarak üye ülkelerin
kanunlarının yakınlaştırılması hususunda 29 Mayıs 1997’deki toplantıda kabul edilen temel kurallarını
desteklemektedir.
Bu standardın Çizelge ZA.1 ve Çizelge ZA.2’de ayrıntıları verilen maddeleri, 97/23/EEC ve 87/404/EEC
sayılı AB direktiflerinin şartlarını desteklemeye yöneliktir.
Bu standardın bu maddelere uygunluk, söz konusu direktifin özel temel şartlarına ve bununla ilişkili Avrupa
Serbest Ticaret Örgütü (EFTA) düzenlemelerine uygun hale gelmenin bir aracını sağlar.